JPWO2012133840A1 - インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器 - Google Patents

インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2012133840A1
JPWO2012133840A1 JP2013507822A JP2013507822A JPWO2012133840A1 JP WO2012133840 A1 JPWO2012133840 A1 JP WO2012133840A1 JP 2013507822 A JP2013507822 A JP 2013507822A JP 2013507822 A JP2013507822 A JP 2013507822A JP WO2012133840 A1 JPWO2012133840 A1 JP WO2012133840A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transfer
stamp
pattern surface
pattern
target substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013507822A
Other languages
English (en)
Inventor
中島 嘉樹
嘉樹 中島
久保 雅洋
雅洋 久保
充 仙洞田
充 仙洞田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Publication of JPWO2012133840A1 publication Critical patent/JPWO2012133840A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41FPRINTING MACHINES OR PRESSES
    • B41F16/00Transfer printing apparatus
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41FPRINTING MACHINES OR PRESSES
    • B41F17/00Printing apparatus or machines of special types or for particular purposes, not otherwise provided for
    • B41F17/24Printing apparatus or machines of special types or for particular purposes, not otherwise provided for for printing on flat surfaces of polyhedral articles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0104Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
    • H05K2203/0108Male die used for patterning, punching or transferring
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061Etching masks
    • H05K3/064Photoresists
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/107Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by filling grooves in the support with conductive material
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1258Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by using a substrate provided with a shape pattern, e.g. grooves, banks, resist pattern

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

インプリント装置(1)は、転写対象基板(10)が載置される基板ステージ(110)と、転写スタンプ(130)を保持し、基板ステージ(110)と相対的に移動可能なスタンプホルダ(120)と、スタンプホルダ(120)に設けられ、転写スタンプ(130)のパターン面(131)が凸状に湾曲するように、転写スタンプ(130)の背面を押圧する押圧装置を有する変形機構(150)と、スタンプホルダ(120)が基板ステージ(110)に向けて移動するに従って、湾曲した転写スタンプ(130)のパターン面(131)の全面が徐々に転写対象基板(10)に押し付けられていくと共に、パターン面(131)の全面から転写対象基板(10)に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、押圧装置の押圧力を制御する全面圧力制御機構(160)と、を備える。

Description

本発明は、インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器に関する。
電子機器の小型化・高性能化に伴い、電子回路基板に形成される回路パターンの微細化及び高密度化が求められている。
また、従来のフォトリソグラフィを用いたパターン形成プロセスに代わる技術として、インプリントプロセスが注目されている。インプリントプロセスは、凹凸のある転写スタンプを基板に押し付けることで、基板にパターンを転写・形成するプロセスである。転写スタンプには、例えば、フォトリソグラフィ等によって形成されたスタンプ型そのもの、あるいはそのようなスタンプ型を用いて成型された樹脂製のスタンプ等が使用される。
インプリントプロセスには、UV(光)インプリントプロセス、熱インプリントプロセス、マイクロコンタクトプリントプロセス等、様々な方式がある。UVインプリントプロセスは、基板上に塗布した紫外線硬化性樹脂に転写スタンプの凹凸のパターンを押し付けて凹凸のネガティブパターンを形成し、紫外線を照射して硬化させる方法である。熱インプリントプロセスは、基板上に塗布した熱可塑性樹脂を加熱しつつ、転写スタンプを押し付けてパターンを形成し、冷却して硬化させる方法である。マイクロコンタクトプリントプロセスは、転写スタンプのパターン面にインクを塗布し、そのパターン面を基板に押し当てることで、基板上にインクのパターンを形成する方法である。何れの方法も、従来のフォトリソグラフィを用いたパターン形成プロセスと比較して、プロセス工程数が少なく、また真空プロセスが不要なため、低コストという利点を有する。
インプリントプロセスでは、一般的に、転写スタンプのパターン面を、基板に均一に加圧することが要求される。装置の精度等の問題により、均一加圧が行われないと、パターンの線幅にばらつきが生じ、歩留まりが低下してしまうおそれがある。この問題は、特に大面積印刷において顕著であり、大面積印刷と微細パターン形成との両立を妨げる要因の一つとなっていた。
さらに、特に大面積印刷においては、転写スタンプのパターン面と基板との間に空気がかみこまれることにより、その部分に転写不良が生じてしまうおそれがある。
例えば、特許文献1〜3には、均一加圧を行うことが意図された、種々のインプリント装置が記載されている。
