JPWO2014163204A1 - 固体電解コンデンサ及び固体電解コンデンサ用外装ケース - Google Patents

固体電解コンデンサ及び固体電解コンデンサ用外装ケース Download PDF

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Abstract

本発明の固体電解コンデンサは、底面部１２、底面部１２から立設されている側面部１４及び側面部１４の端部に形成された開口部１６を有する有底筒状の外装ケース１０と、外装ケース１０の内部に収納され、セパレータ２６を介して陽極箔２２と陰極箔２４とが重ね合わされた状態で巻回され、陽極箔２２と陰極箔２４との間には固体電解質が充填されてなるコンデンサ素子２０と、コンデンサ素子２０を外装ケース１０の内部に収納した状態で、外装ケース１０の開口部１６を封口する封口部材３０とを備える固体電解コンデンサであって、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間のうち少なくとも一方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されていることを特徴とする。本発明の固体電解コンデンサよれば、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が低く、かつ、従来よりも寿命が長くなる。

Description

本発明は、固体電解コンデンサ及び固体電解コンデンサ用外装ケースに関する。
従来、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間に絶縁材が配設されている電解コンデンサが知られている（例えば、特許文献１参照。）。
図１５は、従来の電解コンデンサ９００を説明するために示す図である。図１５（ａ）は電解コンデンサ９００の断面図を示し、図１５（ｂ）はコンデンサ素子９２０の分解斜視図を示す。なお図１５中、符号９５０，９５２はリードを示す。
従来の電解コンデンサ９００は、図１５に示すように、底面部９１２、底面部９１２から立設されている側面部９１４及び側面部９１４の端部に形成された開口部９１６を有する金属製の外装ケース９１０と、外装ケース９１０の内部に収納され、セパレータ９２６を介して陽極箔９２２と陰極箔９２４とが重ね合わされた状態で巻回され、陽極箔９２２と陰極箔９２４との間には電解液（図示せず。）が充填されてなるコンデンサ素子９２０と、コンデンサ素子９２０を外装ケース９１０の内部に収納した状態で、外装ケース９１０の開口部９１６を封口する封口部材９３０とを備え、外装ケース９１０の底面部９１２とコンデンサ素子９２０との間に、絶縁材９４０が配設されている。
従来の電解コンデンサ９００においては、陽極箔９２２の表面（端部表面を含む。）には酸化皮膜が形成されている。なお、絶縁材９４０は、ポリエチレン、ポリプロピレン又はポリオレフィン等の樹脂からなる。
従来の電解コンデンサ９００によれば、底面部９１２とコンデンサ素子９２０との間に絶縁材９４０が配設されているため、外装ケース９１０とコンデンサ素子９２０との間の絶縁性を確保した電解コンデンサとなる。
また、従来の電解コンデンサ９００によれば、底面部９１２とコンデンサ素子９２０との間に絶縁材９４０が配設されていることから、底面部９１２とコンデンサ素子９２０との間の隙間が小さくなり、耐振動性の高い電解コンデンサとなる。
また、従来の電解コンデンサ９００によれば、陽極箔９２２と陰極箔９２４との間には電解液が充填されているため、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、電解液の水分で当該欠損箇所を修復することが可能となり、その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少ない電解コンデンサとなる。
特開２０１２−４４０６９号公報 特開２０１０−９８１３１号公報
ところで、近年、コンデンサの技術分野において、電解液を用いた電解コンデンサと比較して、寿命が長く、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が低い固体電解コンデンサが求められている。しかしながら、固体電解コンデンサにおいては、陽極箔と陰極箔との間には電解液が充填されていないため、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、当該欠損箇所を修復することができない。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとすることが困難となるという問題がある。
そこで、本発明は上記した問題を解決するためになされたもので、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサを提供することを目的とする。また、そのような固体電解コンデンサに用いる固体電解コンデンサ用外装ケースを提供することを目的とする。
本発明の発明者らは、上記目的を達成するために鋭意努力を重ねた結果、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間及び（又は）コンデンサ素子と封口部材との間に、親水性合成樹脂からなる絶縁材を配設すれば、電解液がない固体電解コンデンサであっても、親水性合成樹脂が保持する水分で酸化皮膜の欠損箇所を修復することが可能となることを見出した。
そこで、本発明の発明者らは、さらなる鋭意努力を重ねた結果、上記した親水性合成樹脂からなる絶縁材が、「酸化皮膜に欠損が生じた場合に、当該欠損箇所を効率よく修復する機能を有する「酸化皮膜修復体」でなければならないことを見出した。当該欠損箇所の修復に寄与する物質としては、水、イオン性物質（水中でイオン化する官能基を有する物質）及び酸素を供給できる物質などを挙げることができる。
例えば、上記した親水性合成樹脂からなる絶縁材として、特許文献２に記載されたようなポリビニルアルコール（ＰＶＡ）からなる絶縁材を使用した場合には、当該絶縁材は、当該欠損箇所を修復可能な機能として水分を保持し供給する能力を有しているが、長期にわたり欠損箇所を修復できるだけの水分供給能力が期待できないため（後述する試験例１参照。)、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサ用の酸化皮膜修復体には適していない。
これを踏まえて、本発明の発明者らは、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間及び（又は）コンデンサ素子と封口部材との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を配設することにより上記した問題が解決可能であることに想到し、本発明を完成させるに至った。
［１］本発明の固体電解コンデンサは、底面部、前記底面部から立設されている側面部及び前記側面部の端部に形成された開口部を有する有底筒状の外装ケースと、前記外装ケースの内部に収納され、セパレータを介して陽極箔と陰極箔とが重ね合わされた状態で巻回され、前記陽極箔と前記陰極箔との間には固体電解質が充填されてなるコンデンサ素子と、前記コンデンサ素子を前記外装ケースの内部に収納した状態で、前記外装ケースの前記開口部を封口する封口部材とを備える固体電解コンデンサであって、前記外装ケースの前記底面部と前記コンデンサ素子との間及び前記コンデンサ素子と前記封口部材との間のうち少なくとも一方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されていることを特徴とする。
本発明の固体電解コンデンサによれば、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間及び封口部材とコンデンサ素子との間のうち少なくとも一方に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔又は陰極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
なお、本明細書中、「親水性合成樹脂」とは、親水性の官能基を側鎖に含む合成樹脂又は水素結合を発現する結合を主鎖に含む合成樹脂のことをいう。また、本明細書中、「酸化皮膜修復体」とは、酸化皮膜に欠損が生じた場合に、当該欠損箇所を修復することが可能な量の水分を保持可能な構造体のことをいう。当該欠損箇所を修復することが可能な水分含有量は、２ｗｔ％〜４０ｗｔ％の範囲内にある。
また、本発明の固体電解コンデンサによれば、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間及びコンデンサ素子と封口部材との間のうち少なくとも一方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されているため、底面部とコンデンサ素子との隙間及び（又は）コンデンサ素子と封口部材との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、本発明の固体電解コンデンサによれば、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間及びコンデンサ素子と封口部材との間のうち少なくとも一方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されているため、底面部とコンデンサ素子との間及び（又は）コンデンサ素子と封口部材との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
［２］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記酸化皮膜修復体は、親水性の官能基を側鎖に含む合成樹脂からなることが好ましい。
このような構成とすることにより、水分保持能力が高く酸化皮膜修復機能に優れた酸化皮膜修復体となる。
