JPWO2016009765A1

JPWO2016009765A1 - 自動分析装置

Info

Publication number: JPWO2016009765A1
Application number: JP2016534332A
Authority: JP
Inventors: 由規村松; 高通森; 中村　和弘; 和弘中村
Original assignee: Hitachi High Technologies Corp
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 2014-07-18
Filing date: 2015-06-15
Publication date: 2017-05-25
Anticipated expiration: 2035-06-15
Also published as: EP3171180B1; US10761105B2; US20170176484A1; JP6509218B2; EP3171180A1; CN106489076A; CN106489076B; WO2016009765A1; EP3171180A4

Abstract

プローブを引き抜く際にプローブとゴム栓の摩擦によって浮き上がった試料容器をラックへ押し下げることを目的とする。プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜く際、プローブと封止栓の摩擦によりラックから浮き上がる封止栓のされた試料容器を押さえる、所定の高さに固定された部材４０１と、プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜いた後、浮き上がった封止栓のされた試料容器は搬送ラインにより搬送され、再検査が行われるまでの搬送ラインの経路に配置された、浮き上がった封止栓のされた試料容器をラックへ押し下げる機構４０２と、を有する自動分析装置を提供する。

Description

本発明は、サンプル分注装置を備えた自動分析装置に関し、特に開栓処理を行うことなく、試験管の封止栓を突き抜いて分注する自動分析装置に関する。

自動分析装置において、例えば、生化学自動分析装置では、血清や尿などの生体試料（以下試料と称する）の成分分析を行うために、試料と試薬とを反応させ、それによって生じる色調や濁りの変化を、分光光度計等の測光ユニットで光学的に測定する。

試料と試薬を反応させるためには、それぞれが収容されている容器から反応容器への分注を行う必要がある。このため自動分析装置では、試料あるいは試薬をそれぞれが収容されている容器から反応容器へ自動で吸引・吐出する分注装置を備えている。

血液などの試料を採取するために使用される採血管（以下試料容器と称する)はゴム栓などの封止栓により封止されている。試料容器の開栓処理を行うことなく、試料の測定を自動的に行う生化学自動分析装置では、先鋭のプローブでゴム栓を貫通させて試料を吸引し、プローブをゴム栓から引き抜き吐出するといった動作を行う必要がある。しかし、プローブをゴム栓から引き抜く際にプローブとゴム栓の摩擦によって試料容器が浮き上がる。

浮き上がりを防止する手段として特許文献１に記載の技術では、プローブの貫通及び引き抜き時に試料容器を保持する機構をプローブの昇降機構とは別に設ける。試料容器上面を、試料容器を保持する機構により押さえ、プローブの貫通、引き抜きを行う。と記載されている。

特開２００１−２２８１６１号公報

上述の特許文献１に記載の方法では、プローブが上下駆動する試料の吸引位置にプローブの上下機構に加え、上下駆動する押さえ機構を設ける必要がある。そのため、構造や調整の複雑化、高コスト化を招く可能性がある。

この問題はプローブの吸引位置において、試料容器とプローブの間にプローブが挿入できる穴形状を持つ固定板を設置することで、試料容器の浮き上がりを回避することが出来る。具体的に説明すると、プローブがサンプルラックに搭載された試料容器に吸引下降する時、固定板の穴形状の中を通過し試料容器に挿入する。試料を吸引後、上昇すると、プローブと試料容器はプローブと試料容器のゴム栓との摩擦によって一体となって上昇するが、ここで固定板の穴形状の大きさを試料容器の直径より小さくすることで、固定板に試料容器の蓋部が抑えられプローブのみを引抜くことが可能となる。

ここでサンプルラックには試料容器に貼りつけられた試料バーコードラベルがサンプルラック内で回転しないようにバネが組み込まれており試料容器を抑えている。プローブで吸引後上昇すると、試料容器はプローブと一体となり上昇し固定板で押さえつけられることは先に説明したが、サンプルラックにはバネが組み込まれているため、試料容器からプローブ挿抜後は、サンプルラックに対し試料容器は浮いた状態で保持され、吸引位置から移動することになる。

しかし、自動再検（自動再検査）の依頼がある試料においては分析終了後装置内にとどめておき、測定結果が範囲内の場合は搬出されるが、範囲外の場合は再度分析を実施する。この時に装置内にとどめてあるサンプルラックに搭載された試料容器は浮いた状態で保持されており、自動再検で再度吸引位置にサンプルラックを移動させてきた場合、浮いた試料容器が固定板に接触し、装置を停止させてしまうことが考えられる。吸引位置から再度吸引位置に移動する間の搬送中の振動等により浮いた試料容器上面の高さが固定板下面の高さよりも高くなる場合があるからである。

また、サンプルラックに対し試料容器が浮いた状態からプローブを下降させてしまうと、プローブが屈曲した状態で試料容器に挿入され、プローブの破損や、分注精度、飛び散り等の影響で装置の信頼性を低下させてしまうことになる。

また、分析部が複数ある自動分析装置の場合や分析部が１つであっても複数の吸引位置で試料を吸引する場合には、分析部の搬送間や吸引位置間で試料容器がラックから浮いていると次の分析部や次の吸引位置で、前述と同様に、浮いた試料容器が固定板に接触し、装置を停止させてしまう虞やプローブの破損などの虞がある。従い、自動再検の依頼の有無に係わらず、浮き上がった試料容器をラックへ押し下げることが望ましい。

本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、プローブを引き抜く際にプローブとゴム栓などの封止栓の摩擦によって浮き上がった試料容器をラックへ押し下げることを目的とする。

上記課題を解決するために、例えば特許請求の範囲に記載の構成を採用する。
本発明は上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例を挙げるならば以下のとおりである。

試料容器を搭載するラックにより試料容器を搬送する搬送ラインと、試料を試料容器より吸引し、反応容器へ吐出するプローブで構成され、封止栓がされている試料容器から封止栓をプローブにより突き抜き試料を吸引し、プローブにより引き抜き試料を吐出する自動分析装置において、プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜く際、プローブと封止栓の摩擦によりラックから浮き上がる封止栓のされた試料容器を押さえる、所定の高さに固定された部材と、プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜いた後、浮き上がった封止栓のされた試料容器は搬送ラインにより搬送され、再検査が行われるまでの搬送ラインの経路に配置された、浮き上がった封止栓のされた試料容器をラックへ押し下げる機構と、を有する自動分析装置である。

