JPWO2012032689A1 - 放射線検出器 - Google Patents
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Abstract
Description
X={(A1+A3)−(A2+A4)}/{(A1+A2+A3+A4)}……(1)
X={(A1+α+A3+γ)−(A2+β+A4+δ)}/{(A1+α+A2+β+A3+γ+A4+δ)}……(2)
すなわち、本発明に係る放射線検出器は、第1の構成として(A)放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶が配列されたシンチレータと、(B)蛍光を検出する光検出器と、(C)経時的に一定なサンプリング間隔ごとに光検出器が出力する蛍光の強度を示す強度データを取得する強度データ取得手段と、(D)強度データ取得手段が取得した強度データを蓄積する強度データ蓄積手段と、(E)複数の閾値を記憶する記憶手段と、(F)次々と取得される強度データと強度データ比較用の事象閾値とを比較して、強度データが事象閾値を超えたときにシンチレータに放射線が入射する事象が発生したことを認識して、この事象が発生した時刻である事象発生時刻を取得する事象検出手段と、(G1)事象発生時刻よりも前に検出された強度データを強度データ蓄積手段より読み出して、これと二重事象閾値および多重事象閾値を基に蛍光の残光に起因する強度データの変動の補正に用いる補正値を取得する補正値取得手段と、(H)事象発生時刻の直前とその後に検出された強度データを積算するとともに、補正値を用いた補正を行って積算値を算出する積算手段とを備えることを特徴とするものである。
図1に示すように、実施例1に係る放射線検出器1は、シンチレータ結晶Cが縦横に配列されて構成されたシンチレータ2と、シンチレータ2の下面に設けられ、シンチレータ2から発する蛍光を検知する光検出器3と、シンチレータ2と光検出器3との間に介在する位置に配置されたライトガイド4とを備える。シンチレータ結晶Cの各々は、Ceが拡散したLu2(1−X)Y2XSiO5(以下、LYSOとよぶ)によって構成されている。
次に、放射線検出器1を用いたγ線の検出方法について説明する(図3参照)。放射線検出器1を用いてγ線を検出するには、まず、ベースラインが測定され(ベースライン測定ステップS1),γ線の検出が開始される(検出開始ステップS2)。そして、強度データ取得部11による強度データSの取得が開始され(強度データ取得開始ステップS3),シンチレータ2にγ線が入射したというイベント(事象)が検出される(事象検出ステップS4)。続いて、補正値Aが取得され(補正値取得ステップS5),この補正値Aを基に強度データSの補正がされるとともに、強度データSが時間で積分される(補正・積算ステップS6)。これらの各ステップについて順を追って説明する。
γ線の検出を行うに先立って、ブリーダユニット6から光検出器3への電力の供給を遮断した状態で検出データDが取得される。検出データDは、強度データ取得部11に送出され、検出データDに含まれる強度データSを取得する。光検出器3は、例えば10nsごとに検出データDaを出力しているので、これがディジタル化された検出データDは、10nsごとにA/D変換部10から強度データ取得部11に出力される。強度データ取得部11は、全ての検出データDについて強度データSを取得するのではなく、サンプリング間隔Sa(100m秒、またはそれ以上の長さの間隔)ごとに強度データSを取得する。光検出器3からの出力は理論上0となっていることからすれば、ブリーダユニット6が電力を供給しないこの状態で取得される強度データSの変動は、A/D変換部10を実現する回路が発するノイズ成分に由来している。強度データ取得部11は、強度データSの取得を例えば40回繰り返して、これらを平均してベースレベルBを取得する。ベースレベルBは、設定値記憶部35で記憶される。本ステップでは、強度データ取得部11のサンプリング間隔Saは、光検出器3が蛍光を検出するときの時間間隔である10nsよりも長いことになる。また、強度データ取得部11は、サンプリング間隔Saの設定値を設定値記憶部35から読み出すことで取得する構成となっている。設定値記憶部35は、実施例の構成の記憶手段に相当する。
続いて、ブリーダユニット6から光検出器3への電力の供給した状態で放射性薬剤を投与された被検体が放射線検出器1の前に置かれ、γ線の検出が開始される。γ線の検出が開始した時点から光検出器3よりアナログデータの検出データDaがA/D変換部10に送出される。A/D変換部10は、検出データDaをディジタル化して、強度データ取得部11に送出される。