［３］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記親水性の官能基は、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、スルホン酸基、アミド基又はリン酸エステル基のいずれかであることが好ましい。
このような構成とすることにより、上記した官能基を有する合成樹脂は、極性が大きく、水と水素結合しやすいことから、水分保持能力がより一層高い酸化皮膜修復体となる。
上記した官能基のうち、フェノール基は、ヒドロキシフェニル基とも呼称されるものである。
また、ヒドロキシフェニルカルボン酸基は、ヒドロキシフェニル基の芳香環における水素１つがカルボキシル基に置換されたものであり、ヒドロキシ安息香酸に相当する構造を有するものである。
スルホン酸基は、スルホ基とも呼称されるものである。
［４］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記親水性の官能基は、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、カルボキシル基、スルホン酸基又はリン酸エステル基であることが好ましい。
上記した官能基は、Ｈ＋を解離させた「−Ｏ−」イオンになりやすく、上記した官能基を含む合成樹脂は「イオン性物質」及び「酸素を供給できる物質」となる。従って、このような構成とすることにより、酸化皮膜修復体が保持する水分で酸化皮膜の欠損を修復するだけでなく、上記した「−Ｏ−」イオンがアルミニウムとの反応に関与するため酸化皮膜修復体自体も酸化皮膜の欠損を修復することが可能となる。その結果、酸化皮膜修復機能がより一層高い固体電解コンデンサとなる。
［５］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記親水性の官能基は、アミノ基であることが好ましい。
このような構成とすることにより、アミノ基がイオン化することで導電性高分子の脱ドープを引き起こすこととなる。このため、導電性高分子の導電性が著しく低下することとなる。その結果、外装ケースと固体電解質との間の絶縁性が高い固体電解コンデンサとなる。
［６］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記親水性の官能基は、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、アミド基又はリン酸エステル基であることが好ましい。
このような構成とすることにより、上記した官能基が、導電性高分子に対して求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質を有するため、導電性高分子のπ結合が当該求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質によって切り離されることとなる。このため、導電性高分子の導電性が低下し、外装ケースと固体電解質との間の絶縁性が高い固体電解コンデンサとなる。
［７］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記酸化皮膜修復体は、水素結合を発現する結合を主鎖に含む合成樹脂からなり、かつ、水分含有量が２ｗｔ％以上であることが好ましい。
このような構成とすることにより、水分保持能力が高く酸化皮膜修復機能に優れた酸化皮膜修復体となる。
なお、酸化皮膜修復体の水分含有量を２ｗｔ％以上としたのは、酸化皮膜修復体の水分含有量を２ｗｔ％未満とした場合には、酸化皮膜修復体が保持する水分では少なすぎて、当該欠損箇所を完全に修復することができないからである。
［８］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記水素結合を発現する結合が、エーテル結合、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合であることが好ましい。
このような構成とすることにより、上記した水素結合を発現する結合を有する合成樹脂は、極性が大きく、水と水素結合しやすいことから、水分保持能力がより一層高い酸化皮膜修復体となる。
［９］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記水素結合を発現する結合が、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合であることが好ましい。
このような構成とすることにより、上記した水素結合を発現する結合が、導電性高分子に対して求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質を有するため、導電性高分子のπ結合が当該求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質によって切り離されることとなる。このため、導電性高分子の導電性が低下し、外装ケースと固体電解質との間の絶縁性が高い固体電解コンデンサとなる。
［１０］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記酸化皮膜修復体は、前記底面部と、前記底面部に対向している前記コンデンサ素子との間に配設されていることが好ましい。
陽極箔の底面側端部や陰極箔の底面側端部に酸化皮膜の欠損が生じやすいことから、このような構成とすることにより、酸化皮膜修復体が保持する水分で速やかに当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
［１１］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記酸化皮膜修復体は、前記コンデンサ素子と前記封口部材との間に配設されていることが好ましい。
陽極箔の天面側端部や陰極箔の天面側端部に酸化皮膜の欠損が生じやすいことから、このような構成とすることにより、酸化皮膜修復体が保持する水分で速やかに当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、このような構成とすることにより、添加されたカーボン等によって封口部材が導電性を有する場合であっても、酸化皮膜修復体を配設していない場合と比較して、封口部材とコンデンサ素子との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
［１２］本発明の固体電解コンデンサにおいては、前記酸化皮膜修復体は、前記側面部と前記コンデンサ素子との間にも配設されていることが好ましい。
このような構成とすることにより、側面部とコンデンサ素子との間に配設された酸化皮膜修復体も水分を保持していることから、外装ケース全体の水蒸気濃度が高い状態となる。その結果、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間（及び封口部材とコンデンサ素子との間）に配設された酸化皮膜修復体が水分を保持しやすくなる。
また、このような構成とすることにより、外装ケースの側面部とコンデンサ素子との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、このような構成とすることにより、外装ケースの側面部とコンデンサ素子との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
［１３］本発明の固体電解コンデンサ用外装ケースは、底面部、前記底面部から立設されている側面部及び前記側面部の端部に形成された開口部を有し、固体電解コンデンサを収容するための有底筒状の固体電解コンデンサ用外装ケースであって、前記底面部の内表面に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されていることを特徴とする。
本発明の固体電解コンデンサ用外装ケースによれば、底面部の内表面に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔又は陰極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となり、その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、本発明の固体電解コンデンサ用外装ケースによれば、底面部の内表面に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されているため、製造される固体電解コンデンサにおいては、底面部とコンデンサ素子との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、本発明の固体電解コンデンサ用外装ケースによれば、底面部の内表面に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されているため、コンデンサ素子との隙間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
［１４］本発明の固体電解コンデンサ用外装ケースにおいては、前記側面部の内表面にも親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されていることが好ましい。
このような構成とすることにより、側面部の内表面に形成された酸化皮膜修復体も水分を保持していることから、製造される固体電解コンデンサにおいては、外装ケース全体の水蒸気濃度が高い状態となる。その結果、底面部の内表面に配設された酸化皮膜修復体が水分を保持しやすくなる固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、このような構成とすることにより、側面部とコンデンサ素子との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、このような構成とすることにより、側面部とコンデンサ素子との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