特許文献1に記載の装置は、基板が載置されるステージを、ステージの下面に設けられた半球体に接離自在に面接触する球面軸受と、ステージの下面に接離自在に接触する複数の圧電素子とを用いて支持し、複数の圧電素子を個別に伸縮させることにより、ステージの傾きを調整し、転写スタンプと基板との加圧状態を調整する。
特許文献2に記載の装置は、転写スタンプの外周部を複数の保持部によって支持し、この複数の保持部の位置を個別に調整することにより、転写スタンプと基板との加圧状態を調整する。
特許文献3に記載の装置は、転写スタンプと基板との一方の裏面に向けて流体を噴出することにより、転写スタンプと基板との一方をその他方に押し付ける装置である。
特許文献4及び5には、空気のかみこみを防止することが意図された、種々のインプリント装置が記載されている。
特許文献4に記載の装置は、可撓性を有する転写スタンプを湾曲させて基板に押し付ける。
特許文献5に記載の装置は、シート状の基板を、湾曲したパターン面を有する転写スタンプと、クッション性を有する中間基材との間に挟んで加圧する。
なお、上記のように転写スタンプのパターンの全体を基板に同時に転写する一括転写方式の装置とは異なり、特許文献6には、ロール状の転写スタンプをシート状の基板に押し付けつつ回転させることにより、転写スタンプのパターンを基板上に連続的に転写するロール・ツー・ロール方式の装置が記載されている。このようなロール・ツー・ロール方式の装置は、一括転写方式の装置と比較して、空気のかみこみは生じにくい。
特開2010−034132号公報 特開2010−080714号公報 特開2006−326927号公報 特開2006−303292号公報 特開2009−096193号公報 特開2005−049493号公報
特許文献1に記載の装置は、上記の半球体、球面軸受、及び複数の圧電素子に加えて、複数の圧電素子の伸縮を複雑に制御する装置が必要であるため、コストが高い。また、転写スタンプのパターン面の全体が、基板に同時に接触するため、空気のかみこみを防止するための対策が十分でない。空気のかみこみを防止するために、例えば、転写スタンプと基板との周囲を真空引きすることは可能であるが、これはコストをさらに増大させる要因となる。
特許文献2に記載の装置は、複数の保持部の位置を個別に調整するための複雑なシステムが必要であるため、コストが高い。また、転写スタンプのパターン面の全体が同時に基板に接触するため、空気のかみこみを十分に防止することはできない。
特許文献3に記載の装置は、流体を噴出させるための流路をステージに形成する必要があるため、コストが高い。また、転写スタンプのパターン面の全体が同時に基板に接触するため、やはり、空気のかみこみを十分に防止することはできない。
特許文献4に記載の装置は、転写スタンプに曲げ応力を掛けつつ、湾曲したパターン面を基板に押し付けてさらに撓ませるため、パターン面の中央部に比べて周辺部に掛かる圧力が小さく、均一加圧を行うことができない。
特許文献5に記載の装置は、転写スタンプから基板に加えられる圧力分布を、パターン面の中央部において高く、周辺部において低くなるように、意図的に不均一にしているため、均一加圧を行うことはできない。
特許文献6に記載されるようなロール・ツー・ロール方式の装置は、一括転写方式の装置と比較して、一般的に装置自体のコストが高い。
従って、上述のインプリント装置は、低コストというインプリントプロセスの利点を維持しつつ、均一加圧と空気のかみこみの防止とを両立することができず、大面積微細パターンの形成に適用するには課題があった。
上記課題に鑑み、本発明は、低コストで、均一加圧と空気のかみこみの防止とを両立するインプリント装置及びインプリント方法を提供すると共に、より微細な回路パターンを有する電子回路基板及びこれを備える電子機器を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の第1の観点に係るインプリント装置は、
転写スタンプのパターン面に形成された微細パターンを転写対象基板に転写するためのインプリント装置であって、
前記転写対象基板が載置されるステージと、
前記転写スタンプを保持し、前記転写スタンプの前記パターン面が前記転写対象基板に押し付けられるように、前記ステージと相対的に移動可能なスタンプホルダと、
前記スタンプホルダに設けられ、前記転写スタンプの前記パターン面が凸状に湾曲するように、前記転写スタンプの背面を押圧する押圧装置を有する変形機構と、
前記スタンプホルダが前記ステージに向けて移動するに従って、湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面の全面が徐々に前記転写対象基板に押し付けられていくと共に、前記パターン面の全面から前記転写対象基板に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、前記押圧装置の押圧力を制御する全面圧力制御機構と、を備える、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明の第2の観点に係るインプリント方法は、
転写スタンプのパターン面に形成された微細パターンを転写対象基板に転写するためのインプリント方法であって、
前記転写スタンプの前記パターン面を凸状に湾曲させる工程と、
湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面の外周部を前記転写対象基板に当接させる工程と、
湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面を、前記外周部から前記パターン面の全面にかけて、徐々に前記転写対象基板に押し付けていく工程と、
前記転写対象基板に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、前記転写スタンプの前記パターン面の全面を前記転写対象基板に押し付ける工程と、を備える、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明の第3の観点に係る電子回路基板は、上記の第1の観点に係るインプリント装置又は上記の第2の観点に係るインプリント方法を用いて製造されたことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明の第4の観点に係る電子機器は、上記の第3の観点に係る電子回路基板を備えることを特徴とする。
本発明によれば、低コストで、均一加圧と空気のかみこみの防止とを両立するインプリント装置及びインプリント方法を提供すると共に、より微細な回路パターンを有する電子回路基板及びこれを備える電子機器を提供することができる。
