JPWO2015170590A1 - グレーティング素子の実装構造の製造方法 - Google Patents

グレーティング素子の実装構造の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2015170590A1
JPWO2015170590A1 JP2016517862A JP2016517862A JPWO2015170590A1 JP WO2015170590 A1 JPWO2015170590 A1 JP WO2015170590A1 JP 2016517862 A JP2016517862 A JP 2016517862A JP 2016517862 A JP2016517862 A JP 2016517862A JP WO2015170590 A1 JPWO2015170590 A1 JP WO2015170590A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
grating
material layer
optical
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016517862A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6491646B2 (ja
Inventor
浅井 圭一郎
圭一郎 浅井
山口 省一郎
省一郎 山口
近藤 順悟
順悟 近藤
直剛 岡田
直剛 岡田
哲也 江尻
哲也 江尻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Publication of JPWO2015170590A1 publication Critical patent/JPWO2015170590A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6491646B2 publication Critical patent/JP6491646B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/13Integrated optical circuits characterised by the manufacturing method
    • G02B6/136Integrated optical circuits characterised by the manufacturing method by etching
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1847Manufacturing methods
    • G02B5/1857Manufacturing methods using exposure or etching means, e.g. holography, photolithography, exposure to electron or ion beams
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/124Geodesic lenses or integrated gratings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/13Integrated optical circuits characterised by the manufacturing method
    • G02B6/132Integrated optical circuits characterised by the manufacturing method by deposition of thin films
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B2006/12083Constructional arrangements
    • G02B2006/12097Ridge, rib or the like

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Abstract

実装基板3、実装基板3上のクラッド層22およびクラッド層上の光学材料層23を有する積層体の所定箇所に複数のブラッググレーティング9を形成し、各ブラッググレーティングを含むようにそれぞれチャンネル型光導波路16を形成し、グレーティング素子に対応する領域を被覆するマスクを光学材料層上に形成し、光学材料層およびクラッド層をエッチングすることによって各グレーティング素子1の側面1aおよび端面1bを成形する。【選択図】 図8

Description

本発明は、ブラッググレーティングを利用したグレーティング素子の実装構造の製造方法に関するものである。
光導波路を形成した素子を量産することによって、その製造コストを低減することが望まれている。特許文献1によれば、シリコンウエハー上にクラッド層と光学材料層とを順次成膜し、次いで光学材料層をエッチングすることによって、細長いストライプ状の光導波路を切り出している。そして、光学材料層およびクラッド層を貫通し、シリコンウエハーに達する細長い溝をエッチングで設けることで、各光導波路素子をシリコンウエハー上で切り分ける。次いで、シリコンウエハーを前記の溝に沿って分割することで、多数の光導波路素子のチップを得る。
しかし、特許文献1では、光導波路を形成した光導波路素子をシリコンウエハー上に多数形成する方法を開示しているが、各光導波路素子にそれぞれ所定の光学的な微細パターンを形成する方法が記載されていない。