実施形態１に係る固体電解コンデンサ１を説明するために示す図である。 実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００を説明するために示す図である。 実施形態１における固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。 実施形態３における固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。 実施形態４に係る固体電解コンデンサ４を説明するために示す図である。 実施形態４に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１０２を説明するために示す図である。 実施形態５に係る固体電解コンデンサ５を説明するために示す図である。 実施形態５における固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。 変形例３における固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。 実施形態６における固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。 変形例４における固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。 試験例に用いた各試料の諸元及び試験例の評価結果を示す図表である。 試験例１の結果を示す図である。 試験例２の結果を示す図である。 従来の電解コンデンサ９００を説明するために示す図である。
以下、本発明の固体電解コンデンサ及び固体電解コンデンサ用外装ケースについて、図に示す実施形態に基づいて説明する。
［実施形態１］
１．実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の構成
まず、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の構成を、実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００の構成とともに説明する。
図１は、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１を説明するために示す図である。図１（ａ）は固体電解コンデンサ１の断面図であり、図１（ｂ）はコンデンサ素子２０の分解斜視図である。
図２は、実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００を説明するために示す図である。
実施形態１に係る固体電解コンデンサ１は、巻回型の固体電解コンデンサであって、図１に示すように、有底筒状の外装ケース１０と、コンデンサ素子２０と、封口部材３０とを備え、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されている。
外装ケース１０は、底面部１２、底面部１２から立設されている側面部１４及び側面部１４の端部に形成された開口部１６を有する有底筒状のケースである。外装ケース１０は、金属製（例えば、アルミニウム製）のケースである。
底面部１２の平面形状は、ほぼ円形形状をしている。底面部１２の中心付近には、防爆弁（図示せず。）が設けられている。防爆弁は、外装ケース内部が異常高温となり内圧が上昇した際に、割れて内圧を外部に逃がすことで破裂を防ぐ構造となっている。側面部１４は、底面部１２の外縁からほぼ垂直な方向に立設されている。開口部１６は、後述する封口部材３０によって封口されている。
コンデンサ素子２０は、外装ケース１０の内部に収納され、図１（ｂ）に示すように、セパレータ２６を介して陽極箔２２と陰極箔２４とが重ね合わされた状態で巻回され、陽極箔２２と陰極箔２４との間には固体電解質が充填されている。
陽極箔２２は、アルミニウム、タンタル、ニオブなどの弁金属から形成されている。陽極箔２２の表面（端部表面を含む。）は、エッチング処理により粗面化された後、化成処理によって酸化皮膜（図示せず）が形成されている。陰極箔２４も、陽極箔２２と同様に、アルミニウム、タンタル、ニオブなどの弁金属から形成されている。陰極箔２４の表面（端部表面を含む。）は、陽極箔２２と同様にエッチング処理により粗面化された後、自然酸化によって酸化皮膜（図示せず）が形成されている。陽極箔２２はリード５０と電気的に接続され、陰極箔２４はリード５２と電気的に接続されている。
セパレータ２６は、耐熱性を有するシートで、固体電解質が付着された状態となっている。セパレータ２６の幅は、陽極箔２２及び陰極箔２４の巻回幅よりも大きい。セパレータ２６としては、耐熱性のセルロース紙や耐熱性難燃紙を用いることができる。
固体電解質には、導電性高分子と特定安定物質とが含まれる。導電性高分子としては、ＰＥＤＯＴを用いるが、それ以外にもＰＥＤＯＴ以外のポリチオフェン、その他の導電性ポリマー粒子又は電荷移動錯体（ＴＣＮＱ錯体など）など適宜のものを用いることもできる。特定安定物質は、導電性高分子のドーパントになるものである。特定安定物質としては、ポリスチレンスルホン酸（ＰＳＳ）を用いるが、ポリスチレンスルホン酸（ＰＳＳ）以外の適宜のものを用いることもできる。ＰＥＤＯＴは、ポリスチレンスルホン酸（ＰＳＳ）によってドープされ、高い導電性を維持するポーラロン状態となる。
コンデンサ素子２０は、以下のようにして作製される。まず、セパレータ２６を介して、エッチング処理により粗面化された表面に酸化皮膜が形成された陽極箔２２と粗面化された表面に酸化皮膜が形成された陰極箔２４とを重ね合わせて巻回した後、化成液に浸漬して化成処理を行う。このことによって、コンデンサ素子２０を作製する過程において陽極箔２２や陰極箔２４の表面に存在することがある酸化皮膜の欠損箇所を修復する。次に陽極箔２２と陰極箔２４との間に固体電解質を充填する。こうしてコンデンサ素子２０が形成される。
コンデンサ素子２０において、リード５０，５２が陽極箔２２及び陰極箔２４にそれぞれ接続されている。リード５０，５２は、外部へ延在しており、それぞれ固体電解コンデンサ１の陽極端子及び陰極端子となる。
封口部材３０は、コンデンサ素子２０を外装ケース１０の内部に収納した状態で、外装ケース１０の開口部１６を封口している。封口部材３０は、例えば、ゴム又は熱可塑性エストラマーなどの高い弾性及び高い絶縁性を有する高分子に無機質やカーボンが添加されてなる。封口部材３０には、貫通孔が設けられており、当該貫通孔をコンデンサ素子２０から引き出されたリード５０，５２が貫通した状態となっている。
酸化皮膜修復体４０は、親水性合成樹脂からなり、酸化皮膜に欠損が生じた場合に、当該欠損箇所を修復することが可能な量の水分を保持可能な構成物である。酸化皮膜修復体４０は、底面部１２の内表面全体に形成され、底面部１２と、底面部１２に対向しているコンデンサ素子２０との間に配設されている。酸化皮膜修復体の体積抵抗率は、１ｋΩｃｍ以上であり、例えば、１５ｋΩｃｍである。酸化皮膜修復体４０の厚さは、１μｍ〜２００μｍの範囲内にあり、例えば２０μｍである。
なお、酸化皮膜修復体の厚さを１μｍ以上としたのは、酸化皮膜修復体の厚さが１μｍ以上の場合には、コンデンサ素子２０と外装ケース１０との絶縁性を十分保つことができるだけでなく、万が一、固体電解コンデンサ１の内圧が上昇して固体電解コンデンサが破裂してしまう場合であっても、酸化皮膜修復体４０によって固体電解コンデンサ内の部品が周囲に飛び散ることを防ぐことが可能となるからである。また、酸化皮膜修復体の厚さを２００μｍ以下としたのは、酸化皮膜修復体の厚さが２００μｍ以下の場合には、小型化の要求を満たす固体電解コンデンサとすることが可能となるからである。上記観点からすると、酸化皮膜修復体４０の厚さは、１０μｍ〜１５０μｍの範囲内とすることがより好ましい。
酸化皮膜修復体４０は、親水性の官能基を側鎖に含む合成樹脂からなり、具体的には、アミド基を側鎖に含むポリアクリルアミド（ＰＡＭ）を用いる。ポリアクリルアミド（ＰＡＭ）には成膜性がよいという利点もある。
なお、酸化皮膜修復体４０として、ポリアクリルアミド（ＰＡＭ）以外のアミド基を側鎖に含む合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を用いてもよいし、それ以外の親水性の官能基を側鎖に含む合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を用いてもよい。このような親水性の官能基としては、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、スルホン酸基又はリン酸エステル基であることが好ましい。親水性の官能基が、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、アミド基又はリン酸エステル基である場合には、導電性高分子のπ結合を切り離すことで絶縁性を向上させるという効果を得ることもできる。
また、酸化皮膜修復体４０は、あらかじめ形成された酸化皮膜修復体を配設してもよいし、後述するように原料となる合成樹脂から形成することとしてもよい。
なお、外装ケース１０と酸化皮膜修復体４０とで実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００（図２参照。）を構成する。固体電解コンデンサ用外装ケース１００は、固体電解コンデンサを収容するための有底筒状の固体電解コンデンサ用外装ケース１００であって、上記したように底面部１２、底面部１２から立設されている側面部１４及び側面部１４の端部に形成された開口部１６を有し、外装ケース１０の底面部１２の内表面に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されている。固体電解コンデンサ用外装ケース１００においては、上記したように酸化皮膜修復体の体積抵抗率は、１ｋΩｃｍ以上である。
２．実施形態１に係る固体電解コンデンサの製造方法
図３は、実施形態１に係る固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。図３（ａ）〜図３（ｅ）は各工程図である。
