JPWO2008023661A1 - 光ディスク装置およびその制御方法 - Google Patents

Abstract

貼り合わせ構造を有する記録層多層の光ディスクにおいて、追記可能回数を増加させる。本発明は、記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を算出するステップと、前記記録層に予め規定されている使用禁止領域における記録可能域の大きさを、前記ずれ量に基づいて特定するステップと、を含む。

Description

本発明は、貼り合わせ構造で記録層多層の光ディスクを記録・再生可能な光ディスク装置およびその制御方法に関する。

記録層多層の光ディスクは、各記録層を貼り合せて製造される。２層構造を有するディスクでは、１層目の情報記録層と２層目の情報記録層とを貼り合わせる際に、情報記録層が規定の貼り合せ位置から位置ずれする可能性がある。ＤＶＤ−Ｒ Dual Layerメディアに例示される光ディスクでは、１層目の情報記録層と２層目の情報記録層との間に位置ずれが生じる可能性がある。そこで、２層目の情報記録層において、記録してはいけない使用禁止領域であるＧａｐ(The area located in the Disc Testing Area (DTA) to prevent the influence of recordings for OPC on the other layer. Gap shall not be used for OPC procedure.）が定義されている。２層目の情報記録層に記録する際には、Ｇａｐを考慮して１層目の記録位置より内周位置から記録する。ＧＡＰ（使用禁止領域）は、最大で、インナ側に２５７ ＥＣＣブロック（４１１２セクタ）、アウタ側に６７６ ＥＣＣブロック（１０８１６セクタ）存在する。
特開平５−５４３９６号公報

光ディスクのユーザデータ領域への記録については、通常、記録実施前にあらかじめテスト記録領域にテスト記録を行い、レーザパワーの調整等を行うことで、ユーザデータ領域での記録が安定して行えるようにしている。記録層多層の光ディスクでは、このテスト記録領域に使用禁止領域（ＧＡＰ）が存在するため、テスト記録に使用できる領域が単層ディスクに比べて少なくなる。

特にＤＶＤ−Ｒ Dual Layerメディアのような２層記録が可能な光ディスクでは、記録可能なユーザデータ領域が単層ディスクに比べて大きいことから、追記する可能性も単層ディスクに比べて大きくなる。

しかしながら、テスト記録領域が枯渇した場合、ユーザデータ領域に空きが存在する光ディスクでも、テスト記録ができなくなるため、ユーザデータ領域への記録が不可能となる。結果として、単層ディスクに比べて、追記記録を実施できる回数が減少してしまう。

本発明は、このような事情に鑑みて創作したものであり、貼り合わせ構造を有する記録層多層の光ディスクにおいて、追記可能回数を増加させることを主たる目的とする。

本発明による光ディスク装置制御方法は、記録層が貼り合わされて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置の制御方法であって、
前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を算出するステップと、
前記記録層に予め規定されている使用禁止領域における記録可能域の大きさを、前記ずれ量に基づいて特定するステップと、
を含む。

この光ディスク装置制御方法において、記録層多層の光ディスクにおける各記録層は、貼り合わせに起因するずれがない正規の構造であれば、同一半径位置でのアドレスが規定の相関関係を有する。しかしながら、製造時に貼り合わせにずれが生じていた場合には、同一半径位置での各記録層のアドレスが規定の相関関係から外れたものになる。そこで、各記録層のアドレスを比較することによってずれ量を算出し、算出したずれ量に基づいて規定の使用禁止領域の中での記録可能域を特定する。ここで、特定した記録可能域の情報は記憶しておくのが好ましい。なお、ここで使用禁止領域とは、例えば、ＤＶＤ−Ｒ Dual LayerメディアにおけるＧＡＰ領域のようなもののことである。

従来では使用禁止領域とされていたディスク領域において記録可能域を探索することで記録可能域の情報を取得する。当該情報が取得された記録層多層の光ディスクにデータの追記を行うときは、記録可能域の情報に基づいて記録可能域を割り出してその領域に追記を行うことで、追記可能回数が増加された光ディスクとなる。

本発明は、前記光ディスクにテスト記録を行う際に、前記光ディスクに設けられたテスト記録領域に残余のテスト記録可能域が存在するか否かを探索するステップと、
前記テスト記録領域において残余の前記テスト記録可能域が存在しないと判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを探索するステップと、
前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域にテスト記録を実行するステップと、
をさらに含む、のが好ましい。

この光ディスク装置制御方法によれば、従来では使用禁止領域とされていたディスク領域において記録可能域を設定し、この記録可能域を利用してテスト記録を行うので、通常のテスト記録領域のみを用いた場合と比較して、記録可能域が増加する。そのため、結果的に追記可能回数を増加させることができる。しかも、記録可能域をテスト記録可能領域として使用するのは、通常のテスト記録領域が枯渇した場合に限定するため、従来の光ディスク装置との間で記録・再生動作の互換性を保つことが可能となる。

