JPWO2013140445A1 - 放射線撮影装置 - Google Patents

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Abstract

グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所をジオメトリーに基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める第１／第２積算値算出部３３，３８を備えている。グリッド箔のねじれやたわみによりグリッド箔による箔影が画素を跨っていたとしても、当該箇所をジオメトリーに基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求めるので、Ｘ線グリッドやフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３のサイズが変わったとしても当該跨り積算値に基づいて箔影を除去することになる。その結果、多様なサイズのＸ線グリッドやＦＰＤ３に対応してグリッド箔のねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる。

Description

この発明は、放射線画像を得る放射線撮影装置に係り、特に、放射線グリッドを用いて散乱放射線を除去する技術に関する。
従来の放射線撮影装置では、被検体からの散乱放射線がフラットパネル型放射線検出器（放射線検出手段）に入射するのを防止するために、散乱放射線を除去する放射線グリッドを備えている。放射線グリッドは、散乱放射線を吸収するグリッド箔と放射線を透過する中間層とを交互に並べて構成されている。グリッド箔は、鉛などのようにＸ線に代表される放射線を吸収する物質で形成され、中間層は、アルミニウムや有機物質などのようにＸ線に代表される放射線を透過させる中間物質で形成されている。ただし、中間層を放射線が通過する際に、散乱放射線以外の放射線（直接放射線）も中間物質によって吸収されてしまう。そこで、中間層を空隙にすることで、散乱放射線以外の放射線（直接放射線）を確実に透過させるエアグリッドが、放射線グリッドとして近年用いられている。
ところで、直接放射線がグリッド箔によって遮られる部分では、グリッド箔による箔影が放射線画像に映り込む。そこで、箔影に起因した偽像を除去する偽像除去処理法が本出願人から提案されている（例えば、特許文献１、２参照）。
国際公開第ＷＯ２０１０−０６４２８７号 特開２０１１−１６７３３４号公報
しかしながら、エアグリッドでは上述した中間層が空隙となっている関係で、グリッド箔のねじれやたわみによる偽像が生じやすい。また、フラットパネル型放射線検出器（FPD: Flat Panel Detector）で得られた放射線画像を構成する各々の画素に同期して（例えば４画素毎に同期して）グリッド箔が配置されたエアグリッドで偽像除去処理をこれまで行っていたが、グリッド箔を集束距離配置で非同期な場合にも適切な偽像除去処理が可能なことが望まれる。言い換えると、多様なＦＰＤの画素サイズに対応し個々に同期したサイズのエアグリッドをそれぞれ製作するのは非現実的である。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、多様なサイズの放射線グリッドや放射線検出手段に対応してグリッド箔のねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる放射線撮影装置を提供することを目的とする。
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、この発明の放射線撮影装置は、放射線画像を得る放射線撮影装置であって、放射線を照射する放射線源と、照射された放射線を検出する放射線検出手段と、その放射線検出手段の検出側に設けられ、散乱放射線を吸収するグリッド箔を並べて構成された放射線グリッドとを備え、さらに、前記放射線撮影装置は、前記グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、前記放射線源，前記放射線検出手段および前記放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段と、被検体のある状態で検出された放射線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集手段とを備え、前記積算値算出手段と前記撮影像収集手段とに基づいて前記グリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得ることを特徴とするものである。
この発明の放射線撮影装置によれば、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの他に、グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段を備えている。そして、被検体のある状態で検出された放射線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集手段を備え、上述した積算値算出手段と上述した撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得る。グリッド箔のねじれやたわみによりグリッド箔による箔影が画素を跨っていたとしても、当該箇所を、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係（すなわちジオメトリー（geometry））に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。したがって、放射線グリッドや放射線検出手段のサイズが変わったとしても当該跨り積算値に基づいて箔影を除去することになる。その結果、多様なサイズの放射線グリッドや放射線検出手段に対応してグリッド箔のねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる。なお、個々のグリッド箔のねじれやたわみにより箔影が必ずしも当該画素を跨っている、あるいは覆っているとは限らない。箔影が跨っているであろうと思われる箇所での画素をジオメトリーから認定し、箔影の跨りの状況によらずに一様に当該箇所における跨り積算値を求めるということに留意されたい。
この発明の放射線撮影装置において、グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、グリッド箔のたわみに関する定数であるたわみ定数を求めるたわみ定数算出手段を備え、積算値算出手段とたわみ定数算出手段と撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得るのが好ましい。たわみを数値化したたわみ定数をも用いてグリッド箔による箔影を除去することにより、グリッド箔のたわみをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。
