JPWO2013136804A1 - 固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置 - Google Patents

固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2013136804A1
JPWO2013136804A1 JP2014504712A JP2014504712A JPWO2013136804A1 JP WO2013136804 A1 JPWO2013136804 A1 JP WO2013136804A1 JP 2014504712 A JP2014504712 A JP 2014504712A JP 2014504712 A JP2014504712 A JP 2014504712A JP WO2013136804 A1 JPWO2013136804 A1 JP WO2013136804A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solid scintillator
solid
garnet
oxide
ray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014504712A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6158167B2 (ja
Inventor
林 誠
誠 林
福田 幸洋
幸洋 福田
沢 孝雄
孝雄 沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Materials Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Materials Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Materials Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Publication of JPWO2013136804A1 publication Critical patent/JPWO2013136804A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6158167B2 publication Critical patent/JP6158167B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/77Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals
    • C09K11/7766Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals containing two or more rare earth metals
    • C09K11/7774Aluminates
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computerised tomographs
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G15/00Compounds of gallium, indium or thallium
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • G01T1/2023Selection of materials
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/90Other properties not specified above
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/419Imaging computed tomograph
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens
    • G21K2004/06Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens with a phosphor layer

Abstract

実施形態の固体シンチレータ2は、ガーネット構造を有する酸化物の多結晶体を具備する。固体シンチレータ2において、波長680nmの直線透過率は10%以上である。固体シンチレータ2を構成する酸化物は、例えば、一般式:(Gd1−α−β−γTbαLuβCeγ)3(Al1−xGax)aOb(0<α≰0.55、0<β≰0.55、0.0001≰γ≰0.1、α+β+γ<1、0<x<1、4.8≰a≰5.2、11.6≰b≰12.4)で表される組成を有する。

