JP2019052854A - 放射線検出装置および放射線検出方法 - Google Patents

放射線検出装置および放射線検出方法 Download PDF

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Abstract

【課題】放射線の種類を容易に特定する。
【解決手段】放射線検出装置10は、取得部14Aと、特定部14Fと、を備える。取得部14Aは、放射線に応じた出力波形を出力する検出器12から、出力波形を取得する。特定部14Fは、出力波形における第1積分期間の第1積分値と、出力波形における第2積分期間の第2積分値と、に基づいて、検出器12に入射した放射線の種類を特定する。
【選択図】図1

Description

本発明の実施形態は、放射線検出装置および放射線検出方法に関する。
光電変換によって出力された出力波形を用いて、放射線を検出する検出器が知られている。また、複数種類の放射線を検出する構成が知られている。
例えば、互いに異なる種類の放射線を検出する複数の検出器を用いて、複数種類の放射線を検出する構成が知られている。また、検出器から出力されたパルスをデジタルサンプリングすることで、入射した放射線の種類を推定する構成が知られている。しかし、従来技術では、検出対象の放射線の種類に応じた数の検出器の用意や、デジタルサンプリング処理が必要であり、放射線の種類を特定することは複雑であった。
国際公開第2015/128905号
T.W. Crane, M.P. Baker, "Neutron Detectors," Passive Nondestructive Assay Manual PANDA, LA−UR−90−732, pg. 379−406, March 1991
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、放射線の種類を容易に特定することができる、放射線検出装置および放射線検出方法を提供することを目的とする。
実施形態の放射線検出装置は、取得部と、特定部と、を備える。取得部は、放射線に応じた出力波形を出力する検出器から、前記出力波形を取得する。特定部は、前記出力波形における第1積分期間の第1積分値と、前記出力波形における第2積分期間の第2積分値と、に基づいて、前記検出器に入射した放射線の種類を特定する。
検出システムを示す模式図。 検出器を示す模式図。 出力波形を示す模式図。 検出結果情報および線種管理情報のデータ構成を示す模式図。 第1積分値と第2積分値との関係を示す模式図。 情報処理の手順を示すフローチャート。 ハードウェア構成例を示すブロック図。
以下に添付図面を参照して、本実施の形態の詳細を説明する。
図1は、本実施の形態の検出システム1の一例を示す模式図である。
検出システム1は、放射線検出装置10と、検出器12と、を備える。放射線検出装置10と検出器12とは、データや信号を授受可能に接続されている。
検出器12は、放射線に応じた出力波形を出力する。検出器12は、放射線を光電変換し、電荷に変換する。そして、検出器12は、変換した電荷に応じた出力波形を出力する。検出器12が検出する対象の放射線は、例えば、β線、重粒子線、中性子線、および、γ線の少なくとも一種である。
図2は、検出器12の一例を示す模式図である。検出器12は、検出素子20と、シンチレータ22と、の積層体である。なお、検出器12は、シンチレータ22を備えない構成であってもよい。また、検出器12は、テルル化カドミウム(CdTe)、テルル化亜鉛カドミウム(CdZnTe)、またはシリコン(Si)を用いた半導体検出器であってもよい。
シンチレータ22は、放射線Rをシンチレーション光に変換する。言い換えると、シンチレータ22は、放射線Rを、放射線Rより長い波長のシンチレーション光(光子)に変換する。
シンチレータ22は、シンチレータ材料で構成されている。シンチレータ材料は、放射線Rの入射によりシンチレーション光を発する。シンチレータ材料は、例えば、LuSiO:(Ce)、LaBr:(Ce)、YAP(イットリウム・アルミニウム・ペロブスカイト):Ce、Lu(Y)AP:Ce、NaI(ヨウ化ナトリウム)、硫化亜鉛、アントラセン、スチルベン、ナフタレン、ジフェニルオキサゾール(PPO)、プラスチック、GSO−ケイ酸ガドリニウム(Ce添加GdSiO)、CsI、CsI(Tl)、CsI(Na)、BiGe12、Ce添加LuSiO、NaI(Tl)、CeF、PbWO、BaF、PbF、LiI(Eu)、LYSO−Lu2(1−x)2xSiO:Ce、LGSO(Lu,Gd)SiO、Al、Ce:LiCaF、Eu:LiCaF、LiF/CaF:Eu等である。
検出素子20は、入射した光を電荷に変換する。検出素子20は、公知の構成であればよい。例えば、検出素子20は、光電変換層と、電極層と、の積層体である。