まず、外装ケース１０を準備（図３（ａ）参照。）し、外装ケース１０の内部に親水性合成樹脂の材料である高分子溶液４０’を注入する（図３（ｂ）参照。）。高分子溶液４０’は、親水性合成樹脂からなる溶液でもよく、親水性合成樹脂を分散させた溶液でもよい。次に、外装ケース１０ごと高分子溶液４０’を完全に乾燥させない程度に乾燥させて酸化皮膜修復体４０を形成する（図３（ｃ）参照。）。乾燥温度は例えば、１１０℃であり、乾燥時間は例えば、２０分である。
このように、外装ケース１０の内部に高分子溶液４０’を注入することによって酸化皮膜修復体４０を形成する場合には、外装ケース１０の底面部１２の形状や大きさが変更になった場合であっても、酸化皮膜修復体の形状変更が容易で、さらに酸化皮膜修復体を底面部に載置するための治具を変更する必要もない。また、高分子溶液４０’の注入量を調整することによって薄い酸化皮膜修復体を形成することが可能となるという効果を得ることもできる。
このようにして、外装ケース１０と酸化皮膜修復体４０とから構成された実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００を得る（図２及び図３（ｃ）参照。）。
次に、封口部材３０をコンデンサ素子２０に取り付けるとともに、コンデンサ素子２０を外装ケース１０に挿入した後、外装ケース１０の開口端近傍で外装ケース１０をかしめる。（図３（ｄ）及び図３（ｅ）参照。）。
次に、高温雰囲気下で所定の電圧を印加してエージング工程を実施する。こうして実施形態１に係る固体電解コンデンサ１が製造される。
３．固体電解コンデンサ１における酸化皮膜修復機能
次に、固体電解コンデンサ１における酸化皮膜修復機能について説明する。
陽極箔２２の端面及び陰極箔２４の端面は、コンデンサ素子２０を外装ケース１０へ収納する際や外部から衝撃や熱（例えば、はんだを用いて回路基板へ実装する際の熱）が加えられた際などに酸化皮膜に欠損が生じることがある。
このとき、陽極箔２２の端面付近においては、酸化皮膜の欠損によりむき出しになったアルミニウムと、酸化皮膜修復体４０から供給される水分とが以下のような反応を起こして酸化皮膜の欠損箇所を自己修復する。

２Ａｌ＋３Ｈ２Ｏ → Ａｌ２Ｏ３＋３Ｈ２↑

また、陰極箔２４においても酸化皮膜の欠損によりむき出しになったアルミニウムと、酸化皮膜修復体４０から供給される水分とが以下のような反応を起こして酸化皮膜の欠損箇所を自己修復する。

Ａｌ＋（ｎ＋３）Ｈ２Ｏ → Ａｌ（ＯＨ）３・ｎＨ２Ｏ＋３／２Ｈ２↑
４．実施形態１に係る固体電解コンデンサ１及び実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００の効果
実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体４０が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、酸化皮膜修復体４０が、親水性の官能基を側鎖に含む合成樹脂からなるため、水分保持能力が高く酸化皮膜修復機能に優れた酸化皮膜修復体となる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、スルホン酸基、アミド基又はリン酸エステル基を有する合成樹脂は、極性が大きく、水と水素結合しやすいことから、水分保持能力がより一層高い酸化皮膜修復体となる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、アミド基又はリン酸エステル基が、導電性高分子に対して求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質を有するため、導電性高分子のπ結合が当該求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質によって切り離されることとなる。このため、導電性高分子の導電性が低下し、外装ケース１０と固体電解質との間の絶縁性が高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、酸化皮膜修復体４０の体積抵抗率は、１ｋΩｃｍ以上であることから、コンデンサ素子２０と外装ケース１０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
陽極箔２２の底面側端部や陰極箔２４の底面側端部に酸化皮膜の欠損が生じやすいことから、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で速やかに当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、コンデンサ素子２０の底面側端面に凹凸がある場合であっても、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に酸化皮膜修復体４０を配設することが可能となる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１によれば、酸化皮膜修復体４０が底面部１２の内表面全体に形成されていることから、底面部１２の一部にしか酸化皮膜修復体４０が形成されていない場合と比較して、外装ケース１０の内部の水分を増加させることが可能となる。このため、酸化皮膜修復体４０に水分を保持させやすくなり、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。
実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００によれば、底面部１２の内表面に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が形成されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となり、その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００によれば、底面部１２の内表面に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が形成されているため、製造される固体電解コンデンサにおいては、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体４０が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００によれば、底面部１２の内表面に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、実施形態１に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１００によれば、酸化皮膜修復体４０の体積抵抗率は、１ｋΩｃｍ以上であることから、外装ケース１０とコンデンサ素子２０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
［変形例１］
変形例１に係る固体電解コンデンサ（図示せず。）においては、アミノ基を側鎖に含む合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を用いる。このようにアミノ基を側鎖に含む合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を用いる場合であっても、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔又は陰極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、変形例１に係る固体電解コンデンサによれば、アミノ基がイオン化することで導電性高分子の脱ドープを引き起こすこととなる。このため、導電性高分子の導電性が著しく低下することとなる。その結果、外装ケース１０と固体電解質との間の絶縁性が高い固体電解コンデンサとなる。
［変形例２］
変形例２に係る固体電解コンデンサ（図示せず。）においては、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、カルボキシル基、スルホン酸基又はリン酸エステル基を側鎖に含む合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を用いる。このように上記した官能基を側鎖に含む合成樹脂からなる酸化皮膜修復体を用いる場合であっても、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔又は陰極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、上記した官能基は、Ｈ＋を解離させた「−Ｏ−」イオンになりやすく、上記した官能基を含む合成樹脂は「イオン性物質」及び「酸素を供給できる物質」となる。従って、変形例２に係る固体電解コンデンサによれば、酸化皮膜修復体が保持する水分で酸化皮膜の欠損を修復するだけでなく、上記した「−Ｏ−」イオンがアルミニウムとの反応に関与するため酸化皮膜修復体自体も酸化皮膜の欠損を修復することが可能となる。その結果、酸化皮膜修復機能がより一層高い固体電解コンデンサとなる。
［実施形態２］
実施形態２に係る固体電解コンデンサ（図示せず。）は、基本的には実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するが、酸化皮膜修復体を構成する親水性合成樹脂の種類が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なる。すなわち、実施形態２に係る固体電解コンデンサにおいて、酸化皮膜修復体は、水素結合を発現する結合を主鎖に含む合成樹脂からなる。なお、この酸化皮膜修復体の水分含有量が２ｗｔ％以上である。
酸化皮膜修復体は、酸化皮膜修復体として、エーテル結合、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合を主鎖に含む合成樹脂の酸化皮膜修復体を用いる。このような合成樹脂としては、例えば、ヒドロキシエチルセルロースを用いることができる。