本発明の第1実施形態に係るインプリント装置を示す概略測面図である。 (a)〜(d)は、図1に示されたインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す側面図である。 (a)〜(d)は、図2に示されたパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 図2及び図3に示されたパターン転写プロセスにおける、転写対象基板の圧力プロファイルを示すグラフである。 (a)〜(d)は、本発明の第1実施形態の第1変形例に係るインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 (a)〜(d)は本発明の第1実施形態の第2変形例に係るインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 (a)〜(d)は、本発明の第1実施形態の第3変形例に係るインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 (a)〜(d)は、本発明の第1実施形態の第4変形例に係るインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 図8に示されたパターン転写プロセスにおける、転写対象基板の圧力プロファイルを示すグラフである。 本発明の第2実施形態に係るインプリント装置を示す概略側面図である。 (a)〜(d)は、図10に示されたインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す側面図である。 (a)〜(d)は、図11に示されたパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 図11及び図12に示されたパターン転写プロセスにおける、転写対象基板の被転写面の圧力プロファイルを示すグラフである。 本発明の第3実施形態に係るインプリント装置を示す概略側面図である。 (a)〜(d)は、図14に示されたインプリント装置によるパターン転写プ 図15に示されたパターン転写プロセスにおける、転写対象基板の圧力プロファイルを示すグラフである。 本発明の第3実施形態の変形例に係るインプリント装置によるパターン転写プロセスを段階的に示す俯瞰図である。 図10に示されたインプリント装置の、基板ステージを傾斜させた状態を示す概略側面図である。
(第1実施形態)
始めに、図1を参照して、本発明の第1実施形態に係るインプリント装置1について説明する。理解を容易とするため、図1に示されるように、インプリント装置1についてX軸、Y軸、Z軸を定義すると共に、X軸及びY軸は水平方向に、Z軸は鉛直方向に配置されているものとする。
インプリント装置1は、主に、転写対象基板10が載置される基板ステージ110と、基板ステージ110の上方に位置するスタンプホルダ120と、スタンプホルダ120に保持された転写スタンプ130と、スタンプホルダ120を上下に移動させる昇降機構140と、スタンプホルダ120に設けられた変形機構150と、変形機構150を制御する全面圧力制御機構160と、スタンプホルダ150の上方に配置されたアラインメント顕微鏡170と、を備える。
基板ステージ110は、平坦な上面を有し、載置された転写対象基板10を機械式チャックや静電チャック等の図略の保持機構を用いて保持する。基板ステージ110の下には、転写対象基板10と転写スタンプ130とのアラインメント用の平行・回転調整ステージと、転写対象基板10の水平または傾斜状態を制御するための傾斜制御機構と、を有する基板ステージ調整機構111が設けられている。
スタンプホルダ120は、転写スタンプ130の外周部に形成されたフランジ部133の下面を接離自在に支持する。スタンプホルダ120は、支持した転写スタンプ130の上方に位置するスタンプヘッド121に固定されている。スタンプヘッド121は、スタンプヘッド傾斜機構122を介して、スタンプヘッド支持機構123に取り付けられている。スタンプヘッド傾斜機構122は、スタンプヘッド121、スタンプホルダ120、及び転写スタンプ130のYZ面内における傾斜角度を調整する機能を有する。スタンプヘッド支持機構123は、昇降機構140に取り付けられている。
転写スタンプ130は、PDMS(ポリジメチルシロキサン)等の可撓性を有する素材で板状に形成されており、微細な凹凸のパターンが形成されたパターン面131を有する。パターン面131は、図1では変形機構150の押圧力を受けて湾曲しているが、微細な凹凸のパターンが形成されていることを無視すれば、元は略平坦に形成されている。なお、転写スタンプ130のパターン面131は、上記のスタンプヘッド傾斜機構122によって、転写対象基板10の被転写面11に対して相対的に傾斜した状態に維持されている。
昇降機構140は、スタンプヘッド支持機構123、スタンプヘッド傾斜機構122、及びスタンプヘッド121を介して、スタンプホルダ120に基板ステージ110方向の押圧力を供給し、スタンプホルダ120に保持された転写スタンプ130を、UVナノインプリントプロセス、熱ナノインプリントプロセス、又はマイクロコンタクトプリントプロセス等のパターン転写に適した圧力で、転写対象基板10に押し付ける。
変形機構150は、スタンプヘッド121に取り付けられた複数のシリンダ151から構成されている。シリンダ151は、円柱状の外形を有し、球面状の先端部で転写スタンプ130の背面132を押圧する。シリンダ151は、全面圧力調整機構160から供給される圧力によって作動する。
なお、図1には三つのシリンダ151が示されているが、変形機構150には、五つのシリンダ151が設けられている。図2に示されるように、五つのシリンダ151は、転写スタンプ130のパターン面131に対して略一様に配列されている。そのうちの一つが、シリンダ位置IIに沿ってパターン面131の略中央部に位置し、残りの四つが、シリンダ位置I又はIIIに沿ってパターン面131の四つの角部の内側に位置している。 図1に示されるように、パターン面131の中央部に位置するシリンダ151は、他の四つのシリンダ151よりも長く形成されている。
全面圧力制御機構160は、圧力調整バルブ等の圧力調整装置から構成され、図略の油圧ポンプ又はエアコンプレッサ等から供給される流体の圧力を目的の大きさに調整しつつ、変形機構150のシリンダ151に継続的に供給することで、シリンダ151の押圧力を制御する。例えば、単一の圧力調整装置から複数のシリンダ151に圧力を供給してもよいし、複数の圧力調整装置から各シリンダ151に個別に圧力を供給してもよい。ただし、本実施形態では、全面圧力調整機構160は、変形機構150の複数のシリンダ151に供給される圧力を、互いに同一に、かつ一定になるように調整する。その結果、複数のシリンダ151は、互いに略同一、かつ略一定の押圧力で、転写スタンプ130の背面132を押圧する。このとき、上記のようにシリンダ151の長さが異なるために、転写スタンプ130のパターン面131は、略球面状に湾曲する。
アラインメント顕微鏡170は、転写対象基板10と転写スタンプ130とに記されたアラインメントマークの上方からの像を提供する。アラインメント顕微鏡170を使用して転写対象基板10と転写スタンプ130とのアラインメントマークを観察しつつ、上述の平行・回転調整機構111を使用してこれらのアラインメントマークを一致させることで、転写対象基板10と転写スタンプ130とが位置合わせされる。この目的のため、転写スタンプ130は、透明な素材で形成されていることが望ましい。
また、インプリント装置1は、図示は省略するが、UVインプリントプロセスのための紫外線照射装置、熱インプリントプロセスのための加熱装置、あるいはマイクロコンタクトプリントプロセスのためのインク供給装置等を、適宜備えることができる。
転写対象基板10は、後述するパターン転写プロセスに先立って、基板ステージ110に載置される。転写対象基板10は、目的に応じて、シリコン、石英、ガラス、金属材料、又は樹脂材料等の基板を用いることができるほか、事前に絶縁層や導電層等が形成された積層構造体であってもよい。
次に、図1〜図4を参照して、インプリント装置1によるパターン転写プロセスについて説明する。
始めに、全面圧力制御機構160を作動させ、変形機構150のシリンダ151に圧力を供給する。これにより、シリンダ151が作動し、転写スタンプ130のパターン面131が略球面状に湾曲した状態に維持される。
次に、昇降機構140を使用して、スタンプホルダ120を基板ステージ110に向けて移動させる。