光電変換層は、入射した光を電荷に変換する材料で構成されている。本実施の形態では、光電変換層は、シンチレーション光を電荷に変換する材料で構成されている。例えば、光電変換層は、アモルファスシリコン等の無機材料や、有機材料などを主成分とする。
なお、光電変換層は、出力信号の高いS/N比、原料の低コスト化、形成の容易性、吸光係数の高さ、軽量化、および、耐衝撃性、などの観点から、高い光感度を有する光検出器、例えば、光電子増倍管やアバランシェフォトダイオード、あるいはガイガーモードで駆動するアバランシェダイオードであることが好ましい。
図1に戻り、説明を続ける。次に、放射線検出装置10について説明する。
放射線検出装置10は、処理部14と、記憶部16と、出力部18と、を備える。処理部14と、記憶部16および出力部18と、はデータや信号を授受可能に接続されている。
記憶部16は、各種の情報を記憶する。本実施の形態では、記憶部16は、検出結果情報16Aおよび線種管理情報16Bを記憶する。検出結果情報16Aおよび線種管理情報16Bについては、詳細を後述する。
出力部18は、各種の情報を出力する。出力部18は、例えば、公知の表示装置や、スピーカや、ライトや、外部装置と通信する通信装置などである。
処理部14は、放射線検出装置10を制御する。処理部14は、取得部14Aと、第1積分部14Bと、第2積分部14Cと、判定部14Dと、記憶制御部14Eと、特定部14Fと、出力制御部14Gと、を備える。
取得部14A、第1積分部14B、第2積分部14C、判定部14D、記憶制御部14E、特定部14F、および出力制御部14Gは、例えば、1または複数のプロセッサにより実現される。例えば上記各部は、CPU(Central Processing Unit)などのプロセッサにプログラムを実行させること、すなわちソフトウェアにより実現してもよい。上記各部は、専用のIC(Integrated Circuit)や回路などのプロセッサ、すなわちハードウェアにより実現してもよい。上記各部は、ソフトウェアおよびハードウェアを併用して実現してもよい。複数のプロセッサを用いる場合、各プロセッサは、各部のうち1つを実現してもよいし、各部のうち2以上を実現してもよい。
取得部14Aは、検出器12から出力波形を取得する。
出力波形は、検出器12で検出された放射線を示す信号の波形である。言い換えると、出力波形は、光電変換層20で検出された、放射線Rの検出エネルギーを示す波形である。検出エネルギーは、例えば、検出光子数に応じて発生する電気信号で表される。
なお、本実施の形態では、出力波形は、検出放射線の個数を“0”とみなす基準信号から、検出器出力信号が増加した後に、再度、該基準信号以下となるまでを、1個のパルスとした波形である。基準信号には、ノイズとして処理するか否かの閾値を予め設定すればよい。
検出器12は、放射線を検出するごとに、検出した放射線種と放射線のエネルギーに応じた波形を順次出力する。すなわち、検出器12は、複数の出力波形を順次出力する。よって、取得部14Aは、時間の経過に応じて、複数の出力波形を、順次取得する。
なお、取得部14Aは、外部装置や記憶部16から、出力波形を取得してもよい。この場合、検出器12から出力された1または複数の出力波形を、外部装置または記憶部16に予め記憶する。そして、取得部14Aは、外部装置または記憶部16から、出力波形を読取ることで、出力波形を取得すればよい。
取得部14Aは、出力波形を、第1積分部14B、第2積分部14C、および判定部14Dへ出力する。
第1積分部14Bは、出力波形における第1積分期間の第1積分値を算出する。第2積分部14Cは、出力波形における第2積分期間の第2積分値を算出する。第1積分部14Bおよび第2積分部14Cは、1つの出力波形に対して、第1積分値および第2積分値を算出する。このため、取得部14Aが複数の出力波形を取得した場合、第1積分部14Bおよび第2積分部14Cは、複数の出力波形の各々ごとに、第1積分値および第2積分値を算出することとなる。
第1積分部14Bおよび第2積分部14Cの処理を、図3を用いて説明する。図3は、出力波形Wの一例を示す模式図である。
第1積分値Iは、出力波形Wにおける、第1積分期間T1の積分値である。第2積分値Iは、この出力波形Wにおける、第2積分期間T2の積分値である。
第1積分期間T1と第2積分期間T2とは、期間長が異なる。但し、第1積分期間T1と第2積分期間T2とは、期間の開始タイミングが同じである。
期間の開始タイミングは、出力波形Wの期間であれば、限定されない。例えば、期間の開始タイミングは、出力波形Wにおける、出力波形WのピークPより前のタイミング、ピークPと一致するタイミング、および、ピークPより後のタイミング、の何れでもよい。
図3には、第1積分期間T1および第2積分期間T2の開始タイミングが、出力波形Wの出現したタイミングSである場合を、一例として示した。出現したタイミングSは、ノイズとみなす基準信号未満の状態から、該基準信号を超えたタイミングを示す。基準信号の定義は、上記と同様である。