また、別の例においては、以下のとおりである。

試料容器を搭載するラックにより試料容器を搬送する搬送ラインと、試料を試料容器より吸引し、反応容器へ吐出するプローブで構成され、封止栓がされている試料容器から封止栓をプローブにより突き抜き試料を吸引し、プローブにより引き抜き試料を吐出する自動分析装置において、プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜く際、プローブと封止栓の摩擦によりラックから浮き上がる封止栓のされた試料容器を押さえる、所定の高さに固定された部材と、プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜いた後、浮き上がった封止栓のされた試料容器は搬送ラインにより搬送され、搬送された浮き上がった封止栓のされた試料容器をラックへ押し下げる機構と、を有する自動分析装置である。

ここで、「所定の高さに固定された」とは、試料容器を押さえる部材が上下に駆動するタイプの試料容器押さえ機構とは区別する意味であり、部材が上下に駆動することがないことを意味する。つまり、「所定の高さに固定された部材」は上下に駆動する駆動機構に接続されておらず、所定の高さが変わらない部材を意味する。

本発明によれば、プローブを引き抜く際にプローブと封止栓の摩擦によって浮き上がった試料容器をラックへ押し下げることにより、浮き上がった試料容器による装置内部への接触を回避することができる。また、プローブにダメージを与えることなく信頼性の高い自動分析装置を提供できる。

上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。

本発明が適用される自動分析装置の概略構成図である。試料を保持する試料容器を複数搭載可能なサンプルラックが搬送される搬送機構の概略図である。本発明の実施例における要部（試料容器を押し込む機構）の説明図である。本発明の自動分析装置における分析動作のフローである。浮き上がった試料容器をバネとローラによって押し下げる動作を説明した図である。浮き上がった試料容器をバネとブロックによって押し下げる動作を説明した図である。浮き上がった試料容器をスロープによって押し下げる動作を説明した図である。浮き上がった試料容器を固定したローラによって押し下げる動作を説明した図である。浮き上がった試料容器を２つの固定したローラによって段階的に押し下げる動作を説明した図である。浮き上がった試料容器を押し下げる機構に動力を伝えることで浮き上がった試料容器をサンプルラックへ押し込む動作を説明した図である。浮き上がった試料容器を押し下げる機構を吸引位置の直前に設けた場合を説明した図である。試料容器の高さ測定位置と浮き上がりを押さえる板の高さ関係を説明した図である。

以下、実施例を図面を用いて説明する。

図１において、自動分析装置は、反応ディスク１０１、洗浄機構１０３、分光光度計１０４、攪拌機構１０５、洗浄漕１０６（撹拌機構１０５用）、第１試薬分注機構１０７、第２試薬分注機構１０７ａ、洗浄槽１０８（第１試薬分注機構１０７および第２試薬分注機構１０７ａ用）、試薬収納庫１０９、試料分注機構１１１、１１１ａ、試料分注機構１１１ａのプローブ１１１ｂ、洗浄槽１１３（試料分注機構１１１、１１１ａ用）、試料搬送機構１１７、制御部１１８等により概略構成されている。

図１に示すように、反応ディスク１０１には反応容器１０２が円周状に並んでいる。反応容器１０２は試料と試薬とを混合して反応させた混合液を収容するための容器であり、反応ディスク１０１上に複数並べられている。
この反応ディスク１０１の近くにはゴム栓１１９のされた試料容器１１５を載せたサンプルラック１１６を移動する試料搬送機構１１７が配置されている。反応ディスク１０１の周囲には、洗浄機構１０３、分光光度計１０４および攪拌機構１０５等が配置されている。

試薬収納庫１０９は、複数の試薬ボトル１１０や洗剤ボトル１１２に加え、希釈液や前処理用試薬を収容するボトルが円周上に配置可能な構造である。

洗浄機構１０３は、分光光度計１０４で測定が終了した混合液を吸引し、反応容器１０２内部を洗浄する機構である。

分光光度計１０４は、反応容器１０２内の混合液を通過した測定用の光の吸光度を測定するための測定部であり、反応ディスク１０１を回転させて分光光度計１０４の光軸を一定間隔で通過させ、反応容器１０２内の混合液の吸光度をその都度測定する。そして、後述する制御部１１８において、測定された吸光度とあらかじめ作成しておいた検量線から、試料中の目的成分の濃度を演算する。なお、分光光度計１０４は通過した光ではなく散乱した光を測定するものであっても良い。つまり、分光光度計１０４は、図示しない光源から照射された光を、混合液を介して受光するものであれば、透過光や散乱光のいずれであっても良い。

反応ディスク１０１と試料搬送機構１１７との間には、回転及び上下動可能な試料分注機構１１１、１１１ａが配置されている。この試料分注機構１１１、１１１ａは、回転軸を中心に円弧を描きながら移動して試料容器１１５から反応容器１０２への試料の分注を行う。試料分注機構１１１、１１１ａは、各々が１個あるいは複数設置されており、本実施形態では２個設置されている。

反応ディスク１０１と試薬収納庫１０９との間には、回転及び上下動可能な第１試薬分注機構１０７および第２試薬分注機構１０７ａが配置されている。試薬分注機構１０７、１０７ａは、回転軸を中心に１軸あるいは多軸での回転で移動して試薬ボトル１１０や洗剤ボトル１１２、希釈液ボトル、前処理用試薬ボトル等から反応容器１０２への試薬、洗剤、希釈液、前処理用試薬の分注を行う。第１試薬分注機構１０７および第２試薬分注機構１０７ａは、各々が１個あるいは複数設置されている。本実施形態では、各々１個設置された例を示す。
この試薬分注機構１０７、１０７ａは、反応容器１０２の再洗浄の際に、試薬収納庫１０９から洗剤を吸引して再洗浄の対象となる反応容器１０２へ吐出させるよう作動する。

制御部１１８は、反応ディスク１０１の回転駆動や、試料分注機構１１１、１１１ａや試薬分注機構１０７、１０７ａの駆動、吸引および吐出の動作や、試料容器１１５、試薬ボトル１１０、洗剤ボトル１１２等の搬送など、自動分析装置内の各機構の動作を制御する。また、制御部１１８は、分光光度計１０４の出力に基づき試料の目的成分の濃度を出力する。

図２は試料を保持する試料容器を複数搭載可能なサンプルラックが搬送される搬送機構の概略図である。

図２おいて、搬送機構は試料を保持する試料容器１１５を複数搭載可能なサンプルラック１１６を投入する投入口２０１と試料容器の高さ測定位置２０８と試料を保持する試料容器１１５を複数搭載可能なサンプルラック１１６を複数保持できるラックローダ２０２と搬送ライン２０３を備える。搬送ラインは搬入ライン２０４（副搬送ライン）および搬入搬出ライン２０５（主搬送ライン）と搬入ライン２０４上に吸引位置２０６と吸引位置２０７を備える。投入されたサンプルラック１１６は、まず、ラックローダ２０２に入り保持される。次に搬入搬出ライン２０５を介して搬入ライン２０４へと搬送され、分注位置２０７で停止する。試料分注機構１１１ａのプローブ１１１ｂにより分注後、搬入搬出ライン２０５を通り、ラックローダ２０２を介して投入口２０１から搬出される。自動再検の依頼がある試料は吸引位置２０７で初回の分注を行い、搬入搬出ライン２０５を介して検査結果の判定が行われるまでラックローダ２０２内で待機している。検査結果が範囲外の場合、ラックローダ２０２に待機させている同試料が再度吸引位置２０７まで搬送され分析を行う。分析の終了した試料については投入口２０１より、装置外へ搬出される。

