JPWO2016208019A1 - 基板検査機 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の第1実施形態の基板検査機1の構成について、図1を参考にして説明する。図1は、本発明の第1実施形態の基板検査機1の構成を模式的に示す平面図である。図1の左側から右側に向かう方向は、キャリア部材8を搬送するX軸方向である。図1の下側は基板検査機1の手前側で、上側が奥側であり、手前側から奥側に向かう方向がY軸方向である。基板検査機1は、はんだ印刷機10の上流側工程に配置され、ペースト状はんだが印刷される以前の個片基板85を検査対象とする。基板検査機1は、キャリア搬送装置2、基板持ち上げ装置3、三次元コプラナリティ検査装置4、基板供給装置5、および制御装置6などが機台9に組み付けられて構成されている。
第1実施形態の基板検査機1では、キャリア搬送装置2によって空のキャリア部材8が搬入され、基板持ち上げ装置3によって個片基板85がトレイ51からキャリア部材8に移載される。検査装置4は、基板持ち上げ装置3によって持ち上げられている移載途中の個片基板85の平面度を下方から検査する。図3は、第1実施形態の基板検査機1の動作フロー図である。また、図4は、第1実施形態の基板検査機1の動作を模式的に説明する側面図である。基板検査機1の動作は、主に制御装置6の制御機能によって進められる。
第1実施形態の基板検査機1は、ペースト状はんだが印刷されて部品が実装される個片基板85の複数枚を載置するキャリア部材8を搬入し、位置決めし、搬出するキャリア搬送装置2と、個片基板85を持ち上げる基板持ち上げ装置3と、持ち上げられた個片基板85の平面度を検査して使用の可否を判定する三次元コプラナリティ検査装置4(平面度検査装置)と、を備えた。
次に、第2実施形態の基板検査機1Aについて、第1実施形態と異なる点を主に説明する。図5は、第2実施形態の基板検査機1Aの構成を模式的に示す平面図である。第2実施形態の基板検査機1Aは、基板供給装置5および回収トレイ59を備えず、基板反転部7を備える。基板反転部7は、キャリア搬送装置2および三次元コプラナリティ検査装置4に近い機台9の上面に配置されている。基板反転部7は、個片基板85の表側面86が検査されるように、個片基板85の表側面86と裏側面87とを反転させる。基板反転部7は、公知技術を適宜応用して構成できる。また、第2実施形態の制御装置6Aは、第1実施形態の制御装置6とは異なる制御機能を有する。
第2実施形態の基板検査機1Aにおいて、キャリア搬送装置2は、個片基板85が満載されたキャリア部材8を搬入する。基板持ち上げ装置3は、キャリア部材8と検査装置4との間で基板反転部7を経由して、個片基板85を移送および返送する。図6は、第2実施形態の基板検査機1Aの動作フロー図である。また、図7は、第2実施形態の基板検査機1Aの動作を模式的に説明する側面図である。基板検査機1Aの動作は、主に制御装置6Aの制御機能によって進められる。
第2実施形態の基板検査機1Aにおいて、キャリア搬送装置2は、個片基板85の複数枚が載置されたキャリア部材8を搬入して、位置決めし、基板持ち上げ装置3は、個片基板85を位置決めされたキャリア部材8から持ち上げて三次元コプラナリティ検査装置4(平面度検査装置)まで移送し、検査装置4による検査が終了すると個片基板85をキャリア部材8上の元の位置に返送する。これによれば、個片基板85が初めからキャリア部材8に載置されて搬入される構成でも、順番に平面度を検査できるので、効率的な検査が行われる。また、複数枚の個片基板85の平面度について全数検査を行えるので、個片基板85の品質が向上する。
2:キャリア搬送装置
3:基板持ち上げ装置 36:吸着ノズル
4:三次元コプラナリティ検査装置(平面度検査装置)
5:基板供給装置 51:トレイ 52:キャビティ部
59:回収トレイ
6、6A:制御装置 7:基板反転部
8:キャリア部材 81:キャビティ部
85:個片基板 86:表側面 87:裏側面
9:機台 10:はんだ印刷機 11:部品実装機
Claims (8)
- ペースト状はんだが印刷されて部品が実装される個片基板の複数枚を載置するキャリア部材を搬入し、位置決めし、搬出するキャリア搬送装置と、
前記個片基板を持ち上げる基板持ち上げ装置と、
前記持ち上げられた個片基板の平面度を検査して使用の可否を判定する平面度検査装置と、
を備えた基板検査機。 - 前記個片基板をトレイに載置して供給する基板供給装置をさらに備え、
前記基板持ち上げ装置は、前記個片基板を前記トレイから持ち上げ、前記平面度検査装置を経由して位置決めされたキャリア部材に移載し、
前記平面度検査装置は、移載途中の個片基板の平面度を検査する請求項1に記載の基板検査機。 - 前記基板持ち上げ装置は、前記平面度検査装置によって使用可と判定された個片基板のみを前記キャリア部材に移載する請求項2に記載の基板検査機。
- 前記キャリア搬送装置は、前記個片基板の複数枚が載置されたキャリア部材を搬入して、位置決めし、
前記基板持ち上げ装置は、前記個片基板を前記位置決めされたキャリア部材から持ち上げて前記平面度検査装置まで移送し、前記平面度検査装置による検査が終了すると前記個片基板を前記キャリア部材上の元の位置に返送する請求項1に記載の基板検査機。 - 前記平面度検査装置で使用不可と判定された個片基板の前記キャリア部材上の位置を下流側工程に伝送する位置伝送部をさらに備えた請求項4に記載の基板検査機。
- 前記平面度検査装置は、前記個片基板の下方から検査を行うものであり、
前記個片基板の表側面が検査されるように、前記個片基板の前記表側面と裏側面とを反転させる基板反転部をさらに備えた請求項1〜5のいずれか一項に記載の基板検査機。 - 前記平面度検査装置は、前記個片基板の表側面または裏側面を一画像で撮像して、前記個片基板の予め設定された複数箇所のコプラナリティを検査する三次元コプラナリティ検査装置である請求項1〜6のいずれか一項に記載の基板検査機。
- 前記個片基板に前記ペースト状はんだを印刷するはんだ印刷機の上流側工程に配置される請求項1〜7のいずれか一項に記載の基板検査機。
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