なお、ピークPとは、出力波形Wにおける検出信号(出力信号)が最大のポイントを示す。なお、出力波形Wは、実際には、図3に示すように、なだらかな波形ではない場合がある。この場合、処理部14は、出力波形Wを線形近似することで、1つのピークを含み、且つ、なだらかな曲線によって表される近似線Lを生成する。そして、処理部14は、該近似線Lにおける、検出信号が最大のポイントを、ピークPとして定めればよい。
また、処理部14は、例えば、出力波形Wにおける、ノイズとして処理する部分を予め設定する。そして、処理部14は、ノイズとして処理する部分を除くことで生成した近似線Lから、ピークPを求めてもよい。ノイズとして処理する部分は、例えば、基準信号未満の状態から、該基準信号を超えたタイミングから、所定の期間の波形である。
第1積分期間T1および第2積分期間T2は、出力波形WのピークPに対応するタイミングを含むことが好ましい。このため、第1積分期間T1と第2積分期間T2の開始タイミングは、出力波形Wにおける、ピークPより前のタイミングであることが好ましい。
第1積分期間T1および第2積分期間T2の双方が、出力波形WのピークPに対応するタイミングを含むと、処理部14は、より精度良く放射線の種類を特定することができる。
なお、第1積分期間T1と第2積分期間T2の期間長の比は限定されない。第1積分期間T1と第2積分期間T2の期間長の比は、特定対象の放射線Rの種類や、検出器12の構成に応じて、調整すればよい。
第1積分部14Bは、出力波形Wにおける、第1積分期間T1の第1積分値Iを算出する。第2積分部14Cは、出力波形Wにおける、第2積分期間T2の第2積分値Iを算出する。このため、第1積分部14Bおよび第2積分部14Cは、同じ出力波形Wについて、期間の開始タイミングが同じで且つ異なる期間長に対する積分値を算出する。
図1に戻り、説明を続ける。判定部14Dは、出力波形Wにおける、第1積分期間T1および第2積分期間T2の期間の開始タイミングを判定する。期間の開始タイミングは、予め定めればよい。例えば、判定部14Dは、出力波形Wにおける、上記基準信号未満の状態から、該基準信号を超えたタイミングを、期間の開始タイミングとして判定する。そして、判定部14Dは、判定した期間の開始タイミングを、第1積分部14Bおよび第2積分部14Cへ出力する。
第1積分部14Bは、取得部14Aから取得した出力波形Wについて、判定部14Dから受付けた期間の開始タイミングから第1積分期間T1の第1積分値Iを算出する。そして、算出した第1積分値Iを、記憶制御部14Eへ出力する。
第2積分部14Cは、取得部14Aから取得した出力波形Wについて、判定部14Dから受付けた期間の開始タイミングから第2積分期間T2の第2積分値Iを算出する。そして、算出した第2積分値Iを、記憶制御部14Eへ出力する。
なお、第1積分部14Bおよび第2積分部14Cを、一体的に構成してもよい。この場合、1つの積分部が、1つの出力波形Wに対して、第1積分期間T1の第1積分値Iと第2積分期間T2の第2積分値Iとを算出すればよい。
記憶制御部14Eは、出力波形Wについて算出された第1積分値Iと第2積分値Iを、対応付けて記憶部16へ記憶する。本実施の形態では、記憶制御部14Eは、これらの積分値(第1積分値I、第2積分値I)を、検出結果情報16Aへ登録する。
図4は、検出結果情報16A、線種管理情報16B、および線種管理情報16Cのデータ構成の一例を示す模式図である。線種管理情報16Bおよび線種管理情報16Cについては後述する。
図4(A)は、検出結果情報16Aのデータ構成の一例を示す模式図である。検出結果情報16Aは、出力波形IDと、第1積分値Iと、第2積分値Iと、を対応づけたものである。出力波形IDは、出力波形Wの識別情報である。
記憶制御部14Eは、第1積分部14Bおよび第2積分部14Cから、出力波形Wに対する第1積分値Iおよび第2積分値Iが算出されるごとに、これらの第1積分値Iおよび第2積分値Iを、該出力波形Wの出力波形IDに対応づけて、検出結果情報16Aへ登録する。
図1に戻り説明を続ける。特定部14Fは、検出器12に入射した放射線Rの種類を特定する。
ここで、本発明者は、検出器12から出力される出力波形Wが、放射線Rの種類により、異なる事を見出した。すなわち、検出器12に入射する放射線Rの種類に応じて、検出器12内における光子の発生過程が異なる。具体的には、シンチレータ22内で生じるシンチレーション光の発生時刻の分布は、γ線に起因する場合と荷電粒子に起因する場合とで異なる。このため、荷電粒子のシンチレーション光の分布は、γ線に起因する光子の分布より、遅延時刻における分布が大きくなる。
このため、本発明者らは、放射線Rの種類によって、検出器12で発生する光子の時間軸に対する振る舞いが、放射線Rの種類に応じて変化することを見出した。また、本発明者は、放射線Rの種類により、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係が、異なる事を見出した。