これらの発明の放射線撮影装置において、グリッド箔のねじれに関する定数であるねじれ定数を求めるねじれ定数算出手段を備え、積算値算出手段とねじれ定数算出手段と撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得るのが好ましい。ねじれを数値化したねじれ定数をも用いてグリッド箔による箔影を除去することにより、グリッド箔のねじれをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。
これらの発明の放射線撮影装置において、箔影の幅と画素サイズとに基づく所定倍率を、被検体のない状態で検出された放射線検出信号に基づく基準校正データの跨り積算値に乗じる積算値乗算手段を備えるのが好ましい。所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じることにより、多様なサイズの放射線グリッドや放射線検出手段に応じて箔影を除去した放射線画像を求めることができる。したがって、各々の放射線検出手段、あるいはジオメトリーに応じて放射線グリッドを製作せずとも１つの放射線グリッドを用いて適切な偽像除去処理を行うことが可能となる。
この発明に係る放射線撮影装置によれば、グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段を備えている。グリッド箔のねじれやたわみによりグリッド箔による箔影が画素を跨っていたとしても、当該箇所をジオメトリーに基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。したがって、放射線グリッドや放射線検出手段のサイズが変わったとしても当該跨り積算値に基づいて箔影を除去することになる。その結果、多様なサイズの放射線グリッドや放射線検出手段に対応してグリッド箔のねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる。
実施例に係るＸ線撮影装置の概略構成図およびブロック図である。 フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）の検出面の模式図である。 Ｘ線グリッドの概略図である。 実施例に係る具体的な画像処理部のブロック図である。 たわみ定数を求めるときの位置関係を示す概略図である。 たわみ定数を実際の撮影に適用するときの概略図である。 ねじれ定数を求めるときの位置関係を示す概略図である。 ねじれ定数を実際の撮影に適用するときの概略図である。 たわみ定数の算出を模式的に示した概略図である。 基準校正データの跨り積算値のプロファイルの模式図である。 所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じるときの説明に供する模式図である。
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。図１は、実施例に係るＸ線撮影装置の概略構成図およびブロック図であり、図２は、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）の検出面の模式図であり、図３は、Ｘ線グリッドの概略図である。本実施例では、放射線としてＸ線を例に採って説明するとともに、放射線撮影装置として、例えば心臓血管の診断に用いられる装置(CVS: cardiovascular systems)に実施するためのＣアームを備えたＸ線撮影装置を例に採って説明する。また、放射線グリッドとして、Ｘ線管の焦点を結ぶ射線に沿ってグリッド箔を配置した集束グリッドで、中間層を空隙としたエアグリッドを例に採って説明する。
本実施例に係るＸ線撮影装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置した天板１と、Ｘ線を照射するＸ線管２と、照射されたＸ線を検出するフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、「ＦＰＤ」と略記する）３と、そのＦＰＤ３の検出側に設けられ、散乱Ｘ線を吸収するグリッド箔４ａ（図３などを参照）を並べて構成されたＸ線グリッド４とを備えている。Ｘ線管２は、この発明における放射線源に相当し、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３は、この発明における放射線検出手段に相当し、Ｘ線グリッド４は、この発明における放射線グリッドに相当する。
この他に、Ｘ線撮影装置は、一端でＸ線管２を保持し、他端でＦＰＤ３をＸ線グリッド４とともに保持するＣアーム５を備えている。図１では、Ｃアーム５は、被検体Ｍの体軸方向に湾曲状に形成されている。Ｃアーム５は、Ｃアーム５自身に沿って被検体Ｍの体軸と直交する回転中心軸の軸心周りに回転することで、Ｃアーム５に保持されたＸ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４も同方向に回転することが可能である。さらに、Ｃアーム５は体軸と直交する回転中心軸の軸心周りに回転することで、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４も同方向に回転することが可能である。
具体的には、Ｃアーム５は、床面に固定配置された基台６に、支柱７およびアーム保持部８を介して保持される。基台６に対して支柱７は、鉛直軸の軸心周りに回転可能で、この回転により支柱７に保持されたＣアーム５ごとＸ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４も同方向に回転することが可能である。また、支柱７に対してアーム保持部８を被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転可能に保持することで、アーム保持部８に保持されたＣアーム５ごとＸ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４も同方向に回転することができる。また、アーム保持部８に対してＣアーム５を回転中心軸の軸心周りに回転可能に保持することで、ＣアームごとＸ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４も同方向に回転することができる。
さらに、ＦＰＤ３を、Ｘ線管２とＦＰＤ３とを結ぶＸ線の照射軸に沿って接近・離反させる、あるいは照射軸と直交する集束ライン方向に接近・離反させるように構成してもよい。また、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４の位置関係が一定である筈の条件でも、Ｃアーム５の回転などにより、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４の位置関係にズレが生じる場合がある（後述の焦点横ズレ量＝Ｘｆ）。
