JPWO2008081729A1 - レーザ走査共焦点顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
Description
共焦点絞り面には、ピンホール部材が配置される。ピンホール部材はピンホール(開口)内に集光する光線のみを透過し、それ以外の光線をカットするので、試料上の特定の深さから射出した光線のみが光検出器に入射し、それ以外の深さから射出した光線は光検出器に入射しない。このため、共焦点顕微鏡によれば、観察対象を試料上の特定の深さに位置する薄い層の像のみに限定(セクショニング)することができる。そのセクショニング分解能(観察対象となる層の薄さ)を変更するためには、ピンホール部材の開口径を変更すればよい。開口径を大きくするとセクショニング分解能が低くなり、開口径を小さくするとセクショニング分解能が高くなる。
照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光分離手段と前記ピンホール板との間に、前記光走査手段と同期して駆動される2次元的光偏向手段を有することを特徴とする共焦点顕微鏡である。
照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光源と前記光分離手段との間に、前記光走査手段と同期して駆動される2次元的光偏向手段を有することを特徴とするレーザ走査共焦点顕微鏡である。
照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光走査手段と同期して駆動される、前記ピンホール板を2次元的にシフトさせる手段を備えたことを特徴とするレーザ走査共焦点顕微鏡である。
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
記光源と前記光分離手段との間に設けられた照明レンズと、前記光源の間に、前記光走査手段と同期して回転駆動される、平行平面板を設けたことを特徴とするレーザ走査共焦点顕微鏡である。
前記データを用いて、前記光走査手段の偏向量と、前記2次元的光偏向手段、前記ピンホール板を2次元的にシフトさせる手段、前記集光レンズを2次元的にシフトさせる手段、前記平行平面板のいずれか1つの駆動量との関係を算出する演算手段と
を有することを特徴とするものである。
照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光走査手段と同期して駆動される、前記観察光の集光位置と前記ピンホールとの位置関係を補正する補正手段とを有することを特徴とする共焦点顕微鏡である。
偏向手段9の偏向量αは、
α=tan−1(K/F)・・・(1)
で算出される。偏向手段9の偏向方向は、ガルバノスキャナ5での偏向方向と同じ面内であり、倍率色収差を打ち消す方向である。
K=A×tan3(θ)・・・(2)
でよく近似して算出される。ここでKは倍率色収差、Aは対物レンズの種類と波長で決まる係数である。
ピンホール板12の基準位置(前述した所定の照明光の波長を基準にして設定した対物レンズの焦点面と共役な位置)からの移動量Dは
D=K×(F2/F)・・・(3)で算出される。
L=K×(F3/F)・・・(4)
で算出される。このズレ量になるように、2つの平行平面板17を回転させる。
Claims (14)
- 照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光分離手段と前記ピンホール板との間に、前記光走査手段と同期して駆動される2次元的光偏向手段を有することを特徴とする共焦点顕微鏡。 - 前記光分離手段と前記2次元的光偏向手段との間に、望遠鏡光学系を設けたことを特徴とする請求項1に記載のレーザ走査共焦点顕微鏡。
- 照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光源と前記光分離手段との間に、前記光走査手段と同期して駆動される2次元的光偏向手段を有することを特徴とするレーザ走査共焦点顕微鏡。 - 前記光走査手段と、前記2次元的光偏向手段が、ガルバノミラー型スキャナであることを特徴とする、請求項1から請求項3のうちいずれか1項に記載の共焦点顕微鏡。
- 前記2次元的光偏向手段は、前記光走査手段の偏向量に対応して生じる前記照明光と前記観察光との光路のズレを補正することを特徴とする請求項1から請求項4のうちいずれか一項に記載の共焦点顕微鏡。
- 照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光走査手段と同期して駆動される、前記ピンホール板を2次元的にシフトさせる手段を備えたことを特徴とするレーザ走査共焦点顕微鏡。 - 前記2次元シフト手段は、前記光走査手段の偏向量に対応して生じる前記照明光と前記観察光との光路のズレを補正することを特徴とする請求項6に記載の共焦点顕微鏡。
- 照明光系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光源と前記光分離手段との間に設けられた照明レンズと、前記光源の間に、前記光走査手段と同期して回転駆動される、平行平面板を設けたことを特徴とするレーザ走査共焦点顕微鏡。 - 前記平行平面板は、2枚設けられ、互いに垂直の方向の回転軸を有することを特徴とする請求項8に記載のレーザ走査共焦点顕微鏡。
- 前記平行平面板は、前記光走査手段の偏向量に対応して生じる前記照明光
と前記観察光との光路のズレを補正することを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の共焦点顕微鏡。 - 前記光走査手段の偏向量と、前記2次元的光偏向手段、前記ピンホール板を2次元的にシフトさせる手段、前記集光レンズを2次元的にシフトさせる手段、前記平行平面板のいずれか1つの駆動量との関係を、使用する対物レンズ毎に記憶する記憶手段を有することを特徴とする請求項1から請求項10のうちいずれか1項に記載のレーザ走査共焦点顕微鏡。
- 使用する対物レンズ毎に、該対物レンズの倍率色収差に関するデータを記する記憶手段と、
前記データを用いて、前記光走査手段の偏向量と、前記2次元的光偏向手段、前記ピンホール板を2次元的にシフトさせる手段、前記集光レンズを2次元的にシフトさせる手段、前記平行平面板のいずれか1つの駆動量との関係を算出する演算手段と
を有することを特徴とする請求項1から請求項10のうちいずれか1項に記載のレーザ走査共焦点顕微鏡。 - 前記光走査手段の走査情報と前記観察光の強度情報とから、前記駆動量を補正する補正手段を有することを特徴とする請求項12項記載のレーザ走査共焦点顕微鏡。
- 照明光学系に対して被検物と共役な位置に置かれ、照明光を射出する光源と、
前記照明光と前記検検物からの観察光とを分離する光分離手段と、
前記照明光を前記被検物上で走査する光走査手段と、
前記光走査手段と前記試料との間に配置され、前記被検物に集光点を結ぶ対物レンズと、
前記対物レンズの集光点と共役な位置に前記観察光を集光させる集光レンズと、
前記集光レンズの集光面に設けられたピンホール板と、
前記ピンホール板のピンホールを通過した観察光を受光する受光手段とを備えた共焦点顕微鏡であって、
前記光走査手段と同期して駆動される、前記観察光の集光位置と前記ピンホールとの位置関係を補正する補正手段とを有することを特徴とする共焦点顕微鏡。
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Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5287252B2 (ja) * | 2006-12-22 | 2013-09-11 | 株式会社ニコン | レーザ走査共焦点顕微鏡 |