本発明の自動分析装置における分析動作のフローについて、図３を用いて説明する。

まず、サンプルラック１１６にセットされた試料容器１１５に収容された試料を反応容器１０２に分注するよう、試料分注機構１１１ａ、試料搬送機構１１７、反応ディスク１０１を制御し、一定量分注する（ステップＳ１）。

次いで、前処理工程を実施するために、前処理用の試薬を反応容器１０２に分注するよう、第２試薬分注機構１０７ａ、試薬収納庫１０９、反応ディスク１０１を制御し、分注する（ステップＳ２）。

次いで、前処理用試薬を分注した反応容器１０２内の前処理用試薬と試料との混合液を撹拌するよう撹拌機構１０５、反応ディスク１０１を制御し、攪拌する（ステップＳ３）。

次いで、前処理用試薬と試料とを撹拌した後の前処理液を別の反応容器１０２ａ（図示はしない）に分注するよう、試料分注機構１１１、反応ディスク１０１を制御し、分注する（ステップＳ４）。

次いで、第１試薬を反応容器１０２ａ内に分注するよう、第１試薬分注機構１０７、試薬収納庫１０９、反応ディスク１０１を制御し、分注する（ステップＳ５）。

次いで、第１試薬を分注した反応容器１０２ａ内の混合液を撹拌するよう撹拌機構１０５、反応ディスク１０１を制御し、攪拌する（ステップＳ６）。

次いで、第２試薬を分注するよう、第１試薬分注機構１０７または第２試薬分注機構１０７ａ、試薬収納庫１０９、反応ディスク１０１を制御し、分注する（ステップＳ７）。

次いで、第２試薬を分注した反応容器１０２ａ内の混合液を撹拌するよう撹拌機構１０５、反応ディスク１０１を制御、攪拌する（ステップＳ８）。

次いで、反応容器１０２ａ内の混合液の吸光度を測定するよう分光光度計１０４、反応ディスク１０１を制御し、測定する（ステップＳ９）。反応ディスク１０１は、周期的に回転、停止を繰り返し、反応容器１０２が分光光度計１０４の前を通過するタイミングで測定が行われる。実際の測定では、第一試薬添加からの混合液の反応の過程を測定する。

図４は本発明の実施例における要部（試料容器を押し下げる機構）の説明図である。

押し下げる機構４０２は、試料容器を押し下げるために、ゴム栓１１９と接触する接触部を含む、図４ではこの接触部がローラ４０４ａである場合について説明する。

図４において搬入ライン２０４上に位置する吸引位置２０７には、試料容器１１５にプローブ１１１ｂが挿入後、上昇する時にプローブ１１１ｂとゴム栓１１９との摩擦によって試料容器１１５が一体となってサンプルラック１１６から浮き上がるのを押さえるため、試料容器１１５のゴム栓１１９が通過出来ない大きさの穴を開けた、浮き上がるのを押さえるための板４０１（試料容器を押さえる部材）を予めサンプルラック１１６に搭載された試料容器１１５が接触しない高さに備える。また、浮き上がりを押さえる板４０１までプローブ１１１ｂとゴム栓１１９の摩擦によって浮き上がった試料容器１１５をラックへ押し下げる機構４０２を備える。押し下げる機構４０２にはバネ４０３とローラ４０４ａを備える。

なお、バネ４０３は弾性部材であれば良く、ゴムなどの弾性部材に置き換えることもできる。また、浮き上がるのを押さえるための板４０１は板に限定されるものではなく浮き上がるのを押さえるための部材であれば、その形状は板状のものに限られない。以下、便宜上、弾性部材をバネ、押さえる部材を板として説明する。

投入口２０１より投入されたサンプルラック１１５は、まず、ラックローダ２０２に入り保持される。サンプルラック１１５は、次に搬入搬出ライン２０５（主搬送ライン）に搬送され、次に搬入ライン２０４（副搬送ライン）へと搬送され、吸引位置２０７で停止する。

吸引位置２０７では、プローブ１１１ｂを下降させ浮き上がりを押さえる板４０１に開けた穴を通過し、ゴム栓１１９を貫通する。貫通後、試料容器１１５の中に下降させ、その先端が試料内に浸かった状態で試料をプローブ１１１ｂ内に吸引する。その後、プローブ１１１ｂを上昇させた際、プローブ１１１ｂとゴム栓１１９との摩擦により、プローブ１１１ｂと一体となり浮き上がった試料容器１１５を、浮き上がりを押さえる板４０１にて押さえてプローブ１１１ｂをゴム栓１１９より引き抜き、反応容器１０２上に移動して試料を吐出する。一方、浮き上がった試料容器１１５は、吸引位置２０７での分注終了後に押し下げる機構４０２によりサンプルラック１１６へ押し下げられ、ラックローダ２０２へと送られ搬出される。

自働再検査の依頼がある試料は、初回の分注後、装置の外に搬出せず測定結果が出力されるまでラックローダ２０２内で待機する。検査結果が正常値の範囲内の場合は搬出し、範囲外の場合は再度吸引位置２０７へと搬送され分注を行い、分析を行う。

押し下げる機構４０２によりサンプルラック１１６から浮いた試料容器１１５を全て押し下げることで自動再検査時に吸引位置２０７にサンプルラック１１６が搬入時に試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１に接触し装置を停止させてしまうこと防ぐことが出来る。

図５は、浮き上がった試料容器をバネ４０３とローラ４０４ａによって押し下げる動作を説明した図である。ローラ４０４ａはサンプルラック１１６の搬送方向に回転するローラである。

