JPWO2015186663A1 - タングステン複合酸化物粒子の製造方法 - Google Patents

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Abstract

本発明は、熱線遮蔽材料等として有用なタングステン複合酸化物粒子を、安定した組成で安価に製造することができる製造方法の提供を目的・課題とする。そして、本発明のタングステン複合酸化物粒子の製造方法は、原料粉体を分散させた分散液を作製する工程と、分散液を熱プラズマ炎中に供給する工程と、熱プラズマ炎の終端部に酸素を含むガスを供給し、タングステン複合酸化物粒子を生成する工程とを有する。分散液は炭素元素を含有することが好ましい。

Description

本発明は、中心粒径が数nm〜1000nmのタングステン複合酸化物粒子の製造方法に関し、特に、原料に炭素元素を含む分散液を用いた熱プラズマ法によるタングステン複合酸化物粒子の製造方法に関する。
現在、タングステン複合酸化物は、圧電素子、電歪素子、磁気歪素子および熱線遮蔽材料等に応用されている。このタングステン複合酸化物の粒子等の製造方法として、従来からいくつかの方法が提案されている(特許文献1、2参照)。
特許文献1には、赤外線遮蔽材料微粒子分散液に、紫外線硬化樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化樹脂、常温硬化樹脂、金属アルコキシド、金属アルコキシドの加水分解重合物から選択された1種類以上の媒体を添加して塗布液を構成し、かつ、この塗布液(赤外線遮蔽材料微粒子分散液)を基材表面に塗布して塗布膜を形成し、この塗布膜から溶媒を蒸発させて赤外線遮蔽膜を得る方法が記載されている。赤外線遮蔽光学部材は、基材とこの基材表面に形成された上記赤外線遮蔽膜とで構成される。
赤外線遮蔽材料微粒子分散液として、一般式WyOz(ただし、Wはタングステン、Oは酸素、2.2≦z/y≦2.999)で表記されるタングステン酸化物微粒子、または/および、一般式MxWyOz(ただし、Mは、H、He、アルカリ金属、アルカリ土類金属、希土類元素、Mg、Zr、Cr、Mn、Fe、Ru、Co、Rh、Ir、Ni、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Cd、Al、Ga、In、Tl、Si、Ge、Sn、Pb、Sb、B、F、P、S、Se、Br、Te、Ti、Nb、V、Mo、Ta、Re、Be、Hf、Os、Bi、Iの内から選択される1種類以上の元素、Wはタングステン、Oは酸素、0.001≦x/y≦1、2.2≦z/y≦3)で表記される複合タングステン酸化物微粒子により構成される赤外線遮蔽材料微粒子が溶媒中に含まれるとともに、動的光散乱法で測定した上記赤外線遮蔽材料微粒子の粒度分布において、50%径が10nm〜30nm、95%径が20nm〜50nm、および平均粒径が10nm〜40nmである。
特許文献1には、タングステン酸アンモニウム水溶液や6塩化タングステン溶液を出発原料とし、不活性ガス雰囲気若しくは還元性ガス雰囲気中で熱処理して、一般式WyOzで表記されるタングステン酸化物微粒子、およびMxWyOzで表記される複合タングステン酸化物微粒子を得ることができることが記載されている。
特許文献2の複合タングステン酸化物超微粒子の製造方法には、原料として、M元素とW元素の比が、ねらいの組成を有する一般式MxWyOz(ただし、Mは下記M元素、Wはタングステン、Oは酸素、0.001≦x/y≦1、2.0<z/y≦3.0)のM元素とタングステン元素の比となる、M元素化合物とタングステン化合物とを混合した粉体、または、従来法で製造された一般式MxWyOz(ただし、Mは前記M元素、Wはタングステン、Oは酸素、0.001≦x/y≦1、2.0<z/y≦3.0)で表される複合タングステン酸化物を原料とする。