Description

本発明の実施形態は、固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置に関する。
医療診断や工業用非破壊検査の分野においては、X線断層撮影装置(X線CT装置)のようなX線検査装置が用いられている。X線CT装置は、扇状のファンビームX線を照射するX線管(X線源)と、多数のX線検出素子を並列配置したX線検出器とを、被検体の断層面を中央として対向配置した構造を有している。X線CT装置においては、X線検出器に向けてX線管からファンビームX線を照射し、1回照射を行う毎に断層面に対して例えば角度を1度ずつ変えてゆくことによりX線吸収データの収集が行われる。これらのX線吸収データをコンピュータで解析して断層面の個々の位置のX線吸収率を算出することによって、X線吸収率に応じた画像が構成される。
X線CT装置におけるX線検出器においては、X線の刺激により可視光線を放射する固体シンチレータが用いられている。固体シンチレータとは、単結晶シンチレータや多結晶セラミックシンチレータのことである。このような固体シンチレータとフォトダイオードとを組み合わせたX線検出器の開発が進められている。固体シンチレータを用いたX線検出器によれば、検出素子を小型化してチャンネル数を増やすことが容易であるため、X線CT装置の高解像度化を図ることができる。
X線検出器に用いられる固体シンチレータとしては、タングステン酸カドミウム(CdWO)、ヨウ化ナトリウム(NaI)、ヨウ化セシウム(CsI)等の単結晶体、ユーロピウム付活塩化弗化バリウム(BaFCl:Eu)、テルビウム付活ランタンオキシ臭化物(LaOBr:Tb)、タリウム付活ヨウ化セシウム(CsI:Tl)、タングステン酸カルシウム(CaWO)、タングステン酸カドミウム(CdWO)、ユーロピウム付活酸化ガドリニウム(Gd:Eu)、プラセオジム付活ガドリニウムオキシ硫化物(GdS:Pr)等の多結晶セラミックスが知られている。
(Gd1−xPrS(0.0001≦x≦0.01)や(Gd1−x−yPrCeS(0.0001≦x≦0.01、0≦y≦0.005)等の希土類オキシ硫化物セラミックスは、X線吸収係数が大きく、発光の残光時間が短いという特性を有している。これとは別に、ガーネット構造を有する希土類酸化物セラミックスも固体シンチレータとして知られている。ガーネット構造を有する希土類酸化物セラミックスは、光出力に優れるという特性を有する。しかしながら、X線CT装置では被検者の被曝線量をさらに低減することが望まれている。このため、固体シンチレータにはさらなる高感度化やスキャン時間を短縮するために残光時間の低減が要求されている。
一方、昨今、注目されているテロ防止対策としての空港での手荷物検査装置等のセキュリティ分野では、タングステン酸カドミウムの単結晶体からなる固体シンチレータが多用されている。タングステン酸カドミウムの単結晶体は、希土類オキシ硫化物セラミックスやガーネット構造を有する希土類酸化物セラミックスに比べて特性的に劣るものの、低コストであることからコスト面での優位性が高い。しかしながら、カドミウムは有害性物質であるため、タングステン酸カドミウムの単結晶体は環境を悪化させるおそれを有している。ガーネット構造を有する希土類酸化物セラミックスに関しては、酸化物組成の改良等により光出力の向上が図られているものの、さらなる特性の向上が求められている。
特開昭59−045022号公報 特開昭59−027283号公報 特開昭58−204088号公報 国際公開第2009/113379号
本発明が解決しようとする課題は、光出力や感度等の特性をさらに向上させることによって、高性能化させた固体シンチレータと、それを用いたX線検出器およびX線検査装置を提供することにある。
実施形態の固体シンチレータは、ガーネット構造を有する酸化物の多結晶体を具備している。実施形態の固体シンチレータにおいて、波長680nmの直線透過率は10%以上である。実施形態の放射線検出器は、実施形態の固体シンチレータを具備している。実施形態の放射線検査装置は、実施形態の放射線検出器を具備している。
第1の実施形態による放射線検出器を示す斜視図である。 第2の実施形態による放射線検出器を示す斜視図である。 実施形態による放射線検査装置を示す概念図である。
以下、実施形態の固体シンチレータ、X線検出器、およびX線検査装置について、図面を参照して説明する。実施形態の固体シンチレータは、ガーネット構造を有する酸化物(以下、ガーネット型酸化物と記す。)の多結晶体を具備している。そして、実施形態の固体シンチレータは、波長680nmの直線透過率が10%以上であることを特徴としている。波長680nmの直線透過率は20%以上であることが好ましい。
ガーネット型酸化物は、R12で近似される化学量論組成を有している。ここで、Rは希土類元素、AはAlおよびGaから選ばれる少なくとも1つの元素、Oは酸素である。ただし、ガーネット相が多少化学量論組成から外れた組成を有していても、固体シンチレータ材料としての特性を得ることができる。このため、実施形態の固体シンチレータは、R(aは4.8≦a≦5.2を満足する数(原子比)、bは11.6≦b≦12.4を満足する数(原子比)である。)で表される組成を有する酸化物の多結晶体を具備していればよい。希土類元素Rの原子量を3としたとき、AlおよびGaの合計原子量が4.8〜5.2の範囲の範囲を外れたり、酸素の原子量bが11.6〜12.4の範囲を外れると、ペロブスカイト相等の異相が析出しやすくなる。ガーネット型酸化物の多結晶体は、酸化物結晶が多数集まって一体化した状態を有するものである。ガーネット型酸化物の多結晶体は、焼結体であることが望ましい。
実施形態の固体シンチレータは、波長が680nmの光で直線透過率を測定したとき、10%以上の直線透過率を有している。直線透過率は、試料の表面に対して垂直に光(入射光)を入射したとき、試料の裏面から垂直に透過した光(直進光)の比率を示すものである。直線透過率は、厚さが1mmで、表裏面を表面粗さRaが1μm以下となるように研磨した試料を用いて測定する。試料の表面に照射した入射光の強度をI、試料の裏面から垂直に透過した光(直進光)の強度をIとしたとき、直線透過率Τは「Τ=I/I×100(%)」から求められる。ガーネット型酸化物の多結晶体に波長が680nmの光を照射したとき、ガーネット型酸化物の多結晶体は発光しない、もしくは極僅かにしか発光しない。従って、波長が680nmの光は、ガーネット型酸化物の多結晶体からなる固体シンチレータの透過率を測定するのに有効である。
このような波長680nmの直線透過率が10%以上であるガーネット型酸化物の多結晶体によれば、固体シンチレータの光出力や感度等の特性を向上させることが可能になる。すなわち、放射線検出器は後述するように、固体シンチレータアレイの背面に配置された光電変換素子を備えている。固体シンチレータの波長680nmの直線透過率が高いということは、X線により励起された固体シンチレータの発光が、光電変換素子に直進光として届く割合が増えることを意味する。従って、固体シンチレータアレイの光出力や感度等を向上させることができる。固体シンチレータの波長680nmの直線透過率は20%以上であることがより好ましい。
ここで、光が多結晶体を通過するとき、光は気泡、異相、結晶粒界等により屈折して散乱される。直線透過率が高いということは、気泡、異相、結晶粒界等による光の屈折が低減し、直進光の割合が増えることを意味する。すなわち、ガーネット型酸化物の多結晶体中に存在する気泡、異相、結晶粒界等を減少させることによって、波長680nmの直線透過率を10%以上、さらには20%以上にすることができる。多結晶体の作製方法としては、後述するようにホットプレス法、HIP法(熱間静水圧プレス法)、真空焼結法等が挙げられる。ホットプレス法ではグラファイト等が使用され、またHIP法では金属が使用されるため、焼結工程で結晶中から酸素が抜けて酸素欠損が発生する。真空焼結法は真空雰囲気中で焼結を実施するため、同様に焼結時に酸素が抜けて酸素欠損が発生する。
固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)の段階では化学量論組成を有していたとしても、多結晶体の作製工程(焼結工程)で酸素欠損が発生する。波長680nmの直線透過率を高めるためには、後に詳述するように、酸素含有雰囲気中でガーネット型酸化物の多結晶体を熱処理することが効果的である。多結晶体(焼結体)を酸素含有雰囲気中で熱処理することによって、異相の低減、結晶粒界の均一化、歪の除去、さらには酸素欠損の改善等の効果が得られる。これらはいずれも光の散乱の抑制に寄与する。さらに、気泡による光の散乱は、多結晶体(焼結体)を高密度化することにより低減される。これらによって、固体シンチレータの波長680nmの直線透過率を高めることができる。