さらに、Ｘ線撮影装置は、ＦＰＤ３で検出されたＸ線検出信号に基づいて各種の画像処理を行う画像処理部１１と、Ｘ線撮影に先だって得られた基準校正データや、画像処理部１１で得られた各画像などのデータを書き込んで記憶するメモリ部１２と、データや命令を入力する入力部１３と、画像処理部１１で得られた画像を表示する表示部１４と、これらを統括制御するコントローラ１５とを備えている。その他にも、高電圧を発生して管電流や管電圧をＸ線管２に与える高電圧発生部などを備えているが、この発明の特徴部分あるいは特徴部分に関連する構成でないので、図示を省略する。
メモリ部１２は、コントローラ１５を介して、基準校正データや、画像処理部１１で得られた各画像などのデータを書き込んで記憶し、適宜必要に応じて読み出して、コントローラ１５を介して、これらのデータを表示部１４に送り込んで表示する。メモリ部１２は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）やハードディスクなどに代表される記憶媒体で構成されている。
入力部１３は、オペレータが入力したデータや命令をコントローラ１５に送り込む。入力部１３は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。表示部１４は、モニタで構成されている。
上述の画像処理部１１やコントローラ１５は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。画像処理部１１で得られた各画像などのデータを、コントローラ１５を介して、メモリ部１２に書き込んで記憶、あるいは表示部１４に送り込んで表示する。画像処理部１１の具体的な構成については詳しく後述する。
ＦＰＤ３は、図２に示すように、その検出面にはＸ線に有感な複数の検出素子ｄを２次元マトリックス状に配列して構成されている。検出素子ｄは、被検体Ｍを透過したＸ線をＸ線検出信号（電気信号）に変換して一旦蓄積して、その蓄積されたＸ線検出信号を読み出すことで、Ｘ線を検出する。各々の検出素子ｄでそれぞれ検出されたＸ線検出信号を、Ｘ線検出信号に応じた画素値に変換して、検出素子ｄの位置にそれぞれ対応した画素にその画素値を割り当てることでＸ線画像を出力して、画像処理部１１にＸ線画像を送り込む。
Ｘ線グリッド４は、図３に示すように、散乱Ｘ線を吸収するグリッド箔４ａとＸ線を透過させる中間層４ｂとを交互に並べて構成されている。グリッド箔４ａ，中間層４ｂを覆うグリッドカバー４ｃは、Ｘ線の入射面および逆側の面からグリッド箔４ａ，中間層４ｂを挟み込む。グリッド箔４ａの図示を明確にするために、グリッドカバー４ｃについては二点鎖線で図示し、その他のＸ線グリッド４の構成（グリッド箔４ａを支持する機構等）については図示を省略する。グリッド箔４ａは、この発明におけるグリッド箔に相当する。
また、図３に示すように各々のグリッド箔４ａをＦＰＤ３の検出面に対して平行に配置してＸ線グリッド４を配置している。なお、本実施例では中間層４ｂは空隙となっており、Ｘ線グリッド４はエアグリッドでもある。グリッド箔４ａについては、鉛などのようにＸ線に代表される放射線を吸収する物質であれば、特に限定されない。また、本実施例では、Ｘ線管２（図１を参照）の焦点を結ぶ射線に沿ってグリッド箔４ａを配置した集束グリッドであるが、図３では図示の便宜上、各々のグリッド箔４ａを平行配置としている。
図３に示すように各々の画素サイズをΔＸとすると、本実施例ではわかり易くするために各々の画素に同期してグリッド箔４ａが配置されている。つまりグリッド箔４ａのひずみ(たわみおよびねじれ)情報を収集する図５および図７では４画素毎に同期してグリッド箔４ａが配置されている。したがって、Ｘ線をグリッド箔４ａが吸収することによりＦＰＤ３に箔影が生じて、箔影がＸ線画像に映り込むが、各々の画素に同期して箔影が映り込むようにグリッド箔４ａが配置される。
次に、画像処理部および一連の画像処理のフローについて、図４〜図１１を参照して説明する。図４は、実施例に係る具体的な画像処理部のブロック図であり、図５は、たわみ定数を求めるときの位置関係を示す概略図であり、図６は、たわみ定数を実際の撮影に適用するときの概略図であり、図７は、ねじれ定数を求めるときの位置関係を示す概略図であり、図８は、ねじれ定数を実際の撮影に適用するときの概略図であり、図９は、たわみ定数の算出を模式的に示した概略図であり、図１０は、基準校正データの跨り積算値のプロファイルの模式図であり、図１１は、所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じるときの説明に供する模式図である。
画像処理部４は、図４に示すように、校正データ収集部３１と撮影像収集部３２と第１積算値算出部３３と積算値乗算部３４と対応校正像算出部３５と箔影整列像生成部３６と低域通過型フィルタ（以下、「ＬＰＦ」と略記する）３７と第２積算値算出部３８と偽像除去処理用箔影像生成部３９と偽像除去処理済像生成部４０とを備えている。また、校正データ収集部３１は、たわみ定数算出部３１ａとねじれ定数算出部３１ｂとを備えている。たわみ定数算出部３１ａは、この発明におけるたわみ定数算出手段に相当し、ねじれ定数算出部３１ｂは、この発明におけるねじれ定数算出手段に相当し、撮影像収集部３２は、この発明における撮影像収集手段に相当し、第１積算値算出部３３および第２積算値算出部３８は、この発明における積算値算出手段に相当し、積算値乗算部３４は、この発明における積算値乗算手段に相当する。
ここで、ホームポジション(HP: Home Position)とは、グリッド箔４ａにたわみやねじれがなく理想的な場合の箔傾きの集束位置であって、図５〜図８に示すようにＦＰＤ３やＸ線グリッド４の中心線上に位置し、Ｘ線グリッド４からｆ０の距離に位置する焦点位置ＨＰを指す。なお、ＳＩＤは、Ｘ線管２の焦点位置からＦＰＤ３に垂線を下ろしたときに、当該垂線方向の焦点位置からＦＰＤ３までの距離（SID: Source Image Distance）であり、ｆ０はホームポジションＨＰとＸ線グリッド４の中心面との距離（集束距離）である。
図５〜図８に示すように、ホームポジションＨＰの座標を（０，０）とする。図６や図８に示すように、Ｘ線管２（図１を参照）の焦点横ズレ量（ＦＰＤ３やＸ線グリッド４の設置面方向に沿ったホームポジションＨＰからの焦点ズレ量）をＸｆとし、焦点縦ズレ量（垂線方向に沿ったホームポジションＨＰからの焦点ズレ量）をｄｒとすると、実際の撮影焦点の座標は（Ｘｆ，ｄｒ）となる。また、ＦＰＤ３やＸ線グリッド４の中心線に基準となるグリッド箔４ａが位置するとしたときに、当該グリッド箔４ａがグリッド着脱等によりずれたときにそのズレ量をＸｇとする。
焦点縦ズレ量ｄｒはＸ線撮影装置の使用状況として設定されるので装置から読み取れる量であり既知である。また、実際の撮影時の焦点横ズレ量Ｘｆやグリッドズレ量Ｘｇについても、マーカー処理や箔影による相関処理などにより既知であることを前提として、以下を説明する。