図5は、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係の一例を示す模式図である。例えば、放射線Rの種類が中性子線である場合、出力波形Wから計算された第1積分値Iと第2積分値Iを示すプロットQは、領域E1の範囲内に分布する。また、放射線Rの種類がγ線である場合には、出力波形Wから計算された第1積分値Iと第2積分値Iを示すプロットQは、範囲E2内に分布する。
このように、本発明者らは、放射線Rの種類により、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係が、異なるものとなる事を見出した。
そこで、本実施の形態では、特定部14Fは、出力波形Wにおける第1積分期間T1の第1積分値Iと、該出力波形Wにおける第2積分期間T2の第2積分値Iと、に基づいて、検出器12に入射した放射線Rの種類を特定する。
具体的には、特定部14Fは、第1積分値Iと第2積分値Iとの比を用いて、放射線Rの種類を特定する。ある出力波形Wに対する、第1積分値Iと第2積分値Iによって示されるプロットQが、領域E1の範囲内に位置したと仮定する。この場合、特定部14Fは、放射線Rの種類が、中性子線であると特定する。また、ある出力波形Wに対する、第1積分値Iと第2積分値Iによって示されるプロットQが、領域E2の範囲内に位置したと仮定する。この場合、特定部14Fは、放射線Rの種類が、γ線であると特定する。
例えば、処理部14は、予め線種管理情報16Bを記憶部16に記憶する。図4(B)は、線種管理情報16Bのデータ構成の一例を示す図である。線種管理情報16Bは、第1積分値Iと第2積分値Iとの比の範囲と、放射線の種類と、を対応づけたデータベースである。なお、線種管理情報16Bのデータ形式は、データベースに限定されない。たとえば、線種管理情報16Bのデータ形式は、テーブルであってもよい。
処理部14は、検出器12を用いて、放射線Rの種類ごとに、第1積分値Iと第2積分値Iとの比のとりうる範囲を予め測定する。そして、処理部14は、測定結果に基づいて、第1積分値Iと第2積分値Iとの比の範囲と、放射線Rの種類と、を対応づけて線種管理情報16Bへ予め登録する。
この場合、特定部14Fは、出力波形IDによって識別される出力波形Wごとに、該出力波形Wに対応する第1積分値Iと第2積分値Iとの比に対応する放射線Rの種類を、線種管理情報16Bから読取る。この処理により、特定部14Fは、該出力波形Wに対応する、検出器12に入射した放射線Rの種類を特定する。
なお、特定部14Fは、出力波形Wから算出した第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すマップの特徴量を用いて、放射線Rの種類を特定してもよい。
図5を用いて説明する。図5に示すように、複数の出力波形Wの各々から計算された、第1積分値Iと第2積分値Iを示す複数のプロットQの分布範囲は、放射線Rの種類によって異なるものとなる。このため、放射線Rの種類によって、複数のプロットQによって表される関係を示すマップMは、異なるものとなる。
マップMとは、第1積分値Iと第2積分値Iを示す複数のプロットQの分散状態を表すものである。マップMは、例えば、放射線Rの種類ごとに、複数のプロットQの分布を線形近似することで表される。
図5に示す例では、中性子線のマップM1は、一次直線で回帰される。同様に、γ線のマップM2もまた、一次直線で回帰される。そして、これらのマップM(マップM1、マップM2)は、傾きが互いに異なる。
この場合、マップMの特徴量は、一次直線の傾きである。なお、特徴量は、一次直線の傾きに限定されない。例えば、放射線Rの種類に対応するマップMが、特有の曲線で表される場合がある。この場合、該曲線の曲率や曲率が最大となる位置を、特徴量として用いればよい。また、特定対象の放射線の種類が2種類の場合には、各種類に対応する、隣接するマップMの境界Aによって区切られる範囲を、特徴量として用いてもよい。この場合、例えば、図5中のマップM1とマップM2との境界Aより第2積分値Iの大きい範囲を、マップM1の特徴量として用いればよい。同様に、境界Aより第2積分値Iの小さい範囲を、マップM2の特徴量として用いればよい。
例えば、処理部14は、線種管理情報16Cを予め記憶部16に記憶する。図4(C)は、線種管理情報16Cのデータ構成の一例を示す図である。線種管理情報16Cは、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すマップMの特徴量と、放射線Rの種類と、を対応づけたデータベースである。なお、線種管理情報16Cのデータ形式は、データベースに限定されない。たとえば、線種管理情報16Cのデータ形式は、テーブルであってもよい。