このように、実施形態２に係る固体電解コンデンサは、酸化皮膜修復体を構成する合成樹脂の種類が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なるが、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔又は陰極箔の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態２に係る固体電解コンデンサによれば、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されているため、底面部とコンデンサ素子との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態２に係る固体電解コンデンサによれば、外装ケースの底面部とコンデンサ素子との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されているため、底面部とコンデンサ素子との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態２に係る固体電解コンデンサによれば、水分保持能力が高く酸化皮膜修復機能に優れた酸化皮膜修復体となる。
なお、酸化皮膜修復体の水分含有量を２ｗｔ％以上としたのは、酸化皮膜修復体の水分含有量を２ｗｔ％未満とした場合には、酸化皮膜修復体が保持する水分では少なすぎて、当該欠損箇所を完全に修復することができないからである。
また、実施形態２に係る固体電解コンデンサによれば、エーテル結合、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合を有する合成樹脂は、極性が大きく、水と水素結合しやすいことから、水分保持能力がより一層高い酸化皮膜修復体となる。
また、実施形態２に係る固体電解コンデンサによれば、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合が、導電性高分子に対して求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質を有するため、導電性高分子のπ結合が当該求電子付加反応を起こしやすい物質や水和反応を起こしやすい物質によって切り離されることとなる。このため、導電性高分子の導電性が低下し、外装ケースと固体電解質との間の絶縁性が高い固体電解コンデンサとなる。
なお、実施形態２に係る固体電解コンデンサは、酸化皮膜修復体を構成する合成樹脂の種類以外の点においては実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するため、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１が有する効果のうち該当する効果を有する。
［実施形態３］
図４は、実施形態３に係る固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。図４（ａ）〜図４（ｅ）は各工程図である。
実施形態３に係る固体電解コンデンサ３は、基本的には実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するが、酸化皮膜修復体の配設位置が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なる。すなわち、実施形態３に係る固体電解コンデンサ３において、酸化皮膜修復体４０は、図４に示すように、コンデンサ素子２０の底面側端面に形成されている。
実施形態３において、酸化皮膜修復体４０は以下のように形成される。まず、コンデンサ素子２０を準備し（図４（ａ）参照。）、コンデンサ素子２０の底面側端面に親水性合成樹脂の高分子溶液４０’を付着させる（図４（ｂ）参照。）。その後、高分子溶液４０’中の水分を完全に乾燥させない程度に乾燥させて成膜することで酸化皮膜修復体４０を形成する（図４（ｃ）参照。）。その後の工程は実施形態１における固体電解コンデンサの製造方法と同様であるため説明を省略する（図４（ｄ）及び図４（ｅ）参照。）。
このように、実施形態３に係る固体電解コンデンサ３は、酸化皮膜修復体の配設位置が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なるが、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態３に係る固体電解コンデンサ３によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態３に係る固体電解コンデンサ３によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態３に係る固体電解コンデンサ３によれば、陽極箔２２の底面側端部や陰極箔２４の底面側端部に酸化皮膜の欠損が生じやすいことから、このような構成とすることにより、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で速やかに当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
なお、実施形態３に係る固体電解コンデンサ３は、酸化皮膜修復体の配設位置以外の点においては実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するため、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１が有する効果のうち該当する効果を有する。
［実施形態４］
図５は、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４を説明するために示す図である。図５（ａ）は固体電解コンデンサ４の断面図であり、図５（ｂ）はコンデンサ素子２０の分解斜視図である。
図６は、実施形態４に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１０２を説明するために示す図である。
実施形態４に係る固体電解コンデンサ４は、基本的には実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するが、外装ケースの側面部とコンデンサ素子との間にも酸化皮膜修復体が配設されている点が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なる。すなわち、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４において、酸化皮膜修復体は、図５に示すように、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間（酸化皮膜修復体４０）だけでなく、外装ケース１０の側面部１４の内側面とコンデンサ素子２０との間(酸化皮膜修復体４２)にも配設されている。
酸化皮膜修復体４０，４２は、外装ケース１０の底面部１２の内表面及び側面部１４に親水性合成樹脂の高分子溶液を塗布した後に完全に乾燥させない程度に乾燥させて成膜することにより形成されている。このようにして、外装ケース１０と酸化皮膜修復体４０，４２とで構成された実施形態４に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１０２を得る（図６参照。）。それ以外の工程は、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の製造方法と同様であるため説明を省略する。
このように、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４は、外装ケースの側面部とコンデンサ素子との間にも酸化皮膜修復体が配設されている点が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なるが、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４によれば、側面部１４とコンデンサ素子２０との間に配設された酸化皮膜修復体４２も水分を保持していることから、外装ケース１０全体の水蒸気濃度が高い状態となる。その結果、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に配設された酸化皮膜修復体４０が水分を保持しやすくなる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４によれば、側面部１４とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４２が配設されているため、側面部１４とコンデンサ素子２０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体４２が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４によれば、側面部１４とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４２が配設されているため、側面部１４とコンデンサ素子２０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
実施形態４に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１０２によれば、側面部１４の内表面に形成された酸化皮膜修復体４２も水分を保持していることから、製造される固体電解コンデンサにおいては、外装ケース１０内部全体の水蒸気濃度が高い状態となる。その結果、底面部１２の内表面に配設された酸化皮膜修復体４０が水分を保持しやすくなる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１０２によれば、外装ケース１０の側面部１４とコンデンサ素子２０との間に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４２が配設されているため、側面部１４とコンデンサ素子２０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体４２が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