原料とキャリアガスとを、不活性ガス単独もしくは不活性ガスと水素ガスの混合ガス雰囲気中で発生させた熱プラズマ中に供給することで、当該原料が蒸発、凝縮過程を経て、単相の結晶相を有し、ねらいの組成を有し、粒径が100nm以下の複合タングステン酸化物超微粒子を生成する。M元素は、H、Li、Na、K、Rb、Cs、Cu、Ag、Pb、Ca、Sr、Ba、In、Tl、Sn、Si、Yb、から選ばれる1種以上の元素のことである。
特開2009−215487号公報 特開2010−265144号公報
特許文献1に記載のように、不活性ガス雰囲気若しくは還元性ガス雰囲気中で熱処理して、タングステン酸化物微粒子、およびMxWyOzで表記される複合タングステン酸化物微粒子を得ている。しかし、一般的には、還元性ガス雰囲気中で熱処理して、複合タングステン酸化物微粒子を得ている。還元性ガス雰囲気中で熱処理する場合、装置コストが嵩み、これにより製造コストが嵩むという問題点がある。
また、特許文献2のように、原料とキャリアガスとを、不活性ガス単独もしくは不活性ガスと水素ガスの混合ガス雰囲気中で発生させた熱プラズマ中に供給して、複合タングステン酸化物超微粒子を製造する方法では、熱プラズマに供給する原料に粉末を用いており、粉末を熱プラズマにそのまま投入している。原料の粉末供給時の脈動、原料である粉末内での偏析により原料組成が安定しないという問題点がある。特許文献2では、安定した組成で複合タングステン酸化物超微粒子を製造することができない。
本発明の目的は、前述の従来技術に基づく問題点を解消し、タングステン複合酸化物粒子を安定した組成で安価に製造することができる製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、原料粉体を分散させた分散液を作製する工程と、分散液を熱プラズマ炎中に供給する工程と、熱プラズマ炎の終端部に酸素を含むガスを供給し、タングステン複合酸化物粒子を生成する工程とを有することを特徴とするタングステン複合酸化物粒子の製造方法を提供するものである。
分散液は炭素元素を含有することが好ましい。分散液に用いる溶媒は、特に限定されないが、炭素元素を含有することが好ましい。この場合、溶媒は、例えば、有機溶媒であり、炭素元素を含有するものとして、例えば、エタノール等のアルコール類が用いられる。また、原料粉体は、炭素元素を含有することが好ましい。例えば、炭素元素は、炭化物、炭酸塩および有機化合物のうち、少なくとも1つの形態で含有される。また、例えば、熱プラズマ炎は、酸素のガスに由来するものであり、酸素を含むガスは、空気ガスと窒素ガスの混合ガスである。
本発明によれば、タングステン複合酸化物粒子を安定した組成で安価に製造することができる。
タングステン複合酸化物粒子の光学特性評価を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態に係るタングステン複合酸化物粒子の製造方法に用いられる微粒子製造装置を示す模式図である。 本発明の実施形態に係るタングステン複合酸化物粒子の製造方法を示すフローチャートである。 本発明の実施形態の製造方法で得られたCsWO粒子のX線回折法による解析結果を示すグラフである。 本発明の実施形態の製造方法で得られたCsWO粒子の光学特性評価の結果を示すグラフである。
以下に、添付の図面に示す好適実施形態に基づいて、本発明のタングステン複合酸化物粒子の製造方法を詳細に説明する。
本発明のタングステン複合酸化物粒子は、例えば、一般式MxWyOzで表される組成を有する。一般式MxWyOzのMは、H、He、アルカリ金属、アルカリ土類金属、希土類元素、Mg、Zr、Cr、Mn、Fe、Ru、Co、Rh、Ir、Ni、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Cd、Al、Ga、In、Tl、Si、Ge、Sn、Pb、Sb、B、F、P、S、Se、Br、Te、Ti、V、Mo、Ta、Re、Be、Hf、Os、BiおよびIのうちから選択される少なくとも1種の元素であり、Wはタングステンであり、Oは酸素である。