一方、半導体レーザ素子が有する回折格子やブラッググレーティングを形成する方法として、ナノインプリント法を採用することが検討されている。特許文献1には、ナノインプリント法を用いた分布帰還型半導体レーザの製造方法が記載されている。この方法では、分布帰還型半導体レーザの回折格子のための半導体層のパターニングを、ナノインプリント法で行っている。また、非特許文献1、2には、ナノインプリント技術を利用したサブ波長構造広帯域波長板の製作が記載されている。更に、非特許文献3には、光学デバイスを作製するためにナノインプリント技術を応用することが記載されている。こうした光学デバイスとしては、波長選択素子、反射制御素子、モス・アイ構造などが例示されている。
特開2002−277661 特開2013−016650 特開2009−111423
「KONICA MINOLTA TECHNOLOGY REPORT」 Vol. 2 (2005) 97〜100頁「ナノインプリント技術を利用したサブ波長構造広帯域波長板の製作」 「Synthesiology」 Vol. 1, No. 1 (2008) 24〜30頁「高機能光学素子の低コスト製造へのチャレンジ ―ガラスインプリント法によるサブ波長周期構造の実現― 古田著、「ナノインプリント技術と光学デバイスへの応用」、月刊ディスプレイ 2007年6月号 54〜61頁
本発明者は、光学的な微細パターンを光導波路表面に形成した光学素子を多数ウエハー上に設けることで、微細パターンの機能を利用した光学素子を量産することを検討した。こうした光学的な微細パターンは多くの種類が知られているが、サブ波長構造広帯域波長板、波長選択素子、反射制御素子、モス・アイ構造、ブラッググレーティングなどを例示できる。
しかし、各種の光学的微細パターンを光導波路に形成した場合、微細パターンの種類によっては、その光学的作用が劣化し、所望の出射光が得られないことがわかった。
本発明の課題は、光学的機能を有する微細パターンの形成された光導波路を有する光学素子を量産できるようにすることである。
本発明は、実装基板、およびこの実装基板上に設けられた複数のグレーティング素子を備えている実装構造を製造する方法であって、
実装基板、実装基板上のクラッド層およびクラッド層上の光学材料層を有する積層体の所定箇所に複数のブラッググレーティングを形成する工程;
少なくとも各ブラッググレーティングを含むようにそれぞれチャンネル型光導波路を形成する工程;
グレーティング素子に対応する領域を被覆するマスクを光学材料層上に形成する工程;および
前記光学材料層および前記クラッド層をエッチングすることによって前記各グレーティング素子の端面を成形する工程
を有することを特徴とする。
また、本発明は、 実装基板、実装基板上のクラッド層およびクラッド層上の光学材料層を有する積層体の所定箇所に複数のブラッググレーティングを形成する工程;
少なくとも各ブラッググレーティングを含むようにそれぞれチャンネル型光導波路を形成する工程;
光導波路形成後に光学材料層上にバッファ層を形成する工程;
グレーティング素子に対応する領域を被覆するマスクをバッファ層上に形成する工程;および
バッファ層、光学材料層、およびクラッド層をエッチングすることによって各グレーティング素子の端面を成形する工程を有することを特徴とする。
本発明者は、多数の光学素子を実装するウエハーを切り出し加工して光学素子を切り出した後、光学素子の各光導波路の端面を鏡面研磨加工することを試みた。しかし、この方法では、光学素子のハンドリングや固定、位置合わせが難しく、量産するにはコストが高い。
このため、本発明者は、各種の光学的微細パターンを光学材料層上に形成し、次いで光学材料層およびクラッド層をエッチングして光導波路を形成し、次いで各光学素子をエッチングによって実装基板上に形成することを検討した。しかし、この場合、微細パターンの種類によっては、その光学的作用が劣化し、所望の出射光が得られないことがわかった。
例えば、サブ波長格子構造を光学材料層に形成した後に、光学材料層およびクラッド層をエッチングして光導波路を形成して光学素子を得た場合には、得られた光学素子を半導体レーザや光ファイバと組み合わせて光源モジュールを構成すると、最終的に得られるレーザの出力が低くなった。
サブ波長格子構造の場合、微細パターンの周期あるいは深さは、使用波長λ、その波長λの光が伝搬する材料の屈折率n(あるいは、実効屈折率neff)としたときに、λ/n(あるいは、λ/neff)程度のサイズになり、比較的大きい。このため光導波路を伝搬する光がこの微細パターンによって散乱されてしまい、光導波路から放射され、損失が大きくなる。
ここで、本発明者は、ブラッググレーティングを光学材料層に形成した後に、光学材料層およびクラッド層をエッチングして光導波路を形成することによってグレーティング素子を得、次いで支持基板を切断することによって個々のグレーティング素子を切り離してチップを得た。そして、得られたグレーティング素子を半導体レーザと組み合わせてみると、所望波長のレーザ光が高出力で得られ、特に光導波路端面における反射戻り光が抑制されることを発見した。
本構造は、微細パターンの周期Λおよび深さが、伝搬する光学材料層の屈折率n(あるいは、実効屈折率neff)に対して、λ/n(あるいは、λ/neff)の1/2以下であることが好ましい。
これは、エッチングによって形成された光導波路端面が適度に鏡面になっており、半導体レーザや光ファイバから入射する光を高効率で光導波路へ結合し、ブラッググレーティングによって回折された伝搬光を低反射率で出射し高効率でレーザや光ファイバに再結合させることを意味している。エッチングによって形成される端面は、通常の研磨面よりも鏡面度は劣るが、適度に鏡面になっていることでこの端面で反射する光はレーザや光ファイバに再入射したり、光導波路に再入射しにくい現象がおこっているものと考えられ、特にグレーティング素子の製造に適していることを示している。