校正データ収集部３１は、出荷前の基準校正データを収集する。詳細には、たわみ定数算出部３１ａは、たわみ定数を算出し、ねじれ定数算出部３１ｂは、ねじれ定数情報を持つ基準校正データを算出する。
撮影像収集部３２は、図４に示すように、実際の撮影像をＩとしたときに、被検体Ｍ（図１を参照）のある状態で検出されたＸ線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する。実際の撮影時には、図６や図８に示すように各々の画素サイズはΔＸ´であって、ＦＰＤ３の検出面・Ｘ線グリッド４の中心面間の距離はＧ´である。また、Ｘ線撮影に先だって基準校正データを、図５や図７に示すように収集する時（例えばＸ線グリッド４の出荷前）の各々画素サイズをΔＸ０、ＦＰＤ３の検出面・Ｘ線グリッド４の中心面間の距離をＧ０としたときには、必ずしもΔＸ０＝ΔＸ´，Ｇ０＝Ｇ´である必要はない。ΔＸ０≠ΔＸ´，Ｇ０≠Ｇ´であっても構わない。言い換えれば、課題でも述べたように多様なサイズのＸ線グリッドやＦＰＤに対応して、以下の画像処理を適用することができる。撮影像収集部３２で収集された実際の撮影像Ｉを箔影整列像生成部３６に送り込む。
たわみ定数算出部３１ａは、図４に示すように、たわみ定数をδｔｎとしたときに、グリッド箔４ａによる箔影が画素を跨っている箇所において、グリッド箔４ａのたわみに関する定数であるたわみ定数δｔｎを求める。具体的には図５に示すようなレイアウトの校正データ収集装置で、被検体のない状態でＸ線グリッド４の設置面に沿って所定間隔（例えば２０μｍ程度）にＸ線グリッド４を動かして、跨り位置画素の信号強度を収集することにより、たわみ定数δｔｎを求める。なお、ねじれ定数δθｎ情報を持つ基準校正データを求めるときには図７に示すようなレイアウトの校正データ収集装置を用いる。
基準校正データを収集する場合には、被検体のない状態で、図７に示すようにホームポジションＨＰから集束ラインＬｃに沿って所定間隔（例えば１ｍｍ程度）に焦点を動かして、ＦＰＤ３によって各々の焦点位置毎のＸ線画像を基準校正データとして収集する。このとき、実際の撮影で用いられるＸ線撮影装置とは別の装置で、位置関係のズレが生じにくい校正データ収集装置を用いて基準校正データを収集する。もちろん、各々の撮影毎に焦点ズレが生じにくいタイプのＸ線撮影装置を用いた場合には、同じＸ線撮影装置を用いて基準校正データを収集してもよい。
図５の説明に戻って、ホームポジションＨＰにＸ線管２（図１を参照）の焦点を設定した状態で、上述したようにＸ線グリッド４の設置面に沿って所定間隔にＸ線グリッド４を動かして、Ｘ線検出信号をそれぞれ収集する。基準となるグリッド箔４ａをｎ０番目の第ｎ０箔、対象となるグリッド箔４ａをｎ番目の第ｎ箔とする。このとき、対象となる第ｎ箔による箔影を跨いだ複数の画素におけるＸ線検出信号の各信号強度を、跨り位置画素の信号強度としてそれぞれ収集する。なお、図５〜図８では、基準となる第ｎ０箔を当該中心線上に位置するグリッド箔４ａとしたが、例えば端部にあるグリッド箔４ａを基準となる箔とするなど特に限定されない。
図５の場合には、箔影が２画素間に跨っているとして説明すると、対象となる第ｎ箔による箔影を跨いだ２画素の信号強度を、図９（ｂ）に示すように、跨り位置画素の信号強度としてそれぞれ収集する。図９（ｂ）では、Ｘ線グリッド４の移動量を横軸にとり、信号強度を縦軸にとっている。
もし、グリッド箔４ａにたわみがない場合には、箔影の中央を２画素間の境界が跨ぐと仮定すると、跨り位置画素の信号強度が互いに交差する位置が２画素間の境界に位置する筈である。しかし、実際にはグリッド箔４ａにたわみが生じていることに起因して、図９（ｂ）に示すように２画素間の境界（点線で図示）から偏移した位置で、跨り位置画素の信号強度が互いに交差する。この交差位置と２画素間の境界との偏移を、たわみ定数（図９（ａ）も参照）δｔｎとして定義する。なお、図９（ａ）は画素上に第ｎ箔による箔影がたわんだ状態で投影されているときの模式図である。このたわみ定数δｔｎを、各画素行，各グリッド箔４ａ毎にそれぞれ求める。なお、ここで述べるたわみ定数，以降で述べるねじれ定数とも箔毎に異なることはもちろん、箔走行方向(行)位置毎にも変化するが、本実施例では固定行位置での扱いとして説明している。
このようにして、たわみ定数算出部３１ａは、図４に示すようにたわみ定数δｔｎを求める。たわみ定数算出部３１ａで求められたたわみ定数δｔｎを、第１積算値算出部３３や第２積算値算出部３８に送り込む。
たわみ定数δｔｎを実際の撮影に適用するときには、図６に示すようにＫｎを求め、さらにＤｎを求めることにより、実際の撮影時の箔影画素を同定する。図６や図８では、実際の撮影時にずれたＸ線グリッド４（撮影時グリッド配置）を二点鎖線で示して、実線で示した計算時のＸ線グリッド４（計算時グリッド配置）と区別して図示する。実際の撮影焦点（Ｘｆ，ｄｒ）からグリッドズレ量Ｘｇ分だけシフトした焦点を計算焦点とすると、図６や図８に示すように計算焦点の座標は（Ｘｆ−Ｘｇ，ｄｒ）となる。
計算時グリッド配置において対象となる第ｎ箔と、（ＦＰＤ３やＸ線グリッド４の）中心線との距離をＫｎとすると、下記（１）式に基づいて、距離Ｋｎ（すなわち第ｎ箔の中心線からの位置）を求めることができる。
Ｋｎ＝（ｎ−ｎ０）・Ｐ＋δｔｎ …（１）
ここで、Ｐは理想箔ピッチであり、Ｐは既知である。たわみ定数δｔｎも既に求まっている。したがって、上記（１）式の右辺は既知であるので、距離Ｋｎを求めることができる。
計算焦点（Ｘｆ−Ｘｇ，ｄｒ）からの射線のうち、計算時グリッド配置の第ｎ箔を通ってＦＰＤ３に投影された位置と、中心線との距離をＤｎとすると、下記（２）式の幾何学的な位置関係に基づいて、距離Ｄｎを求めることができる。
Ｄｎ＝Ｋｎ−｛（Ｘｆ−Ｘｇ−Ｋｎ）・Ｇ´／（ｆ０＋ｄｒ）｝ …（２）
上述したように、ｆ０はホームポジションＨＰとＸ線グリッド４の中心面との距離（集束距離）であり、ｆ０は既知である。焦点縦ズレ量ｄｒや、ＦＰＤ３の検出面・Ｘ線グリッド４の中心面間の距離Ｇ´は既知であり、各ズレ量Ｘｆ，Ｘｇは上述したように既知であることを前提としている。第ｎ箔の中心線からの位置である距離Ｋｎも上記（１）式で既に求まっている。したがって、上記（２）式の右辺は既知であるので、距離Ｄｎを求めることができる。
次に、上記（２）式で求められた距離Ｄｎと、実際の撮影時の画素サイズΔＸ´とを用いて、グリッド箔４ａによる箔影が画素を跨っている箇所として箔影画素を同定する。具体的には距離Ｄｎから画素サイズΔＸ´を除算して、その除算結果Ｄｎ／ΔＸ´の整数部から箔影画素が、またその小数部から詳細な跨り位置が同定される。箔影がないと仮定したときの信号強度から、同定された箔影画素での信号強度を減算することで、撮影時の第ｎ箔の跨り積算値を求める。これを各画素行，各グリッド箔４ａ毎にそれぞれ求めることで、後述する基準校正データの跨り積算値を第１積算値算出部３３が求め、後述する実際の撮影像に基づく箔影強調像の跨り積算値を第２積算値算出部３８が求めることができる。