γ線の検出開始と同時に、強度データ取得部11による強度データSの収集が開始される。すなわち、強度データ取得部11は、ディジタル化された検出データDに含まれる強度データSを取得する。検出データDは、例えば10nsごとに光検出器3から強度データ取得部11に出力される。ベースライン測定ステップS1で説明したように、A/D変換部10は、10nsごとに検出データDを強度データ取得部11に出力し、強度データ取得部11は、サンプリング間隔Sa(本ステップにおいては、10ns)ごとに強度データSを取得する。取得された強度データSは、光検出器3が強度データSの基になった検出データDをいつ取得したのかを示す時刻データと関連づけられて強度データ蓄積部12に送出される。
強度データSと閾値p1との比較を続ける事象検出部13で強度データSが閾値p1を超えたのを観測したとする。このとき、図4(a)に示すように、ベースレベルBとなっていた強度データSが蛍光の発生により増加したことになる。つまり、強度データSが閾値p1を超えた時点Tは、シンチレータ2にγ線が入射した時点を示している。シンチレータ2にγ線が入射することを事象(イベント)と呼ぶことにし、事象が発生した時点Tを事象発生時刻と呼ぶことにする。
事象検出部13が検出した事象発生時刻Tは、補正値取得部14に送られる。補正値取得部14は、事象発生時刻Tの直前に検出された連続する16個の強度データS1〜S16を強度データ蓄積部12より読み出す。そして、強度データS1〜S16を平均して平均値Svを求める。強度データS1〜S16はA/D変換部10の回路的なノイズを含んでいるので、残光成分agの減衰とは無関係なノイズ成分を含んでいる。強度データS1〜S16を平均することにより、このノイズ成分が消去される。なお、強度データS1〜S16の間で残光成分agは次第に減衰していくはずである。しかし、この減衰は緩やかであるので、強度データS1〜S16の測定の間で残光成分agはほぼ一定である。なお、強度データS1〜S16は、強度データ取得部11が経時的に一定なサンプリング間隔Sa(10ns)だけ間隔を置きながら16回に亘りA/D変換部10から検出データDを送出させることによって取得されたものである。
補正値Aは、積算部15に送出される。積算部15には、補正値Aの他にA/D変換部10よりディジタル化された検出データDと、事象検出部13より取得された事象発生時刻とが送られてきている。積算部15は、事象発生時刻Tの直前T0またはVの直前V0から所定の事象積算時間Tn経過後の時点UまたはXまでの間の強度データS(正確には強度データSからベースレベルBを減算した値)を時間で積分することにより積算し、蛍光の積算値mを算出する。この積算値mは、図4(b)における符号M2を用いて説明したように、余計な残光成分agが足し合わされたものとなっている。そこで、積算部15は、補正値Aと時点Tの直前T0と時点U(または時点Vと時点X)との間の事象積算時間Tnとを掛け合わせて、得られた乗算値を積算値mから減算する。すると、積算値mは、残光成分についての補正が行われることになる。
次に、実施例2に係る放射線検出器1の動作について説明する(図6参照)。放射線検出器1を用いてγ線を検出するには、まず、ベースラインが測定され(ベースライン測定ステップT1),γ線の検出が開始される(検出開始ステップT2)。そして、強度データ取得部11による強度データSの取得が開始され(強度データ取得開始ステップT3),補正値Aが取得される(補正値取得ステップT4)。続いて、シンチレータ2にγ線が入射したというイベント(事象)が検出され(事象検出ステップT5),この補正値Aを基に強度データSの補正がされるとともに、強度データSが時間で積分される(補正・積算ステップT6)。このように、実施例2の放射線検出器の動作は、実施例1の動作とほぼ同様であるが、事象の検出と独立して補正値Aが取得されるところが異なっている。補正値取得ステップT4における放射線検出器の動作は、上述の補正値取得部14の動作に相当し、各ステップT1〜T3,T6は、実施例1における各ステップS1〜S3,S6のそれぞれに相当し、事象検出ステップT5は、実施例1における事象検出ステップS4に相当する。
q1 二重閾値
q2 多重閾値
A 補正値
R 対応値
S 強度データ
Sa サンプリング間隔
T,V 事象発生時刻
Tn 事象積算時間
2 シンチレータ
3 光検出器
5 ブリーダユニット
11 強度データ取得部(強度データ取得手段)
12 強度データ蓄積部(強度データ蓄積手段)
13 事象検出部(事象検出手段)
14 補正値取得部(補正値取得手段)
15 積算部(積算手段)
16 蛍光発生位置特定部(蛍光発生位置特定手段)
35 設定値記憶部(記憶手段)
Claims (11)
- (A)放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶が配列されたシンチレータと、
(B)蛍光を検出する光検出器と、