図５において、プローブ１１１ｂがサンプルラック１１６に搭載された試料容器１１５に吸引下降する時、浮き上がりを押さえる板４０１の穴形状の中を通過し、プローブ１１１ｂは封止栓を突き抜き、試料容器に挿入される。試料を吸引後、上昇すると、プローブ１１１ｂと試料容器１１５は摩擦により一体となって上昇するが、ここで浮き上がりを押さえる板４０１の穴形状の大きさを試料容器１１５の直径より小さくすることで、浮き上がりを押さえる板４０１に試料容器１１５の蓋部が抑えられプローブ１１１ｂのみを引抜くことが可能となる。ここでサンプルラック１１６には試料容器１１５に貼りつけられたバーコードがサンプルラック１１６内で回転しないようにバネ５０１が組み込まれており試料容器１１５を抑えている。そのため、プローブ１１１ｂで吸引後上昇すると、試料容器１１５はプローブ１１１ｂと一体となり上昇し浮き上がりを押さえる板４０１で押さえつけられ、サンプルラック１１６に対し試料容器１１５は浮いた状態で保持される。試料容器１１５が浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送される際、浮き上がった試料容器１１５がバネ４０３とローラ４０４ａとで構成される押し下げる機構４０２のローラ４０４ａと接触する。ここで接触した状態のまま更に試料容器１１５が浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６を搬送させると、ローラ４０４ａは試料容器１１５によって上方へ持ち上げる力が働き上方へ移動する。そのため、ローラ４０４ａに接続したバネ４０３が圧縮した際の反力により、ローラ４０４ａは試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し下げる。

これにより、自動再検時に再度吸引位置２０７にサンプルラックを搬送した際、試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１に接触し、装置を停止させてしまうこと防ぎ、装置の測定が停止することを回避出来る。試料容器１１５の上方の浮き上がりを押さえる板４０１と試料容器１１５の距離は１〜５ｍｍの位置設定することが望ましい。距離を取りすぎると、バネ４０３のバネの反力を多く取らなくてはならない。バネ４０３のバネの反力を多く取るとサンプルラック１１６の停止位置がずれることが想定出来き、次の試料を吸引する時の停止位置の誤差につながり、プローブ１１１ｂにダメージを与えることにつながる。また、試料容器１１５はサンプルラック１１６へ確実に押し下げることが理想だが、多少の浮きがあっても自働再検で試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１への接触を回避することが可能であれば、装置の測定が停止することを回避出来る。さらに、試料容器１１５に多少の浮き上がりがある場合、再検時の分注動作においてプローブ１１１ｂがゴム栓１１９に接触してサンプルラック１１６へ押し付けるが、１ｍｍ程度の浮き上がりであればサンプルラック１１６内のバネ５０１により試料容器１１５を抑えているためプローブ１１１ｂに対し大きな傾きをもつことはない。よって、プローブ１１１ｂを曲げるには至らないため有効である。また、試料容器１１５を押し下げる機構３０２にバネを使用するため、試料容器１１５の長さは均一である必要はなく、多種の試料容器で有効である。

また、試料容器１１５を押し下げるローラの形状は図４に示すローラ４０４ａに限られない。例えば、図４に示したローラ４０４ｂを参照して説明する。

ローラ４０４ｂは、浮き上がった試料容器を押し下げるローラの中心付近にくぼみをつけたローラの説明図である。

ローラ４０４ｂにおいて、ローラはプローブ１１１ｂを試料容器１１５のゴム栓１１９へ挿入する位置にくぼみをつけた形状をしている。このように、試料容器１１５上部のプローブの挿抜位置とローラが触れないようにすることでローラや他の試料容器の汚染を回避することができる。ここで挿抜位置を外れた位置である試料容器１１５のゴム栓の縁にローラを接触させることが可能であれば本発明の効果を得ることが可能である。

このようなローラを採用することによって、搬送ラインはサンプルラック１１６を押し下げる機構４０２で停止させずに搬送することで、接触部であるローラは浮き上がった試料容器を押し下げることができる。つまり、浮き上がった試料容器を押し下げるためだけにサンプルラック１１６を停止させる必要がない。なお、図４のように、押し下げる機構４０２が吸引位置と近い場合には、サンプルラック内の分注対象を変えるためのサンプルラックの移動で分注対象とは異なる試料容器の浮き上がりを押し下げることができる。この場合は、サンプルラックが停止した状態で、試料容器の直上に押し下げる機構４０２が位置する場合があるが、試料容器を押し下げるためだけに停止しているわけではなく、この場合であっても、搬送ラインはサンプルラック１１６を押し下げる機構４０２で停止させずに搬送することで、接触部であるローラは浮き上がった試料容器を押し下げていると言える。

また、上記では、バネとローラの例で説明したが、すなわち、本実施形態では、押し下げる機構４０２は、封止栓と接触する接触部と接触部と接続された弾性部材を含み、搬送ラインはサンプルラックを搬送することで弾性部材を圧縮し、圧縮された反力で接触部は浮き上がった試料容器を押し下げることができることを説明した。

また、ローラ４０４ｂとして、接触部は、封止栓のプローブの挿抜位置と接触部が触れず、挿抜位置を外れた封止栓の位置と接触する形状を有することを説明した。以降の例でも、このような形状にすることが望ましい。

ここで、浮き上がりを押さえる板４０１について説明する。図４で示すように、この浮き上がりを押さえる板４０１は、吸引位置に固定されている。すなわち、この板は、所定の高さに固定された板であり、上下方向に駆動する駆動機構に接続されていない。従い、結果的に試料容器はサンプルラックで浮き上がることになり、試料容器を押し下げるための押し下げる機構４０２が有効となる。

以上、この実施形態では、自動分析装置が、サンプルプローブを封止栓のされた試料容器から引き抜く際、サンプルプローブと封止栓の摩擦によりサンプルラックから浮き上がる封止栓のされた試料容器を押さえる、所定の高さに固定された部材と、サンプルプローブを封止栓のされた試料容器から引き抜いた後、浮き上がった封止栓のされた試料容器は搬送ラインにより搬送され、再検査が行われるまでの搬送ラインの経路に配置された、浮き上がった封止栓のされた試料容器を上記ラックへ押し下げる機構と、を有することを説明した。

また、試料容器１１５を押し下げる機構は図５に示す態様に限られない。例えば、以下図６、図７及び図８を参照して説明する。

図６は、浮き上がった試料容器をバネとブロックによって押し下げる動作を説明した図である。

図６において、押し下げる機構４０２にブロック６０１とバネ６０２を備える。プローブ１１１ｂによって試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１まで浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送される際、浮き上がった試料容器１１５がブロック６０１と接触する。ここで接触した状態のまま更に試料容器１１５が浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６を搬送させるとブロック６０１が試料容器１１５によって上方へ持ち上がる力が働く。そのため、ブロック６０１に接続したバネ６０２が圧縮され反力により、試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し下げる構造とすることもできる。ブロック６０１は回転する構造にする方が望ましい。例えば先のローラのような構造のブロック６０１とすることもできる。サンプルラックに接触時ブロック６０１に加わる力を分散させるからであり、分散させることにより、サンプルラックをスムーズに搬送可能となる。