(a)は、グレーティング素子1を示す斜視図であり、(b)は、多数のグレーティング素子1を実装基板3上に実装した状態を示す模式図である。 (a)は、実装基板3を模式的に示す正面図であり、(b)は、実装基板3上にクラッド層4および光学材料層8を形成した状態を示す正面図であり、(c)は、クラッド層4および光学材料層8の形成された実装基板3の上面図である。 (a)は、光学材料層8Aにブラッググレーティング9を形成した状態を示す平面図であり、(b)は、光学材料層8Aにブラッググレーティング9を形成した状態を示す正面図である。 (a)は、樹脂層11上にモールド10を設置した状態を示し,(b)は、モールド10を樹脂層11に加圧した状態を示し、(c)は、樹脂層11Aに設計パターンP2を転写した状態を示す。 (a)は、樹脂マスク12を形成した状態を示し、(b)は、光学材料層8AにブラッググレーティングのパターンP3を形成した状態を示す。 (a)は、リッジ型光導波路16およびリッジ溝7を形成した状態を示す平面図であり、(b)は、リッジ型光導波路16およびリッジ溝7を形成した状態を模式的に示す断面図である。 (a)は、各グレーティング素子に対応するマスク18を光学材料層8A上に設置した模式的に状態を示す平面図であり、(b)は、各グレーティング素子に対応するマスク18を設置した状態を模式的に示す断面図である。 (a)は、各グレーティング素子の外形をエッチングによって形成した状態を模式的に示す平面図であり、(b)は、各グレーティング素子の外形をエッチングによって形成した状態を模式的に示す断面図である。 (a)は、各グレーティング素子の上面に上側バッファ層を形成し、各光導波路の端面に単層膜26A,26Bを形成した状態を示す平面図であり、(b)は、各グレーティング素子の上面に上側バッファ層を形成した状態を示す断面図である。 実装基板3上に更にレーザ光源28を実装した状態を示す。
図1に示すように、本発明においては、実装基板3上に複数のグレーティング素子1が実装されている。一つの実装基板3に実装されたグレーティング素子1の個数は特に限定されない。各グレーティング素子1には、例えば一対のリッジ溝7が形成されており、リッジ溝7の間にリッジ型光導波路16が形成されている。
本例では、リッジ型光導波路16の全長にわたってブラッググレーティング9が形成されている。しかし、ブラッググレーティング9と光導波路入射面16aとの間に、回折格子の無い入射側伝搬部を設けることができる。また、ブラッググレーティング9と光導波路出射面16bとの間に、回折格子の無い出射側伝搬部を設けることができる。
本実施形態の実装基板の製法について更に述べる。
図2(a)に示すように、実装基板3を準備する。実装基板の具体的材質は特に限定されず,ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、AlN、SiC、ZnO、石英ガラスなどのガラス、合成石英、水晶、Si、などを例示することができる。
実装基板の厚さは、ハンドリングの観点からは、250μm以上が好ましく、また小型化という観点からは、1mm以下が好ましい。
次いで、図2(b)、(c)に示すように、実装基板3の上面3a上にクラッド層4を形成し、次いでクラッド層4の上面4a上に光学材料層8を形成する。8aは、光学材料層8の上面である。
ここで、クラッド層は、光学材料層の材質よりも低い屈折率を有する材質から形成するが、たとえば酸化珪素、酸化タンタル、酸化亜鉛によって形成することができる。また、クラッド層にドーピングすることによって、その屈折率を調整することができる。こうしたドーパントとしては、P、B、Al、Gaを例示できる。
クラッド層を設ける場合には、クラッド層の厚さを厚くすることによって、伝搬光の支持基板への染み出しを抑制できるので、この観点からは、クラッド層の厚さは0.5μm以上が好ましい。
光学材料層は、酸化珪素、酸化亜鉛、酸化タンタル、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、酸化チタン、酸化アルミニウム、五酸化ニオブ、酸化マグネシウム等の光学材料から形成することが好ましい。また、光学材料層の屈折率は、1.7以上が好ましく、2以上がさらに好ましい。
光学材料層中には、光導波路の耐光損傷性を更に向上させるために、マグネシウム(Mg)、亜鉛(Zn)、スカンジウム(Sc)及びインジウム(In)からなる群より選ばれる1種以上の金属元素を含有させてもよく、この場合、マグネシウムが特に好ましい。また結晶中には、ドープ成分として、希土類元素を含有させることができる。希土類元素としては、特にNd、Er、Tm、Ho、Dy、Prが好ましい。
光学材料層の厚さは、特に限定されないが、光の伝搬損失を低減するという観点からは、0.5〜3μmが好ましい。
また、光学材料層、クラッド層は、薄膜形成法によって成膜して形成してよい。こうした薄膜形成法としては、スパッタ、蒸着、化学的気相成長(CVD)、有機金属化学的気相成長(MOCVD)を例示できる。
次いで、図3に示すように、光学材料層にブラッググレーティング9を形成し、ブラッググレーティングを有する光学材料層8Aを得る。各ブラッググレーティングの形成位置は、目的とする各グレーティング素子の各光導波路の形成位置に予め合わせて設計しておく。
本発明では、ブラッググレーティング9の形成方法および構造は特に限定されず、そのパターニングは、電子ビーム描画(EB描画)、ステッパー、ナノインプリント、レーザ直接露光によって形成することができる。ただし、量産上の観点からは、ナノインプリント法によってブラッググレーティングを形成することが好ましい。
ナノインプリント法は、例えば以下のようにして実施する。すなわち、例えば図4(a)に示すように、光学材料層8の表面8aに樹脂層11を形成し、モールド10の成形面を樹脂層11の表面11aに対向させる。モールド10の成形面には設計パターンP1が設けられている。本例では、設計パターンP1は、一定周期で交互に形成された凹部10bと凸部10aからなる。