実施形態の固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物の多結晶体は、以下の式(1)で表される組成を有することが好ましい。
一般式:(Gd1−α−β−γTbαLuβCeγ(Al1−xGa
(式中、α、βおよびγは0<α≦0.55、βは0<β≦0.55、0.0001≦γ≦0.1、α+β+γ<1を満足する数(原子比)、xは0<x<1を満足する数(原子比)、aは4.8≦a≦5.2を満足する数(原子比)、bは11.6≦b≦12.4を満足する数(原子比)である。)
式(1)において、希土類元素Rは、ガドリニウム(Gd)、テルビウム(Tb)、ルテチウム(Lu)、およびセリウム(Ce)である。固体シンチレータの構成材料(固体シンチレータ材料としてのガーネット型酸化物は、これら以外の希土類元素を50質量ppm以下の範囲で含有していてもよい。Gd、TbおよびLuは4配位のサイトを占める元素である。X線管ターゲットの電子線照射面は、タングステンやタングステン合金(Re−W合金等)からなることがほとんどである。X線管は、タングステンやタングステン合金からなる電子照射面に電子線が当たった際にX線を発生する仕組みを有している。
Gdはタングステンから発生するX線の吸収係数が最も高いため、固体シンチレータ材料の構成元素として好ましい。このため、式(1)における希土類元素Rの全体量(Gd、Tb、LuおよびCeの合計量)に対するGdの量は、ゼロを超える量(0<1−α−β−γ(またはα+β+γ<1))とする。さらに、ガーネット構造を安定して得ると共に、固体シンチレータによるX線の吸収量を向上させる上で、希土類元素Rの全体量に対するGdの量は10原子%以上(0.1≦1−α−β−γ(またはα+β+γ≦0.9))であることが好ましく、さらに20原子%以上(0.2≦1−α−β−γ(またはα+β+γ≦0.8))であることがより好ましい。
TbはGdと共にガーネット型酸化物の基本構造を形成し、さらに発光にも寄与する元素である。希土類元素Rの全体量に対するTbの量(α)は、ゼロを超えて55原子%以下の範囲(0<α≦0.55)とする。この場合に固体シンチレータ材料の残光特性が向上する。Tbの量(α)が55原子%を超えると、それ以上の効果が得られないだけでなく、他の希土類元素成分の割合が減少することで特性が低下する。希土類元素Rの全体量に対するTbの量(α)は、発光特性と残光特性とを向上させるために、10原子%以上50原子%以下の範囲(0.1≦α≦0.5)であることが好ましく、20原子%以上30原子%以下の範囲(0.2≦α≦0.3)であることがより好ましい。
Luはガーネット型酸化物における異相の析出を抑える元素である。ガーネット型酸化物中の異相としては、ペロブスカイト相(R(Al,Ga)O相)やモノクリニック相(R(Al,Ga)相)が例示される。ペロブスカイト相の具体例としては、GdAlOが挙げられる。モノクリニック相の具体例としては、GdAl相が挙げられる。特に、ペロブスカイト相はガーネット型酸化物中に異相として析出しやすい。ペロブスカイト相の析出量が増加すると光の散乱が発生しやすくなるため、ガーネット型酸化物からなる固体シンチレータ材料の特性が低下する。
ガーネット型酸化物を構成する希土類元素Rの1つとしてLuを使用することによって、ペロブスカイト相に代表される異相の析出が抑制される。従って、固体シンチレータ材料の発光強度等の特性を向上させることができる。希土類元素Rの全体量に対するLuの量(β)は、ゼロを超えて55原子%以下の範囲(0<β≦0.55)とする。Luの量(β)が上記範囲内であるとき、固体シンチレータ材料の発光強度等の特性が向上する。Luの量(β)が55原子%を超えると、それ以上の効果が得られないだけでなく、他の希土類元素成分の割合が減少することで特性が低下する。
ガーネット型酸化物における異相の析出を抑制する効果を再現性よく得る上で、希土類元素Rの全体量に対するLuの量(β)は1原子%以上とすることが好ましい。Gd量等を確保する上で、Luの量(β)は50原子%以下とすることが好ましい。このように、希土類元素Rの全体量に対するLuの量(β)は1原子%以上50原子%以下の範囲(0.01≦β≦0.5)であることが好ましく、さらに20原子%以上50原子%以下の範囲(0.2≦β≦0.5)であることがより好ましい。
Ceはガーネット型酸化物を発光させる元素である。希土類元素Rの全体量に対するCeの量(γ)が0.01原子%未満であっても、また10原子%を超えても、ガーネット型酸化物からなる固体シンチレータ材料の発光が弱くなる。このため、希土類元素Rの全体量に対するCeの量(γ)は、0.01原子%以上10原子%以下の範囲(0.0001≦γ≦0.1)とする。Ceの量(γ)は0.1原子%以上1原子%以下の範囲(0.001≦γ≦0.01)であることがより好ましい。
アルミニウム(Al)およびガリウム(Ga)は、ガーネット構造を構成する必須の元素である。AlおよびGaは、いずれも単一元素でガーネット構造を形成する。ただし、Al単独では不純物(例えばBa)が取り込まれやすくなる。一方、Ga単独では発光が弱くなると共に、コスト高になるおそれがある。このため、実施形態の固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物は、AlおよびGaを共に含有している。従って、式(1)におけるAlおよびGaの合計量に対するGaの量(x)は、ゼロを超えて100原子%未満の範囲(0<x<1)とする。
さらに、不純物含有量の低減効果と発光特性の向上効果とを両立させる上で、AlおよびGaの合計量に対するGaの量(x)は、1原子%以上80原子%以下の範囲(0.01≦x≦0.8)であることが好ましい。Gaの量(x)が1原子%未満であると、不純物含有量を低減する効果を十分に得ることができないおそれがある。逆に、Gaの量(x)が80原子%を超えると、発光特性が低下しやすいと共に、製造コストが増加しやすくなる。Gdの量(x)は10原子%以上60原子%以下の範囲(0.1≦x≦0.6)であることがより好ましい。
ガーネット型酸化物を組成分析するにあたって、Gd、Tb、Lu、Ce、AlおよびGaの定量分析はアルカリ融解−ICP発光分光法により行うものとする。酸素の定量分析は不活性ガス融解−赤外線吸収法により行うものとする。
固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物において、ガーネット構造は本来R12(R:希土類元素、A:Al,Ga)で近似される化学量論組成を有する。ただし、ガーネット相が多少化学量論組成から外れた組成を有していても、固体シンチレータ材料としての特性を得ることができる。ガーネット構造の組成を希土類元素Rの合計原子量を3としてRで示したとき、AlおよびGaの合計原子量aは4.8≦a≦5.2の範囲とする。AlおよびGaの合計原子量aが上記した範囲を外れると、ペロブスカイト相等の異相が析出しやすくなる。AlおよびGaの合計原子量aは4.9≦a≦5.1の範囲であることが好ましい。
また、希土類元素Rの合計原子量を3としたとき、酸素の原子量bは11.6≦b≦12.4の範囲とする。酸素の原子量bが上記範囲を外れると、ペロブスカイト相等の異相が析出しやすくなる。酸素の原子量bは11.8≦b≦12.2の範囲であることが好ましい。なお、希土類元素Rの合計原子量(=3)は、Gd、Tb、LuおよびCeの合計原子量とする。他の希土類元素を含有していたとしても、その含有量は50質量ppm以下と少量であるため、希土類元素Rの原子量としてカウントしなくてもよい。
さらに、固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物は、不純物としてのバリウム(Ba)の含有量が400質量ppm以下(ゼロ含む)であることが好ましい。不純物としてのフッ素(F)の含有量は300質量ppm以下(ゼロ含む)であることが好ましい。Baの含有量が400質量ppmを超えたり、Fの含有量が300質量ppmを超えると、固体シンチレータの透明性が低下したり、発光のばらつきが生じやすくなる。
BaはAlと反応しやすく、ガーネット相が形成される前にBaがAlと反応して異相が形成されるおそれがある。このため、Baの含有量が400質量ppm以下とすることが好ましく、さらに200質量ppm以下とすることがより好ましい。ただし、BaはBaFとして液相を生じやすく、これによりガーネット相の生成反応を活性化させる効果を有する。ガーネット型酸化物はBaを10〜400質量ppmの範囲、さらに10〜200質量ppmの範囲で含有していてもよい。Fの含有量はゼロ(検出限界以下)であることが好ましい。Baの含有量はアルカリ融解−ICP発光分光法で定量化するものとし、F含有量は熱加水分解分離−イオンクロマトグラフ法で定量化するものとする。
