JPWO2016059830A1 - 放射線検出器、放射線撮像装置、コンピュータ断層撮影装置および放射線検出方法 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 80
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title claims description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 24
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 4
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims abstract description 14
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims description 35
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 18
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 27
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CEKJAYFBQARQNG-UHFFFAOYSA-N cadmium zinc Chemical compound [Zn].[Cd] CEKJAYFBQARQNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- QKEOZZYXWAIQFO-UHFFFAOYSA-M mercury(1+);iodide Chemical compound [Hg]I QKEOZZYXWAIQFO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000009206 nuclear medicine Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M thallium(i) bromide Chemical compound [Tl]Br PGAPATLGJSQQBU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Images
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20184—Detector read-out circuitry, e.g. for clearing of traps, compensating for traps or compensating for direct hits
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/115—Devices sensitive to very short wavelength, e.g. X-rays, gamma-rays or corpuscular radiation
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Public Health (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
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- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
Description
一般に、X線を利用した医療用の診断装置、例えばコンピュータ断層撮影装置(CT)では、X線源から発生させたX線を被検体に照射し、このX線を放射線検出器で検出する。これにより、X線が被検体によってどのくらいの減衰を受けたかの情報を得ることで、被検体の体内の様子を画像化し、診断に供する。
実施例として、本発明を利用した複数の放射線検出器150を用いたCT100の模式図を図2に示す。被検体200は、寝台140の上に横たわり、ガントリ110の中央付近にある開口部より装置中央付近に配置される。X線源120としてはX線管を用いるのが好適であり、X線管からはX線フォトン130が放出され、これの一部は被検体200によって体内の物質分布に応じて吸収され、また一部は被検体200を透過して複数の放射線検出器150で検出される。検出されたX線フォトンは、パルスモードで信号処理回路160によって計数される。なお、ここでいう計数とは、検出したX線フォトンを数えることに加え、エネルギー情報を取得することも含んでいる。
複数の放射線検出器150の様子を図3に示す。放射線検出器の一単位であるピクセル20が2次元状に配置された構成となっている。ピクセルの数は、例えば長手方向に892、短手方向に64である。図3ではピクセル20が近似的に曲面状に配置されているように描写されているが、一般にはピクセル表面は曲率の無い平面であることが多いので、検出器の配置は多角形状になることもある。それぞれのピクセル20には、被検体200を透過したX線フォトン130が入射し、計数される。なお、被検体200で散乱されたX線フォトンを除去する目的で、ピクセル20の手前にはコリメータ(図示せず)が配置されている。このコリメータは、ピクセル20とピッチおよび形状が一致するような二次元矩形コリメータであっても良いし、一次元のスリットコリメータであっても良い。
X線フォトンの入射率が低い領域では、全てのサブピクセルは飽和していないため、入射するX線フォトンを正しく計数することができ、データ取得に寄与できる。入射率が高くなっていくと、最初に最大のサブピクセル21が飽和し、X線フォトンを正しく計数できなくなる。この場合、最大のサブピクセル21以外の15のサブピクセルは飽和していないので、これらの計数データを用いて正しくX線フォトンの計数を実施することができる。さらに入射率が高くなると、2番目に大きなサブピクセルが飽和するので、それ以外の14のサブピクセルの計数データを用いてX線フォトンを計数する。このようにして、入射率に応じて飽和していないサブピクセルのみを利用することとし、最も入射率が高い領域では、飽和していない最小のサブピクセル22のみを用いてX線フォトンの計数を実施する。断層画像の再構成処理の際には、どのサブピクセルがデータ取得に寄与していたかを考慮することでピクセルの大きさの補正処理を実施する。
図4で、最小のサブピクセル22は0.05ミリ四方としている。サブピクセルのサイズが細かい方がより高い入射率まで対応できる。ただし、放射線検出器として望ましい動作をするためには、以下の理由から一定以下の外周対面積比を保つ必要があり、サブピクセルをいくらでも小さくできるわけではない。検出器がX線フォトンを検出すると、ピクセル20内では高エネルギーの一次電子が生成され、これが移動しながら周囲を電離させることで二次キャリアが生成される。この一次電子の移動距離は有限であり、隣のサブピクセルにエスケープし得る。また、一次電子と共に発生することのある特性X線も、やはり隣のサブピクセルにエスケープし得る。これらのことから、いわゆるクロストーク効果が顕著になってしまい、計数の精度が劣化する。これが一定以下の外周対面積比を保つことが必要な理由である。サブピクセルの実効面積が0.05ミリ四方の場合、X線フォトンが109cps/mm2の入射率であったとしても、サブピクセルの計数率は2.5×106cpsに検出器の検出効率(例えば99%)を乗じたものとなり、応答時間が50ナノ秒の信号処理回路であれば飽和せずに計数が可能である。