また、この場合、ブロック６０１には傾斜をつけることが望ましい。つまり、サンプルラックの搬送方向に向かうにつれ搬送ラインとの距離が短くなる傾斜を備えたブロックであることが望ましい。これにより、自動再検時に再度吸引位置２０７にサンプルラックを搬送した際、試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１に接触し、装置を停止させてしまうこと防ぎ、装置の測定が停止することを回避出来る。

また、試料容器１１５の上方の浮き上がりを押さえる板４０１と試料容器１１５の距離は１〜５ｍｍの位置設定することが望ましい。距離を取りすぎると、バネ６０２のバネの反力を多く取らなくてはならない。バネ６０２のバネの反力を多く取るとサンプルラック１１６の停止位置がずれることが想定出来き、次の試料を吸引する時の停止位置の誤差につながり、プローブ１１１ｂにダメージを与えることにつながる。

また、試料容器１１５はサンプルラック１１６へ確実に押し下げることが理想だが、多少の浮きがあっても自働再検で試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１への接触を回避することが可能であれば、装置の測定が停止することを回避出来る。

さらに、試料容器１１５に多少の浮き上がりがある場合、再検時の分注動作においてプローブ１１１ｂがゴム栓１１９に接触してサンプルラック１１６へ押し付けるが、１ｍｍ程度の浮き上がりであればサンプルラック１１６内のバネ５０１により試料容器１１５を抑えているためプローブ１１１ｂに対し大きな傾きをもつことはない。よって、プローブ１１１ｂを曲げるには至らないため有効である。また、試料容器１１５を押し下げる機構４０２にバネを使用するため、試料容器１１５の長さは均一である必要はなく、多種の試料容器で有効である。

このブロックを用いた例でも、ローラの例と同様に、サンプルラックを押し下げる機構４０２で停止させずに搬送することができる。

図７は、接触部としてスロープを採用した例であり、浮き上がった試料容器をスロープによって押し下げる動作を説明した図である。

図７において、押し下げる機構４０２にスロープ７０１を備える。このスロープは、図示するように、サンプルラックの搬送方向に向かうにつれ搬送ラインとの距離が短くなる傾斜をつけたスロープである。プローブ１１１ｂによって試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１まで浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送される際、浮き上がった試料容器１１５の封止栓の上面（上面の縁）がスロープ７０１と接触する。ここで接触した状態のまま更に試料容器１１５が浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送されることによって、スロープ７０１の傾斜に沿って試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し下げる機構とすることもできる。

これにより、自動再検時に再度吸引位置２０７にサンプルラックを搬送した際、試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１に接触し、装置を停止させてしまうこと防ぎ、装置の測定が停止することを回避出来る。

さらに、試料容器１１５に多少の浮き上がりがある場合、再検時の分注動作においてプローブ１１１ｂがゴム栓１１９に接触してサンプルラック１１６へ押し付けるが、１ｍｍ程度の浮き上がりであればサンプルラック１１６内のバネ５０１により試料容器１１５を抑えているためプローブ１１１ｂに対し大きな傾きをもつことはない。よって、プローブ１１１ｂを曲げるには至らないため有効である。

図７では、スロープは、浮き上がりを押さえる板４０１と一体となっているが、このスロープは、浮き上がりを押さえる板４０１と別の部材であってもよい。一体化することで部品点数を減らすことができる。

図８は、接触部としてローラを採用し、浮き上がった試料容器を固定したローラによって押し下げる動作を説明した図である。ローラは、サンプルラックの搬送方向に回転するローラであり、図５と異なり弾性部材であるバネが接続されておらず固定されている。

図８において、押し下げる機構４０２にローラ８０１を備える。プローブ１１１ｂによって試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１まで浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送される際、浮き上がった試料容器１１５の封止栓の上面がローラ８０１と接触する。ここで接触した状態のまま更に試料容器１１５が浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送されることによって、ローラの形状に沿って試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し下げる機構とすることもできる。これにより、これまでと同様の効果が得られる。

更に、浮き上がった試料容器１１５を押し下げる機構は１つで有る必要はなく、複数用いてもよい。例えば、図９を参照して説明する。

図９は浮き上がった試料容器を２つの固定したローラによって段階的に押し下げる動作を説明した図である。２つのローラは、共に、サンプルラックの搬送方向に回転するローラである。なお、夫々のローラに図５のようにバネ４０３を設けてもよい。

図９において、押し下げる機構４０２にローラ９０１ａと９０１ｂを備える。プローブ１１１ｂによって試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１まで浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送される際、浮き上がった試料容器１１５がローラ９０１ａと接触する。ここで接触した状態のまま更に試料容器１１５が浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送されることによって、ローラ９０１ａの形状に沿って、試料容器１１５をローラ９０１ａの下部へ押し下げる。ローラ９０１ａによってローラ９０１ａの下部まで押し下げられた状態で保持されたサンプルラック１１６が搬送され、ローラ９０１ｂと接触する。ここで接触した状態のまま更に搬送されることによってローラ９０１ｂの形状に沿って、試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し下げる。ここで、ローラ９０１ａはローラ９０１ｂより直径が小さいものを使用することが良い。また、便宜上ローラは２個使用したもので説明しているが、使用するローラの個数は２個以上設置して段階的に試料容器１１５を下げても良い。これにより、これまでと同様の効果が得られる。

さらに、試料容器１１５を段階的に押し下げることにより、より装置に負荷をかけずにサンプルラック１１６へ押し下げることが可能である。

つまり、上記ローラの例を一般化すると、接触部は第１接触部と第２接触部を含み、第２の接触部は第１の接触部よりもサンプルラックの搬送方向に対して下流側に配置され、第２の接触部と搬送ラインとの距離は、第１の接触部と上記搬送ラインとの距離よりも短い。これにより、ローラ以外の例であっても、段階的に試料容器１１５を押し下げることができる。

図４〜図９に使用するローラの材質は耐薬品性の高いテフロン（登録商標）や、摩擦係数の低い超高分子プリエチレンの様な樹脂を用いることが良いが、ＳＵＳの様な金属を使用しても同等な効果を得ることが出来る。サンプルラックの搬送速度などを最適化すれば、ゴム栓カバー等の摩耗粉の発生は抑制可能であるからである。

また、上記の実施の態様では、浮き上がった試料容器１１５を押し下げる機構を搬送ライン上２０３に固定し、試料容器１１５を搭載したサンプルラック１１６を通過させることで浮き上がった試料容器１１５を押し下げる場合を示した。これまでの形態では、駆動源は必要なく試料容器の浮き上がりを押し下げることができて有効な構成であるが、本発明はこれに限定されない。例えば、図１０を参照して説明する。