タングステン複合酸化物粒子は、圧電素子、電歪素子、磁気歪素子および熱線遮蔽材料等に利用することができる。
図1は、タングステン複合酸化物粒子の光学特性評価を説明するためのグラフである。例えば、Cs0.33WOで表されるタングステン複合酸化物粒子は、図1に示す光学特性を有し、赤外光域DIRの吸光度は可視光域DVLでの吸光度に比して高い。Cs .33WOで表されるタングステン複合酸化物粒子は、上述の光学特性から熱線遮蔽の効果を有しており、熱線遮蔽材に利用することができる。
Cs0.33WOで表されるタングステン複合酸化物粒子はCs0.33WO3+δで表される酸化物粒子を還元処理することにより得られる。Cs0.33WO3+δで表される酸化物体粒子は、Cs0.33WOで表されるタングステン複合酸化物粒子に比して、δの分だけ酸化の程度が大きい。
Cs0.33WO3+δで表される酸化物粒子は、Cs0.33WOで表されるタングステン複合酸化物粒子に比して、可視光域DVLでの吸光度が高く赤外光域DIRでの吸光度が低いため、熱線遮蔽への利用に適していない。
なお、図1に示すCs0.33WOで表されるタングステン複合酸化物粒子の吸光度は、そのタングステン複合酸化物粒子をエタノール中に分散させて、赤外・可視分光光度計にて測定したものである。また、Cs0.33WO3+δで表される酸化物粒子の吸光度は、その酸化物粒子をエタノール中に分散させて、赤外・可視分光光度計にて吸光度を測定したものである。
図2は、本発明の実施形態に係るタングステン複合酸化物粒子の製造方法に用いられる微粒子製造装置を示す模式図である。
図2に示す微粒子製造装置10(以下、単に製造装置10という)は、タングステン複合酸化物粒子の製造に用いられるものである。
製造装置10は、熱プラズマを発生させるプラズマトーチ12と、タングステン複合酸化物粒子の原料粉末を分散液の形態でプラズマトーチ12内へ供給する材料供給装置14と、タングステン複合酸化物粒子の1次微粒子15を生成させるための冷却槽としての機能を有するチャンバ16と、生成された1次微粒子15から任意に規定された粒径以上の粒径を有する粗大粒子を除去するサイクロン19と、サイクロン19により分級された所望の粒径を有するタングステン複合酸化物粒子の2次微粒子18を回収する回収部20とを有する。
材料供給装置14、チャンバ16、サイクロン19、回収部20については、例えば、特開2007−138287号公報の各種装置を用いることができる。
本実施形態において、タングステン複合酸化物粒子の製造には、タングステン複合酸化物粒子の組成に応じた原料粉体が溶媒に分散した分散液が用いられる。分散液は、好ましくは炭素元素を含有し、この分散液のことを、以下、スラリーともいう。
スラリーは炭素元素が含有されるものである。スラリーが炭素元素を含有する形態としては、原料粉末が炭素元素を含有するもの、分散液に用いる溶媒が炭素元素を含有するもの、および溶媒に炭素元素を含有するものを添加するという3つの形態がある。
例えば、炭素元素を含有する原料粉体には、CsCO粉末、WO粉末の混合粉末が用いられる。これ以外にも、CsCO粉末等の炭酸塩、WC粉末、WC粉末等の炭化物粉末を用いることもできる。さらには、原料粉末自体が炭素元素を含まない場合、炭素元素を含有するものを添加してもよい。炭素元素を含有するものとしては、例えば、炭素を主成分とするポリエチレングリコール等の高分子化合物、または砂糖もしくは小麦粉等の有機物を用いることができる。このように、炭素元素は、炭化物、炭酸塩および有機化合物のうち、少なくとも1つの形態で含有される。