処理部14は、検出器12を用いて、放射線Rの種類ごとに、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すマップMの特徴量を予め算出する。そして、処理部14は、算出結果に基づいて、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すマップMの特徴量と、放射線Rの種類と、を対応づけて線種管理情報16Cへ予め登録すればよい。
この場合、特定部14Fは、複数の出力波形Wの各々について、対応する第1積分値Iと第2積分値Iによって示されるプロットQを、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すグラフにプロットする。そして、特定部14Fは、検出器12から出力された、複数の出力波形Wに対応する、第1積分値Iと第2積分値Iの関係を示す複数のプロットQによって示されるマップMを作成する。例えば、特定部14Fは、複数のプロットQを線形補間することでマップMを作成する。
そして、特定部14Fは、マップMの特徴量を算出する。例えば、特定部14Fは、マップMの示す一次直線の傾きを、特徴量として算出する。
特定部14Fは、算出した特徴量に対応する放射線Rの種類を、線種管理情報16Cから読取ることで、放射線Rの種類を特定する。すなわち、特定部14Fは、複数の出力波形Wから算出した、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すマップMの特徴量を用いて、放射線Rの種類を特定する。
なお、特定部14Fが特定する放射線Rの種類は限定されない。例えば、特定部14Fが特定する放射線Rの種類は、β線、重粒子線、中性子線、および、γ線の少なくとも一種である。
図1に戻り説明を続ける。出力制御部14Gは、特定部14Fで特定された放射線Rの種類を、出力部18に出力する。例えば、出力制御部14Gは、特定した放射線Rの種類を、出力部18としての表示装置に表示する。また、例えば、出力制御部14Gは、特定した放射線Rの種類を、出力部18としての通信部を介して外部装置へ送信する。
次に、本実施の形態の放射線検出装置10が実行する情報処理の手順の一例を説明する。図6は、本実施の形態の放射線検出装置10が実行する情報処理の手順の一例を示すフローチャートである。なお、図6には、一例として、特定部14Fが、マップMの特徴量を用いて、放射線Rの種類を特定する場合の手順を示した。
まず、取得部14Aが、検出器12から出力された出力信号を取得する(ステップS100)。次に、取得部14Aは、取得した出力信号がノイズであるか否かを判定する(ステップS102)。例えば、取得部14Aは、出力信号が、ノイズを示す検出エネルギーの閾値以下である場合、ノイズであると判定する。
ノイズであると判定した場合(ステップS102:Yes)、ステップS100へ戻る。ノイズではないと判定した場合(ステップS102:No)、ステップS104へ進む。
ステップS104では、取得部14Aが、出力波形Wを取得する(ステップS104)。すなわち、取得部14Aは、検出器12から出力された出力信号を、出力波形Wとして取得する。
次に、判定部14Dが、ステップS104で取得した出力波形Wにおける、積分に用いる期間(第1積分期間T1、第2積分期間T2)の開始タイミングを判定する(ステップS106)。
次に、第1積分部14Bおよび第2積分部14Cが、ステップS104で取得した出力波形Wについて、ステップS106で判定された開始タイミングからの第1積分期間T1および第2積分期間T2の各々の積分値(第1積分値I、第2積分値I)を算出する(ステップS108)。そして、記憶制御部14Eは、ステップS108で算出された第1積分値Iおよび第2積分値Iを、対応付けて記憶部16へ記憶する。
次に、処理部14が、検出を終了するか否かを判断する(ステップS110)。例えば、処理部14は、検出終了を示す信号を操作部から受付けたか否かを判別することで、ステップS110の判断を行う。操作部は、ユーザによって操作される。
ステップS110で否定判断すると(ステップS110:No)、上記ステップS100へ戻る。一方、ステップS110で肯定判断すると(ステップS110:Yes)、ステップS112へ進む。
ステップS112では、特定部14Fが、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すマップMを作成する(ステップS112)。例えば、特定部14Fは、ステップS100〜ステップS110の処理によって更新された検出結果情報16Aを参照する。そして、取得部14Aは、検出結果情報16Aに示される、複数の出力波形Wの各々に対応する第1積分値Iと第2積分値Iによって示されるプロットQを、第1積分値Iと第2積分値Iとの関係を示すグラフにプロットする。そして、特定部14Fは、検出器12から出力された、複数の出力波形Wに対応する、第1積分値Iと第2積分値Iの関係を示す複数のプロットQによって示されるマップMを作成する。