図１０は浮き上がった試料容器を押し下げる機構に動力を伝えることで浮き上がった試料容器をサンプルラックへ押し込む動作を説明した図である。接触部としてブロックを採用した例である。

図１０において、押し下げる機構４０２にモータ１００１とモータによって可動する可動部１００２と可動部１００２に備え付けたブロック１００３を搬送ライン２０３上に備える。プローブ１１１ｂによって試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１まで浮いた状態で保持されたサンプルラック１１６がブロック１００３の下まで搬送され一旦停止する。モータによって可動部１００２を可動しブロック１００３を下降させ浮き上がった試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し込む構造とすることもできる。更に、浮き上がった試料容器１１５をサンプルラック１１６へ押し込むのは１本ずつとは限らず、複数本まとめて押し込んでもよい。すなわち、押し下げる機構４０２は、封止栓と接触する接触部と接触部を駆動させる駆動源を備え、接触部に駆動源から動力を伝えることにより、浮き上がった試料容器を押し下げる。これにより、モータなどの駆動源が必要になるが、上記と同様の効果が得られる。

また、上記の説明において、浮き上がった試料容器１１５を押し下げる機構４０２を搬入搬出ライン２０５上に備えた場合として示したが、本発明はこれに限定されない。吸引位置２０７から再度吸引位置２０７へ送られる搬送ライン上２０３であれば、例えば、サンプルラック１１６が吸引位置２０７へ送られる直前であっても有効である。ラックローダ２０２の高さ測定位置２０８側へは、再検が行われるまでサンプルラック１１６は移動しないため、図２の例であれば、吸引位置２０７の下流、搬入搬出ライン２０５、ラックローダ２０２、吸引位置２０７の上流、のいずれかに押し下げる機構４０２は配置され得る。

図１１において、浮き上がった試料容器を押し下げる機構を吸引位置２０７の直前に設けた例、つまり、吸引位置２０７の上流に押し下げる機構が配置される例について説明する。図１１では、図７の接触部としてスロープを採用した例に対し、このスロープを吸引位置２０７の上流に配置した例である。但し、図７の例では、浮き上がりを押さえる板４０１の高さまで浮き上がった試料容器１１５をこれより下へ押し下げるスローブであったが、図１１の例では、浮き上がりを押さえる板４０１の高さよりも浮き上がった試料容器１１５を浮き上がりを押さえる板４０１まで押し下げるスロープである。

図１１は、浮き上がった試料容器をスロープ７０１によって押し下げる動作を説明した図である。例えば、スロープ７０１は搬入ライン２０４に設けられている。図示された試料容器は既に１度吸引位置２０７で分注された試料であり、検査結果が範囲外であったために、再度吸引位置２０７まで搬送される直前の様子である。つまり、既に浮き上がりを押さえる板４０１まで試料容器が浮いた状態で再度吸引位置２０７直前まで試料容器は搬送される。ここで、先の課題で述べたように吸引位置２０７から再度吸引位置２０７に移動する間の搬送中の振動等により浮いた試料容器上面の高さが固定板下面の高さよりも高くなる場合があり、図示された試料容器はこのような場合の試料容器である。

スロープ７０１は、図示するように、サンプルラックの搬送方向に向かうにつれ搬送ラインとの距離が短くなる傾斜をつけたスロープである。浮き上がった試料容器の封止栓の上面（上面の縁）がスロープ７０１と接触する。ここで接触した状態のまま更にサンプルラック１１６が搬送されることによって、スロープ７０１の傾斜に沿って試料容器をサンプルラック１１６へ押し下げることができる。

これにより、自動再検時に再度吸引位置２０７にサンプルラックを搬送した際、試料容器１１５が浮き上がりを押さえる板４０１に接触し、装置を停止させてしまうことを防ぎ、装置の測定が停止することを回避できる。

なお、試料容器はサンプルラック１１６へ確実に押し下げることが理想だが、多少の浮きがあっても自動再検で試料容器が浮き上がりを押さえる板４０１への接触を回避することが可能であれば、装置の測定が停止することを回避できる。試料容器を確実に押し下げる場合には、スロープの傾斜終端の高さを板４０１の下面よりも低い位置に設けるようにすればよい。すなわち、スロープに代表される押し下げ機構は板４０１の下面と同じ高さ又はそれ以下の高さに試料容器を押し下げられればよい。また、図１１では、スロープ７０１は、浮き上がりを押さえる板４０１と一体となっているが、このスロープは、浮き上がりを押さえる板４０１と別の部材であってもよい。一体化することで部品点数を減らすことができる。

また、分析部が複数ある自動分析装置の場合や分析部が１つであっても複数の吸引位置で試料を吸引する場合には、分析部の搬送間や吸引位置間で試料容器がラックから浮いていると次の分析部や次の吸引位置で、前述と同様に、浮いた試料容器が固定板に接触し、装置を停止させてしまう虞やプローブの破損などの虞がある。従い、自動再検の依頼の有無に係わらず、浮き上がった試料容器をラックへ押し下げることが望ましい。この場合は、少なくとも、押し下げる機構４０２は、搬入ライン２０４（副搬送ライン）に設けられることが望ましい。さらには、容器が浮き上がって間もない、試料吸引位置よりも下流の搬入ライン２０４に押し下げる機構４０２を設けることが望ましい。搬入ライン２０４で試料容器が押し下げられた後、搬入ライン２０４から搬入搬出ライン２０５（主搬送ライン）に搬送することで、搬入搬出ライン２０５では、試料容器の浮き上がりが改善されている状態で搬送される。

また、吸引位置の数に係わらず、再検の有無に係わらず、サンプルラックの搬送中の振動等により試料容器が浮く可能性があることから、図１１のように吸引位置２０７の上流に、浮き上がりを押さえる板４０１を設ける構成は有効である。

また、図２に示すように、投入口２０１とラックローダ２０２の間には、試料容器の高さ測定位置２０８が設けられることが望ましい。この測定位置には試料容器の高さを測定するセンサを設け、初回分析時は試料容器が吸引位置に移動する前に試料容器の高さを測定し、設定値以上の試料容器は分析部に搬送させないで搬出させることが望ましい。設定値は任意に設定可能であるが、少なくとも浮き上がりを押さえる板４０１の高さより低い設定値を設ける必要がある。そして、浮き上がった状態の試料容器を上記センサにより特定して、制御部１１８はエラー情報を表示部などによりユーザに通知する。このようにすることで、プローブを試料容器から引き抜く際の浮き上がり以外の原因で浮き上がった試料容器がラックローダ２０２の下流である搬送ライン２０３へ搬送されることを防ぐことができる。その一方で、一度搬送ライン２０３に試料容器が投入されると試料容器の浮き上がりを監視することができなくなるため、後述の試料容器を押し下げる機構４０２は有効である。図１２において、試料容器の高さ測定位置と浮き上がりを押さえる板の高さ関係を説明した図である。試料容器の高さ測定位置２０８には、試料容器の高さを測定するセンサ１２０１が設けられている。センサ中心１２０２を境にエラー情報をユーザに通知するか否かが判別される。浮き上がり判定高さの設定値１２０３と、浮き上がりを押さえる板高さ１２０４、は図示された高さである。この設定値１２０３は高さ１２０４よりも低く設定されている。これは、例えば、装置が許容する試料容器の高さ（板４０１の高さ）よりも高い試料容器がサンプルラックに載せられた場合に板４０１の下に潜り込めず、サンプルラックが吸引位置直前で停滞し、装置が停止してしまうのを防ぐためである。高さ１２０３と１２０４の差はマージンである。