第１積算値算出部３３は、図４に示すように、グリッド箔４ａによる箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４（いずれも図１を参照）の相互の幾何学的な位置関係（すなわちジオメトリー（geometry））に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。同じく第２積算値算出部３８は、当該箇所をジオメトリーに基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。跨り積算値は、後述する基準校正データの跨り積算値と、後述する実際の撮影像に基づく箔影強調像の跨り積算値との両方があり、上述したように、第１積算値算出部３３が基準校正データの跨り積算値を求め、第２積算値算出部３８が箔影強調像の跨り積算値を求める。
なお、上述したように、個々のグリッド箔４ａのねじれやたわみにより箔影が必ずしも当該画素を跨っている、あるいは覆っているとは限らない。ねじれやたわみ状況によっては、１画素すら覆っておらずに別の画素（例えば隣接画素）を箔影が覆っている可能性もある。その場合には、箔影が跨っているであろうと思われる箇所での画素を、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４の相互の幾何学的な位置関係（すなわちジオメトリー）から認定し、箔影の跨りの状況によらずに一様に当該箇所における跨り積算値を求める。
第１積算値算出部３３の算出による基準校正データの跨り積算値について詳しく説明する。基準校正データの跨り積算値のプロファイルを、図１０に示すように求める。図１０では、焦点移動量を横軸にとり、箔影がないと仮定したときの信号強度を分母にして第ｎ箔の跨り積算値を分子にした比率を縦軸にとることで、第ｎ箔の跨り積算値のプロファイルを作成する。
もし、グリッド箔４ａにねじれがない場合には、図１０の点線に示すようなプロファイルとなる。しかし、実際にはグリッド箔４ａにねじれが生じていることに起因して、図１０の実線に示すようなプロファイルとなる。そこで、ねじれ定数算出部３１ｂはねじれ定数を求める。
ねじれ定数算出部３１ｂは、図４に示すように、ねじれ定数をδθｎとしたときに、グリッド箔４ａのねじれに関する定数であるねじれ定数δθｎを求める。上述したようにねじれ定数δθｎを求めるときには、図５と同じ図７に示す校正データ収集装置を用いる。
図７に示すように、第ｎ箔の理想角度からねじれ角度δθｎでねじれているときには、ホームポジションＨＰからの射線のうち、対象となる第ｎ箔を通る射線とねじれ角度δθｎをなす射線を定義する。この定義された射線と集束ラインＬｃとが交わった焦点（図７では白抜きの方形：「□」で表記）でのデータに基づく跨り積算値のプロファイルが、図１０の実線に示すようなプロファイルとなる。したがって、グリッド箔４ａがねじれた状態でデータを収集して、それに基づくプロファイル（図１０の実線）を作成すれば、図１０の点線に示すような第ｎ理想箔のプロファイルからの焦点移動量のズレを検出することができる。このときのズレは、ｓｉｎ（δθｎ）に比例した量（図１０では「∝ｓｉｎ（δθｎ）で表記」）であるので、ねじれ定数δθｎを直接的に求めることも可能であるが、演算量を軽減させるためにｓｉｎ（δθｎ）毎の跨り積算値を記憶する。
これをねじれ定数δθｎ情報を持つ基準校正データと呼ぶ。なお、図７の各マークと図８の各マークと図１０の各マークとは統一（例えば、射線と集束ラインＬｃとが交わった焦点□は図７，図８および図１０でそれぞれ対応）している。
このようにして、ねじれ定数算出部３１ｂは、図４に示すようにねじれ定数δθｎ（基準校正データ）を求める。ねじれ定数算出部３１ｂで求められたねじれ定数δθｎ（基準校正データ）を、第１積算値算出部３３に送り込む。
ねじれ定数δθｎ（基準校正データ）を実際の撮影に適用するときには、図８に示すようにＫｎを求め、さらにＤｎを求めることにより、集束ラインＬｃとの交点（図８では黒の方形：「■」で表記）を求める。この交点は、基準校正データを収集したときの焦点位置に必ずしも一致するとは限らないので、互いに隣接した２つの焦点位置での跨り積算値から例えば重み付け補正などにより線形補間することで対応校正像の第ｎ跨り積算値を求める。したがって、焦点位置の中点に位置するときには互いに隣接した２つの焦点位置での跨り積算値をそれぞれ同じ重み付けで行って線形補間すればよい。なお、ＫｎやＤｎの算出方法については、図６で述べたので説明を省略する。なお、集束ラインＬｃとの交点（図８の■）がプロファイルのピーク位置に位置する場合には、両側から外挿補間を行えばよい。
このように、たわみ定数算出部３１ａで求められたたわみ定数δｔｎ，およびねじれ定数算出部３１ｂで求められたねじれ定数δθｎ（基準校正データ）を用いて、第１積算値算出部３３は基準校正データの跨り積算値を求める。上述したように、箔影がないと仮定したときの基準校正データにおける信号強度から、同定された基準校正データにおける箔影画素での信号強度を減算することで、基準校正データの第ｎ箔の跨り積算値を求める。このとき、たわみ定数δｔｎを反映した箔位置で計算しているので、基準校正データの跨り積算値を正確に求めることができる。
このようにして、第１積算値算出部３３は、図４に示すように基準校正データの跨り積算値を求める。第１積算値算出部３３で求められた基準校正データの跨り積算値を、積算値乗算部３４や対応校正像算出部３５に送り込む。
積算値乗算部３４は、図４に示すように、箔影の幅と画素サイズとに基づく所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じる。上述したように、基準校正データ収集時の画素サイズΔＸ０と、実際の撮影時の画素サイズΔＸ´とは必ずしも等しくない。図１１では、簡略化のために箔影の幅をＷ（図１１（ｂ）を参照）と一定にする。また、ΔＸ０＝１５０μｍ（＝0.15mm），ΔＸ´＝２００μｍ（＝0.2mm），Ｗ＝0.034 mmとすると、図１１（ａ）に示すように跨り積算値のプロファイルのピーク値は、基準校正データ収集時には０．７７（＝（ΔＸ０−Ｗ）／ΔＸ０＝（0.2-0.034）/0.2）となり、実際の撮影時には０．８３（＝（ΔＸ´−Ｗ）／ΔＸ´＝（0.15-0.034）/0.15）となる。なお、図７の各マークと図８の各マークと図１０の各マークと図１１（ａ）の各マークとは統一（例えば、射線と集束ラインＬｃとが交わった焦点□は図７，図８，図１０および図１１（ａ）でそれぞれ対応、集束ラインＬｃとの交点■は図８および図１１（ａ）でそれぞれ対応）している。
このようにして、積算値乗算部３４は、図４に示すように倍率（ここでは０．８３／０．７７）を基準校正データの跨り積算値に乗じる。積算値乗算部３４で乗算された基準校正データの跨り積算値を、対応校正像算出部３５に送り込む。