US9304308B2 (en) | 2009-12-09 | 2016-04-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Laser scanning module including an optical isolator |
KR101151790B1 (ko) | 2010-03-08 | 2012-05-31 | 경북대학교 산학협력단 | 혈구를 이용한 공초점 현미경 미세 입자영상유속계 |
US9946058B2 (en) * | 2010-06-11 | 2018-04-17 | Nikon Corporation | Microscope apparatus and observation method |
CN102768498A (zh) * | 2011-05-05 | 2012-11-07 | 中国科学院生物物理研究所 | 一种快速同步扫描控制装置 |
DE102011055294B4 (de) * | 2011-11-11 | 2013-11-07 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopische Einrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten in einer Probe |
JP6037623B2 (ja) * | 2012-02-24 | 2016-12-07 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型共焦点顕微鏡、及び、レーザ走査型共焦点顕微鏡の光学系のアライメント調整方法 |
JP5991850B2 (ja) * | 2012-05-11 | 2016-09-14 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置 |
US9594238B2 (en) * | 2012-05-17 | 2017-03-14 | Citizen Watch Co., Ltd. | Aberration correction device and laser microscope |
EP2887132B1 (en) * | 2012-08-16 | 2019-10-02 | Citizen Watch Co., Ltd. | Aberration-correcting optical unit and laser microscope |
JP6286428B2 (ja) * | 2012-08-24 | 2018-02-28 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッドAdvanced Micro Devices Incorporated | 光アイソレータを含むレーザ走査モジュール |
CN104181089A (zh) * | 2013-05-22 | 2014-12-03 | 中国石油化工股份有限公司 | 用于扫描岩石面孔率的设备及方法 |
US9927371B2 (en) * | 2014-04-22 | 2018-03-27 | Kla-Tencor Corporation | Confocal line inspection optical system |
WO2015163261A1 (ja) * | 2014-04-24 | 2015-10-29 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡および顕微鏡観察方法 |
EP3035104B1 (en) | 2014-12-15 | 2019-02-20 | Olympus Corporation | Microscope system and setting value calculation method |
WO2016123479A1 (en) | 2015-01-31 | 2016-08-04 | Board Of Regents, The University Of Texas System | High-speed laser scanning microscopy platform for high-throughput automated 3d imaging and functional volumetric imaging |
JP2016158670A (ja) * | 2015-02-26 | 2016-09-05 | 株式会社ニデック | 眼科用レーザ手術装置および収差補償方法 |
JP6552041B2 (ja) * | 2015-07-16 | 2019-07-31 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、屈折率算出方法、及び、プログラム |
JP6555811B2 (ja) | 2015-07-16 | 2019-08-07 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、特定方法、及び、プログラム |
EP3538941A4 (en) | 2016-11-10 | 2020-06-17 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | METHODS FOR FAST IMAGING OF HIGH RESOLUTION LARGE SAMPLES |
CA3055249A1 (en) * | 2017-03-03 | 2018-09-07 | Apton Biosystems, Inc. | High speed scanning system with acceleration tracking |
Family Cites Families (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US258122A (en) * | 1882-05-16 | nettleton | ||
US4736110A (en) * | 1984-09-28 | 1988-04-05 | Nippon Jidoseigyo, Ltd. | Image pick-up apparatus |
JP2679195B2 (ja) * | 1988-12-21 | 1997-11-19 | 株式会社ニコン | 投影露光装置 |
EP0523159B1 (en) * | 1990-04-06 | 1995-08-23 | HARRIS, Martin Russell | Confocal microscope |
JPH04175713A (ja) * | 1990-11-09 | 1992-06-23 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JPH07128596A (ja) * | 1993-09-08 | 1995-05-19 | Nikon Corp | コンフォーカル顕微鏡 |
US5612818A (en) | 1993-09-08 | 1997-03-18 | Nikon Corporation | Confocal microscope |
JP3384072B2 (ja) * | 1993-12-27 | 2003-03-10 | 株式会社ニコン | コンフォーカル顕微鏡 |
JP3365884B2 (ja) | 1995-04-04 | 2003-01-14 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
GB9603788D0 (en) * | 1996-02-22 | 1996-04-24 | Isis Innovation | Confocal microscope |
JP3917731B2 (ja) * | 1996-11-21 | 2007-05-23 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