本発明の各実施例では、飽和していないサブピクセルの計数データのみを使用することから、ピクセル内でデータ取得に寄与する領域が入射率に応じて変化し得る。入射率が低い領域では、全てのサブピクセルは飽和せず正しくX線フォトンを計数することから、ピクセル全体がデータ取得に寄与しており、基本的には飽和していないサブピクセルの重心は図7(a)に示すようにピクセルの重心50と一致する。入射率が高くなると、最大のサブピクセル21が飽和し、データ取得に寄与しなくなる。この場合、図7(a)ではピクセルの右下の領域が機能しなくなることから、データ取得に寄与しているサブピクセルの重心51はピクセルの重心50から左上に移動することになる。
N個に分割したサブピクセルを小さい順に並べ、それぞれの実効面積をa1、a2、・・・、aNとした場合に、これらをどのような値に設定しているかについて述べる。最小のサブピクセルをk個設けるとすると、a1=a2=・・・=ak<ak+1<・・・<aNである。ここで、前述したようにサブピクセルの大きさは3種類では不十分であることから、N≧4、1≦k≦N−3である。なお、本実施例はN=16、k=3の場合に該当する。
(1+α)=4/α:4:4(1+α)であり、4/αを約1〜2の範囲に収めるにはαは約2〜4であることが必要だが、この場合は4(1+α)が約12〜20となって特許文献1に開示された8を大きく超える。すなわち、特許文献1に開示された範囲は本実施例と異なっており、特許文献1で開示された思想が、本実施例とは異なっていることが分かる。
以上、好適な実施例について述べてきたが、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更・追加を考えることができる。
21 最大のサブピクセル
22 最小のサブピクセル
23 サブピクセル
30 ピクセルの中心付近の領域
40 直接型放射線検出素材
41 共通電極
42 サブピクセル電極
50 ピクセルの重心
51 最大のサブピクセルが飽和した際のデータ取得に寄与しているサブピクセルの重心
52 実効面積の大きなサブピクセルが順に飽和した際のデータ取得に寄与しているサブピクセルの重心の移動軌跡
100 コンピュータ断層撮影装置(CT)
110 ガントリ
120 X線源
130 X線フォトン
140 寝台
150 複数の放射線検出器
160 信号処理回路
165 信号処理回路の個別のチャンネル
170 制御装置
180 コンピュータ
190 インターフェース
191 出力装置
192 入力装置
200 被検体
Claims (12)
- 放射線を検出する平板状のピクセルが複数配置されて構成され、
前記ピクセルは、それぞれ少なくとも2つが異なる実効面積を持つ4つ以上のサブピクセルに分割され、
前記サブピクセルは、前記ピクセルから実効面積の大きい順に、前記ピクセルを分割するサブピクセルの数よりも小さい任意の数だけ除去されても、残ったサブピクセルの全体の実効面積の重心が、前記ピクセルと重心が同じで各辺の長さが前記ピクセルの半分の相似形領域の内部に位置するように、前記ピクセルを分割したものであることを特徴とする放射線検出器。 - 前記サブピクセルは充実した形状であることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記サブピクセルが、正方形またはアスペクト比が0.5以上2以下の長方形であることを特徴とする請求項2に記載の放射線検出器。
- 前記ピクセルにおいて、最小の実効面積を持つサブピクセルが、前記ピクセルと辺を共有しない位置に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記ピクセルは直接型放射線検出素材からなることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記ピクセルには、最小の実効面積を持つサブピクセルが複数設けられていることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記ピクセルにおいて、同一の実効面積を持つサブピクセルが前記ピクセル内の離れた位置に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記サブピクセルはパルスモードで動作することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記サブピクセルに信号処理チャンネルが接続された請求項1に記載の放射線検出器を備え、前記信号処理チャンネルから画像構成のための信号を出力すること特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1に記載の放射線検出器を用いて構成されることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置(CT)。
- 請求項1に記載の放射線検出器によって検出される放射線検出データを処理するコンピュータが、
前記ピクセルを構成するサブピクセルのうちその一部のサブピクセルが飽和した場合、前記飽和したサブピクセル以外のサブピクセルによって検出される放射線検出データを取得し、
前記放射線検出データがいずれのサブピクセルから取得されたかにより前記取得した放射線検出データを補正すること
を特徴とする放射線検出方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014211313 | 2014-10-16 | ||
JP2014211313 | 2014-10-16 | ||
PCT/JP2015/067584 WO2016059830A1 (ja) | 2014-10-16 | 2015-06-18 | 放射線検出器、放射線撮像装置、コンピュータ断層撮影装置および放射線検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016059830A1 true JPWO2016059830A1 (ja) | 2017-09-14 |
JP6355747B2 JP6355747B2 (ja) | 2018-07-11 |
Family
ID=55746379
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016553984A Active JP6355747B2 (ja) | 2014-10-16 | 2015-06-18 | 放射線検出器、放射線撮像装置、コンピュータ断層撮影装置および放射線検出方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10302779B2 (ja) |
JP (1) | JP6355747B2 (ja) |
CN (1) | CN107076862B (ja) |
WO (1) | WO2016059830A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7246975B2 (ja) * | 2018-08-31 | 2023-03-28 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | フォトンカウンティング検出器およびx線ct装置 |