対応校正像算出部３５は、積算値乗算部３４で乗算された基準校正データの跨り積算値に基づいて、実際の撮影焦点からグリッドズレ量Ｘｇ（図６や図８を参照）分シフトした計算焦点からの射線として当該射線に対応した対応校正像を求める。
図６や図８でも述べたように、実際の撮影焦点（Ｘｆ，ｄｒ）からグリッドズレ量Ｘｇ分シフトした計算焦点の座標は（Ｘｆ−Ｘｇ，ｄｒ）となる。このとき、計算焦点（Ｘｆ−Ｘｇ，ｄｒ）からの射線のうち、第ｎ箔を通る射線と集束ラインＬｃ（図６７や図８を参照）との交点（図８では黒の方形：「■」で表記）での基準校正データを用いれば、そのときの対応校正像を求めることができる。なお、当該射線と集束ラインＬｃとが交わった交点が、基準校正データを収集したときの焦点位置に一致する場合には、当該焦点位置での基準校正データ（Ｘ線画像）をそのまま対応校正像とすればよい。
ただし、当該射線と集束ラインＬｃとが交わった交点は、基準校正データを収集したときの焦点位置に必ずしも一致するとは限らない。その場合には、当該射線と集束ラインＬｃとが交わった交点に最も近接している（すなわち互いに隣接した）２つの焦点位置での基準校正データ（Ｘ線画像）をそれぞれ用いて重み付け補正を行えば対応校正像を求めることができる。例えば、近接している一方の焦点位置での基準校正データとそのときの重み関数の積と、他方の焦点位置での基準校正データとそのときの重み関数の積とを合計した画素値（Ｘ線検出信号の値）を各画素に応じて割り当てれば、対応校正像を求めることができる。
このようにして、対応校正像算出部３５は、図４に示すように対応校正像を求める。なお、基準校正データの跨り積算値が第１積算値算出部３３で既に得られているので、対応校正像における積算値（上述した対応校正像の第ｎ跨り積算値）をＣsumとすると、対応校正像における積算値Ｃsumを偽像除去処理用箔影像生成部３９に送り込む。
箔影整列像生成部３６は、図４に示すように箔影整列像をＧとしたときに、グリッド箔４ａを並設した方向（図３では横方向）に撮影像Ｉをスライド移動することで箔影が整列した撮影像である箔影整列像Ｇを生成する。上述したグリッドズレ量Ｘｇを用いて被検体の情報ごと撮影像Ｉをスライド移動すれば、箔影整列像Ｇを生成することができる。
なお、より精密な箔影整列像Ｇを生成する場合には、各画素行でのシフト量（グリッドズレ量Ｘｇ）を求めて、各画素行毎に撮影像Ｉをスライド移動すれば、精密な箔影整列像Ｇを生成することができる。なお、グリッド箔４ａの延在方向（図３では縦方向）に対するシフト量（ズレ量）は残っているが、かかるシフト量は僅かであるので無視することができる。
このようにして、箔影整列像生成部３６は、図４に示すように箔影整列像Ｇを生成する。箔影整列像生成部３６で生成された箔影整列像Ｇを、ＬＰＦ３７や偽像除去処理済像生成部４０に送り込む。
ＬＰＦ３７は、図４に示すように、箔影強調像をＥとしたときに、箔影整列像Ｇに対して箔影を強調して被検体Ｍ（図１を参照）の情報を除去した箔影強調像Ｅを生成するために、グリッド箔４ａの延在方向（図３では縦方向）に対して低域領域を通過させる。ＬＰＦ３７で生成された箔影強調像Ｅを、第２積算値算出部３８に送り込む。
第２積算値算出部３８は、図４に示すように箔影強調像Ｅの跨り積算値をＥsumとしたときに、積算値Ｅsumを求める。積算値Ｅsumを偽像除去処理用箔影像生成部３９に送り込む。
偽像除去処理用箔影像生成部３９は、図４に示すように、偽像除去処理用箔影像をＣｏｒとしたときに、積算値Ｅsum，Ｃsumに基づいて、箔影に起因した偽像を除去する偽像除去処理用箔影像Ｃｏｒを生成することができる（Ｃｏｒ＝Ｅ・Ｃsum／Ｅsum）。
このようにして、偽像除去処理用箔影像生成部３９は、図４に示すように偽像除去処理用箔影像Ｃｏｒを生成する。偽像除去処理用箔影像生成部３９で生成された偽像除去処理用箔影像Ｃｏｒを、偽像除去処理済像生成部４０に送り込む。
偽像除去処理済像生成部４０は、図４に示すように、箔影を除去したことにより最終的に得られるＸ線画像をＩafterとしたときに、偽像除去処理用箔影像Ｃｏｒに基づいて、グリッド箔４ａによる箔影を除去した偽像除去処理済像を生成する。そして、その偽像除去処理済像生成部４０で生成された偽像除去処理済像をＸ線画像Ｉafterとして最終的に得る。各画素毎に、箔影整列像Ｇから偽像除去処理用箔影像Ｃｏｒを除算することでＸ線画像Ｉafterを得ることができる（Ｉafter＝Ｇ／Ｃｏｒ）。
なお、エアグリッドの場合には中間層が空隙である関係で、箔影の跨る画素と跨らない画素とのコントラストが強く偽像が目立ちやすい。上述した画像処理部および一連の画像処理のフローをエアグリッドに適用することにより発明の課題を解決することができる。
本実施例に係るＸ線撮影装置によれば、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４の他に、グリッド箔４ａによる箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４の相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める第１積算値算出部３３および第２積算値算出部３８を備えている。そして、被検体Ｍのある状態で検出されたＸ線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集部３２を備え、上述した第１／第２積算値算出部３３，３８と上述した撮影像収集部３２とに基づいてグリッド箔４ａによる箔影を除去してＸ線画像を最終的に得る。グリッド箔４ａのねじれやたわみによりグリッド箔４ａによる箔影が画素を跨っていたとしても、当該箇所を、Ｘ線管２，ＦＰＤ３およびＸ線グリッド４の相互の幾何学的な位置関係（すなわちジオメトリー）に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。したがって、Ｘ線グリッド４やＦＰＤ３のサイズが変わったとしても当該跨り積算値に基づいて箔影を除去することになる。その結果、多様なサイズのＸ線グリッド４やＦＰＤ３に対応してグリッド箔４ａのねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる。
また、本実施例では、グリッド箔４ａによる箔影が画素を跨っている箇所において、グリッド箔４ａのたわみに関する定数であるたわみ定数を求めるたわみ定数算出部３１ａを備え、第１／第２積算値算出部３３，３８とたわみ定数算出部３１ａと撮影像収集部３２とに基づいてグリッド箔４ａによる箔影を除去してＸ線画像を最終的に得るのが好ましい。たわみを数値化したたわみ定数をも用いてグリッド箔４ａによる箔影を除去することにより、グリッド箔４ａのたわみをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。