このとき、転写スタンプ130のパターン面131は、上述のように転写対象基板10の被転写面11に対して相対的に傾斜していると共に湾曲しているため、図2(a)に示されるように、パターン面131の外周部において転写対象基板10の被転写面11に当接する。なお、厳密には、パターン面131の外周部の一点が、被転写面11に最初に当接するが、図2(a)には、その瞬間を経過し、パターン面131の外周部の一辺が、被転写面11に完全に接触した状態が示されている。
図2(a)に示された転写対象基板10と転写スタンプ130とを上方から見た様子が、図3Bに示されている。基板転写線30によって示されるように、パターン面131の一辺が、湾曲した状態で、被転写面11に押し付けられている。なお、基板転写線30は、基板転写線30は、転写対象基板10の被転写面11において、現時点で転写(加圧)されている部分と、直後に転写(加圧)される部分との境界線を示すものである。
図2(a)に続いて、転写スタンプ130のパターン面131が転写対象基板10の被転写面11にさらに押し付けられると、転写対象基板10からの反力が、転写スタンプ130を介して、変形機構150のシリンダ151に加えられる。そして、転写スタンプ130から加えられる反力がシリンダ151自身の押圧力を上回ると、シリンダ151は押し戻されることになる。複数のシリンダ151によるこのような動作に伴って、転写スタンプ130のパターン面131は、図2(b)(c)に示されるように、転写対象基板10の被転写面11に倣うように徐々に復元及び変形し、最終的に、図2(d)に示されるように、被転写面11に完全に押し付けられる。
図2(b)〜(d)に示された転写対象基板10と転写スタンプ130とを上方から見た様子が、図3(b)〜(d)に示されている。曲線状の転写境界線30は、図3(b)、(c)に示されるようにY軸方向に進行し、最終的に、図3(d)に示されるようにパターン面131の当初転写境界線30があった位置の反対側に到達する。このように、転写スタンプ130のパターン面131は、転写対象基板10の被転写面11との間にある空気を押し出しながら、パターン面131の外周部からパターン面131の全面にかけて、徐々に転写対象基板10の被転写面11が加圧されていく。従って、空気のかみこみが効果的に防止される。
また、図2(a)〜(d)及び図3(a)〜(d)に示された転写対象基板10の被転写面11のY軸方向における圧力プロファイルが、図4(a)〜(d)に示される。図3(a)〜(c)では、転写スタンプ130のパターン面131が転写対象基板10の被転写面11に徐々に押し付けられていく。従って、図4(a)〜(c)に示されるように、被転写面11に加わる圧力は位置によって異なる。一方、図3Dでは、略一様に配列された複数のシリンダ151によって、転写スタンプ130のパターン面131の全面が転写対象基板10の被転写面11に押し付けられる。さらに、複数のシリンダ151の押圧力は、全面圧力制御機構160によって、互いに同一になるように制御されている。従って、図4(d)に示されるように、最終的に被転写面11に加わる圧力は略均一になる。
最後に、昇降機構140を使用して、スタンプホルダ120を上方に移動させると、転写スタンプ130のパターン面131が被転写基盤10の被転写面11から引き離され、パターン転写プロセスが完了する。
UVインプリントプロセスでは、予め転写対象基板10に塗布された光硬化性樹脂に、上記のように転写スタンプ130のパターン面131を均一に加圧しつつ、図略の紫外線照射装置を使用して、転写スタンプ130の上方から紫外線を照射する。その後、紫外線の照射によって硬化した光硬化性樹脂から転写スタンプ130を引き離すことにより、光硬化性樹脂の被転写面11にパターンが形成される。
熱インプリントプロセスでは、予め転写対象基板10に塗布された熱可塑性樹脂を、図略の加熱装置を使用して加熱し、上記のように転写スタンプ130のパターン面131を均一に加圧しつつ冷却する。その後、冷却によって硬化した熱可塑性樹脂から転写スタンプ130を引き離すことにより、可塑性樹脂の被転写面11にパターンが形成される。
マイクロコンタクトプリントプロセスでは、予めインクが塗布された転写スタンプ130のパターン面131を、上記のように転写対象基板10の被転写面11に均一に加圧することにより、被転写面11上にインクのパターンが形成される。
以上説明したように、第1実施形態に係るインプリント装置1によれば、複雑な構成部品や制御システムを必要とせず、極めて簡単な構成により、空気のかみこみを防止すると共に、均一加圧を行うことができる。従って、低コストというインプリントプロセスの利点を生かしつつ、大面積微細パターンの転写を好適に行うことができる。
なお、上述したインプリント装置1では、転写スタンプ130のパターン面131が略球面状に湾曲するため、図3(d)の基板転写線30が示すように、パターン転写プロセスの最終段階においてパターン面131の角部が十分に被転写面11に加圧されず、転写不良が生じるおそれがある。これを回避するため、例えば、図3に示されたシリンダ151の数量、形状、及び配置を、図5〜図8に示されるシリンダ151A〜Dのように変形してもよい。
(第1変形例)
図5(a)〜(d)に示される三つのシリンダ151Aは、X軸方向に延在する略角丸長方形の断面を有し、略円柱面状の先端部で転写スタンプ130の背面132を押圧する。この結果、転写スタンプ130のパターン面131は、X軸方向に平行な母線を有するように、略円柱面状に湾曲する。図5(a)〜(d)に示されるように、基板転写線30Aは、パターン転写プロセスの初期段階から最終段階にわたって、X軸方向に延在する直線状となる。従って、パターン面131の角部における転写不良を回避することができる。なお、シリンダ151Aの断面形状は、角丸長方形に限られず、長尺形状であれば、同様の効果を得ることができる。
(第2変形例)
図6(a)〜(d)に示される五つのシリンダ151Bは、略正方形の断面を有すると共に、略平坦な先端部で転写スタンプ130の背面132を押圧する。また、五つのシリンダ151Bのうち、一つはパターン面131の略中央部に位置し、他の四つはパターン面131の四つの角部にそれぞれ接するように位置している。従って、転写スタンプ130のパターン面131は略球面状に湾曲するが、パターン転写プロセスの最終段階では、四つのシリンダ151Bがパターン面131の四つの角部を確実に押圧する。従って、パターン面131の角部における転写不良を回避することができる。なお、シリンダ151Bの断面形状は、正方形に限られず、直角又は鋭角の角部を有していれば、同様の効果を得ることができる。
(第3変形例)
図7(a)〜(d)に示される三つのシリンダ151Cは、X軸方向にパターン面131を略横断するように延在する略長方形の断面を有すると共に、略平坦な先端部で転写スタンプ130の背面132を押圧する。また、三つのシリンダ151Cのうちの二つがパターン面131の四つの角部にそれぞれ接するように位置している。この結果、転写スタンプ130のパターン面131は、X軸方向に平行な母線を有するように、略円柱面状に湾曲する。さらに、パターン転写プロセスの最終段階では、三つのシリンダ151Cのうちの二つがパターン面131の四つの角部を確実に押圧する。従って、パターン面131の角部における転写不良を、第1及び第2変形例と比較して、より効果的に回避することができる。なお、シリンダ151Cの断面形状は、長方形に限られず、直角又は鋭角の角部を有する長尺形状であれば、同様の効果を得ることができる。
(第4変形例)