次に、特定部14Fは、ステップS112で作成したマップMの特徴量を算出する(ステップS114)。例えば、マップMが一次直線である場合、特定部14Fは、この一次直線の傾きを特徴量として算出する。
次に、特定部14Fは、放射線Rの種類を特定する(ステップS116)。例えば、特定部14Fは、ステップS114で算出した特徴量に対応する、放射線Rの種類を、線種管理情報16Cから読取る。この読取処理により、特定部14Fは、放射線Rの種類を特定する。
次に、出力制御部14Gが、ステップS116で特定した放射線Rの種類を出力する(ステップS118)。そして、本ルーチンを終了する。
以上説明したように、本実施の形態の放射線検出装置10は、取得部14Aと、特定部14Fと、を備える。取得部14Aは、放射線Rに応じた出力波形Wを出力する検出器12から、出力波形Wを取得する。特定部14Fは、出力波形Wにおける第1積分期間T1の第1積分値Iと、出力波形Wにおける第2積分期間T2の第2積分値Iと、に基づいて、検出器12に入射した放射線Rの種類を特定する。
このように、本実施の形態の放射線検出装置10は、出力波形Wにおける第1積分期間T1の第1積分値Iと、出力波形Wにおける第2積分期間T2の第2積分値Iと、に基づいて、検出器12に入射した放射線Rの種類を特定する。このため、本実施の形態の放射線検出装置10は、検出対象の放射線Rの種類に応じた数の検出器12の用意を行う必要がない。また、本実施の形態の放射線検出装置10は、出力信号波形のデジタルサンプリング処理を行うことなく、放射線Rの種類を特定することができる。
従って、本実施の形態の放射線検出装置10は、放射線Rの種類を容易に特定することができる。
また、本実施の形態の放射線検出装置10は、デジタルサンプリング処理を行うことなく、放射線Rの種類を特定可能である。このため、放射線検出装置10は、上記効果に加えて、処理負荷の軽減や省電力化を図ることができる。
また、本実施の形態の放射線検出装置10は、測定対象の放射線Rの種類に応じた数の検出器12を用意する必要がない。このため、放射線検出装置10は、上記効果に加えて、検出システム1のコスト削減、検出システム1の小型化、検出システム1の可搬性の向上、省電力化、などを図ることができる。
また、本実施の形態の放射線検出装置10は、γ線、α線、β線、中性子線、重粒子線など、複数種類の放射線Rが混在する環境であっても、放射線Rの種類を容易に特定することができる。また、放射線Rの種類によって、出力波形Wが似通っている場合であっても、本実施の形態の放射線検出装置10は、放射線Rの種類を容易に特定することができる。
また、本実施の形態の放射線検出装置10は、出力波形Wにおける第1積分期間T1の第1積分値Iと、出力波形Wにおける第2積分期間T2の第2積分値Iと、に基づいて、検出器12に入射した放射線Rの種類を特定する。このため、出力波形Wを出力する検出器12が限定されない。すなわち、放射線検出装置10は、第1積分期間T1および第2積分期間T2を検出器12に応じて調整することで、様々な検出器12で検出された出力波形Wから、放射線Rの種類を特定することができる。
−ハードウェア構成−
次に、上記実施の形態の放射線検出装置10のハードウェア構成について説明する。図7は、上記実施の形態の放射線検出装置10のハードウェア構成例を示すブロック図である。
上記実施の形態の放射線検出装置10は、CPU80、ROM(Read Only Memory)82、RAM(Random Access Memory)84、HDD(Hard Disk Drive)86、およびI/F部88が、バス90により相互に接続されており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成となっている。
CPU80は、放射線検出装置10の全体の処理を制御する演算装置である。RAM84は、CPU80による各種処理に必要なデータを記憶する。ROM82は、CPU80による各種処理を実現するプログラム等を記憶する。HDD86は、上述した記憶部16に格納されるデータを記憶する。I/F部88は、外部装置や外部端末に通信回線等を介して接続し、接続した外部装置や外部端末との間でデータを送受信するためのインタフェースである。
上記実施の形態の放射線検出装置10で実行される上記処理を実行するためのプログラムは、ROM82などに予め組み込んで提供される。
なお、上記実施の形態の放射線検出装置10で実行されるプログラムは、これらの装置にインストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD−ROM、フレキシブルディスク(FD)、CD−R、DVD(Digital Versatile Disk)等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録されて提供するように構成してもよい。