(C)経時的に一定なサンプリング間隔ごとに前記光検出器が出力する蛍光の強度を示す強度データを取得する強度データ取得手段と、
(D)前記強度データ取得手段が取得した強度データを蓄積する強度データ蓄積手段と、
(E)複数の閾値を記憶する記憶手段と、
(F)次々と取得される強度データと強度データ比較用の事象閾値とを比較して、強度データが事象閾値を超えたときに前記シンチレータに放射線が入射する事象が発生したことを認識して、この事象が発生した時刻である事象発生時刻を取得する事象検出手段と、
(G1)前記事象発生時刻よりも前に検出された強度データを前記強度データ蓄積手段より読み出して、これと二重事象閾値および多重事象閾値を基に蛍光の残光に起因する強度データの変動の補正に用いる補正値を取得する補正値取得手段と、
(H)前記事象発生時刻の直前とその後に検出された強度データを積算するとともに、補正値を用いた補正を行って積算値を算出する積算手段とを備えることを特徴とする放射線検出器。 - 請求項1に記載の放射線検出器において、
前記補正値取得手段は、取得した補正値が前記二重事象閾値以上である場合、前記記憶手段に記憶されている補正値と対応値とが関連したテーブルを基に、補正値に対応する対応値を取得し、
前記積算手段は、前記対応値を基に強度データの補正を行うことを特徴とする放射線検出器。 - 請求項2に記載の放射線検出器において、
前記補正値取得手段は、取得した補正値が前記二重事象閾値よりも高い強度を示す多重事象閾値以上である場合、動作を行わず、積算手段は、補正を行わずに積算値を算出することを特徴とする放射線検出器。 - (A)放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶が配列されたシンチレータと、
(B)蛍光を検出する光検出器と、
(C)経時的に一定なサンプリング間隔ごとに前記光検出器が出力する蛍光の強度を示す強度データを取得する強度データ取得手段と、
(E)複数の閾値を記憶する記憶手段と、
(F)次々と取得される強度データと強度データ比較用の事象閾値とを比較して、強度データが事象閾値を超えたときに前記シンチレータに放射線が入射する事象が発生したことを認識して、この事象が発生した時刻である事象発生時刻を取得する事象検出手段と、
(G2)前記強度データ取得手段によって取得された強度データと蛍光判定用の蛍光閾値とを比較して、蛍光閾値未満となっている強度データは、前記事象が発生していない状態で取得されたものと判定して、この状態で取得された強度データを基に蛍光の残光に起因する強度データの変動の補正に用いる補正値を取得する補正値取得手段と、
(H)前記事象発生時刻の直前とその後に検出された強度データを積算するとともに、補正値を用いた補正を行って積算値を算出する積算手段とを備えることを特徴とする放射線検出器。 - 請求項4に記載の放射線検出器において、
前記光検出器は、ある時間間隔ごとに蛍光を検出し、
前記強度データ取得手段の前記サンプリング間隔は、前記光検出器が蛍光を検出するときの時間間隔よりも長いことを特徴とする放射線検出器。 - 請求項4または請求項5に記載の放射線検出器において、
前記強度データ取得手段が強度データを取得するときのサンプリング間隔は10μ秒以上となっていることを特徴とする放射線検出器。 - 請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の放射線検出器において、
前記光検出器に電力を供給するブリーダユニットを更に備え、
前記補正値取得手段が取得する補正値は、前記光検出器に電力を供給しない状態で取得された強度データであるベースレベルの値を強度データから減算することで算出されることを特徴とする放射線検出器。 - 請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の放射線検出器において、
(I)前記補正値取得手段は、複数の強度データを平均して補正値を取得することを特徴とする放射線検出器。 - 請求項4に記載の放射線検出器において、
(I)前記補正値取得手段は、複数の強度データを平均して補正値を取得し、
(J)前記補正値取得手段は、強度データの点数が所定点数となるまで強度データと判定用の閾値との比較を継続することを特徴とする放射線検出器。 - 請求項9に記載の放射線検出器において、
(K)前記補正値取得手段は、補正値の取得後も強度データと判定用の閾値との比較を継続することにより次々と補正値を取得し、補正値取得の度に補正値の更新を行うことを特徴とする放射線検出器。 - 請求項1ないし請求項10のいずれかに記載の放射線検出器において、
前記積算手段が生成した積算値を用いてシンチレータにおける蛍光の発生位置を特定する蛍光発生位置特定手段を更に備えることを特徴とする放射線検出器。
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