ガーネット型酸化物(固体シンチレータ材料)を製造するにあたって、反応促進剤としてフッ化バリウム(BaF)やフッ化アルミニウム(AlF)等のフラックスを使用することが好ましい。特に、BaFはガーネット型酸化物の製造に有効である。ただし、Alのみを用いたガーネット型酸化物では、BaやFは粒成長の過程で粒子内部に取り込まれやすい。さらに、BaやFはAlと反応しやすく、異相としてBaAlO化合物(xは主に3)等を生成しやすい。このような点に対して、固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物でAlとGaを併用することによって、ガーネット型酸化物中に必要以上にBaやFが取り込まれるのを防ぐことができる。
前述したように、固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物は、ペロブスカイト相等の異相の析出量が少ないことが好ましい。具体的には、固体シンチレータのX線回折分析を実施したとき、ガーネット相の最強ピーク強度Iに対するペロブスカイト相の最強ピーク強度Iの比(I/I)が0.01以下(ゼロ含む)であることが好ましい。I/I比が0.01を超えると異相の割合が大きくなるため、光の散乱が発生してシンチレータとしての特性が低下しやすくなる。固体シンチレータのI/I比はゼロ(検出限界以下)であることがより好ましい。固体シンチレータ(もしくは固体シンチレータ材料)のX線回折分析は、ターゲットとしてCuを使用し、電圧40kV、電流値40mA、スキャンスピード1.0°/minで行うものとする。異相は固体シンチレータ材料の段階で低減しておくことが好ましい。
X線回折分析におけるガーネット相の最強ピーク強度(高さ)Iとペロブスカイト相の最強ピーク強度(高さ)Iの比(I/I)が0.01以下(ゼロ含む)であるということは、異相であるペロブスカイト相が非常に少ないことを意味している。ペロブスカイト相以外の全ての異相(モノクリニック相等)についても、同様にガーネット相と最強ピーク強度を比較したときに、強度比が0.01以下であることが好ましく、さらにゼロ(検出限界以下)であることがより好ましい。つまり、異相が存在しないことが好ましい。異相が存在しない、もしくはほとんど存在しないガーネット型酸化物によれば、固体シンチレータの発光強度(光出力)や透明性を向上させることできる。
さらに、固体シンチレータをX線で励起したとき、最強の発光ピークが530〜560nmの範囲に存在することが好ましい。最強発光ピークはTbのシャープな発光スペクトルに基づくものであり、Tbが発光に寄与していることが分かる。Tbのシャープな発光スペクトルとCeのブロードな発光スペクトルの両方を使うことによって、高光出力でかつ短残光(残光の減衰時間が短い)の固体シンチレータを提供することができる。上記範囲に最強発光ピークが存在するということは、ガーネット型酸化物として異相がほとんどなく、安定した結晶構造を有していることを示している。加えて、ガーネット型酸化物からなる固体シンチレータを用いて放射線検出器を構成したとき、光電変換素子であるフォトダイオードとのマッチング性が向上し、検出器の感度を高めることが可能となる。
固体シンチレータを構成する多結晶体は2〜50μmの範囲の平均結晶粒径を有することが好ましい。多結晶体の平均結晶粒径が2μm未満であるということは、結晶粒径が小さい結晶粒が多数存在することを意味する。このため、結晶粒界の割合が増えて光透過率が低下しやすくなる。固体シンチレータの光透過率を高める上で、多結晶体の平均結晶粒径は大きいことが好ましい。ただし、平均結晶粒径が大きすぎると多結晶体の強度が低下するため、多結晶体の平均結晶粒径は50μm以下であることが好ましい。多結晶体の平均結晶粒径は5〜20μmの範囲であることがより好ましい。
多結晶体の平均結晶粒径は、単位面積200μm×200μmの拡大写真として倍率2000倍以上のSEM写真(二次電子像)を用いて線インターセプト法により測定する。つまり、拡大写真に200μmの直線(線幅0.5mm以下)を引き、その直線上に存在する粒子数をカウントする。「式:200μm/直線200μm上に存在する粒子数」から結晶粒径の平均を求める。この作業を3回行った結果の平均値を「平均結晶粒径」とする。ただし、粒界が判別しにくいときは、「単位面積50μm×50μm」×4枚を1つの単位面積とし、4枚の拡大写真から「式:50μm/直線50μm上に存在する粒子数」により結晶粒径の平均を求めてもよい。この作業を3回(単位面積50μm×50μm×計12枚)行って「平均結晶粒径」を求めてもよい。
多結晶体の相対密度は99.5%以上であることが好ましく、より好ましくは99.9%以上100%以下である。相対密度は、アルキメデス法による実測値と格子定数から求めた理論値とから、「式:(実測値/理論値)×100(%)」により求める。
さらに、波長が680nmの光による固体シンチレータの拡散透過率は50%以上であることが好ましい。実施形態の固体シンチレータは、波長680nmでは発光しないため、拡散透過率を測定するのに有効な波長である。拡散透過率が50%以上であるということは、透明性が高いことを意味する。さらに、平均結晶粒径や相対密度を制御することで、拡散透過率を60%以上にすることができる。これは拡散透過率を低下させる気孔がほとんど消滅するためである。加えて、前述したガーネット型酸化物は酸化ケイ素のような焼結助剤を使わないで多結晶体とすることができるため、結晶粒界が拡散透過率を低下させる要因になりにくい。なお、拡散透過率の測定には、厚さ1mmかつ表裏面の表面粗さRaを1μm以下に研磨した固体シンチレータを用いるものとする。
固体シンチレータをX線で励起したとき、残光が5%になるまでの減衰時間は5ms以下であることが好ましい。実施形態の固体シンチレータを構成するガーネット型酸化物において、TbとCeとを併用することによって、大きな光出力と残光時間が短い固体シンチレータを提供することができる。残光の減衰時間とは、光出力の最大値を100%としたとき、X線による励起を終了した後に光出力が最大値の5%になるまでの時間を示す。残光の減衰時間を5ms以下、また4ms以下、さらには2ms以下とすることで、放射線検査装置のスイッチのオン・オフを短時間化することができる。従って、放射線検査装置のスキャン速度を高速化して測定の効率化を図ることが可能となる。
固体シンチレータの形状は、特に限定されるものではない。固体シンチレータの典型的な形状としては、縦が0.5mm以上5mm以下、横が0.5mm以上5mm以下、長さが10mm以上40mm以下の直方体が挙げられる。このような直方体形状を有する固体シンチレータにおいても、前述した直線透過率や短残光等の優れた特性が得られる。
次に、固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)とそれを用いた固体シンチレータの製造方法について説明する。固体シンチレータ材料および固体シンチレータの製造方法は、特に限定されるものではない。固体シンチレータ材料および固体シンチレータを効率よく製造するための方法として、以下に示す方法が挙げられる。
まず、原料となる酸化ガドリニウム(Gd)粉末、酸化テルビウム(Tb)粉末、酸化ルテチウム(Lu)粉末、酸化セリウム(CeO)粉末、酸化アルミニウム(Al)粉末、および酸化ガリウム(Ga)粉末を、目的とする組成となるように混合して原料混合物を調製する。原料粉末としては、ガーネット型酸化物を効率よく得るために、各元素の酸化物粉末を用いることが好ましい。
次に、原料混合物に反応促進剤としてフッ化バリウム(BaF)等のフラックスを混合する。フラックスはフッ化バリウムであることが好ましい。フッ化バリウムによれば、異相の少ないガーネット型酸化物が得られやすい。さらに、フッ化バリウムは緻密化にも有効である。フラックスを混合した原料混合物は造粒してもよい。フラックスの添加量は、原料混合物を100質量部としたときに2〜6質量部の範囲とすることが好ましい。フラックスの添加量が2質量部未満では、反応促進効果を十分に得ることができない。6質量部を超えると、フラックスが多すぎて異相が形成されやすくなる。
原料混合物に反応促進剤を混合した後の焼成は1200〜1800℃の範囲の温度で実施することが好ましい。焼成温度が1200℃未満であると、反応が不十分になるおそれがある。焼成温度が1800℃を超えると、温度が高すぎてフッ化バリウムが気化しやすく、それにより異相が形成されやすくなる。焼成雰囲気は、Arガス等の不活性雰囲気とすることが好ましい。場合によっては、真空中(10-2Pa以下)や還元性雰囲気中で焼成を行ってもよい。焼成時間は1〜8時間の範囲とすることが好ましい。