また、上記実施の形態の放射線検出装置10で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成してもよい。また、上記実施の形態の放射線検出装置10における上記各処理を実行するためのプログラムを、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成してもよい。
上記実施の形態の放射線検出装置10で実行される上記各種処理を実行するためのプログラムは、上述した各部が主記憶装置上に生成されるようになっている。
なお、上記HDD86に格納されている各種情報、すなわち記憶部16に格納されている各種情報は、外部装置(例えばサーバ)に格納してもよい。この場合には、該外部装置とCPU80と、を、I/F部88を介して接続した構成とすればよい。
なお、放射線検出装置10は、放射線Rを検出する各種の装置に適用可能である。例えば、放射線検出装置10は、不特定の種類の放射線Rが混在する環境における、放射線Rの特定に適用可能である。不特定の種類の放射線Rが混在する環境は、例えば、原子力発電所内などである。
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらの実施の形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施の形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施の形態は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10 放射線検出装置
12 検出器
14A 取得部
14B 第1積分部
14C 第2積分部
14F 特定部

Claims (9)

  1. 放射線に応じた出力波形を出力する検出器から、前記出力波形を取得する取得部と、
    前記出力波形における第1積分期間の第1積分値と、前記出力波形における第2積分期間の第2積分値と、に基づいて、前記検出器に入射した放射線の種類を特定する特定部と、
    を備える、放射線検出装置。
  2. 前記第1積分期間と前記第2積分期間とは、前記出力波形における、期間の開始タイミングが同じであり且つ期間長が異なる、請求項1に記載の放射線検出装置。
  3. 前記出力波形における、前記第1積分期間および前記第2積分期間の期間の開始タイミングを判定する判定部を備える、
    請求項2に記載の放射線検出装置。
  4. 前記第1積分期間および前記第2積分期間は、前記出力波形のピークに対応するタイミングを含む、
    請求項1〜請求項3の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  5. 前記特定部は、
    前記第1積分値と前記第2積分値との比を用いて、放射線の種類を特定する、
    請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  6. 前記特定部は、
    複数の前記出力波形から算出した前記第1積分値と前記第2積分値との関係を示すマップの特徴量を用いて、放射線の種類を特定する、
    請求項1〜請求項5の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  7. 前記特徴量と放射線の種類とを対応づけた線種管理情報を記憶した記憶部を備え、
    前記特定部は、前記線種管理情報における、算出した前記特徴量に対応する放射線の種類を読取ることによって、該放射線の種類を特定する、
    請求項6に記載の放射線検出装置。
  8. 前記出力波形における前記第1積分期間の前記第1積分値を算出する第1積分部と、
    前記出力波形における前記第2積分期間の前記第2積分値を算出する第2積分部と、
    を備える、請求項1〜請求項7の何れか1項に記載の放射線検出装置。
  9. 放射線に応じた出力波形を出力する検出器から、前記出力波形を取得するステップと、
    前記出力波形における第1積分期間の第1積分値と、前記出力波形における第2積分期間の第2積分値と、に基づいて、前記検出器に入射した放射線の種類を特定するステップと、
    を含む放射線検出方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57125372A (en) * 1981-01-28 1982-08-04 Japan Atom Energy Res Inst Measuring device of neutron and gamma rays
US5514870A (en) * 1994-03-11 1996-05-07 James R. Langenbrunner Fast CsI-phoswich detector
JP4064009B2 (ja) * 1999-07-30 2008-03-19 株式会社東芝 線種弁別型放射線検出装置
JP3958069B2 (ja) * 2001-03-28 2007-08-15 株式会社東芝 放射線測定装置