US6167173A (en) * | 1997-01-27 | 2000-12-26 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser scanning microscope |
US6108127A (en) * | 1997-05-15 | 2000-08-22 | 3M Innovative Properties Company | High resolution confocal microscope |
JP3640059B2 (ja) * | 1999-02-12 | 2005-04-20 | パイオニア株式会社 | 収差補正装置及びこれを用いた光学装置 |
US6204955B1 (en) * | 1999-07-09 | 2001-03-20 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Apparatus for dynamic control of light direction in a broad field of view |
DE19951482C2 (de) * | 1999-10-26 | 2003-01-09 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Fluoreszenzmikroskop |
JP4576664B2 (ja) * | 2000-03-08 | 2010-11-10 | 株式会社ニコン | 光路ズレ検知装置、および共焦点顕微鏡 |
US6603607B2 (en) * | 2000-04-07 | 2003-08-05 | Nikon Corporation | Minute particle optical manipulation method and apparatus |
US7209287B2 (en) * | 2000-09-18 | 2007-04-24 | Vincent Lauer | Confocal optical scanning device |
JP4812179B2 (ja) * | 2001-03-13 | 2011-11-09 | オリンパス株式会社 | レーザ顕微鏡 |
JP2004110017A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-04-08 | Olympus Corp | 走査型レーザ顕微鏡 |
US7223986B2 (en) * | 2002-08-29 | 2007-05-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | Laser scanning microscope |
US6829132B2 (en) * | 2003-04-30 | 2004-12-07 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Charge control of micro-electromechanical device |
DE10333445B4 (de) | 2003-07-23 | 2021-10-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Konfokales Rastermikroskop |
JP2005172805A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-30 | Olympus Corp | 試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 |
JP4573524B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2010-11-04 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザー顕微鏡 |
DE102004011770B4 (de) * | 2004-03-09 | 2005-12-15 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Mikroskop |
JP2005275199A (ja) | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Yokogawa Electric Corp | 3次元共焦点顕微鏡システム |
TW200538758A (en) * | 2004-04-28 | 2005-12-01 | Olympus Corp | Laser-light-concentrating optical system |
US7355702B2 (en) * | 2004-06-21 | 2008-04-08 | Olympus Corporation | Confocal observation system |
CN100437195C (zh) * | 2004-06-21 | 2008-11-26 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于光谱分析中像差校正的方法和系统 |
DE102004034970A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop und Verwendung |
DE102004034960A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Korrektur-Vorrichtung für eine optische Anordnung und konfokales Mikroskop mit einer solchen Vorrichtung |
US20070258122A1 (en) * | 2004-10-06 | 2007-11-08 | Bc Cancer Agency | Computer-Tomography Microscope and Computer-Tomography Image Reconstruction Methods |
DE102005020542A1 (de) | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Einrichtung und Verfahren zur reproduzierbaren Einstellung der Pinholeöffnung und Pinholelage in Laserscanmikroskopen |
US7326899B2 (en) * | 2005-07-11 | 2008-02-05 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope |
JP5287252B2 (ja) * | 2006-12-22 | 2013-09-11 | 株式会社ニコン | レーザ走査共焦点顕微鏡 |
US8188412B2 (en) * | 2007-12-27 | 2012-05-29 | Olympus Corporation | Confocal microscope which weights and combines signals output from a plurality of photodetectors and calculates omnifocal brightness information for the plurality of signals |
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