図8(a)〜(d)に示される五つのシリンダ151Dは、図3に示される五つのシリンダ151と同一の形状を有するが、外側の四つのシリンダ151Dの中心がパターン面131の四つの角部に配置されている。この場合、転写スタンプ130のパターン面131は、やはり略球面状に湾曲するが、パターン面131の四つの角部が確実に押圧されるため、転写不良を回避することができる。図8(a)〜(d)に示された転写対象基板10の被転写面11のY軸方向における圧力プロファイルは、図9(a)〜(d)に示されており、最終段階で均一加圧が行われることが示されている。
尚、シリンダ151の位置及び形状は、図4及び図9のように、転写初期及び中途段階では空気かみこみ防止のために転写スタンプ130の各位置で押圧力に差があることを許容しつつ、最終段階では均一圧力になるような圧力プロファイルを達成することができるならば、図3、図5〜図8に限らず、自由に設定してよい。
(第2実施形態)
次に、図10を参照して、本発明の第2実施形態に係るインプリント装置2について説明する。インプリント装置2は、主に、スタンプヘッド傾斜機構122を備えていない点において、第1実施形態のインプリント装置1と相違する。その他の基本的構成については、図1及び図2を参照して説明した第1実施形態のインプリント装置1と同様である。従って、共通する構成に同一の符号を付し、その説明を省略する。
インプリント装置2では、スタンプヘッド121が、スタンプヘッド傾斜機構122を介さず、スタンプヘッド支持機構123に直接に固定されている。そのため、転写スタンプ130のパターン面131は、変形機構150の押圧力を受けて湾曲していることを無視すれば、転写対象基板10の被転写面11と略平行な状態に維持されている。
以下、上記構成のインプリント装置2によるパターン転写プロセスについて、図11〜図13を参照して説明する。
スタンプホルダ120が基板ステージ110に向けて降下すると、転写スタンプ130のパターン面131は、略球面状に湾曲しているため、図11(a)に示されるように、パターン面131の中央部において、転写対象基板10の被転写面11に当接する。このとき、湾曲した転写スタンプ130のパターン面131と、平坦な転写対象基板10の被転写面11とは、第1実施形態のように傾斜しておらず、また転写スタンプ130の表面には凹凸のパターンがあることから、完全に一点で接することはなく、ある程度の領域に亘って面接触せざるを得ない。
図11(a)に示された転写対象基板10と転写スタンプ130とを上方から見た様子が、図12(a)に示されている。基板転写線30によって示されるように、パターン面131の中央部の略円形の一領域が、被転写面11に押し付けられている。従って、パターン面131の中央部については、空気のかみこみが生じるおそれがある。
図11(a)に続いて、転写スタンプ130のパターン面131が転写対象基板10の被転写面11にさらに押し付けられると、各シリンダ位置I,II,IIIにあるシリンダ151が徐々に押し戻される。複数のシリンダ151のこのような動作に伴って、転写スタンプ130のパターン面131は、図11(b),(c)に示されるように、転写対象基板10の被転写面11に倣うように徐々に復元及び変形し、最終的に、図11(d)に示されるように、被転写面11に完全に押し付けられる。
図11(b)〜(d)に示された転写対象基板10と転写スタンプ130とを上方から見た様子が、図12(b)〜(d)に示されている。円形状の転写境界線30は、図12(b),(c)に示されるようにパターン面131の中央部から外径方向に進行し、最終的に、図12(d)に示されるようにパターン面131の外周部に到達する。このように、転写スタンプ130のパターン面131は、転写対象基板10の被転写面11との間にある空気を押し出しながら、パターン面131の中央部からパターン面131の全面にかけて、徐々に転写対象基板10の被転写面11加圧されていく。従って、空気のかみこみを効果的に防止することができる。
なお、図11(a)〜(d)及び図12(a)〜(d)に示された転写対象基板10の被転写面11の中心部に沿った圧力プロファイルが、図13(a)〜(d)に示される。図13(a)〜(c)では、被転写面11に加わる圧力は位置によって異なるが、図13(d)では、被転写面11に加わる圧力は最終的に略均一となる。
以上説明したように、第2実施形態に係るインプリント装置2によれば、簡単な構成により、空気のかみこみを防止すると共に、均一加圧を行うことができる。なお、第1実施形態に係るインプリント装置1と比較すると、パターン面21の中央部における空気の噛み込みを防止する効果は小さいが、スタンプヘッド傾斜機構122を備えていないため、装置の製造コストを低減できる点において好適である。
なお、第1実施形態のインプリント装置1と同様に、第2実施形態のインプリント装置2においても、転写スタンプ130のパターン面131が略球面状に湾曲するため、図12(d)の基板転写線30が示すように、パターン転写プロセスの最終段階においてパターン面131の角部が十分に被転写面11に加圧されず、転写不良が生じるおそれがある。これを回避するため、図11に示されたシリンダ151の数量、形状、及び配置を、第1実施形態の第1〜第4変形例と同様に、すなわち図5〜図8に示されるシリンダ151A〜Dのように、変形してもよい。ただし、パターン面131の中央部に位置するシリンダ151の先端部が平坦であると、転写スタンプ130の材質や形状によっては、湾曲したパターン面131の中央部が平坦になり、空気のかみこみが生じるおそれがある。そのため、少なくともパターン面131の中央部に位置するシリンダ151については、球面や円柱面等の湾曲面状の先端部を有することが望ましい。
(第3実施形態)
次に、図14を参照して、本発明の第3実施形態に係るインプリント装置3について説明する。インプリント装置3は、主に、変形機構350が単一のシリンダ151を備える点、及びスタンプホルダ120に圧力プレート325が設けられている点において、第2実施形態のインプリント装置2と相違する。その他の基本的構成については、図10を参照して説明した第2実施形態のインプリント装置2と同様である。従って、共通する構成に同一の符号を付し、その説明を省略する。
インプリント装置3の変形機構350は、上記のように、転写スタンプ130の背面132を押圧する単一のシリンダ151を備える。シリンダ151は、図15に示されるように、転写スタンプ130のパターン面131の中央部に配置されている。従って、変形機構350は、シリンダ151の作動に伴って、転写スタンプ130のパターン面131を略球面状に変形させる。なお、シリンダ151の押圧力は、全面圧力制御機構160によって、所定の大きさに略一定に制御される。
上記のように、インプリント装置3のスタンプホルダ120には、圧力プレート325が設けられている。圧力プレート325は、転写スタンプ130の背面132と対向して、転写スタンプ130を上方から押さえるように固定されている。スタンプホルダ120には、図15に示されるように、転写スタンプ130のパターン面131の四つの角部の近傍に、四つの圧力プレート325が配置されている。
上記構成のインプリント装置3によるパターン転写プロセスでは、第1及び第2実施形態と異なり、転写スタンプ130のパターン面131が転写対象基板10の被転写面11に押し付けられた際に、昇降機構140からスタンプホルダ120に加えられる押圧力が、圧力プレート325を介して、転写スタンプ130の背面132に加えられる。そのため、均一加圧を行うためには、パターン転写プロセスの最終段階において、シリンダ151の押圧力と、四つの圧力プレート325の押圧力とが、互いに等しくなっている必要がある。従って、昇降機構140からスタンプホルダ120及び圧力プレート325を介して転写スタンプ130の背面132に加えられる押圧力を、機械的に精密に制御する必要がある。