原料粉体は、熱プラズマ炎中で容易に蒸発するように、その平均粒径が適宜設定されるが、平均粒径は、例えば、100μm以下であり、好ましくは10μm以下、さらに好ましくは3μm以下である。この平均粒径は、BET法で測定することができる。
溶媒に炭素元素が含有されるものとしては、例えば、有機溶媒が用いられる。具体的には、アルコール、ケトン、ケロシン、オクタンおよびガソリン等を用いることができる。アルコールとしては、例えば、エタノール、メタノール、プロパノールおよびイソプロピルアルコールを用いることができ、また、工業用アルコールを用いてもよい。スラリー中の炭素元素は、原料粉末の一部と反応して、一部を還元するための炭素を供給するものとして作用するものである。このため、熱プラズマ炎24により分解されやすいことが好ましく、低級アルコールが好ましい。なお、溶媒は、無機物を含まないことが好ましい。また、原料粉末が炭素元素を含有するものであれば、溶媒は炭素元素を含まないもの、例えば、水であってもよい。水を溶媒にした場合、原料粉末中に炭素を主成分とした粉末を添加する。
スラリーにおいて、原料粉末と溶媒との混合比(原料粉末:溶媒)は、例えば、質量比で4:6(40%:60%)である。
プラズマトーチ12は、石英管12aと、その外側を取り巻く高周波発振用コイル12bとで構成されている。プラズマトーチ12の上部には、後述するように原料粉末を含有するスラリーの形態で、原料粉末をプラズマトーチ12内に供給するための後述する供給管14aがその中央部に設けられている。プラズマガス供給口12cが、供給管14aの周辺部(同一円周上)に形成されており、プラズマガス供給口12cはリング状である。
プラズマガス供給源22は、第1の気体供給部22aと第2の気体供給部22bとを有し、第1の気体供給部22aと第2の気体供給部22bは配管22cを介してプラズマガス供給口12cに接続されている。第1の気体供給部22aと第2の気体供給部22bには、それぞれ図示はしないが供給量を調整するためのバルブ等の供給量調整部が設けられている。プラズマガスは、プラズマガス供給源22からプラズマガス供給口12cを経てプラズマトーチ12内に供給される。
例えば、酸素ガスとアルゴンガスの2種類のプラズマガスが準備されている。第1の気体供給部22aに酸素ガスが貯蔵され、第2の気体供給部22bにアルゴンガスが貯蔵される。プラズマガス供給源22の第1の気体供給部22aと第2の気体供給部22bから、プラズマガスとして酸素ガスとアルゴンガスが配管22cを介して、リング状のプラズマガス供給口12cを経て、矢印Pで示す方向からプラズマトーチ12内に供給される。そして、高周波発振用コイル12bに高周波電圧が印加されて、プラズマトーチ12内で熱プラズマ炎24が発生する。
なお、プラズマガスは、酸素ガスとアルゴンガスに限定されるものではなく、酸素ガスが含まれれば、例えば、アルゴンガスに代えてヘリウムガス等の不活性ガスとしてもよく、さらには酸素ガスにアルゴンガスとヘリウムガス等の複数の不活性ガスを混合したものでもよい。
熱プラズマ炎24の温度は、原料粉末の沸点よりも高い必要がある。一方、熱プラズマ炎24の温度が高いほど、容易に原料粉末が気相状態となるので好ましいが、特に温度は限定されるものではない。例えば、熱プラズマ炎24の温度を6000℃とすることもできるし、理論上は10000℃程度に達するものと考えられる。
また、プラズマトーチ12内における圧力雰囲気は、大気圧以下であることが好ましい。ここで、大気圧以下の雰囲気については、特に限定されないが、例えば、0.5〜100kPaである。
なお、石英管12aの外側は、同心円状に形成された管(図示されていない)で囲まれており、この管と石英管12aとの間に冷却水を循環させて石英管12aを水冷し、プラズマトーチ12内で発生した熱プラズマ炎24により石英管12aが高温になりすぎるのを防止している。
材料供給装置14は、供給管14aを介してプラズマトーチ12の上部に接続されている。材料供給装置14は、原料粉末を含有する分散液をプラズマトーチ12内の熱プラズマ炎24中に供給するものである。