また、実施形態４に係る固体電解コンデンサ用外装ケース１０２によれば、側面部１４の内表面にも親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４２が配設されているため、側面部１４とコンデンサ素子２０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサを製造することが可能となる。
なお、実施形態４に係る固体電解コンデンサ４は、外装ケースの側面部とコンデンサ素子との間にも酸化皮膜修復体が配設されている点以外の点においては実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するため、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１が有する効果のうち該当する効果を有する。
［実施形態５］
図７は、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５を説明するために示す図である。図７（ａ）は固体電解コンデンサ５の断面図であり、図７（ｂ）はコンデンサ素子２０の分解斜視図である。
図８は、実施形態５に係る固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。図８（ａ１）〜図８（ｃ１）、図８（ａ２）〜図８（ｃ２）及び図８（ｄ）〜図８（ｅ）は各工程図である。
実施形態５に係る固体電解コンデンサ５は、基本的には実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するが、封口部材とコンデンサ素子との間にも酸化皮膜修復体が配設されている点が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なる。すなわち、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５においては、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間にそれぞれ酸化皮膜修復体４０，４４が配設されている（図７参照。）
酸化皮膜修復体４０は、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に配設されている。
酸化皮膜修復体４４は、コンデンサ素子２０と封口部材３０との間に配設されている。酸化皮膜修復体４４は、コンデンサ素子２０の天面側端面に形成されている。
底面部１２とコンデンサ素子２０との間に配設された酸化皮膜修復体４０の形成方法は、実施形態１における酸化皮膜修復体４０の形成方法と同様である（図８（ａ１）〜図８（ｃ１）参照。）ため、説明を省略する。
酸化皮膜修復体４４は以下のようにして形成することができる。
酸化皮膜修復体４４の形成方法は、まず、コンデンサ素子２０を準備し（図８（ａ２）参照。）、コンデンサ素子２０の天面側端面に親水性合成樹脂の高分子溶液４４’を付着させる（図８（ｂ２）参照。）。その後、高分子溶液４４’中の水分を完全に乾燥させない程度に乾燥させて成膜することで酸化皮膜修復体４４を形成する（図８（ｃ２）参照。）。
その後の工程（図８（ｄ）〜図８（ｅ）参照。）は、実施形態１に係る固体電解コンデンサの製造方法と同様の工程であるため説明を省略する。
このように、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５は、封口部材とコンデンサ素子との間にも酸化皮膜修復体が配設されている点が実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合とは異なるが、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及び封口部材３０とコンデンサ素子２０との間の両方に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０，４４が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の両方にそれぞれ、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間にそれぞれ、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
陽極箔２２の天面側端部や陰極箔２４の天面側端部に酸化皮膜の欠損が生じやすいことから、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５によれば、酸化皮膜修復体４４が保持する水分で速やかに当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が少なく、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５によれば、添加されたカーボン等によって封口部材３０が導電性を有する場合であっても、酸化皮膜修復体４４を配設していない場合と比較して、コンデンサ素子２０と封口部材３０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５によれば、酸化皮膜修復体４４は、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２の天面側端部や陰極箔２４の天面側端部に接するように形成されることとなり、当該欠損箇所に効率的に水分を供給することが可能となる。
なお、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５は、封口部材とコンデンサ素子との間にも酸化皮膜修復体が配設されている点以外の点においては実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の構成を有するため、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１が有する効果のうち該当する効果を有する。
［変形例３］
図９は、変形例３に係る固体電解コンデンサの製造方法を説明するために示す図である。図９（ａ）〜図９（ｅ）は各工程図である。
変形例３に係る固体電解コンデンサ５ａにおいては、図９に示すように、酸化皮膜修復体４０が、コンデンサ素子２０の底面側端面に形成されている。このように酸化皮膜修復体４０が、コンデンサ素子の底面側端面に形成されている場合であっても、実施形態５の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の両方に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０，４４が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が低く、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
［実施形態６］
図１０は、実施形態６における固体電解コンデンサ６の製造方法を説明するために示す図である。図１０（ａ１）〜図１０（ｃ１）、図１０（ａ２）〜図１０（ｃ２）及び図１０（ｄ）〜図１０（ｅ）は各工程図である。
実施形態６に係る固体電解コンデンサ６は、基本的には実施形態５に係る固体電解コンデンサ４と同様の構成を有するが、酸化皮膜修復体の配設位置が実施形態５に係る固体電解コンデンサ４の場合とは異なる。すなわち、実施形態６に係る固体電解コンデンサ６においては、図１０に示すように、酸化皮膜修復体４４は、封口部材３０の底面側表面に形成されている。
酸化皮膜修復体４０は、実施形態１に係る固体電解コンデンサ１の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間に配設されている（図１０（ａ１）〜図１０（ｃ１）参照。）。
酸化皮膜修復体４４は以下のように形成される。まず、封口部材３０を準備し（図１０（ａ２）参照。）、封口部材の底面側表面に親水性合成樹脂の高分子溶液４４’を付着させる（図１０（ｂ２）参照。）。その後、当該高分子溶液４４’中の水分を完全に乾燥させない程度に乾燥させて成膜することにより酸化皮膜修復体４４を形成する（図１０（ｃ２）参照。）。
このように、実施形態６に係る固体電解コンデンサ６は、酸化皮膜修復体の配設位置が実施形態５に係る固体電解コンデンサ５の場合とは異なるが、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の両方に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０，４４が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が低く、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態６に係る固体電解コンデンサ６によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の両方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との隙間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との隙間が小さくなり、また、酸化皮膜修復体が緩衝材として働くため、耐振動性の高い固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態６に係る固体電解コンデンサ６によれば、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の両方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されているため、底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の絶縁性を十分に確保した固体電解コンデンサとなる。
