JPWO2012077756A1 - 金属ナノ粒子集積構造体を利用した被検出物質の検出装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
好ましくは、第1の光源は、金属ナノ粒子集積構造体または金属ナノ構造体の局在表面プラズモン共鳴のピークの半値全幅の2倍に対応する、1またはいくつかの領域に係る、実質的に単色の光を発する。
好ましくは、分光器により測定されるスペクトルは、局在表面プラズモン共鳴の消衰スペクトルである。消衰スペクトルとは、散乱スペクトルと吸収スペクトルとを足し合わせたものである。
好ましくは、光を照射するステップは、試料に、金属ナノ粒子集積構造体または金属ナノ構造体の局在表面プラズモン共鳴のピークの半値全幅の2倍に対応する、1またはいくつかの領域に係る、実質的に単色の光を照射するステップを含む。
好ましくは、スペクトルは、表面増強ラマン散乱(SERS)スペクトルである。
図1は、本発明の実施の形態に用いられる金属ナノ粒子集積構造体の模式的構造を示した図である。図2は、金属ナノ粒子集積構造体の一例の走査型電子顕微鏡(SEM)写真である。
個々の金属構造体の内部での感受率および電場分布は平坦であるとする。誘起分極Piは以下の式(3)に従って表わされる(O. J. F. Martin, N. B. Piller, Phys. Rev. E 58 3909 (1998))。
図23は、本発明の1つの実施の形態に係る検出装置の概略的構成を示したブロック図である。図23を参照して、検出装置100は、光源101と、キット20と、分光器105と、演算部106とを備える。
Claims (21)
- 試料に含まれる可能性がある被検出物質の検出装置であって、
前記被検出物質を特異的に付着可能な第1のホスト分子で修飾された金属ナノ粒子が集積されることにより形成された、金属ナノ粒子集積構造体と、
前記被検出物質を特異的に付着可能な第2のホスト分子で修飾された金属ナノ構造体とを備える、被検出物質の検出装置。 - 前記金属ナノ粒子集積構造体を固定するための基板をさらに備える、請求項1に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記試料に前記金属ナノ粒子集積構造体と前記金属ナノ構造体とが導入された状態において前記試料を照射するための第1の光源と、
前記試料のスペクトルを測定するための分光器と、
前記分光器で測定された前記スペクトルに基づいて、前記被検出物質を検出する検出器とをさらに備える、請求項1に記載の被検出物質の検出装置。 - 前記第1の光源は、白色光を発する、請求項3に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記第1の光源は、前記金属ナノ粒子集積構造体または前記金属ナノ構造体の局在表面プラズモン共鳴のピークの半値全幅の2倍に対応する、1またはいくつかの領域に係る、実質的に単色の光を発する、請求項3に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記試料に偏光を照射する第2の光源をさらに備える、請求項3に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記分光器により測定される前記スペクトルは、局在表面プラズモン共鳴の消衰スペクトルである、請求項3に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記分光器により測定される前記スペクトルは、表面増強ラマン散乱(SERS)スペクトルである、請求項3に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記金属ナノ粒子集積構造体は、前記金属ナノ粒子が固定された表面を有するビーズを含み、
前記金属ナノ構造体は、金属ナノロッドである、請求項1に記載の被検出物質の検出装置。 - 前記金属ナノロッドの短軸の長さは1nm以上であり、
前記金属ナノロッドのアスペクト比を前記短軸の長さに対する前記金属ナノロッドの長軸の比と定義すると、前記アスペクト比は、1よりも大きい値である、請求項9に記載の被検出物質の検出装置。 - 前記金属ナノ粒子集積構造体の前記金属ナノ粒子と前記金属ナノロッドとは、同じ種類の金属により形成される、請求項9に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記金属ナノ粒子集積構造体の前記金属ナノ粒子と前記金属ナノロッドとは、互いに異なる種類の金属により形成される、請求項9に記載の被検出物質の検出装置。
- 前記被検出対象物質は、抗原であり、
前記第1および第2のホスト分子は、前記抗原と抗原抗体反応を起こす抗体である、請求項1に記載の被検出物質の検出装置。 - 試料に含まれる可能性がある被検出物質の検出方法であって、
前記試料に金属ナノ粒子集積構造体と金属ナノ構造体とを導入するステップを備え、
前記金属ナノ粒子集積構造体は、金属ナノ粒子が集積されることにより形成され、
前記金属ナノ粒子は、前記被検出物質を特異的に付着可能な第1のホスト分子で修飾され、
前記金属ナノ構造体は、前記被検出物質を特異的に付着可能な第2のホスト分子で修飾され、
前記試料に光を照射するステップと、
前記試料のスペクトルを測定するステップと、
前記スペクトルに基づいて、前記被検出物質を検出するステップとをさらに備える、被検出物質の検出方法。 - 前記光を照射するステップは、
前記試料に偏光を照射して前記金属ナノ粒子集積構造体および前記金属ナノ構造体を集めるステップを含む、請求項14に記載の被検出物質の検出方法。 - 前記光を照射するステップは、前記試料に白色光を照射するステップを含む、請求項14に記載の被検出物質の検出方法。
- 前記光を照射するステップは、前記試料に、前記金属ナノ粒子集積構造体または前記金属ナノ構造体の局在表面プラズモン共鳴のピークの半値全幅の2倍に対応する、1またはいくつかの領域に係る、実質的に単色の光を照射するステップを含む、請求項14に記載の被検出物質の検出方法。
- 前記スペクトルは、局在表面プラズモン共鳴の消衰スペクトルである、請求項14に記載の被検出物質の検出方法。
- 前記スペクトルは、表面増強ラマン散乱(SERS)スペクトルである、請求項14に記載の被検出物質の検出方法。
- 金属ナノ粒子が固定された表面を有するビーズに被検出物質を特異的に付着させて、局在表面プラズモン共鳴の消衰スペクトルを測定する、被検出物質の検出方法。
- 金属ナノ粒子が固定された表面を有するビーズに被検出物質を特異的に付着させて、表面増強ラマン散乱(SERS)スペクトルを測定する、被検出物質の検出方法。
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