原料混合物は焼成後にガーネット構造を有する酸化物粉末となる。しかし、焼成後のガーネット型酸化物粉末には、反応促進剤が多く残存している。例えば、反応促進剤としてフッ化バリウムを使用した場合、焼成後のガーネット型酸化物粉末中にはBaとFとが多く残存している。このため、焼成後の酸化物粉末を洗浄して残存する反応促進剤を洗い流すこと好ましい。洗浄を効率的に行うために、焼成後の酸化物粉末を粉砕および篩分けして平均粒径を0.5〜20μmの範囲にすることも効果的である。
洗浄工程は、純水(イオン交換樹脂にて不純物を除去した水)による洗浄と酸洗浄とを組み合わせて実施することが好ましい。酸洗浄には希塩酸を用いることが好ましい。焼成後の酸化物粉末を希塩酸で洗浄した後に、純水で洗浄する。この作業を数回繰り返すことによって、残存するフラックス成分を除去することができる。純水による洗浄は、洗浄後の純水のpHが6以上になるまで行うことが好ましい。
例えば、反応促進剤としてフッ化バリウムを使用した場合、残存する元素はBaとFになる。このとき、洗浄容器の容積の5〜30体積%の割合で焼成後の酸化物粉末を入れ、希塩酸または純水を追加して洗浄する。一定時間撹拌した後、希塩酸または純水を捨てる。この作業を数回繰り返す。Fは水と反応しやすいために比較的除去しやすく、容易に300質量ppm以下になる。洗浄工程を5回以上行えば、F量をゼロ(検出限界以下)にできる。一方、BaはAlに取り込まれやすい元素であるため、Ba量をゼロ(検出限界以下)にするには、かなりの洗浄回数が必要となる。さらに、Ba量を10質量ppm未満とするためには、一度取り込まれたBaを除去する必要がある。この際に小さな気孔や欠陥が発生し、透明性を低下させる原因となる。このため、洗浄回数は5〜10回とすることが好ましい。さらに、固体シンチレータ材料のBa含有量は、洗浄工程における気孔や欠陥の発生を抑制する点からも10質量ppm以上とすることが好ましい。
洗浄後のガーネット型酸化物粉末を乾燥することによって、固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)が得られる。ガーネット型酸化物粉末の平均粒径は0.5〜20μmの範囲であることが好ましい。このような固体シンチレータ材料を成形および焼結して、固体シンチレータを製造する。焼結方法としては、ホットプレス法、HIP法、真空焼結法等が挙げられる。焼結温度は1400〜1700℃が好ましく、焼結時間は1〜10時間が好ましい。付加する圧力は20MPa以上であることが好ましい。焼結雰囲気は、Arガス等の不活性雰囲気、真空雰囲気(10-2Pa以下)であることが好ましい。焼結工程で得られる焼結体は多結晶体となる。成形工程は、金型プレス、ラバープレス、CIP(冷間静水圧プレス)等により行うことが好ましい。
ガーネット型酸化物粉末を焼結するにあたって、焼結助剤は使用しないことが好ましい。SiO等の焼結助剤を使用することで、焼結性が上がるものの、焼結助剤は粒界に残存して焼結体の透明性を低下させる原因となる。また、焼結助剤の存在は直線透過率の低下につながる。このため、焼結助剤は使用しないことが好ましい。上述した固体シンチレータ材料は焼結性に優れるため、焼結助剤を使用することなく、緻密化された固体シンチレータ(相対密度が99.5%以上の固体シンチレータ)を得ることができる。さらに、平均粒径が0.5〜20μmの範囲のガーネット型酸化物粉末を使用することによって、平均結晶粒径が2〜50μmの範囲の焼結体(多結晶体)が得られやすい。
得られた焼結体(多結晶体)のサイズによっては、焼結体をそのまま固体シンチレータとして使用することができる。焼結体のサイズが大きいときには、焼結体を必要なサイズに切り出して固体シンチレータとして使用する。言い換えれば、大きなサイズの板状焼結体を作製した後、それから切り出して固体シンチレータを製造してもよい。切り出し工程はマルチワイヤソー等を用いて実施する。焼結体の表面は、必要に応じて研磨加工してもよい。焼結工程後や切り出し工程後に、歪取り、結晶粒径の均質化、酸素欠損の低減等を目的として、焼結体を酸素含有雰囲気中で熱処理することが好ましい。熱処理は1000〜1400℃×2〜6時間の条件で行うことが好ましい。熱処理時の酸素含有雰囲気としては、大気雰囲気や酸素を5〜100体積%の範囲で含むガス雰囲気(残部は窒素等の不活性ガス)が挙げられる。これらのうち、大気はコストが安いので好ましい。
上述したような酸素含有雰囲気中での熱処理を焼結体に施すことによって、歪の除去、結晶粒径の均質化、酸素欠損の低減、結晶および結晶粒界の均質化等を実現することができる。これらによって、固体シンチレータの直線透過率を向上させることが可能になる。前述したように、焼結工程は加圧環境下や真空環境下にて実施される。このとき、焼結体(固体シンチレータ)の表面から酸素が抜けていき、部分的な酸素欠損が起きやすい。部分的な酸素欠損が起きると、個々のガーネット型酸化物結晶の組成にバラツキが生じる。このバラツキは直線透過率を低下させる原因となる。焼結体を酸素含有雰囲気中で熱処理することで、酸素欠損を低減することができ、さらに結晶組成や結晶粒界の均一化を図ることができる。従って、固体シンチレータの直線透過率が向上する。
次に、実施形態の放射線検出器および放射線検査装置について説明する。図1は第1の実施形態による放射線検出器1を示している。放射線検出器1は、複数の固体シンチレータ2、2…を有している。固体シンチレータ2は、実施形態のガーネット型酸化物の多結晶体からなるものである。複数の固体シンチレータ2は、反射層(図示せず)を介して2次元的に並べられており、長さ方向を一体化した固体シンチレータブロック3を構成している。固体シンチレータブロック3の下には、光電変換素子4が一体的に配置されており、これらによって固体シンチレータアレイ5が構成されている。
固体シンチレータ2の形状は、図1に示すような直方体形状に限られるものではない。固体シンチレータ2は、図2に示すようなサイコロ形状を有していてもよい。図2に示す放射線検出器1において、サイコロ状の固体シンチレータ2は反射層(図示せず)を介して格子状に並べられており、長さ方向および幅方向を一体化した固体シンチレータブロック3を構成している。光電変換素子4としては、例えばフォトダイオードが使用される。固体シンチレータアレイ5に光電変換素子4からの電気信号配線(図示せず)やコリメータ(図示せず)を付設することによって、実施形態の放射線検出器1が構成される。
図3は実施形態の放射線検査装置の一例であるX線CT装置10を示している。X線CT装置10は、複数の放射線検出器1、1…を備えている。放射線検出器1は、被検体11を介してX線管12と対向するように配置されている。X線管12から照射されたX線は、被検体11を透過して放射線検出器1に到達する。放射線検出器1において、固体シンチレータ1は被検体11を透過したX線に応じて発光し、この発光は光電変換素子4で電気信号に変換される。電気信号はコンピュータ13で再構成されることによって、モニタ14に被検体画像15が映し出される。X線CT装置10は、被検体11の周囲に沿ってX線管12を動かしながら角度を変えて測定することによって、被検体画像15を立体的に映し出すことが可能なように構成されている。
実施形態の放射線検出器1は、発光特性や残光特性等に優れるガーネット型酸化物の多結晶体からなる固体シンチレータ2を備えている。さらに、固体シンチレータ2を構成するガーネット型酸化物の多結晶体は光透過率に優れ、異相が少なく、さらに粒界や気孔が制御されている。従って、光出力が高く、かつ短残光の放射線検出器1を提供することができる。そのような放射線検出器1を用いたX線CT装置10によれば、高速スキャン撮影が可能となる。よって、被検体のX線被曝量を低減しつつ、高感度なX線撮影を実現することが可能となる。図3はX線CT装置を示しているが、実施形態の放射線検査装置はこれに限定されるものではない。実施形態の放射線検査装置は、荷物検査装置等の人体以外の検査装置にも有効に利用されるものである。
次に、実施例とその評価結果について述べる。
(実施例1〜5、比較例1)
原料粉末として、酸化ガドリニウム(Gd)粉末、酸化テルビウム(Tb)粉末、酸化ルテチウム(Lu)粉末、酸化セリウム(CeO)粉末、酸化アルミニウム(Al)粉末、および酸化ガリウム(Ga)粉末を用意した。これら原料粉末を所定の比率で混合し、さらにBaFフラックスと混合した。BaFフラックスの添加量は、原料粉末の合計量100質量部に対して4〜5質量部とした。
次に、原料粉末とBaFフラックスの混合物を、Ar雰囲気中にて1400℃×3時間の条件で焼成することによって、(Gd0.49Tb0.2Lu0.3Ce0.01(Al0.6Ga0.412で表わされる組成を有するガーネット型酸化物を得た。これを粉砕および篩分けして平均粒径が5〜15μmの粉末とした。この粉末を希塩酸と純水とを交互に使用して洗浄することによって、固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)を得た。洗浄工程は、洗浄容器の20体積%となるように粉末を入れて撹拌することによりを実施した。