また、実施形態６に係る固体電解コンデンサ６によれば、酸化皮膜修復体４４は、封口部材３０の底面側表面に形成されていることから、コンデンサ素子２０の天面側端面に凹凸がある場合であっても、コンデンサ素子２０と封口部材３０との間に酸化皮膜修復体４４を配設することが可能となる。
なお、実施形態６に係る固体電解コンデンサ６は、酸化皮膜修復体の配設位置以外の点においては実施形態５に係る固体電解コンデンサ５と同様の構成を有するため、実施形態５に係る固体電解コンデンサ５が有する効果のうち該当する効果を有する。
［変形例４］
図１１は、変形例４に係る固体電解コンデンサ６ａの製造方法を説明するために示す図である。図１１（ａ１）〜図１１（ｃ１）、図１１（ａ２）〜図１１（ｃ２）及び図１１（ｄ）〜図１１（ｅ）は各工程図である。
変形例４に係る固体電解コンデンサ６ａにおいては、図１１に示すように、底面部１２とコンデンサ素子２０との間に配設されている酸化皮膜修復体４０が、コンデンサ素子２０の底面側端面に形成されている。このように底面部１２とコンデンサ素子２０との間に配設されている酸化皮膜修復体４０がコンデンサ素子２０の底面側端面に形成されている場合であっても、実施形態６の場合と同様に、外装ケース１０の底面部１２とコンデンサ素子２０との間及びコンデンサ素子２０と封口部材３０との間の両方に親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体４０，４４が配設されていることから、酸化皮膜の欠損が生じやすい陽極箔２２又は陰極箔２４の端面に酸化皮膜の欠損が生じたとしても、酸化皮膜修復体４０，４４が保持する水分で当該欠損箇所を修復することが可能となる。その結果、耐圧が高く、かつ、漏れ電流が低く、かつ、従来よりも寿命の長い固体電解コンデンサとなる。
［試験例］
図１２は、各試験例に用いた合成樹脂の諸元及び各試験例の評価結果を示す図表である。図１２（ａ）は各試験例に用いた合成樹脂の諸元を示す図であり、図１２（ｂ）は各試験例に用いた合成樹脂の評価結果を示す図である。
＜試験例１＞
試験例１は、本発明の酸化皮膜修復体の合成樹脂が、比較例１及び２の合成樹脂よりも多くの水分を保持可能であることを確認するための試験例である。
１．試料の調製
（１）試料１（実施例）
実施形態１における酸化皮膜修復体の材料であるポリアクリルアミド５ｇとエチレングリコール２．５ｇとを水で溶かして水溶液１００ｇを作製した。その後、当該水溶液のうち２０ｇをシャーレに注いで、重量変化がなくなるまで乾燥させてフィルム状の試料を作製し、これを試料１とした。なお、エチレングリコールは分散性を向上させるために添加した。以下の試料２についても同様である。
（２）試料２（比較例１）
ポリビニルアルコール５ｇとエチレングリコール２．５ｇとを水で溶かして水溶液１００ｇを作製した。その後、当該水溶液のうち２０ｇをシャーレに注いで、重量変化がなくなるまで乾燥させてフィルム状の試料を作製し、これを試料２とした。
（３）試料３（比較例２）
フィルム状のポリプロピレン１ｇをシャーレに載せて、重量変化がなくなるまで乾燥させてフィルム状の試料を作製し、これを試料３とした。
２．評価方法
評価は、各試料が入ったシャーレを室内（気温２４℃、湿度３０％ＲＨ雰囲気）に放置して重量を測定することによって重量変化を測定することにより行った。その結果、どちらの試料も重量変化がなくなった時点（測定開始から３０時間経過後）において、測定開始直後からの重量変化が０．０５ｇ以上であった場合には、多量の水分を保持可能であるとして「○」の評価を与え、測定開始直後からの重量変化が０．０１ｇ以上０．０５ｇ未満であった場合には、ある程度の水分を保持可能であるとして「△」の評価を与え、測定開始直後からの重量変化が０．０１ｇ未満であった場合には、水分を保持しにくいものとして「×」の評価を与えた。
３．評価結果
図１３は、試験例１の結果を示す図である。
図１３からも分かるように、試料１においては、測定開始直後からの重量変化が０．０７７ｇであったため、「○」の評価を与えた。また、試料２においては、測定開始直後からの重量変化が０．０４５ｇであったため「△」の評価を与えた。また、試料３においては、測定開始直後からの重量変化が０．００７ｇであったため「×」の評価を与えた。このことから、本発明の酸化皮膜修復体の合成樹脂が、比較例１及び２の合成樹脂よりも多くの水分を保持可能であることがわかった。なお、比較例１の酸化皮膜修復体の合成樹脂が、比較例２の合成樹脂よりも多くの水分を保持可能であるが、本発明の酸化皮膜修復体の合成樹脂よりも少ない量の水分しか保持できないことがわかった。
＜試験例２＞
試験例２は、本発明の固体電解コンデンサが、酸化皮膜修復体として、比較例１及び２の合成樹脂を用いた固体電解コンデンサよりも寿命が長いことを確認するための試験例である。
１．試料の調製
（１）試料４（実施例）
実施形態１に係る固体電解コンデンサ１と同様の固体電解コンデンサを作製し、試料４とした。
（２）試料５（比較例１）
ポリビニルアルコールからなる酸化皮膜修復体を用いた点以外の構成は試料４に係る固体電解コンデンサと同様の固体電解コンデンサを作製し、試料５とした。
（３）試料６（比較例２）
ポリプロピレンからなる酸化皮膜修復体を用いた点以外の構成は試料４に係る固体電解コンデンサと同様の固体電解コンデンサを作製し、試料６とした。
２．評価方法
各試料のそれぞれを１２５℃の恒温恒湿槽内に静置し、各試料に規定の直流電圧を印加した状態で漏れ電流を測定した。漏れ電流の測定は、横河メータ＆インスツルメンツ株式会社製デジタルマルチメータ７３４０１を用いて２５０時間ごとに行った。その結果、測定開始から５０００時間経過したときの漏れ電流が初期値の５倍未満となった場合に「○」の評価を与え、測定開始から５０００時間経過するまでに漏れ電流が初期値の５倍以上となった場合に「×」の評価を与えた。
３．評価結果
図１４は、試験例２の結果を示す図である。
図１４からも分かるように、試料６においては、測定開始直後から漏れ電流が増加した。漏れ電流の増加も急激であった。測定開始から１０００時間経過したときの漏れ電流が初期値の５倍以上となった。試料５においては、測定開始から５００時間経過した頃から漏れ電流が急激に増加し、測定開始から１０００時間経過したときの漏れ電流が初期値の５倍以上となった。これに対して、試料４においては、測定開始から５０００時間経過しても漏れ電流は急激に増加することはなく、測定開始から５０００時間経過したときの漏れ電流が初期値の５倍未満であった。このことから、本発明の固体電解コンデンサが、比較例１及び比較例２の合成樹脂を用いた固体電解コンデンサよりも寿命が長い固体電解コンデンサであることが分かった。
以上、本発明を上記の実施形態に基づいて説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではない。その趣旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば、次のような変形も可能である。
（１）上記各実施形態においては、化成処理されたコンデンサ素子２０を外装ケース１０に収納する場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、化成処理されていないコンデンサ素子２０を外装ケース１０に収納した後で化成処理を実施する場合であっても本発明を適用可能である。
（２）上記各実施形態においては、コンデンサ素子２０と封口部材３０とを一体化してから外装ケース１０に収納する場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、コンデンサ素子２０を外装ケース１０に収納した後にコンデンサ素子２０と封口部材３０とを一体化する場合であっても本発明を適用可能である。
（３）上記実施形態６においては、封口部材３０に酸化皮膜修復体４４を形成した後にコンデンサ素子２０と一体化してから外装ケース１０に収納する場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、コンデンサ素子２０を外装ケース１０に収納した後に封口部材３０に酸化皮膜修復体４４を形成して、その後、コンデンサ素子２０と一体化する場合であっても本発明を適用可能である。
（６）上記実施形態１及び６並びに変形例２においては、固体電解コンデンサ用外装ケース１００を用いる場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、固体電解コンデンサ用外装ケース１００に代えて固体電解コンデンサ用外装ケース１０２を用いた場合であっても本発明を適用可能である。
（７）上記実施形態４においては、側面部１４の全面に酸化皮膜修復体４２が形成された場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、側面部１４の一部に酸化皮膜修復体４２が形成された場合であっても本発明を適用可能である。
（８）上記実施形態４においては、外装ケース１０の底面部１２の内表面及び側面部１４の内表面に酸化皮膜修復体を形成した場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、コンデンサ素子２０の底面側端面及びコンデンサ素子２０の側面側表面に酸化皮膜修復体が形成された場合であっても本発明を適用可能である。
（９）上記各実施形態においては、準備した外装ケース、コンデンサ素子又は（及び）封口部材に酸化皮膜修復体を形成する場合を例にとって本発明を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、あらかじめ形成された酸化皮膜修復体を外装ケース、コンデンサ素子又は（及び）封口部材に配設する場合であっても本発明を適用可能である。
１，３，４，５，５ａ，６，６ａ…固体電解コンデンサ、１０…外装ケース、１２…底面部、１４…側面部、１６…開口部、２０…コンデンサ素子、２２…陽極箔、２４…陰極箔、２６…セパレータ、３０…封口部材、４０，４２，４４…酸化皮膜修復体、５０，５２…リード、１００，１０２…固体電解コンデンサ用外装ケース

Claims (14)

  1. 底面部、前記底面部から立設されている側面部及び前記側面部の端部に形成された開口部を有する有底筒状の外装ケースと、