モールド10の設計パターンP1を転写する際には、図4(b)に例示するように、モールド10の成形面を樹脂層11に接触させ、樹脂層に設計パターンP1を転写する。そして、モールドを樹脂層から剥離し、図4(c)に示すように、樹脂層11Aに、凸部11bと凹部11cとからなる転写パターンP2を形成する。
インプリントを行う際には、樹脂層11が熱可塑性樹脂からなる場合には、樹脂層11を樹脂の軟化点以上に加熱することによって樹脂層を軟化させ、モールドを押しつけて樹脂を変形させることができる。この後の冷却時に樹脂層11Aが硬化する。樹脂層11が熱硬化性樹脂からなる場合には、未硬化の樹脂層11に対してモールドを押しつけて樹脂を変形させ,次いで樹脂層を樹脂の重合温度以上に加熱して硬化させることができる。樹脂層11を光硬化性樹脂によって形成した場合には、未硬化の樹脂層11にモールドを押しつけて変形させ、設計パターンを転写し、樹脂層に光を照射して硬化させることができる。
樹脂層に設計パターンを転写した後、エッチングによって光学材料層に微細パターンを成形する。この際には、樹脂層をマスクすることができるが、樹脂層と光学材料層との間に別体のマスク材料層を設けることもできる。
まず、樹脂層をマスクとして利用する場合について述べる。図4(c)に示すように、樹脂層11Aの凹部11cの底には樹脂が残留する。この残留する樹脂をアッシングによって除去し、図5(a)に示す形態とする。図5(a)において、樹脂マスク12には貫通孔12aが多数形成されており、この貫通孔12aの下に光学材料層8の表面8aを露出させる。次いで、樹脂マスク12をマスクとしてエッチングを行い、光学材料層8の材質を一部除去し、凹部15を形成する。樹脂マスク12の直下はエッチングされないので、凸部14として残る(図5(b))。
次いで、樹脂マスクを除去し、図5(b)に示すような光学材料層8Aを得る。光学材料層8Aには、周期的に形成された凸部14と凹部15とからなるブラッググレーティングパターンP3が形成されている。
また、樹脂層と光学材料層との間に別のマスク材料層を設ける場合について述べる。この場合にも、前述のように樹脂層に設計パターンを転写する。次いで、樹脂層の凹部の底に残った樹脂をアッシングによって除去し、下地であるマスク材料層を露出させる。マスク材料層は、樹脂層に形成された貫通孔を通して空間に露出することになる。
マスク材料層の材質としては、Cr、Ni、Ti、WSi、Al、およびその多層膜が例示できる。
次いで、マスク材料層をエッチングし、設計パターンに応じてマスク材料層に多数の貫通孔を形成し、マスクを得る。次いで、エッチングによってマスクの貫通孔直下の光学材料層の材質を除去し、図5(b)に示すような凹部15を形成する。マスクの直下には支持基板がそのまま残り、凸部14を形成する。ついで、不要な樹脂層およびマスクを除去し、図5(b)に示す光学材料層8Aを得る。
光学材料層のエッチング方法としては、ドライエッチング及びウェットエッチングが例示できる。
ドライエッチングは例えば、反応性エッチング等が有り、ガス種としてフッ素系・塩素系が例示できる。
ウェットエッチングは例えば、フッ酸系やTMAH系が例示できる。
次いで、ブラッググレーティングを含む光導波路を光学材料層に形成する。光導波路は、リッジ型光導波路が好ましいが、プロトン交換型光導波路やチタン拡散型光導波路などであってもよい。また、スラブ光導波路であってもよい。
例えば図6の例では、光学材料層に一対のリッジ溝7を形成し、一対のリッジ溝7によってリッジ型光導波路16を形成する。本例では、リッジ型光導波路16の全長にわたってブラッググレーティング9が形成されている。こうしたリッジ型光導波路の形成方法は特に限定されず、マスクアライナーによるフォトリソグラフィー法、レーザアブレーション法、研削加工、ナノインプリント法を例示できる。
次いで、各グレーティング素子に対応する領域にマスクを形成し、マスクによって光学材料層を被覆する。例えば、図7の例では、光学材料層8A上の所定領域にそれぞれマスク18を形成し、対応する各素子領域を被覆する。各マスク18の下には、それぞれ各光導波路およびブラッググレーティングが位置するようにする。
次いで、エッチングを行うことによって、マスクによって被覆されていない領域を除去し、グレーティング素子を成形する。例えば、光学材料層8Aおよびクラッド層4のうちマスク18によって被覆されていない部分をエッチングによって除去することによって、図8に示すように空隙24を形成する。この結果、グレーティング素子1の側面1a、端面1bが成形されると共に、その光学材料層23、クラッド層22も成形される。23bはリッジ溝下の薄層部であり、23aは薄層部の外側に設けられる延在部である。
本グレーティング素子1は、実装基板3上に複数形成され、隣り合うグレーティング素子1間に空隙24が形成される。本例では、空隙24に対して実装基板3の表面3aが露出し、空隙24に露出する露出面3aが平坦である。なお、本例ではグレーティング素子を三個表示したが、一つの実装基板上に形成されるグレーティング素子の多数は限定されず、設計仕様に従う。
こうしたグレーティング素子のエッチング方法としては以下が好ましい。例えば、反応性エッチング等のドライエッチングが例示でき、ガス種としてフッ素系、塩素系が例示できる。
グレーティング素子の端面をエッチングにて切り出すことによって、端面を鏡面研磨ないし光学研磨することなく、光導波路の各端面に対して、端面鏡面研磨した場合とほぼ同等の加工面を形成できることがわかった。
こうした光導波路端面の光軸に対する角度は、90°±10°であることが好ましい。