また、スロープ７０１は板４０１の下面よりも高い位置から始まる。これにより、センサ１２０１に異常高さと検知されなかった試料容器が、センサ１２０１の位置を通過した後に板４０１の下面より高く浮き上がった場合でも、このスロープ７０１により効果的に押し下げることができる。

例えば、設定値以下の試料容器１２０５であれば、センサ１２０１により異常高さと検知されずに分注位置まで搬送され、途中で試料容器が浮き上がった場合にはスロープ７０１により押し下げられる可能性がある。しかし、設定値以上の試料容器１２０６では、センサ１２０１に異常高さと検知され、前記のようにエラー情報がユーザに通知され、分析装置内に搬送されずに、例えば、ラックごとが搬送ラインから排出される。これは、ラックに装置の許容高さよりも高い試料容器が載っているのか、試料容器自体の高さは許容されるものだが浮き上がっているためにセンサ１２０１に検知されているかの区別をしていないためである。後者では、スロープ７０１により試料吸引できる可能性があるが、このような事象を考慮すると装置での判定が複雑化するため、このように単に高さを判定してエラー情報を通知することが望ましい。なお、判定は検体単位ではなくラック単位で判定するため図１２の例では、左側の試料容器が原因となり右側の試料容器も搬送ラインから排出され、試料吸引がなされない。また、右側と左側のサンプルラックは別のサンプルラックを示している。

図２と図１２より明らかにされているように、投入口２０１と吸引位置２０６（２０７）の間に、試料容器の高さを検知するセンサ２０８を備え、スロープは、センサ２０８と吸引位置２０６の間に（吸引位置２０６の上流に）配置され、センサ２０８は、板４０１の下面より下方の高さを検知するセンサであって、センサ２０８により検知された試料容器が搭載されたラックは、吸引位置２０６に搬送されることなく、搬送ラインから排出される。

なお、センサ２０８の位置は、投入口２０１と吸引位置２０６の間であれば場所は問わないが、投入口２０１と搬入ライン２０４の間に、備えられることが望ましい。また、センサ２０８により検知された試料容器が搭載されたラックは、搬入ライン２０４に搬送されることなく排出されることが望ましい。搬入ライン２０４へ搬入することなく排出した方が搬入搬出ライン２０５から搬入ライン２０４へ搬入する装置動作等の無駄が省けるためである。ラックの排出は、搬入搬出ライン２０５の上流に配置されたラックローダの上流か、搬入排出ライン２０５上での排出が考えられる。

このようにセンサ１２０１とスロープを組み合わせることによって、許容外の試料容器が板４０１まで到達することなく、押し下げることができる試料容器のみが板４０１まで到達するので、装置が停止するのを確実に防ぐことができる。なお、本例ではスロープを例にして説明したが、他のロータ等の押し下げる機構に対しても高さ関係は同様である。また、センサ２０８は例えば公知の透過型又は反射型のビームセンサ等である。

また、図２では、サンプルラック１１６は、検査結果の判定が行われるまでラックローダ２０２で待機する例を示したが、ローダタイプではなく、バッファタイプであってもよい。サンプルラック１１６が待機できればその形態は問わない。

以上のように本発明によれば、プローブを引き抜く際に浮き上がった試料容器を押し下げることにより、浮き上がった試料容器による装置内部への接触を回避し、また、プローブにダメージを与えることなく信頼性の高い自動分析装置を提供できる。

図４〜１０のでは、実際にプローブを引き抜く際に浮き上がった試料容器を押し下げることを示したが、図１１では、プローブを引き抜く際に浮き上がった試料容器に対して振動等によりさらに浮き上がった試料容器を板４０１まで押し下げることや、プローブを引き抜くことに係わらず板４０１の直前で板４０１まで押し下げることを示した。つまり、請求の範囲で記載された「浮き上がった封止栓のされた試料容器をラックへ押し下げる機構」は、浮き上がった原因は問わずに封止栓のされた試料容器を押し下げる機構である。この機構は、プローブを引き抜く際に浮き上がった容器のみならず、プローブを引き抜く際に浮き上がった位置からさらに振動等で浮き上がった容器を押し下げ、押し下げる量として振動等を原因として浮き上がった距離分のみ押し下げる場合も請求の範囲で記載されたこの「押し下げる機構」に含まれる。

１０１・・・反応ディスク、１０２・・・反応容器、１０３・・・洗浄機構、１０４・・・分光光度計、１０５・・・攪拌機構、１０６・・・洗浄槽（攪拌機構）、１０７・・・第１試薬分注機構、１０７ａ・・・第２試薬分注機構、１０８・・・洗浄槽（試薬分注機構）、１０９・・・試薬収納庫、１１０・・・試薬ボトル、１１１・・・試料分注機構、１１１ａ・・・試料分注機構、１１１ｂ・・・試料分注機構のプローブ、１１２・・・洗剤ボトル、１１３・・・洗浄槽（試料分注機構）、１１５・・・試料容器、１１６・・・サンプルラック、１１７・・・試料搬送機構、１１８・・・制御部、１１９・・・ゴム栓、２０１・・・投入口、２０２・・・ラックローダ、２０３・・・搬送ライン、２０４・・・搬入ライン、２０５・・・搬入搬出ライン、２０６・・・吸引位置、２０７・・・吸引位置、２０８・・・試料容器の高さ測定位置、４０１・・・浮き上がりを押さえる板、４０２・・・押し下げる機構、４０３・・・バネ、４０４ａ・・・ローラ、４０４ｂ・・・ローラ、５０１・・・バネ（サンプルラック）、６０１・・・ブロック、６０２・・・バネ、７０１・・・スロープ、８０１・・・ローラ、９０１ａ・・・ローラ、９０１ｂ・・・ローラ、１００１・・・モータ、１００２・・・可動部、１００３・・・ブロック、１２０１・・・センサ、１２０２・・・センサ中心、１２０３・・・浮き上り判定高さの設定値、１２０４・・・浮き上がりを押さえる板高さ、１２０５・・・設定値以下の試料容器、１２０６・・・設定値以上の試料容器