材料供給装置14は、例えば、特開2011−213524号公報に開示されているものを用いることができる。この場合、材料供給装置14は、スラリー(図示せず)を入れる容器(図示せず)と、容器中のスラリーを攪拌する攪拌機(図示せず)と、供給管14aを介してスラリーに高圧をかけプラズマトーチ12内に供給するためのポンプ(図示せず)と、スラリーを液滴化させてプラズマトーチ12内へ供給するための噴霧ガスを供給する噴霧ガス供給源(図示せず)とを有する。噴霧ガス供給源は、キャリアガス供給源に相当するものである。噴霧ガスのことをキャリアガスともいう。
原料粉末をスラリーの形態で供給する材料供給装置14では、噴霧ガス供給源から押し出し圧力をかけられた噴霧ガスを、スラリーとともに供給管14aを介してプラズマトーチ12内の熱プラズマ炎24中へ供給する。供給管14aは、スラリーをプラズマトーチ内の熱プラズマ炎24中に噴霧し液滴化するための二流体ノズル機構を有しており、これにより、スラリーをプラズマトーチ12内の熱プラズマ炎24中に噴霧する、すなわち、スラリーを液滴化させることができる。噴霧ガスには、キャリアガスと同様に、例えば、上述のプラズマガスとして例示したアルゴンガス、ヘリウムガスの不活性ガスと同じものを用いることができる。
このように、二流体ノズル機構は、スラリーに高圧をかけ、気体である噴霧ガス(キャリアガス)によりスラリーを噴霧することができ、スラリーを液滴化させるための1つの方法として用いられる。
なお、上述の二流体ノズル機構に限定されるものではなく、一流体ノズル機構を用いてもよい。さらに他の方法として、例えば、回転している円板上にスラリーを一定速度で落下させて遠心力により液滴化する(液滴を形成する)方法、スラリー表面に高い電圧を印加して液滴化する(液滴を発生させる)方法等が挙げられる。
チャンバ16は、プラズマトーチ12の下方に隣接して設けられている。チャンバ16は、プラズマトーチ12内の熱プラズマ炎24中に供給された、原料粉末を含有する分散液からタングステン複合酸化物粒子の1次微粒子15が生成される部位であり、冷却槽としても機能する。
気体供給装置28は、第1の気体供給源28a、第2の気体供給源28bと配管28cを有し、さらに、チャンバ16内に供給する後述の混合ガスに押し出し圧力をかけるコンプレッサ、ブロア等の圧力付与装置(図示せず)を有する。また、第1の気体供給源28aからのガス供給量を制御する圧力制御弁28dが設けられ、第2の気体供給源28bからのガス供給量を制御する圧力制御弁28eが設けられている。例えば、第1の気体供給源28aには空気ガスが貯蔵されており、第2の気体供給源28bには酸素ガスが貯蔵されている。
気体供給装置28は、熱プラズマ炎24の尾部、すなわち、プラズマガス供給口12cと反対側の熱プラズマ炎24の端、すなわち、熱プラズマ炎24の終端部に向かって、所定の角度で、矢印Qの方向に酸素を含むガス、例えば、空気ガスと酸素ガスとの混合ガスを供給するとともに、チャンバ16の側壁に沿って上方から下方に向かって、すなわち、図2に示す矢印Rの方向に混合ガスを供給するものである。
なお、気体供給装置28から供給される混合ガスは、後に詳述するようにチャンバ16内で生成されるタングステン複合酸化物生成物を急冷して、タングステン複合酸化物粒子の1次微粒子15とする冷却ガスとして作用する以外にも、サイクロン19における1次微粒子15の分級に寄与する等の付加的作用を有する。熱プラズマ炎24の終端部に供給するガスは、酸素を含むガスであれば、特に限定されるものではない。