好適な実施形態においては、実装基板上において、隣り合うグレーティング素子の間に空隙が設けられており、実装基板の空隙に対する露出面が平坦面である。この場合には、この空隙の任意の場所で隣り合うグレーティング素子を切り離すことができるので、グレーティング素子の平面的寸法とこれに接合する実装基板チップの変面的寸法とを合わせる必要がない。従って、グレーティング素子のエッチング時の加工裕度を高くすることができ、製造コストを低減できる。
好適な実施形態においては、各グレーティング素子の端面を形成した後に、グレーティング素子の上面に上側クラッド層を形成するとともにグレーティング素子の端面に単層膜を形成する。
エッチングによって素子の端面を形成する際に、同時に素子の側面を形成することも可能である。これにより、グレーティング素子がアイランド状に点在する構造となり、グレーティング素子形成による応力を緩和することができ、反りの少ないウエハを形成することができる。
例えば、図8に示すように、実装基板3上でグレーティング素子1を多数成形した後、図9に示すように、素子の上面に上側クラッド層25を形成することができる。この成膜方法は特に限定されず、スパッタ、蒸着、化学的気相成長(CVD)、有機金属化学的気相成長(MOCVD)を例示できる。
上側クラッド層を薄膜形成法によって成膜する際には、各素子の入射側端面16aおよび出射側端面16bをも雰囲気に曝露することによって、光導波路の入射側端面および出射側端面上にそれぞれ単層膜26A、26Bを形成することができる。これによって、光導波路の入射側端面、出射側端面における反射戻り量を一層低減し、素子から出射する所望波長の光出力を一層安定させることができる。
上述の例では、光導波路を形成し、マスクを光学材料層上に形成した後、光学材料層およびクラッド層をエッチングすることによって各グレーティング素子の側面および端面を成形した。
しかし、光学材料層上にバッファ層を形成した後に、グレーティング素子に対応する領域を被覆するマスクをバッファ層上に形成し、次いで、バッファ層、光学材料層、およびクラッド層をエッチングすることによって各グレーティング素子の側面および端面を成形することもできる。この場合にも、上述の例と同様の効果を得ることができる。
本実施形態においては、更に、バッファ層上に上側クラッド層を形成し、同時に端面にも単層膜を形成することにより端面の反射率を小さくすることができる。このとき上側クラッド層の厚みは、端面の膜厚に依存するために制約をうけ、クラッドとして機能するための十分な厚みを得ることができない場合がある。バッファ層は、クラッドとして機能させることができ、必要な厚みをバッファ層の工程で形成することができる。このため上部のクラッドと端面の膜厚をそれぞれ最適な数値に設定することができる。端面の反射率はグレーティングによる反射率よりも小さくするための厚みにする必要があり、これによりグレーティング特性の向上と端面反射率の低減が同時に可能となる。
光学材料層、クラッド層、バッファ層、上側クラッド層は、それぞれ、単層が好ましいが、多層膜であっても良い。また、クラッド層、バッファ層、上側クラッド層の材質は、光学材料層よりも屈折率を小さくする必要があり、たとえば酸化珪素、酸化タンタル、酸化亜鉛とすることができる。
上側クラッド層の屈折率は、さらにバッファ層の屈折率と同等、あるいは、それ以下が好ましい。これにより端面の反射率を確実に光学材料層よりも小さくできる。
また、図10に示すように、実装基板3上には、本例のグレーティング素子1(あるいは1A)とともに、光源28を実装することができる。そして、光源28とグレーティング素子1(1A)とを光軸合わせすることによって、所定波長のレーザ光を出射する光源装置を提供することができる。なお、矢印Aは素子への入射光であり、矢印Bは素子からの出射光である。
(実施例1)
図2〜図8を参照しつつ説明した方法によって、図8に示す光学素子を製造した。
ただし、具体的には、実装基板3としては石英基板を使用した。次いで、実装基板3上にクラッド層4を形成した。クラッド材料としては、SiOを用い、クラッド層の厚さは1μmとし、クラッド層はスパッタ法によって形成した。
次いで、クラッド層4上に、Taからなる光学材料層8を形成した。この光学材料層の厚さは2μmとし、成膜方法はスパッタ法とした。
次いで、光学材料層8にブラッググレーティング9を形成した。すなわち、ナノインプリント法によって、ピッチ205nmで樹脂層に凹凸のパターニングを行い、フッ素系ガスのドライエッチングにより深さ100nmのグレーティング9を形成した。グレーティング9の長さは50μmとした。凹部の深さは反射量に依存するが、レーザの発振波長安定用には100nm程度形成すればよい。
次いで、図6に示すように、所定領域にそれぞれ一対のリッジ溝7を形成することによって、リッジ部16を形成した。本例では、リッジ部の幅を3μmとし、リッジ溝の深さを1μmとした。リッジ溝を形成する際には、メタルマスクを成膜し、レジスト塗布後、マスクアライナーにてリッジ溝のパターンを形成し、フッ素系ガスのドライエッチングにより各光導波路を形成した。
次いで、図7に示すようなメタルマスク18を成膜し、レジスト塗布後、マスクアライナーにて素子長10mm、幅2mmのパターンを形成し、フッ素系ガスのドライエッチングにより石英基板上までエッチングし、各グレーティング素子1を形成した。各光導波路の入射側端面および出射側端面が、光軸に対して89°以上の角度をなしており、かつ鏡面である事を確認した。
得られたグレーティング素子の光学特性は、広帯域波長光源であるスーパ・ルミネッセンス・ダイオード(SLD)を使用して、グレーティング素子に光を入力して出力光を光スペクトルアナライザで分析することにより、その透過特性から反射特性を評価した。その結果、TE偏光に対して中心波長848.3nm、最大反射率は15%で、半値全幅△λGは4nmの特性を得た。また入出力の伝搬損失を測定したところ、1dB/cmであった。
(実施例2)
実施例1に記載したようにして、実装基板3上に多数のグレーティング素子を作製した。