    前記外装ケースの内部に収納され、セパレータを介して陽極箔と陰極箔とが重ね合わされた状態で巻回され、前記陽極箔と前記陰極箔との間には固体電解質が充填されてなるコンデンサ素子と、
    前記コンデンサ素子を前記外装ケースの内部に収納した状態で、前記外装ケースの前記開口部を封口する封口部材とを備える固体電解コンデンサであって、
    前記外装ケースの前記底面部と前記コンデンサ素子との間及び前記コンデンサ素子と前記封口部材との間のうち少なくとも一方に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が配設されていることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  2. 請求項１に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記酸化皮膜修復体は、親水性の官能基を側鎖に含む合成樹脂からなることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  3. 請求項２に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記親水性の官能基は、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、スルホン酸基、アミド基又はリン酸エステル基のいずれかであることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  4. 請求項３に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記親水性の官能基は、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、カルボキシル基、スルホン酸基又はリン酸エステル基であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  5. 請求項３に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記親水性の官能基は、アミノ基であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  6. 請求項３に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記親水性の官能基は、フェノール基、ヒドロキシフェニルカルボン酸基、ヒドロキシアルキル基、アミノ基、カルボニル基、カルボキシル基、アミド基又はリン酸エステル基であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  7. 請求項１に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記酸化皮膜修復体は、水素結合を発現する結合を主鎖に含む合成樹脂からなり、かつ、水分含有量が２ｗｔ％以上であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  8. 請求項７に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記水素結合を発現する結合が、エーテル結合、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  9. 請求項７に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記水素結合を発現する結合が、カルボニル結合、アミド結合又はエステル結合であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  10. 請求項１〜９のいずれかに記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記酸化皮膜修復体は、前記底面部と、前記底面部に対向している前記コンデンサ素子との間に配設されていることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  11. 請求項１０に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記酸化皮膜修復体は、前記封口部材と前記コンデンサ素子との間にも配設されていることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  12. 請求項１０又は１１に記載の固体電解コンデンサにおいて、
    前記酸化皮膜修復体は、前記側面部と前記コンデンサ素子との間にも配設されていることを特徴とする固体電解コンデンサ。
  13. 底面部、前記底面部から立設されている側面部及び前記側面部の端部に形成された開口部を有し、
    固体電解コンデンサを収容するための有底筒状の固体電解コンデンサ用外装ケースであって、
    前記底面部の内表面に、親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されていることを特徴とする固体電解コンデンサ用外装ケース。
  14. 請求項１３に記載の固体電解コンデンサ用外装ケースにおいて、
    前記側面部の内表面にも親水性合成樹脂からなる酸化皮膜修復体が形成されていることを特徴とする固体電解コンデンサ用外装ケース。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6078509B2 (ja) * 2014-10-03 2017-02-08 ルビコン株式会社 固体電解コンデンサ
US10297393B2 (en) 2015-03-13 2019-05-21 Avx Corporation Ultrahigh voltage capacitor assembly
US9928963B2 (en) * 2015-03-13 2018-03-27 Avx Corporation Thermally conductive encapsulant material for a capacitor assembly
BR112018000923A2 (pt) 2015-07-16 2018-09-11 Georgia Tech Res Inst polímeros processáveis e métodos de fabricação e uso do mesmo
JP7142269B2 (ja) * 2016-03-25 2022-09-27 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 電解コンデンサの製造方法
CN109196611B (zh) * 2016-05-31 2021-03-23 松下知识产权经营株式会社 电解电容器及其制造方法
WO2021171609A1 (ja) * 2020-02-28 2021-09-02 サン電子工業株式会社 コンデンサ

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11283874A (ja) * 1998-01-28 1999-10-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電解コンデンサ
JP2000195758A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Nippon Chemicon Corp 固体電解コンデンサとその製造方法
JP2001257131A (ja) * 2000-03-13 2001-09-21 Nippon Chemicon Corp 固体電解コンデンサの製造方法
JP4706158B2 (ja) * 2001-09-19 2011-06-22 パナソニック株式会社 固体電解コンデンサ
DE102005016727A1 (de) * 2005-04-11 2006-10-26 H.C. Starck Gmbh Elektrolytkondensatoren mit polymerer Außenschicht und Verfahren zu ihrer Herstellung
JP2007273928A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Nippon Chemicon Corp 電解コンデンサ
JP4911509B2 (ja) * 2007-04-03 2012-04-04 三洋電機株式会社 電解コンデンサおよびその製造方法
JP4836887B2 (ja) * 2007-07-09 2011-12-14 三洋電機株式会社 電解コンデンサの製造方法及び電解コンデンサ
JP4916416B2 (ja) * 2007-10-30 2012-04-11 サン電子工業株式会社 電解コンデンサの製造方法及び電解コンデンサ
JP2009246288A (ja) 2008-03-31 2009-10-22 Nippon Chemicon Corp 固体電解コンデンサ
JP5235599B2 (ja) 2008-10-16 2013-07-10 ニチコン株式会社 電解コンデンサおよび電解コンデンサの製造方法
JP5697076B2 (ja) 2010-08-20 2015-04-08 ニチコン株式会社 電解コンデンサの製造方法
CN103168333B (zh) * 2010-10-15 2016-01-27 松下知识产权经营株式会社 电化学电容器用电极和采用该电极的电化学电容器
US8379371B2 (en) * 2011-05-20 2013-02-19 Kemet Electronics Corporation Utilization of moisture in hermetically sealed solid electrolytic capacitor and capacitors made thereof

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