材料供給装置14から、スラリーは材料供給装置14からプラズマトーチ12内に所定の流量の噴霧ガスを用いて液滴化されて熱プラズマ炎24に供給される。これにより、スラリーは、ガス状体、すなわち、気相状態にされる。中のアルコールは分解されて炭素が生じる。ガス状体と炭素が反応して原料粉末の一部が還元される。その後、熱プラズマ炎24に向かって矢印Qの方向に供給される混合ガスにより、還元された原料粉末が混合ガスに含まれる酸素ガスで酸化されてタングステン複合酸化物生成物が生成する。チャンバ16内でタングステン複合酸化物生成物が混合ガスで急冷されて、タングステン複合酸化物粒子の1次微粒子15が生成される。この際、矢印Rの方向に供給された混合ガスにより、1次微粒子15のチャンバ16の内壁への付着が防止される。
図2に示すように、チャンバ16の側方下部には、生成された1次微粒子15を所望の粒径で分級するためのサイクロン19が設けられている。このサイクロン19は、チャンバ16から1次微粒子15を供給する入口管19aと、この入口管19aと接続され、サイクロン19の上部に位置する円筒形状の外筒19bと、この外筒19b下部から下側に向かって連続し、かつ、径が漸減する円錐台部19cと、この円錐台部19c下側に接続され、上述の所望の粒径以上の粒径を有する粗大粒子を回収する粗大粒子回収チャンバ19dと、後に詳述する回収部20に接続され、外筒19bに突設される内管19eとを備えている。
チャンバ16内で生成された1次微粒子15は、サイクロン19の入口管19aから、チャンバ16内にて生成された1次微粒子15を含んだ気流が、外筒19b内周壁に沿って吹き込まれ、これにより、この気流が図2中に矢印Tで示すように外筒19bの内周壁から円錐台部19c方向に向かって流れることで、下降する旋回流が形成される。
そして、上述の下降する旋回流が反転し、上昇流になったとき、遠心力と抗力のバランスにより、粗大粒子は、上昇流にのることができず、円錐台部19c側面に沿って下降し、粗大粒子回収チャンバ19dで回収される。また、遠心力よりも抗力の影響をより受けた微粒子は、円錐台部19c内壁での上昇流とともに内管19eから系外に排出される。
また、内管19eを通して、後に詳述する回収部20から負圧(吸引力)が生じるようになっている。そして、この負圧(吸引力)によって、上述の旋回する気流から分離したタングステン複合酸化物粒子が、符号Uで示すように吸引され、内管19eを通して回収部20に送られるようになっている。
サイクロン19内の気流の出口である内管19eの延長上には、所望のナノメートルオーダの粒径を有する2次微粒子(タングステン複合酸化物粒子)18を回収する回収部20が設けられている。この回収部20は、回収室20aと、回収室20a内に設けられたフィルター20bと、回収室20a内下方に設けられた管20cを介して接続された真空ポンプ29とを備えている。サイクロン19から送られた微粒子は、真空ポンプ29で吸引されることにより、回収室20a内に引き込まれ、フィルター20bの表面で留まった状態にされて回収される。
なお、本発明のタングステン複合酸化物粒子の製造方法においては、使用するサイクロンの個数は、1つに限定されず、2つ以上でもよい。
生成直後の微粒子同士が衝突し、凝集体を形成することで粒径の不均一が生じると、品質低下の要因となる。しかしながら、熱プラズマ炎の尾部(終端部)に向かって矢印Qの方向に供給される混合ガスが1次微粒子15を希釈することで、微粒子同士が衝突して凝集することが防止される。
一方、チャンバ16の内側壁に沿って矢印R方向に供給される混合ガスにより、1次微粒子15の回収の過程において、1次微粒子15のチャンバ16の内壁への付着が防止され、生成した1次微粒子15の収率が向上する。
このようなことから、混合ガスについては、タングステン複合酸化物粒子の1次微粒子15が生成される過程において、得られたタングステン複合酸化物粒子を急冷するに十分な供給量が必要であるとともに、1次微粒子15を下流のサイクロン19で任意の分級点で分級できる流速が得られ、かつ、熱プラズマ炎24の安定を妨げない程度の量であることが好ましい。また、熱プラズマ炎24の安定を妨げない限り、混合ガスの供給方法および供給位置等は、特に限定されない。本実施形態の微粒子製造装置10では、天板17に円周状のスリットを形成して混合ガスを供給しているが、熱プラズマ炎24からサイクロン19までの経路上で、確実に気体を供給可能な方法または位置であれば、他の方法、位置でも構わない。