次いで、上面側からスパッタ法にて、SiOからなる厚さ250nmの上側クラッド層25を成膜した。この際、光導波路の入射側端面および出射側端面にも、厚さ79nmの単層膜26A、26Bが形成されていた。
得られたグレーティング素子の光学特性は、広帯域波長光源であるスーパ・ルミネッセンス・ダイオード(SLD)を使用して、グレーティング素子に光を入力して出力光を光スペクトルアナライザで分析することにより、その透過特性から反射特性を評価した。その結果、TE偏光に対して中心波長848.3nm、最大反射率は20%で、半値全幅△λGは3nmの特性を得た。また入出力の伝搬損失を測定したところ、0.8dB/cmであった。
本例の素子を、例えば波長850nmの半導体レーザ光源とを組合せることで、所定波長で発振波長が安定する光源を得ることが可能となった。また、この素子に対して、848.3nmで位相整合する波長変換素子と組み合わせることで、出力波長、出力パワーが安定する青緑色の第二高調波発生(SHG)光源を得ることができた。
(比較例1)
図2〜図8を参照しつつ説明した方法によって、サブ波長格子構造を有した波長変換素子を製造した。
実装基板3としては石英基板を使用した。次いで、実装基板3上にクラッド層4を形成した。クラッド材料としては、SiOを用い、クラッド層の厚さは1μmとし、クラッド層はスパッタ法によって形成した。
次いで、クラッド層4上に、ニオブ酸リチウムからなる光学材料層8を直接接合法によって貼り合わせを行い、その後、3μmまで精密に研磨した。
次いで、光学材料層8にサブ波長格子構造を形成した。ナノインプリント法によって、ピッチ1.5μmで樹脂層に凹凸のパターニングを行い、フッ素系ガスのドライエッチングにより深さ1.5μmのサブ波長格子構造を形成した。サブ波長格子構造の長さは8mmとした。
次いで、図6に示すように、所定領域にそれぞれ一対のリッジ溝7を形成することによって、リッジ部16を形成した。本例では、リッジ部の幅を7μmとし、リッジ溝の深さを2μmとした。リッジ溝を形成する際には、メタルマスクを成膜し、レジスト塗布後、マスクアライナーにてリッジ溝のパターンを形成し、フッ素系ガスのドライエッチングにより各光導波路を形成した。
次いで、図7に示すようなメタルマスク18を成膜し、レジスト塗布後、マスクアライナーにて素子長10mm、幅2mmのパターンを形成し、フッ素系ガスのドライエッチングにより石英基板上までエッチングし、各素子を形成した。各光導波路の入射側端面および出射側端面が、光軸に対して89°以上の角度をなしており、かつ鏡面である事を確認した。
得られた波長変換素子に波長780nmと波長1064nmの半導体レーザを入射して差周波発生により2.92μmの中赤外線を発生した。通常、この赤外線光はチェレンコフ放射によって46°の方向に放射するように設計されており、サブ波長格子構造によって端面のフレネル反射を抑制する構造としている。しかし、入力した2つの波長に対しての伝搬損失を測定したところ、5dB/cmであった。このため差周波波によって発生する中赤外光も抑制され、サブ波長格子のないものよりも低出力になった。
すなわち、サブ波長格子構造を有した波長変換素子を製造した場合には、本発明の効果が得られなかった。

Claims (10)

  1. 実装基板、およびこの実装基板上に設けられた複数のグレーティング素子を備えている実装構造を製造する方法であって、
    実装基板、前記実装基板上のクラッド層および前記クラッド層上の光学材料層を有する積層体の所定箇所に複数のブラッググレーティングを形成する工程;
    少なくとも前記の各ブラッググレーティングを含むようにそれぞれ光導波路を形成する工程;
    前記グレーティング素子に対応する領域を被覆するマスクを前記光学材料層上に形成する工程;および
    前記光学材料層および前記クラッド層をエッチングすることによって前記各グレーティング素子の端面を成形する工程
    を有することを特徴とする、実装構造の製造方法。
  2. 前記各グレーティング素子の前記端面を形成した後に、前記光学材料層上に上側クラッド層を形成するとともに前記グレーティング素子の前記端面に単層膜を形成することを特徴とする、請求項1記載の方法。
  3. 前記光導波路がリッジ型光導波路であり、前記光学材料層をエッチングすることによって、前記リッジ型光導波路を成形するリッジ溝を設けることを特徴とする、請求項1または2記載の方法。
  4. 前記ブラッググレーティングをナノインプリント法によって形成することを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一つの請求項に記載の方法。
  5. 前記実装基板上において、隣り合う前記グレーティング素子の間に空隙が設けられており、前記実装基板の前記空隙に対する露出面が平坦面であることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一つの請求項に記載の方法。
  6. 実装基板、およびこの実装基板上に設けられた複数のグレーティング素子を備えている実装構造を製造する方法であって、
    実装基板、前記実装基板上のクラッド層および前記クラッド層上の光学材料層を有する積層体の所定箇所に複数のブラッググレーティングを形成する工程;
    少なくとも前記の各ブラッググレーティングを含むようにそれぞれ光導波路を形成する工程;
    前記光導波路形成後に前記光学材料層上にバッファ層を形成する工程;
    前記グレーティング素子に対応する領域を被覆するマスクを前記
    バッファ層上に形成する工程;および
    前記バッファ層、前記光学材料層、および前記クラッド層をエッチングすることによって前記各グレーティング素子の端面を成形する工程
    を有することを特徴とする、実装構造の製造方法。