US11147522B2 (en) | 2018-08-31 | 2021-10-19 | Canon Medical Systems Corporation | Photon counting detector and x-ray computed tomography apparatus |
JP2021177850A (ja) * | 2020-05-12 | 2021-11-18 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線検出器及びx線ct装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03165291A (ja) * | 1989-11-24 | 1991-07-17 | Shimadzu Corp | X線像撮像装置 |
US20070120062A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-05-31 | General Electric Company | Subpixel routing and processing for an imaging sytstem or the like |
JP2009018154A (ja) * | 2007-05-04 | 2009-01-29 | General Electric Co <Ge> | オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数x線検出器 |
JP2011503535A (ja) * | 2007-11-06 | 2011-01-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 間接放射線検出器 |
JP2013072723A (ja) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、プログラムおよび放射線画像撮影方法 |
JP2013516609A (ja) * | 2009-12-30 | 2013-05-13 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | ピクセル型画像検出器において共有電荷を提供するシステム及び方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1779324B1 (en) * | 2004-08-09 | 2018-01-17 | Koninklijke Philips N.V. | Segmentation based on region-competitive deformable mesh adaptation |
US7260174B2 (en) | 2004-09-13 | 2007-08-21 | General Electric Company | Direct conversion energy discriminating CT detector with over-ranging correction |
US7606347B2 (en) * | 2004-09-13 | 2009-10-20 | General Electric Company | Photon counting x-ray detector with overrange logic control |
US7916836B2 (en) * | 2007-09-26 | 2011-03-29 | General Electric Company | Method and apparatus for flexibly binning energy discriminating data |
JP5442673B2 (ja) * | 2011-06-22 | 2014-03-12 | 株式会社タカギ | 発電装置 |
JP6000680B2 (ja) * | 2012-06-20 | 2016-10-05 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、その製造方法及び撮像システム |
-
2015
- 2015-06-18 US US15/518,575 patent/US10302779B2/en active Active
- 2015-06-18 WO PCT/JP2015/067584 patent/WO2016059830A1/ja active Application Filing
- 2015-06-18 JP JP2016553984A patent/JP6355747B2/ja active Active
- 2015-06-18 CN CN201580056160.0A patent/CN107076862B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03165291A (ja) * | 1989-11-24 | 1991-07-17 | Shimadzu Corp | X線像撮像装置 |
US20070120062A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-05-31 | General Electric Company | Subpixel routing and processing for an imaging sytstem or the like |
JP2009018154A (ja) * | 2007-05-04 | 2009-01-29 | General Electric Co <Ge> | オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数x線検出器 |
JP2011503535A (ja) * | 2007-11-06 | 2011-01-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 間接放射線検出器 |
JP2013516609A (ja) * | 2009-12-30 | 2013-05-13 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | ピクセル型画像検出器において共有電荷を提供するシステム及び方法 |
JP2013072723A (ja) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、プログラムおよび放射線画像撮影方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107076862B (zh) | 2019-04-26 |
WO2016059830A1 (ja) | 2016-04-21 |
US10302779B2 (en) | 2019-05-28 |
CN107076862A (zh) | 2017-08-18 |
JP6355747B2 (ja) | 2018-07-11 |
US20170276808A1 (en) | 2017-09-28 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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