これは、例えば、パターン転写プロセスに先立って、均一加圧を行うことができる昇降機構140の押圧力と、シリンダ151の押圧力と、を把握することで、達成できる。例えば、基板ステージ110に載置された被転写基板10上に圧力シートを配置し、シリンダ151の押圧力を一定に維持しつつ、昇降装置140の押圧力を変化させながら転写スタンプ130を圧力シートに押し付け、圧力シートが均一加圧を示したときの昇降装置140の押圧力を読み取る。そして、昇降装置140の押圧力を読み取った押圧力に一致するように調整すれば、その後のパターン転写プロセスにおいて、均一加圧を繰り返し行うことができる。
インプリント装置3によるパターン転写プロセスにおける転写スタンプ130と転写対象基板10との様子は、第2実施形態で説明した図11(a)〜(d)に示されるものと同様である。また、このときの転写スタンプ130と転写対象基板10を上方から見た様子が、上述した図15(a)〜(d)に示されている。基板転写線30の挙動についても、第2実施形態で説明した図12(a)〜(d)に示されるものと同様である。従って、パターン面131の中央部を除けば、空気の噛み込みを効果的に防止することができる。
図15(a)〜(d)に示された転写対象基板10の被転写面11の中心部に沿った圧力プロファイルが、図16(a)〜(d)に示される。当該図において、昇降装置140の押圧力が精密に調整された結果、パターン転写プロセスの最終段階において、被転写面11の中央部を押圧する単一のシリンダ151の押圧力と、四つの角部を押圧する四つの圧力プレート325の押圧力と、が互いに等しくなり、均一加圧が行われることが示されている。
図15では、圧力プレート325の位置が転写スタンプ130の四つの角部に限定されているが、図17に示されるように、転写スタンプ130の四辺全てを覆うような形状の圧力プレート325Aを採用してもよい。このとき、転写スタンプ130の周辺部に加わる圧力が更に均一化され、好適である。
以上説明したように、第3実施形態に係るインプリント装置3によれば、簡単な構成により、空気のかみこみを防止すると共に、均一加圧を行うことができる。第1実施形態のインプリント装置1と比較すると、パターン面131の中央部における空気の噛み込みを防止する効果は小さいが、スタンプヘッド傾斜機構122及び周辺部の四つのシリンダ151を備えていないため、装置の製造コストを低減できる点において好適である。
第2実施形態のインプリント装置2と比較すると、周辺部の四つのシリンダ151を備えていないため、装置の製造コストを低減できる点において好適である。
なお、転写対象基板10にパターンを形成した後、例えば、パターン(光硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、インク等)をレジストとしてエッチングする、あるいはパターンの凹部に導電性材料を充填する等、適当なプロセスを実施することにより、転写スタンプ130のパターンに対応する回路パターンを有する電子回路基板を製造することができる。
第1〜第3実施形態のインプリント装置1〜3を用いてパターンを形成することにより、より低コストで、より微細かつ高密度な回路パターンを有する電子回路基板を製造することができる。このような電子回路基板は、例えば、携帯電話機、携帯情報端末機、ノートパソコン等、種々の電子機器に搭載することができ、これにより電子機器の小型化・高性能化に貢献することができる。
なお、本発明は上記の実施形態及び変形例に限定されず、更なる変形及び応用が可能である。
例えば、上記実施形態では、変形機構150,350は、押圧装置としてシリンダ151を備えていたが、転写スタンプ130の背面132を押圧することができるならば、シリンダ151に代えて他の適当な作動要素を押圧装置として備えていてもよい。また、全面圧力制御装置160についても、上記の押圧装置の押圧力を制御することができるならば、これを構成する装置の種類や制御の方式等は任意であり、適宜に変更してよい。
第1及び第2実施形態では、変形機構は150は、互いに同一の断面形状を有する複数のシリンダ151を備えていたが、均一加圧を行うことができるならば、一つ以上のシリンダ151の断面形状が他の一つ以上のシリンダ151と異なっていてもよく、その形状も任意である。また、第1及び第2実施形態では、複数のシリンダ151が転写スタンプ130のパターン面131に対して一様に配列されていたが、均一加圧を行うことができるならば、シリンダ151の数量及び配置についても任意である。シリンダ151の形状、数量、及び配置等に応じて均一加圧を行うために、例えば、全面圧力制御機構160が各シリンダ151の押圧力を個別に制御するようにしてもよい。
第1実施形態では、転写スタンプ130は、パターン面131の一辺部から転写対象基板10に当接するが、パターン面131の外周部であればどの部位から当接してもよく、パターン面131の一角部から当接するようにしてもよい。
第3実施形態では、圧力プレート325はスタンプホルダ120に固定されていたが、例えば、ばねやゴム等の弾性体によって支持されていてもよい。
転写スタンプ130のパターン面131の形状は、正方形、長方形、円形、楕円形、多角形、その他の任意の形状であってよい。
ここまで、均一加圧を行うことを目的の一つとして説明してきたが、転写対象基板10に加えられる圧力は、必ずしも均一でなくともよい。例えば、転写すべきパターンが微細であるほど、一般的に、低い転写圧力で転写する必要がある。そのため、転写スタンプ130のパターン面131において、微細なパターンが形成された部分は、他の部分よりも低い圧力で加圧されることが望まれる。このような目的のため、上記実施形態及び変形例は、転写対象基板10に加わる圧力が、必ずしも均一ではない所望の圧力分布に一致するように、適宜に変形することができる。例えば、シリンダ151及び圧力プレート325の数量、形状、配置、及び押圧力を、所望の圧力分布に応じて、任意に変更することができる。
第1実施形態では、スタンプホルダ120が水平な基板ステージ110に対して傾くことにより、面での接触及び転写を回避し、効果的に空気のかみこみを防止していた。これと同様な作用を図18に示す機構により実現することができる。
図18に示すように、基板ステージ調整機構111の傾斜制御機構を活用して基板ステージ110に敢えて傾きを与えても、スタンプホルダ120が基板ステージ110に対して相対的に傾く。従って、第2及び第3実施形態のインプリント装置2及び3のように、スタンプホルダ120の傾きを調節する機能を有していない装置であっても、図4のような圧力プロファイルを与えることが可能となる。
上記の実施形態及び変形例に記載した各構成は、任意に組み合わせることできると共に、その材質、形状、構造、数量、配置等についても適宜に変更することができる。
上記の実施形態及び変形例の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
(付記1)
転写スタンプのパターン面に形成された微細パターンを転写対象基板に転写するためのインプリント装置であって、
前記転写対象基板が載置されるステージと、
前記転写スタンプを保持し、前記転写スタンプの前記パターン面が前記転写対象基板に押し付けられるように、前記ステージと相対的に移動可能なスタンプホルダと、
前記スタンプホルダに設けられ、前記転写スタンプの前記パターン面が凸状に湾曲するように、前記転写スタンプの背面を押圧する押圧装置を有する変形機構と、
前記スタンプホルダが前記ステージに向けて移動するに従って、湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面の全面が徐々に前記転写対象基板に押し付けられていくと共に、前記パターン面の全面から前記転写対象基板に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、前記押圧装置の押圧力を制御する全面圧力制御機構と、を備える、