  7. 前記各グレーティング素子の前記端面を形成した後に、前記バッファ層上に上側クラッド層を形成するとともに前記グレーティング素子の前記端面に単層膜を形成することを特徴とする、請求項6記載の方法。
  8. 前記光導波路がリッジ型光導波路であり、前記光学材料層をエッチングすることによって、前記リッジ型光導波路を成形するリッジ溝を設けることを特徴とする、請求項6または7記載の方法。
  9. 前記ブラッググレーティングをナノインプリント法によって形成することを特徴とする、請求項6〜8のいずれか一つの請求項に記載の方法。
  10. 前記実装基板上において、隣り合う前記グレーティング素子の間に空隙が設けられており、前記実装基板の前記空隙に対する露出面が平坦面であることを特徴とする、請求項6〜9のいずれか一つの請求項に記載の方法。
JP2016517862A 2014-05-07 2015-04-22 グレーティング素子の実装構造の製造方法 Active JP6491646B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014096019 2014-05-07
JP2014096019 2014-05-07
PCT/JP2015/062189 WO2015170590A1 (ja) 2014-05-07 2015-04-22 グレーティング素子の実装構造の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015170590A1 true JPWO2015170590A1 (ja) 2017-04-20
JP6491646B2 JP6491646B2 (ja) 2019-03-27

Family

ID=54392443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016517862A Active JP6491646B2 (ja) 2014-05-07 2015-04-22 グレーティング素子の実装構造の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9874694B2 (ja)
JP (1) JP6491646B2 (ja)
CN (1) CN106233176B (ja)
DE (1) DE112015002127B4 (ja)
WO (1) WO2015170590A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106848835B (zh) * 2016-12-22 2020-04-28 华中科技大学 一种基于表面光栅的dfb激光器
CN108415124A (zh) * 2018-05-08 2018-08-17 上海美维科技有限公司 一种高密度光波导结构及印制电路板及其制备方法
CN109462144A (zh) * 2018-11-09 2019-03-12 中国工程物理研究院电子工程研究所 一种GaN基低阶表面光栅DFB激光器的制备方法
CN111461040A (zh) * 2020-04-07 2020-07-28 武汉华星光电技术有限公司 电子设备及其光学指纹识别模组

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0410582A (ja) * 1990-04-27 1992-01-14 Anritsu Corp 半導体光素子
JPH1078518A (ja) * 1996-08-10 1998-03-24 Northern Telecom Ltd 光導波路ブラッグ反射格子
WO2001069735A1 (fr) * 2000-03-13 2001-09-20 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif laser a semi-conducteur a retroaction repartie et a couplage de gain et son procede de production
JP2002277661A (ja) * 2001-03-21 2002-09-25 Fujitsu Ltd 光導波路デバイスの切り出し方法
US20040020893A1 (en) * 2002-01-17 2004-02-05 Bookham Technology, Plc. Method of producing a rib waveguide
US20040105624A1 (en) * 2002-11-20 2004-06-03 Lee Ki Dong Method for fabricating polymeric optic waveguide grating
JP2004170685A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Seiko Epson Corp Tft回路間光インターコネクション回路、電気光学装置および電子機器
JP2005322849A (ja) * 2004-05-11 2005-11-17 Nec Compound Semiconductor Devices Ltd 半導体レーザおよびその製造方法
JP2008160130A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Thales 横構造を備えた回折格子を含む光電子素子
JP2013016650A (ja) * 2011-07-04 2013-01-24 Sumitomo Electric Ind Ltd サンプルドグレーティングの形成方法及び半導体レーザの製造方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4380791B2 (ja) 2009-01-23 2009-12-09 住友電気工業株式会社 GaN結晶基板およびその製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0410582A (ja) * 1990-04-27 1992-01-14 Anritsu Corp 半導体光素子