また、本実施例では、グリッド箔４ａのねじれに関する定数であるねじれ定数を求めるねじれ定数算出部３１ｂを備え、第１／第２積算値算出部３３，３８とねじれ定数算出部３１ｂと撮影像収集部３２とに基づいてグリッド箔４ａによる箔影を除去してＸ線画像を最終的に得るのが好ましい。ねじれを数値化したねじれ定数をも用いてグリッド箔４ａによる箔影を除去することにより、グリッド箔４ａのねじれをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。
また、本実施例では、箔影の幅と画素サイズとに基づく所定倍率を、被検体のない状態で検出されたＸ線検出信号に基づく基準校正データの跨り積算値に乗じる積算値乗算部３４を備えるのが好ましい。所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じることにより、多様なサイズのＸ線グリッド４やＦＰＤ３に応じて箔影を除去したＸ線画像を求めることができる。したがって、各々のＦＰＤ、あるいはジオメトリーに応じてＸ線グリッドを製作せずとも１つのＸ線グリッドを用いて適切な偽像除去処理を行うことが可能となる。
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
（１）上述した実施例では、放射線としてＸ線を例に採って説明したが、Ｘ線以外の放射線（例えばγ線など）に適用してもよい。
（２）上述した実施例では、Ｘ線撮影装置は、ＣＶＳ装置に実施するためのＣアームを備えた装置であったが、これに限定されない。例えば、工業用等に用いられる非破壊検査装置のように被検体（この場合には検査の対象物が被検体）をベルト上に運搬させて撮影を行う構造であってもよいし、医用等に用いられるＸ線ＣＴ装置などのような構造であってもよい。
（３）上述した実施例では、放射線グリッドとしてエアグリッドを採用したが、これに限定されない。空隙の他に、アルミニウムや有機物質などのようにＸ線に代表される放射線を透過させる中間物質で構成されたグリッドでもよい。また、クロスグリッドでもよい。なお、クロスグリッドの場合には、一方向のみにグリッド箔が延在したエアグリッドのときよりも、グリッドズレは生じにくいが、もちろん適用することができる。この場合には、ズレの方向を一方向から二方向にそれぞれ拡張して求めればよい。
（４）上述した実施例では、集束グリッドであったが、平行配置されたグリッドにも適用することができる。
（５）上述した実施例では、校正データ収集時のＦＰＤ３の画素（図５や図７のΔＸ０を参照）に対して同期なグリッド（同期型グリッド）について述べたが、非同期型グリッドに適用してもよい。また、エアグリッド以外のグリッドの場合には、１つの画素に複数のグリッド箔が並設される構造のグリッドに適用してもよい。
（６）上述した実施例では、たわみやねじれを数値化したたわみ定数やねじれ定数をそれぞれ求めるために、たわみ定数算出手段（実施例ではたわみ定数算出部３１ａ）やねじれ定数算出手段（実施例ではねじれ定数算出部３１ｂ）を備えたが、たわみやねじれの影響が少なければ、ジオメトリーに基づいて跨り積算値を求める積算値算出手段（実施例では第１／第２積算値算出部３３，３８）のみを備えてもよい。
（７）上述した実施例では、箔影の幅と画素サイズとに基づく所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じたが、同じサイズのＸ線グリッド４やＦＰＤ３、あるいは同じジオメトリーであれば、必ずしも所定倍率を基準校正データの跨り積算値に乗じる必要はない。
（８）上述した実施例では、跨り積算値は、基準校正データや箔影強調像に関するデータであったが、これに限定されない。例えば、撮影像に関する跨り積算値を求めてもよい。
２ … Ｘ線管
３ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
４ … Ｘ線グリッド
４ａ … グリッド箔
３１ａ … たわみ定数算出部
３１ｂ … ねじれ定数算出部
３２ … 撮影像収集部
３３ … 第１積算値算出部
３４ … 積算値乗算部
３８ … 第２積算値算出部
Ｍ … 被検体
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、この発明の放射線撮影装置（前者の発明の放射線撮影装置）は、放射線画像を得る放射線撮影装置であって、放射線を照射する放射線源と、照射された放射線を検出する放射線検出手段と、その放射線検出手段の検出側に設けられ、散乱放射線を吸収するグリッド箔を並べて構成された放射線グリッドとを備え、さらに、前記放射線撮影装置は、前記グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、前記放射線源，前記放射線検出手段および前記放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段と、被検体のある状態で検出された放射線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集手段とを備え、さらに、前記放射線撮影装置は、前記グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、前記グリッド箔のたわみに関する定数であるたわみ定数を求めるたわみ定数算出手段を備え、前記積算値算出手段と前記たわみ定数算出手段と前記撮影像収集手段とに基づいて前記グリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得ることを特徴とするものである。
また、前者の発明の放射線撮影装置とは別の後者の発明の放射線撮影装置は、放射線画像を得る放射線撮影装置であって、放射線を照射する放射線源と、照射された放射線を検出する放射線検出手段と、その放射線検出手段の検出側に設けられ、散乱放射線を吸収するグリッド箔を並べて構成された放射線グリッドとを備え、さらに、前記放射線撮影装置は、前記グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、前記放射線源，前記放射線検出手段および前記放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段と、被検体のある状態で検出された放射線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集手段とを備え、さらに、前記放射線撮影装置は、前記グリッド箔のねじれに関する定数であるねじれ定数を求めるねじれ定数算出手段を備え、前記積算値算出手段と前記ねじれ定数算出手段と前記撮影像収集手段とに基づいて前記グリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得ることを特徴とするものである。