Claims

試料容器を搭載するラックにより試料容器を搬送する搬送ラインと、試料を試料容器より吸引し、反応容器へ吐出するプローブで構成され、封止栓がされている試料容器から封止栓を上記プローブにより突き抜き試料を吸引し、上記プローブにより引き抜き試料を吐出する自動分析装置において、
上記プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜く際、プローブと封止栓の摩擦により上記ラックから浮き上がる封止栓のされた試料容器を押さえる、所定の高さに固定された部材と、
上記プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜いた後、浮き上がった封止栓のされた試料容器は上記搬送ラインにより搬送され、再検査が行われるまでの搬送ラインの経路に配置された、浮き上がった封止栓のされた試料容器を上記ラックへ押し下げる機構と、
を有することを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する接触部を含み、
上記搬送ラインは上記ラックを上記押し下げる機構で停止させずに搬送することで、上記接触部は浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する接触部と上記接触部と接続された弾性部材を含み、
上記搬送ラインは上記ラックを搬送することで上記弾性部材を圧縮し、圧縮された反力で上記接触部は浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する接触部を含み、
上記接触部は、封止栓のプローブの挿抜位置と上記接触部が触れず、上記挿抜位置を外れた封止栓の位置と接触する形状を有することを特徴とする自動分析装置。
請求項３記載の自動分析装置において、
上記接触部は上記ラックの搬送方向に回転するローラであり、
上記ローラに浮き上がった試料容器の封止栓の上面が接触し上記ローラが上方へ移動し、上記弾性部材を圧縮した際の反力にて上記ローラは浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項３記載の自動分析装置において、
上記接触部は上記ラックの搬送方向に向かうにつれ上記搬送ラインとの距離が短くなる傾斜を備えたブロックであり、上記ブロックに浮き上がった試料容器の封止栓の上面が接触し上記ブロックが上方へ移動し、上記弾性部材を圧縮した際の反力にて上記ブロックは浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する接触部を含み、
上記接触部は上記ラックの搬送方向に向かうにつれ上記搬送ラインとの距離が短くなる傾斜をつけたスロープであり、上記スロープに浮き上がった試料容器の封止栓の上面が接触し上記スロープの傾斜に沿って浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は上記プローブによる試料の吸引位置より上流側に配置され、上記押し下げる機構は上記部材の下面と同じ高さ又はそれ以下の高さに試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項８記載の自動分析装置において、
さらに、上記ラックを投入する投入口と上記吸引位置の間に、試料容器の高さセンサを備え、
上記押し下げる機構は、上記高さセンサと上記吸引位置の間に配置され、
上記高さセンサは、上記部材の下面より下方の高さを検知するセンサであって、
上記高さセンサにより検知された試料容器が搭載されたラックは、上記吸引位置に搬送されることなく、上記搬送ラインから排出されることを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する接触部を含み、
上記接触部は上記ラックの搬送方向に回転するローラであり、上記ローラに浮き上がった試料容器の封止栓の上面が接触し、上記ローラは上記ローラの形状に沿って浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項２記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する第１接触部と第２接触部を含み、
上記第２の接触部は上記第１の接触部よりも上記ラックの搬送方向に対して下流側に配置され、上記第２の接触部と上記搬送ラインとの距離は、上記第１の接触部と上記搬送ラインとの距離よりも短いことを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
上記搬送ラインは、上記押し下げる機構で浮き上がった試料容器を一旦停止させ、上記押し下げる機構は浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項１２記載の自動分析装置において、
上記押し下げる機構は、封止栓と接触する接触部と上記接触部を駆動させる駆動源を備え、上記接触部に上記駆動源から動力を伝えることにより、浮き上がった試料容器を押し下げることを特徴とする自動分析装置。
請求項１記載の自動分析装置において、
さらに、試薬容器を収納する試薬収納庫と、試料と試薬の混合液を収容する反応容器を備えた反応ディスクと、光源と上記光源から照射された光を、上記混合液を介して受光する分光光度計と、上記分光光度計の出力に基づき試料の目的成分の濃度を出力する制御部と、を備えることを特徴とする自動分析装置。
試料容器を搭載するラックにより試料容器を搬送する搬送ラインと、試料を試料容器より吸引し、反応容器へ吐出するプローブで構成され、封止栓がされている試料容器から封止栓を上記プローブにより突き抜き試料を吸引し、上記プローブにより引き抜き試料を吐出する自動分析装置において、
上記プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜く際、プローブと封止栓の摩擦により上記ラックから浮き上がる封止栓のされた試料容器を押さえる、所定の高さに固定された部材と、
上記プローブを封止栓のされた試料容器から引き抜いた後、浮き上がった封止栓のされた試料容器は上記搬送ラインにより搬送され、搬送された浮き上がった封止栓のされた試料容器を上記ラックへ押し下げる機構と、を有することを特徴とする自動分析装置。
請求項１５記載の自動分析装置において、
上記搬送ラインは、主搬送ラインと、上記主搬送ラインに隣接して設けられた副搬送ラインとを備え、
上記ラックは上記主搬送ラインを介して上記副搬送ラインに搬送され、
上記プローブは上記副搬送ライン上の試料吸引位置で試料容器から試料を吸引し、
上記押し下げる機構は上記試料吸引位置よりも下流の上記副搬送ラインに設けられ、
浮き上がった封止栓のされた試料容器が上記押し下げる機構で押し下げられた後、上記ラックは上記副搬送ラインから上記主搬送ラインに搬送されることを特徴とする自動分析装置。
請求項１５記載の自動分析装置において、
上記搬送ラインは、主搬送ラインと、上記主搬送ラインに隣接して設けられた副搬送ラインとを備え、
上記ラックは上記主搬送ラインを介して上記副搬送ラインに搬送され、
上記プローブは上記副搬送ライン上の試料吸引位置で試料容器から試料を吸引し、
上記押し下げる機構は上記試料吸引位置よりも上流の上記副搬送ラインに設けられ、
浮き上がる封止栓のされた試料容器が上記部材の下面と同じ高さ又はそれ以下の高さに上記押し下げ機構で押し下げられた後、上記試料吸引位置で試料が吸引されることを特徴とする自動分析装置。
請求項１７記載の自動分析装置において、
さらに、上記ラックを投入する投入口と上記副搬送ラインの間に、試料容器の高さセンサを備え、
上記高さセンサは、上記部材の下面より下方の高さを検知するセンサであって、
上記高さセンサにより検知された試料容器が搭載されたラックは、上記副搬送ラインに搬送されることなく、排出されることを特徴とする自動分析装置。