JPH1078518A (ja) * 1996-08-10 1998-03-24 Northern Telecom Ltd 光導波路ブラッグ反射格子
WO2001069735A1 (fr) * 2000-03-13 2001-09-20 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif laser a semi-conducteur a retroaction repartie et a couplage de gain et son procede de production
JP2002277661A (ja) * 2001-03-21 2002-09-25 Fujitsu Ltd 光導波路デバイスの切り出し方法
US20040020893A1 (en) * 2002-01-17 2004-02-05 Bookham Technology, Plc. Method of producing a rib waveguide
US20040105624A1 (en) * 2002-11-20 2004-06-03 Lee Ki Dong Method for fabricating polymeric optic waveguide grating
JP2004170685A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 Seiko Epson Corp Tft回路間光インターコネクション回路、電気光学装置および電子機器
JP2005322849A (ja) * 2004-05-11 2005-11-17 Nec Compound Semiconductor Devices Ltd 半導体レーザおよびその製造方法
JP2008160130A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Thales 横構造を備えた回折格子を含む光電子素子
JP2013016650A (ja) * 2011-07-04 2013-01-24 Sumitomo Electric Ind Ltd サンプルドグレーティングの形成方法及び半導体レーザの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US9874694B2 (en) 2018-01-23
CN106233176B (zh) 2019-08-16
US20170031097A1 (en) 2017-02-02
CN106233176A (zh) 2016-12-14
DE112015002127B4 (de) 2022-01-13
JP6491646B2 (ja) 2019-03-27
DE112015002127T5 (de) 2017-03-16
WO2015170590A1 (ja) 2015-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5643920B1 (ja) Led素子及びその製造方法
JP5177285B2 (ja) 光素子及びその製造方法
JP6491646B2 (ja) グレーティング素子の実装構造の製造方法
JP2006514751A (ja) ビームの偏光を提供するための方法およびシステム
US20060072194A1 (en) Wire grid polarizer and fabrication method thereof
WO2004081620A1 (ja) 回折素子および光学装置
JP2011203604A (ja) 光学素子とその製造方法
JP4945140B2 (ja) 波長可変光フィルター及びこれを用いた外部共振器型半導体レーザ装置
JP6572209B2 (ja) 光学デバイスおよび光学デバイスの製造方法
US10393931B2 (en) Grating element
JP6629194B2 (ja) 外部共振器型発光装置
WO2015166852A1 (ja) 光学素子およびその製造方法
WO2014148541A1 (ja) レーザ光源装置
JP2000275415A (ja) 共振モード格子フィルター
JP2017003607A (ja) 光結合素子及び光結合素子の製造方法
WO2006104045A1 (ja) 波長フィルタ
JP2004271828A (ja) 光学素子およびその製造方法
JP6601982B2 (ja) 光導波路基板の製造方法
JP2017126625A (ja) 外部共振器型発光装置
Harish et al. Highly efficient DBR in silicon waveguides with eleventh order diffraction
WO2016125746A1 (ja) 光導波路素子および光学デバイス
JP2016171219A (ja) 外部共振器型発光装置
JP6527415B2 (ja) 半導体レーザ素子
JP2016161915A (ja) 光導波路素子および光学デバイス
CN115603177A (zh) 使用单向光注入调制的激光器阵列

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190301

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6491646

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150