ことを特徴とするインプリント装置。
(付記2)
前記押圧装置は、前記転写スタンプの背面を押圧するシリンダから構成され、
前記全面圧力制御機構は、前記シリンダに供給される圧力を調整することにより、前記シリンダの押圧力を制御する、
ことを特徴とする付記1に記載のインプリント装置。
(付記3)
前記スタンプホルダは、前記転写スタンプの前記パターン面が前記転写対象基板に対して傾斜した状態で当接するように、前記ステージに対して傾斜している、
ことを特徴とする付記1又は2に記載のインプリント装置。
(付記4)
前記転写スタンプの前記パターン面は、初めに前記パターン面の外周部において前記転写対象基板に当接し、その後前記外周部から前記パターン面の全面にかけて徐々に前記転写対象基板に押し付けられていく、
ことを特徴とする付記1乃至3の何れかに記載のインプリント装置。
(付記5)
前記押圧装置は、前記転写スタンプの背面において、少なくとも前記パターン面の角部に重なる位置を押圧する、
ことを特徴とする付記1乃至4の何れかに記載のインプリント装置。
(付記6)
前記押圧装置は、前記転写スタンプの背面を押圧するシリンダから構成され、該シリンダの先端部の、該シリンダの押圧方向に垂直な断面は、長尺形状である、
ことを特徴とする付記1乃至5の何れかに記載のインプリント装置。
(付記7)
前記スタンプホルダは、前記転写スタンプの背面を押圧する圧力プレートを有する、
ことを特徴とする付記1乃至6の何れかに記載のインプリント装置。
(付記8)
前記変形機構は、複数のシリンダから構成され、該複数のシリンダの少なくとも一つが他のシリンダよりもストロークが長い、
ことを特徴とする付記1乃至7の何れかに記載のインプリント装置。
(付記9)
前記押圧装置は、湾曲面状に形成された先端部を有し、前記先端部の前記湾曲面で前記転写スタンプの背面を押圧する、
ことを特徴とする付記1乃至8の何れかに記載のインプリント装置。
(付記10)
前記変形機構は、前記転写スタンプの背面を押圧する複数の前記押圧装置を有し、
前記全面圧力制御機構は、前記複数の押圧装置の押圧力を互いに同一になるように制御する、
ことを特徴とする付記1乃至9の何れかに記載のインプリント装置。
(付記11)
前記変形機構は、前記転写スタンプの背面を押圧する複数の前記押圧装置を有し、
前記全面圧力制御機構は、前記複数の押圧装置の押圧力を個別に制御する、
ことを特徴とする付記1乃至10の何れかに記載のインプリント装置。
(付記12)
転写スタンプのパターン面に形成された微細パターンを転写対象基板に転写するためのインプリント方法であって、
前記転写スタンプの前記パターン面を凸状に湾曲させる工程と、
湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面の外周部を前記転写対象基板に当接させる工程と、
湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面を、前記外周部から前記パターン面の全面にかけて、徐々に前記転写対象基板に押し付けていく工程と、
前記転写対象基板に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、前記転写スタンプの前記パターン面の全面を前記転写対象基板に押し付ける工程と、を備える、
ことを特徴とするインプリント方法。
(付記13)
付記1乃至11の何れかに記載のインプリント装置又は付記12に記載のインプリント方法を用いて製造されたことを特徴とする電子回路基板。
(付記14)
付記13に記載の電子回路基板を備えることを特徴とする電子機器。
本発明は、2011年3月30日に出願された日本国特許出願2011−075622号に基づく。本明細書中に日本国特許出願2011−075622号の明細書、特許請求の範囲、図面全体を参照として取り込むものとする。
1,2,3 インプリント装置
10 転写対象基板
11 被転写面
30 基板転写線
110 基板ステージ
111 基板ステージ調整機構
120 スタンプホルダ
121 スタンプヘッド
122 スタンプヘッド傾斜機構
123 スタンプヘッド支持機構
130 転写スタンプ
131 パターン面
132 背面
133 フランジ部
140 昇降機構
150,350 変形機構
325,325A 圧力プレート
151,151A〜D シリンダ
160 全面圧力制御機構
170 アラインメント顕微鏡

Claims (10)

  1. 転写スタンプのパターン面に形成された微細パターンを転写対象基板に転写するためのインプリント装置であって、
    前記転写対象基板が載置されるステージと、
    前記転写スタンプを保持し、前記転写スタンプの前記パターン面が前記転写対象基板に押し付けられるように、前記ステージと相対的に移動可能なスタンプホルダと、
    前記スタンプホルダに設けられ、前記転写スタンプの前記パターン面が凸状に湾曲するように、前記転写スタンプの背面を押圧する押圧装置を有する変形機構と、
    前記スタンプホルダが前記ステージに向けて移動するに従って、湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面の全面が徐々に前記転写対象基板に押し付けられていくと共に、前記パターン面の全面から前記転写対象基板に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、前記押圧装置の押圧力を制御する全面圧力制御機構と、を備える、
    ことを特徴とするインプリント装置。
  2. 前記押圧装置は、前記転写スタンプの背面を押圧するシリンダから構成され、
    前記全面圧力制御機構は、前記シリンダに供給される圧力を調整することにより、前記シリンダの押圧力を制御する、
    ことを特徴とする請求項1に記載のインプリント装置。
  3. 前記スタンプホルダは、前記転写スタンプの前記パターン面が前記転写対象基板に対して傾斜した状態で当接するように、前記ステージに対して傾斜している、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載のインプリント装置。
  4. 前記転写スタンプの前記パターン面は、初めに前記パターン面の外周部において前記転写対象基板に当接し、その後前記外周部から前記パターン面の全面にかけて徐々に前記転写対象基板に押し付けられていく、
    ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載のインプリント装置。
  5. 前記押圧装置は、前記転写スタンプの背面において、少なくとも前記パターン面の角部に重なる位置を押圧する、
    ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載のインプリント装置。
  6. 前記押圧装置は、前記転写スタンプの背面を押圧するシリンダから構成され、該シリンダの先端部の、該シリンダの押圧方向に垂直な断面は、長尺形状である、
    ことを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載のインプリント装置。
  7. 前記スタンプホルダは、前記転写スタンプの背面を押圧する圧力プレートを有する、
    ことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載のインプリント装置。
  8. 転写スタンプのパターン面に形成された微細パターンを転写対象基板に転写するためのインプリント方法であって、
    前記転写スタンプの前記パターン面を凸状に湾曲させる工程と、
    湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面の外周部を前記転写対象基板に当接させる工程と、
    湾曲した前記転写スタンプの前記パターン面を、前記外周部から前記パターン面の全面にかけて、徐々に前記転写対象基板に押し付けていく工程と、
    前記転写対象基板に加わる圧力が所定の圧力分布に一致するように、前記転写スタンプの前記パターン面の全面を前記転写対象基板に押し付ける工程と、を備える、
    ことを特徴とするインプリント方法。
  9. 請求項1乃至7の何れか1項に記載のインプリント装置又は請求項8に記載のインプリント方法を用いて製造されたことを特徴とする電子回路基板。
  10. 請求項9に記載の電子回路基板を備えることを特徴とする電子機器。
JP2013507822A 2011-03-30 2012-03-30 インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器 Pending JPWO2012133840A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011075622 2011-03-30
JP2011075622 2011-03-30
PCT/JP2012/058713 WO2012133840A1 (ja) 2011-03-30 2012-03-30 インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2012133840A1 true JPWO2012133840A1 (ja) 2014-07-28

Family

ID=46931533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013507822A Pending JPWO2012133840A1 (ja) 2011-03-30 2012-03-30 インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPWO2012133840A1 (ja)
WO (1) WO2012133840A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6412317B2 (ja) * 2013-04-24 2018-10-24 キヤノン株式会社 インプリント方法、インプリント装置および物品の製造方法
US10118381B2 (en) * 2014-04-22 2018-11-06 Ev Group E. Thallner Gmbh Method and device for embossing of a nanostructure
JP2019050315A (ja) * 2017-09-11 2019-03-28 東芝メモリ株式会社 インプリント装置及びインプリント方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02126434A (ja) * 1988-11-05 1990-05-15 Mitsubishi Electric Corp 光デイスク基板成形方法
US20080160129A1 (en) * 2006-05-11 2008-07-03 Molecular Imprints, Inc. Template Having a Varying Thickness to Facilitate Expelling a Gas Positioned Between a Substrate and the Template
KR100688866B1 (ko) * 2005-04-07 2007-03-02 삼성전기주식회사 임프린트 장치, 시스템 및 방법
JP4966586B2 (ja) * 2006-05-24 2012-07-04 東芝機械株式会社 転写装置
JP4996488B2 (ja) * 2007-03-08 2012-08-08 東芝機械株式会社 微細パターン形成方法
JP2009200345A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Canon Inc 加工装置
JP5081662B2 (ja) * 2008-02-25 2012-11-28 東芝機械株式会社 転写装置、この転写装置を用いた転写方法および型保持装置
JP4815464B2 (ja) * 2008-03-31 2011-11-16 株式会社日立製作所 微細構造転写スタンパ及び微細構造転写装置
JP2012099789A (ja) * 2010-10-08 2012-05-24 Canon Inc インプリント装置、及び、物品の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2012133840A1 (ja) 2012-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101547748B (zh) 用于将薄片应用到基板的方法和设备
JP5232077B2 (ja) 微細構造転写装置
TWI333131B (en) Imprint lithography
US8025829B2 (en) Die imprint by double side force-balanced press for step-and-repeat imprint lithography
KR100981692B1 (ko) 스탬프로부터 기판으로 패턴을 전사하기 위한 방법 및 디바이스
JP4789039B2 (ja) ナノインプリント装置
CN105936124B (zh) 压印装置
KR101314786B1 (ko) 임프린트 장치 및 임프린트 방법
KR20050090070A (ko) 패턴형성장치, 패턴형성방법, 패턴형성시스템
US9808985B2 (en) Roller pressing device, imprinting device, and roller pressing method
JP6203628B2 (ja) 微細パターン形成方法
EP3028771A2 (en) Method and system for contacting of a flexible sheet and a substrate
TW201536663A (zh) 用於局部區域壓印之非對稱模板形狀調節
JP6592659B2 (ja) ローラ式加圧装置、インプリント装置およびローラ式加圧方法
WO2012133840A1 (ja) インプリント装置、インプリント方法、電子回路基板、及び電子機器
KR100602176B1 (ko) 나노 임프린팅 장치
EP2930006B1 (en) Roller-type pressurization device, imprinter, and roller-type pressurization method
JP2012227298A (ja) シート状デバイスの製造装置、シート状デバイスの製造方法
JP2010234714A (ja) 印刷装置および印刷方法
EP3171391A1 (en) Step-and-repeat-type imprinting device and method
KR100730562B1 (ko) 액정패널 제조장치
KR100699092B1 (ko) 패턴형성방법과 패턴형성장치
JP5187840B2 (ja) 印刷装置および印刷方法
JP5792786B2 (ja) 基板印刷装置
JP2012004463A (ja) インプリント装置、インプリント方法及びデバイスの製造方法