以下、上述の製造装置10を用いたタングステン複合酸化物粒子の製造方法、およびこの製造方法により生成されたタングステン複合酸化物粒子について説明する。
図3は、本発明の実施形態に係るタングステン複合酸化物粒子の製造方法を示すフローチャートである。
本実施形態では、原料粉末を溶媒に分散させた分散液を作製し(ステップS10)、この分散液を用いてタングステン複合酸化物粒子を製造する。原料粉末として、例えば、CsCO粉末、WO粉末の混合粉末を用いる。溶媒には、アルコールを用いる。この場合、原料粉末と溶媒に炭素元素が含まれる。特に限定されるものではないが、例えば、分散液中の原料粉末とアルコールとの混合比は質量比で4:6(40%:60%)である。
プラズマガスに、例えば、アルゴンガスと酸素ガスを用いて、高周波発振用コイル12bに高周波電圧を印加し、プラズマトーチ12内に熱プラズマ炎24を発生させる。例えば、酸素ガスの混合量は2.9体積%である。熱プラズマ炎24には酸素ガス由来の酸素プラズマが含まれる。
気体供給装置28から熱プラズマ炎24の尾部、すなわち、熱プラズマ炎24の終端部に、矢印Qの方向に空気ガスと窒素ガスの混合ガスを供給する。このとき、矢印Rの方向にも空気ガスと窒素ガスを供給する。例えば、混合ガスでの空気ガスの混合量は10体積%である。
次に、材料供給装置14により液滴化した分散液を、供給管14aを通してプラズマトーチ12内の熱プラズマ炎24中に供給する(ステップS12)。熱プラズマ炎24により分散液が蒸発して気相状態となり、原料粉末および溶媒はガス状体となる。CsCO粉末、WO粉末の混合粉末からCsWO3+δが生成される。分散液中のアルコールおよび炭素を主成分とする原料粉末(CsCO粉末)は熱プラズマ炎24の酸素プラズマにより、C、HO、CO、CO等に分解されて炭素が生じる。
そして、ガス状体の原料粉末とC、COとが反応し、原料粉末の一部が還元される。この場合、CsWO3+δ等と炭素が反応し、CsW、CsWO3−δ等が生成される。
その後、熱プラズマ炎24に向かって矢印Qの方向に供給される混合ガスにより、還元された原料粉末が混合ガスに含まれる酸素で酸化され、かつ原料粉末は混合ガスで冷却される(ステップS14)。具体的には、CsWとOが反応し、タングステン複合酸化物生成物としてCsWOが生成され、タングステン複合酸化物生成物が混合ガスで急冷されて、タングステン複合酸化物粒子としてCsWO粒子が得られる。このようにしてタングステン複合酸化物粒子の1次微粒子15が生成される(ステップS16)。
チャンバ16内で生成された1次微粒子15は、サイクロン19の入口管19aから、気流とともに外筒19bの内周壁に沿って吹き込まれ、これにより、この気流が図2の矢印Tに示すように外筒19bの内周壁に沿って流れることにより、旋回流を形成して下降する。そして、上述の下降する旋回流が反転し、上昇流になったとき、遠心力と抗力のバランスにより、粗大粒子は、上昇流にのることができず、円錐台部19c側面に沿って下降し、粗大粒子回収チャンバ19dで回収される。また、遠心力よりも抗力の影響をより受けた微粒子は、円錐台部19c内壁での上昇流とともに内管19eから系外に排出される。
排出されたタングステン複合酸化物粒子の2次微粒子18は、回収部20からの負圧(吸引力)によって、図2中、符号Uに示す方向に吸引され、内管19eを通して回収部20に送られ、回収部20のフィルター20bで回収される。このときのサイクロン19内の内圧は、大気圧以下であることが好ましい。また、タングステン複合酸化物粒子の2次微粒子18の粒径は、目的に応じて、ナノメートルオーダの任意の粒径が規定される。