洗浄工程を1回行ったものを実施例1とした。洗浄工程を3回行ったものを実施例2とした。洗浄工程を5回行ったものを実施例3とした。洗浄工程を8回行ったものを実施例4とした。洗浄工程を10回行ったものを実施例5とした。洗浄工程後に乾燥工程を実施することによって、各実施例の固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)を得た。いずれの例においても、最後の純水洗浄後における洗浄水のpHは6以上であった。
実施例1〜5の固体シンチレータ材料について、平均粒径、Ba含有量、およびF含有量を測定した。各固体シンチレータ材料のX線回折を実施し、ガーネット相の最強ピーク強度I、ペロブスカイト相の最強ピーク強度I、これらの比(I/I)を求めた。各固体シンチレータ材料をX線で励起したときの最強発光ピークの波長を測定した。これらの測定結果を表1に示す。比較例1として、(Gd0.5Tb0.49Ce0.01Al12で表わされる組成を有するガーネット型酸化物粉末(固体シンチレータ材料)を用意した。これについても同様の測定を行った。その結果を表1に併せて示す。
Figure 2013136804
表1から明らかなように、実施例1〜5の固体シンチレータ材料は、いずれもBa含有量が10〜400質量ppmの範囲、F含有量が300質量ppm以下(ゼロ含む)であった。Luを添加しているので、異相であるペロブスカイト相は検出されなかった。X線回折の結果、ペロブスカイト相以外の異相も検出されておらず、異相がない状態であることが分かった。洗浄回数が5回以上であれば、F量はゼロ(検出限界以下)となることが確認された。一方、比較例1ではLuおよびGaを使用していないため、異相(ペロブスカイト相)が検出された。Ba含有量やF含有量も、同様の洗浄回数を行った実施例と比較してかなり多いことが分かった。これはGaを使用していないため、AlにBaが多く取り込まれたためであると考えられる。
次に、上述した固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)を使用して焼結体(多結晶体)を製造した。焼結工程は、1600℃×3時間、圧力50MPaの条件下によるHIP処理により実施した。得られた焼結体をマルチワイヤソーで縦1.5mm×横1.5mm×長さ25mmに切り出した。この後、大気中で1200℃×3時間の熱処理を施して固体シンチレータとした。焼結工程で焼結助剤は使用しなかった。得られた固体シンチレータのBa含有量、F含有量、I/I比、X線で励起したときの最強発光ピーク波長は、固体シンチレータ材料の測定値と同等であった。
得られた固体シンチレータについて、相対密度、多結晶体の平均結晶粒径、波長680nmの直線透過率、および波長680nmの拡散透過率を測定した。多結晶体の平均結晶粒径は、単位面積200μm×200μmの拡大写真を3枚使用して線インターセプト法により求めた。直線透過率および拡散透過率は、波長が680nmの光を照射したときに裏面に透過した光の強度で求めた。直線透過率に関しては、大気中での熱処理の前と後の値を調べた。それらの結果を表2に示す。
次に、上述した固体シンチレータを使用して放射線検出器を作製した。縦1.5mm×横1.0mm×長さ25mmの固体シンチレータを、反射層を介して10本並べて一体化した後、フォトダイオード上に配置した。このような放射線検出器に120KVpのX線を照射して光出力を測定した。軟X線を遮断するために、20mmのAlフィルタを通した後、シンチレータ表面にX線を照射し、フォトダイオードに流れる電流値を光出力として求めた。その結果を表2に示す。光出力はCdWO単結晶シンチレータの光出力を100としたときの相対値(%)として示す。
Figure 2013136804
表2に示すように、実施例では焼結助剤を用いることなく、相対密度が99.5%以上の固体シンチレータが得られた。実施例の固体シンチレータは、直線透過率や拡散透過率が高く、光出力に優れていた。また、酸素含有雰囲気中での熱処理によって、直線透過率の改善が見られることも分かった。一方、比較例の固体シンチレータは異相が多く、透過率に劣るものであった。また、光出力も実施例に比べて劣っていた。
(実施例6〜12)
酸化ガドリニウム(Gd)粉末、酸化テルビウム(Tb)粉末、酸化ルテチウム(Lu)粉末、酸化セリウム(CeO)粉末、酸化アルミニウム(Al)粉末、および酸化ガリウム(Ga)粉末を、表3に示す組成となるように所定の比率で混合し、さらにBaFフラックスと混合した。BaFフラックスの添加量は、原料粉末の合計量100質量部に対して2〜6質量部とした。
次に、原料粉末とBaFフラックスとの混合物を、Ar雰囲気中にて1400〜1700℃×2〜5時間の条件で焼成することによって、表3に示す組成を有するガーネット型酸化物粉末を得た。次いで、ガーネット型酸化物粉末を洗浄容器の5〜30体積%の範囲に入れた後、希塩酸と純水とで交互に洗う洗浄工程を3〜5回繰り返した。製造条件を表4に示す。洗浄工程後の粉末を粉砕および篩分けして平均粒径を制御した。最後の純水洗浄後における洗浄水のpHは6以上であった。このようにして得た固体シンチレータ材料の特性を、実施例1と同様にして測定した。その結果を表5に示す。
Figure 2013136804
Figure 2013136804
Figure 2013136804
表5に示すように、実施例6〜12の固体シンチレータ材料は、いずれも異相(ペロブスカイト相)が少なかった。前述した比較例1はLu量が0.01未満であったため、異相(ペロブスカイト相)が多く検出された。従って、Lu量は0.01以上が好ましいことが分かる。Al量の比較的多い実施例6、10では、Baが取り込まれやすいため、Baが比較的多く残存していた。従って、AlおよびGaの合計量に対するAlの量(1−x)は0.3<1−x<0.9の範囲が望ましい。
次に、上述した固体シンチレータ材料(蛍光体粉末)を使用して焼結体(多結晶体)を製造した。焼結工程は、1400〜1700℃×2〜5時間、圧力30〜60MPaの条件下によるHIP処理により実施した。焼結条件を表6に示す。焼結工程で焼結助剤は使用しなかった。得られた焼結体をマルチワイヤソーで縦2mm×横2mm×長さ25mmに切り出した。次に、表6に示す条件下で酸素含有雰囲気中での熱処理を実施することによって、目的とする固体シンチレータを得た。また、参考例1として、実施例8における酸素含有雰囲気中での熱処理を、窒素雰囲気中の熱処理に変更したものを用意した。
Figure 2013136804
得られた固体シンチレータについて、相対密度、多結晶体の平均結晶粒径、波長680nmの直線透過率、および波長680nmの拡散透過率を、実施例1と同様にして測定した。それらの結果を表7に示す。次に、固体シンチレータを使用して放射線検出器を作製した。縦2mm×横2mm×長さ25mmの固体シンチレータを、反射層を介して15本並べて一体化した後、フォトダイオード上に配置した。このような放射線検出器の光出力を、実施例1と同様にして測定した。その結果を表7に示す。
Figure 2013136804
表7に示すように、実施例6〜12の固体シンチレータは、いずれも優れた特性を示した。得られた固体シンチレータのBa含有量、F含有量、I/I比、X線で励起したときの最強発光ピーク強度は、固体シンチレータ材料の測定値と同等であった。これは焼結助剤を使わずに焼結することが可能なためである。また、参考例1から分かるように、窒素100%の雰囲気中で熱処理した場合には、直線透過率の改善が認められなかった。
(実施例1A〜12A、比較例1A)
実施例1〜12および比較例1の固体シンチレータを用いて放射線検出器(実施例1A〜12A、比較例1A)を作製し、残光が5%になるまでの減衰時間を調べた。X線CT装置のX線源となるX線管(電子線照射面はRe−W合金で構成)を使用して、実施例1〜12Aおよび比較例1Aの放射線検出器にX線を照射した。光出力の最大値を100%としたときに、X線による励起を終了した後に光出力が最大値の5%になるまでの減衰時間を測定した。その結果を表8に示す。
Figure 2013136804
表8に示すように、実施例1〜12の放射線検出器は、残光の減衰時間が5ms以下と非常に短い。このような放射線検出器を使用した放射線検査装置(X線CT装置)によれば、短時間でスイッチのオン・オフができる。従って、X線CT装置の高速スキャンが可能となり、検査時における被検者の被曝量を低減することができる。
なお、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施し得るものであり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