これらの前者および後者の発明の放射線撮影装置によれば、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの他に、グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段を備えている。そして、被検体のある状態で検出された放射線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集手段を備え、上述した積算値算出手段と上述した撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得る。グリッド箔のねじれやたわみによりグリッド箔による箔影が画素を跨っていたとしても、当該箇所を、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係（すなわちジオメトリー（geometry））に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。したがって、放射線グリッドや放射線検出手段のサイズが変わったとしても当該跨り積算値に基づいて箔影を除去することになる。その結果、多様なサイズの放射線グリッドや放射線検出手段に対応してグリッド箔のねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる。なお、個々のグリッド箔のねじれやたわみにより箔影が必ずしも当該画素を跨っている、あるいは覆っているとは限らない。箔影が跨っているであろうと思われる箇所での画素をジオメトリーから認定し、箔影の跨りの状況によらずに一様に当該箇所における跨り積算値を求めるということに留意されたい。
前者の発明の放射線撮影装置において、グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、グリッド箔のたわみに関する定数であるたわみ定数を求めるたわみ定数算出手段を備え、積算値算出手段とたわみ定数算出手段と撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得る。たわみを数値化したたわみ定数をも用いてグリッド箔による箔影を除去することにより、グリッド箔のたわみをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。
後者の発明の放射線撮影装置において、グリッド箔のねじれに関する定数であるねじれ定数を求めるねじれ定数算出手段を備え、積算値算出手段とねじれ定数算出手段と撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得る。ねじれを数値化したねじれ定数をも用いてグリッド箔による箔影を除去することにより、グリッド箔のねじれをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。また、前者の発明の放射線撮影装置（たわみ定数算出手段を備えた放射線撮影装置）および後者の発明の放射線撮影装置’（ねじれ定数算出手段を備えた放射線撮影装置）を組み合わせてもよい。すなわち、積算値算出手段とたわみ定数算出手段とねじれ定数算出手段と撮影像収集手段とに基づいてグリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得てもよい。
前者および後者の発明に係る放射線撮影装置によれば、グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、放射線源，放射線検出手段および放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段を備えている。グリッド箔のねじれやたわみによりグリッド箔による箔影が画素を跨っていたとしても、当該箇所をジオメトリーに基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める。したがって、放射線グリッドや放射線検出手段のサイズが変わったとしても当該跨り積算値に基づいて箔影を除去することになる。その結果、多様なサイズの放射線グリッドや放射線検出手段に対応してグリッド箔のねじれやたわみを考慮して箔影を除去することができる。
前者の発明の放射線撮影装置において、たわみを数値化したたわみ定数をも用いてグリッド箔による箔影を除去することにより、グリッド箔のたわみをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。
後者の発明の放射線撮影装置において、ねじれを数値化したねじれ定数をも用いてグリッド箔による箔影を除去することにより、グリッド箔のねじれをより一層考慮して箔影をより一層精密に除去することができる。

Claims (4)

  1. 放射線画像を得る放射線撮影装置であって、
    放射線を照射する放射線源と、
    照射された放射線を検出する放射線検出手段と、
    その放射線検出手段の検出側に設けられ、散乱放射線を吸収するグリッド箔を並べて構成された放射線グリッドと
    を備え、
    さらに、前記放射線撮影装置は、
    前記グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、当該箇所を、前記放射線源，前記放射線検出手段および前記放射線グリッドの相互の幾何学的な位置関係に基づいて同定して、同定された当該箇所における箔影による跨り積算値を求める積算値算出手段と、
    被検体のある状態で検出された放射線検出信号に基づいて実際の撮影像を収集する撮影像収集手段と
    を備え、
    前記積算値算出手段と前記撮影像収集手段とに基づいて前記グリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得ることを特徴とする放射線撮影装置。
  2. 請求項１に記載の放射線撮影装置において、
    前記グリッド箔による箔影が画素を跨っている箇所において、前記グリッド箔のたわみに関する定数であるたわみ定数を求めるたわみ定数算出手段を備え、
    前記積算値算出手段と前記たわみ定数算出手段と前記撮影像収集手段とに基づいて前記グリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得ることを特徴とする放射線撮影装置。
  3. 請求項１または請求項２に記載の放射線撮影装置において、
    前記グリッド箔のねじれに関する定数であるねじれ定数を求めるねじれ定数算出手段を備え、
    前記積算値算出手段と前記ねじれ定数算出手段と前記撮影像収集手段とに基づいて前記グリッド箔による箔影を除去して放射線画像を最終的に得ることを特徴とする放射線撮影装置。
  4. 請求項１から請求項３のいずれかに記載の放射線撮影装置において、
    前記箔影の幅と画素サイズとに基づく所定倍率を、被検体のない状態で検出された放射
    線検出信号に基づく基準校正データの前記跨り積算値に乗じる積算値乗算手段を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
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