US20020175291A1 (en) * 2001-04-06 2002-11-28 Reeder Paul L. Radiation detection and discrimination device, radiation survey instrument, and method
JP4160275B2 (ja) * 2001-05-28 2008-10-01 浜松ホトニクス株式会社 エネルギー測定方法及び測定装置
AU2003902319A0 (en) * 2003-05-14 2003-05-29 Garrett Thermal Systems Limited Laser video detector
US6953937B2 (en) * 2003-06-26 2005-10-11 Battelle Energy Alliance, Llc Method and apparatus for the detection of neutrons and gamma rays
FR2872921B1 (fr) * 2004-07-09 2006-09-15 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de mesure de l'energie et de la position d'une particule incidente dans un detecteur
US7619226B2 (en) * 2007-03-30 2009-11-17 Tamper Proof Container Licensing Corp. Integrated optical neutron detector
WO2011039819A1 (ja) * 2009-10-01 2011-04-07 株式会社島津製作所 パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置
US8884233B2 (en) * 2009-11-05 2014-11-11 Lawrence Livermore National Security, Llc. Gamma ray spectroscopy employing divalent europium-doped alkaline earth halides and digital readout for accurate histogramming
CN102640015B (zh) * 2009-12-15 2014-10-22 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 用于分析由辐射检测器输出的电脉冲的辐射检测系统和方法
WO2012032689A1 (ja) * 2010-09-06 2012-03-15 株式会社島津製作所 放射線検出器
US9309456B2 (en) * 2011-04-15 2016-04-12 Lawrence Livermore National Security, Llc Plastic scintillator with effective pulse shape discrimination for neutron and gamma detection
JP5555660B2 (ja) * 2011-04-28 2014-07-23 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 放射線計測装置及びその方法
EP2884260B1 (en) * 2013-12-14 2019-09-04 IMEC vzw Plasmonic wavelength selective switch
US20160356897A1 (en) * 2014-02-28 2016-12-08 ANSeeN, INC. Waveform discrimination device, waveform discrimination method, and waveform discrimination program
JP6043031B2 (ja) * 2014-06-09 2016-12-14 株式会社トクヤマ 中性子シンチレーター及び中性子検出器
US10488264B2 (en) * 2014-09-11 2019-11-26 Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. Determining spectral emission characteristics of incident radiation
WO2017038953A1 (ja) * 2015-09-02 2017-03-09 国立大学法人北海道大学 シンチレーション光検出装置および放射線検出装置

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