Claims (15)

  1. ガーネット構造を有する酸化物の多結晶体を具備する固体シンチレータであって、
    波長680nmの直線透過率が10%以上であることを特徴とする固体シンチレータ。
  2. 前記波長680nmの直線透過率が20%以上である、請求項1に記載の固体シンチレータ。
  3. 前記酸化物は、
    一般式:(Gd1−α−β−γTbαLuβCeγ(Al1−xGa
    (式中、α、βおよびγは0<α≦0.55、βは0<β≦0.55、0.0001≦γ≦0.1、α+β+γ<1を満足する数(原子比)、xは0<x<1を満足する数(原子比)、aは4.8≦a≦5.2を満足する数(原子比)、bは11.6≦b≦12.4を満足する数(原子比)である。)
    で表される組成を有する、請求項1に記載の固体シンチレータ。
  4. 前記一般式において、αは0.1≦α≦0.5を満足し、βは0.01≦β≦0.5を満足し、xは0.01≦x≦0.8を満足する、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  5. 前記一般式において、αとβとγの合計量はα+β+γ≦0.9を満足する、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  6. バリウムの含有量が400質量ppm以下(ゼロを含む)である、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  7. フッ素の含有量が300質量ppm以下(ゼロを含む)である、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  8. X線回折におけるガーネット相の最強ピーク強度Iに対するペロブスカイト相の最強ピーク強度Iの比(I/I)が0.01以下(ゼロを含む)である、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  9. 前記固体シンチレータをX線で励起したときの最強発光ピークが530nm以上560nm以下の範囲に存在する、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  10. 残光が5%になるまでの減衰時間が5ms以下である、請求項3に記載の固体シンチレータ。
  11. 前記多結晶体の平均結晶粒径が2μm以上50μm以下の範囲である、請求項1に記載の固体シンチレータ。
  12. 前記多結晶体の相対密度が99.5%以上である、請求項1に記載の固体シンチレータ。
  13. 波長680nmの拡散透過率が50%以上である、請求項1に記載の固体シンチレータ。
  14. 請求項1に記載の固体シンチレータを具備する放射線検出器。
  15. 請求項14記載の放射線検出器を具備する放射線検査装置。
JP2014504712A 2012-03-15 2013-03-14 固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置 Active JP6158167B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012059477 2012-03-15
JP2012059477 2012-03-15
PCT/JP2013/001735 WO2013136804A1 (ja) 2012-03-15 2013-03-14 固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2013136804A1 true JPWO2013136804A1 (ja) 2015-08-03
JP6158167B2 JP6158167B2 (ja) 2017-07-05