このようにして、本実施形態においては、均一な粒径を有し、粒度分布幅が狭い中心粒径が数nm〜1000nmのタングステン複合酸化物粒子を、原料粉末をプラズマ処理するだけで容易かつ確実に得ることができる。タングステン複合酸化物粒子の平均粒径は、BET法で測定することができる。
また、分散液を用いているため、原料の偏析が抑制され、安定した組成でタングステン複合酸化物粒子を得ることができる。しかも、スラリーを熱プラズマ炎24に供給するだけであるため、タングステン複合酸化物粒子を安価に得ることができる。
ここで、本出願人は、本発明のタングステン複合酸化物粒子の製造方法によるタングステン複合酸化物粒子の生成を確認した。その結果を図4に示す。なお、タングステン複合酸化物粒子の製造には、原料として、炭酸セシウム(CsCO)粉末と酸化タングステン(WO)粉末を用い、プラズマガスにアルゴンガスと酸素ガスを用いた。
図4の符号Eに示すCsWO粒子と符号Eに示すCsWO粒子は、急冷ガスの成分のうち、空気濃度が10体積%異なる以外は、同じ製造条件である。符号Eは急冷ガス中の空気濃度が5体積%であり、符号Eは急冷ガス中の空気濃度が15体積%である。
図4に示すように、製造条件を変えてCsWO粒子を製造しても、タングステンのピークは見られず、CsWO粒子を製造することができた。図4において、○(丸印)はCsWOの回折ピークを示す。
符号Eに示すCsWO粒子と符号Eに示すCsWO粒子の光学特性を評価した。その結果を図5に示す。
図5は、CsWO粒子の光学特性評価の結果を示すグラフである。なお、図5の符号E、符号Eは図4に示すものと同じである。
図5に示すように、本発明のタングステン複合酸化物粒子の製造方法によれば、可視光域DVLでの吸光度を下げ赤外光域DIRの吸光度を高くすることができる。このことから、本発明のタングステン複合酸化物粒子は、熱線遮蔽材に利用することができる。
本発明は、基本的に以上のように構成されるものである。以上、本発明のタングステン複合酸化物粒子の製造方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良または変更をしてもよいのはもちろんである。
10 微粒子製造装置
12 プラズマトーチ
14 材料供給装置
15 1次微粒子
16 チャンバ
18 微粒子(2次微粒子)
19 サイクロン
20 回収部
22 プラズマガス供給源
24 熱プラズマ炎
28 気体供給装置

Claims (7)

  1. 原料粉体を分散させた分散液を作製する工程と、
    前記分散液を熱プラズマ炎中に供給する工程と、
    前記熱プラズマ炎の終端部に酸素を含むガスを供給し、タングステン複合酸化物粒子を生成する工程とを有することを特徴とするタングステン複合酸化物粒子の製造方法。
  2. 前記分散液は炭素元素を含有する請求項1に記載のタングステン複合酸化物粒子の製造方法。
  3. 前記分散液に用いる溶媒は、炭素元素を含有する請求項1または2に記載のタングステン複合酸化物粒子の製造方法。
  4. 前記溶媒は、有機溶媒である請求項3に記載のタングステン複合酸化物の製造方法。
  5. 前記原料粉体は、炭素元素を含有する請求項1または2に記載のタングステン複合酸化物粒子の製造方法。
  6. 前記炭素元素は、炭化物、炭酸塩および有機化合物のうち、少なくとも1つの形態で含有される請求項5に記載のタングステン複合酸化物粒子の製造方法。
  7. 前記熱プラズマ炎は、酸素のガスに由来するものであり、
    前記酸素を含むガスは、空気ガスと窒素ガスの混合ガスである請求項1〜6のいずれか1項に記載のタングステン複合酸化物粒子の製造方法。
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