Family

ID=49160728

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014504712A Active JP6158167B2 (ja) 2012-03-15 2013-03-14 固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9193903B2 (ja)
EP (1) EP2826835B1 (ja)
JP (1) JP6158167B2 (ja)
CN (1) CN104169392B (ja)
WO (1) WO2013136804A1 (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101775186B1 (ko) * 2013-04-05 2017-09-05 주식회사 엘지화학 터치패널용 점착제 조성물, 점착 필름 및 터치 패널
EP2985333B1 (en) * 2013-04-12 2019-10-30 Hitachi Metals, Ltd. Fluorescent material, scintillator and radiation conversion panel
US10562785B2 (en) * 2014-09-30 2020-02-18 Hitachi Metals, Ltd. Fluorescent material, scintillator, scintillator array, and radiation detector
JP6671839B2 (ja) * 2014-10-07 2020-03-25 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び撮像システム
WO2017033618A1 (ja) 2015-08-27 2017-03-02 神島化学工業株式会社 透光性希土類アルミニウムガーネットセラミックス
US10150914B2 (en) 2015-11-25 2018-12-11 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Ceramic phoswich with fused optical elements, method of manufacture thereof and articles comprising the same
US9650569B1 (en) * 2015-11-25 2017-05-16 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Method of manufacturing garnet interfaces and articles containing the garnets obtained therefrom
US10961452B2 (en) 2015-12-01 2021-03-30 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Method for controlling gallium content in gadolinium-gallium garnet scintillators
US10197685B2 (en) 2015-12-01 2019-02-05 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Method for controlling gallium content in gadolinium-gallium garnet scintillators
WO2018021418A1 (ja) * 2016-07-27 2018-02-01 三菱ケミカル株式会社 焼結蛍光体、発光装置、照明装置及び車両用表示灯
CN109923446B (zh) * 2016-10-28 2021-05-18 日本特殊陶业株式会社 光波长转换构件及发光装置
JPWO2018105611A1 (ja) * 2016-12-06 2019-10-31 株式会社東芝 シンチレータアレイ、シンチレータアレイを製造する方法、放射線検出器、および放射線検査装置
RU2646407C1 (ru) 2017-06-02 2018-03-05 Открытое акционерное общество "ФОМОС-МАТЕРИАЛС" Монокристалл со структурой граната для сцинтилляционных датчиков и способ его получения
DE102017008863A1 (de) 2017-09-21 2018-05-30 Daimler Ag Verfahren zum Betrieb eines autonom fahrenden Fahrzeugs mit einer an den Verkehr angepassten Fahrweise
US10364390B2 (en) * 2017-11-30 2019-07-30 Gatan, Inc. High density fast phosphor for electron microscopy
CN110079318A (zh) * 2019-05-17 2019-08-02 广东省稀有金属研究所 一种陶瓷蓄光板及太阳能蓄光装置
WO2021124532A1 (ja) * 2019-12-19 2021-06-24 株式会社 東芝 蛍光板、x線検出器、およびx線検査装置
JP2024030321A (ja) * 2022-08-24 2024-03-07 株式会社プロテリアル シンチレータ構造体およびシンチレータの評価方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005120251A (ja) * 2003-10-17 2005-05-12 Nichia Chem Ind Ltd 蛍光ランプ及び蛍光ランプ用蛍光体
JP2005126718A (ja) * 2003-10-22 2005-05-19 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 放射線損傷に対する耐性が向上したテルビウム又はルテチウムを含有するシンチレータ組成
CN1927996A (zh) * 2006-09-08 2007-03-14 北京宇极科技发展有限公司 一种荧光粉材料及其制备方法和白光led电光源
WO2008093869A1 (ja) * 2007-02-02 2008-08-07 Hitachi Metals, Ltd. 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
JP2011153200A (ja) * 2010-01-27 2011-08-11 Hitachi Metals Ltd 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
JP2012072331A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Toshiba Corp 固体シンチレータ用材料、固体シンチレータ、およびそれを用いた放射線検出器並びに放射線検査装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58204088A (ja) 1982-05-21 1983-11-28 Toshiba Corp シンチレ−シヨン検出器
US4525628A (en) 1982-06-18 1985-06-25 General Electric Company Rare earth ceramic scintillator
JPS6043212B2 (ja) 1982-09-06 1985-09-27 ワイケイケイ株式会社 間接押出プレスにおけるダイス脱着装置
US6630077B2 (en) * 2001-10-11 2003-10-07 General Electric Company Terbium- or lutetium - containing garnet phosphors and scintillators for detection of high-energy radiation
US6793848B2 (en) * 2001-10-11 2004-09-21 General Electric Company Terbium or lutetium containing garnet scintillators having increased resistance to radiation damage
US7223989B2 (en) * 2003-10-21 2007-05-29 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiation image conversion panel
US7094362B2 (en) * 2003-10-29 2006-08-22 General Electric Company Garnet phosphor materials having enhanced spectral characteristics
WO2006068130A1 (ja) * 2004-12-21 2006-06-29 Hitachi Metals, Ltd. 蛍光材料およびその製造方法、蛍光材料を用いた放射線検出器、並びにx線ct装置
US7252789B2 (en) * 2005-03-31 2007-08-07 General Electric Company High-density scintillators for imaging system and method of making same
US20080023650A1 (en) * 2006-07-27 2008-01-31 Fujifilm Corporation Radiation image conversion panel and process for producing the same
US8529791B2 (en) * 2006-10-20 2013-09-10 Intematix Corporation Green-emitting, garnet-based phosphors in general and backlighting applications
US8008624B2 (en) * 2007-01-16 2011-08-30 General Electric Company X-ray detector fabrication methods and apparatus therefrom
WO2009113379A1 (ja) 2008-03-10 2009-09-17 株式会社東芝 固体シンチレータ、放射線検出器およびx線断層写真撮影装置
JP5686724B2 (ja) * 2009-02-23 2015-03-18 株式会社東芝 固体シンチレータ、放射線検出器およびx線断層写真撮影装置
JP5323131B2 (ja) * 2010-06-09 2013-10-23 信越化学工業株式会社 蛍光粒子及び発光ダイオード並びにこれらを用いた照明装置及び液晶パネル用バックライト装置
US8865022B2 (en) * 2011-01-06 2014-10-21 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Phosphor particles and making method
EP2793052B1 (en) * 2011-12-01 2020-08-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Scintillator array, and x-ray detector and x-ray examination device using scintillator array

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005120251A (ja) * 2003-10-17 2005-05-12 Nichia Chem Ind Ltd 蛍光ランプ及び蛍光ランプ用蛍光体
JP2005126718A (ja) * 2003-10-22 2005-05-19 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 放射線損傷に対する耐性が向上したテルビウム又はルテチウムを含有するシンチレータ組成
CN1927996A (zh) * 2006-09-08 2007-03-14 北京宇极科技发展有限公司 一种荧光粉材料及其制备方法和白光led电光源
WO2008093869A1 (ja) * 2007-02-02 2008-08-07 Hitachi Metals, Ltd. 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
JP2011153200A (ja) * 2010-01-27 2011-08-11 Hitachi Metals Ltd 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
JP2012072331A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Toshiba Corp 固体シンチレータ用材料、固体シンチレータ、およびそれを用いた放射線検出器並びに放射線検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2826835A1 (en) 2015-01-21
US9193903B2 (en) 2015-11-24
CN104169392A (zh) 2014-11-26
US20150021485A1 (en) 2015-01-22
EP2826835A4 (en) 2015-12-23
WO2013136804A1 (ja) 2013-09-19
EP2826835B1 (en) 2018-03-07
CN104169392B (zh) 2016-06-22
JP6158167B2 (ja) 2017-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6158167B2 (ja) 固体シンチレータ、放射線検出器、および放射線検査装置
JP5498908B2 (ja) 固体シンチレータ用材料、固体シンチレータ、およびそれを用いた放射線検出器並びに放射線検査装置
JP5212115B2 (ja) 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
JP5686724B2 (ja) 固体シンチレータ、放射線検出器およびx線断層写真撮影装置
JP2010261005A (ja) 蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
JP5675339B2 (ja) 固体シンチレータ、放射線検出器およびx線断層写真撮影装置
JP5311241B2 (ja) 多結晶シンチレータ及びその製造方法並びに放射線検出器
EP2985333B1 (en) Fluorescent material, scintillator and radiation conversion panel
JP5269634B2 (ja) 固体シンチレータ、放射線検出器、放射線検査装置、固体シンチレータ製造用粉末および固体シンチレータの製造方法
JP6948829B2 (ja) シンチレータアレイ、並びにそれを用いた放射線検出器、並びに放射線検査装置、およびシンチレータアレイの製造方法
JP5241979B2 (ja) セラミックシンチレータ材料とその製造方法、およびそれを用いた放射線検出器と放射線検査装置
JP6776671B2 (ja) 蛍光材料、セラミックシンチレータおよび放射線検出器、並びに蛍光材料の製造方法
JP5572049B2 (ja) 固体シンチレータ用材料、固体シンチレータ、およびそれを用いた放射線検出器並びに放射線検査装置
WO2022202500A1 (ja) シンチレータおよび放射線検出器
WO2021132494A1 (ja) シンチレータおよび放射線検出器
WO2021149670A1 (ja) シンチレータおよび放射線検出器
JP2021102716A (ja) シンチレータおよび放射線検出器
JP2021102715A (ja) シンチレータおよび放射線検出器
JP2022103225A (ja) セラミックシンチレータおよび放射線検出器

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140930

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170303

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170509

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170607

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6158167

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150