また、本発明は、前記光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報が存在するか否かを確認するステップと、
前記固有の制御情報が存在すると判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを確認するステップと、
前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域に前記固有の制御情報を記録するステップと、
をさらに含む、のが好ましい。

この光ディスク装置制御方法によれば、従来では使用禁止領域とされていた記録可能域を、光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報の記録領域として有効利用するので、記録品質をさらに向上させることができる。

本発明によれば、記録層が貼り合わせられてなる多層の光ディスクにおいて、使用禁止領域中の記録可能域にテスト記録を行うので、追記可能回数を増加させることができる。

本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。 ＤＶＤ−Ｒ Ｄｕａｌ Ｌａｙｅｒの光ディスクの構造を示す模式図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるＧＡＰ領域探索の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 光ディスクの記録層のトラックを示す図である。 光ディスクの記録層のトラックをさらに詳細を示す図である。 距離Ｒと回転角度θとの関係をグラフとして示す第１の図である。 距離Ｒと回転角度θとの関係をグラフとして示す第２の図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 光ディスクの記録層のトラックを示す図である。 光ディスクの記録層のトラックをさらに詳細を示す図である。 トラッキング制御時におけるレンズ位置の変動状態を示す図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 トラッキング制御器の出力とクロック生成器の出力とを示す図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 ずれ量と１回のテスト記録で使用する記録領域との間の関係とを示す図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 光ディスクの回転位置とずれ量と出力ｔｅと出力ｔｅの２値化信号と出力ｔｅｆとの関係を示す図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるディスク情報記録処理の動作を示すフローチャートである。

符号の説明

Ｅ 光ディスク装置
Ｌ０ １層目の情報記録層
Ｌ１ ２層目の情報記録層
１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
３ 光ピックアップ
４ スレッド
５ ディスク回転制御部
６ 信号処理ＬＳＩ
７ ＤＲＡＭバッファ
８ ＣＰＵ
９ 送信部
１０ 受信部
１１ テスト結果格納メモリ
１２ 記録再生装置
１１１ ディスク回転制御器
１１２ フォーカスエラー検出器
１１３ トラッキングエラー検出器
１１４ アドレス検出器
１１５ フォーカス制御器
１１６ トラッキング制御器
１１７ ずれ量検出器
１１８ 光出力検出器
１１９ 光出力制御器
１２０ クロック生成器
１２１ スイッチ
１２２ トラッキングエラー周期検出器

以下、本発明にかかわる光ディスク装置制御方法の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。

図１において、１は貼り合わせ構造を有する記録層多層の光ディスクであり、ここでは、１層目の情報記録層と２層目の情報記録層とを貼り合わせて作製されたＤＶＤ−Ｒ Dual Layerメディアであって、情報記録層が２以上存在する追記可能な構成を備える。Ｅは光ディスク装置であり、１１はテスト結果格納メモリであり、１２は記録再生装置である。

光ディスク装置Ｅは、光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２と、光ディスク１にデータ記録とデータ再生を行う光ピックアップ（光ヘッド）３と、光ピックアップ３を光ディスク１の半径方向に沿ってガイドするスレッド４と、スピンドルモータ２を制御するディスク回転制御部５と、光ピックアップ３が光ディスク１から読み取った光学信号に対応する電気信号に各種の信号処理を行い、ディジタルデータとして出力する信号処理ＬＳＩ６と、信号処理ＬＳＩ６による信号処理結果のディジタルデータを一時的に格納するＤＲＡＭバッファ７と、光ディスク装置Ｅの構成要素（光ピックアップ３,スレッド４,ディスク回転制御部５,信号処理ＬＳＩ６,テスト結果格納メモリ１１等）の制御を行うＣＰＵ８と、ＤＲＡＭバッファ７からのディジタルデータを外部の記録再生装置１２に送信する送信部９と、記録再生装置１２から送信されてくるデータ・信号を受信する受信部１０とを備える。

光ピックアップ３は、ＣＰＵ８からの制御に応じてスレッド４上を移動することによって、光ディスク１の所定位置にデータの書き込みを、当該所定位置からデータの読み出しをそれぞれ行う。なお、ＣＰＵ８は、光ピックアップ３の制御に基づいて、レーザパワーを調整する機能や最適なレーザパワーに補正する学習機能を備える。

図２は、ＤＶＤ−Ｒ Dual Layerの光ディスク１の構造の一例を模式的に示す。

図２において、ａ１はインナ側のテスト記録領域（ＩＤＴＡＺ：Inner Disc Testing Area）であり、ａ２は記録管理領域（ＲＭＡ：Recording Management Area）であり、ａ０は２つの領域ａ１,ａ２からなる情報記録領域であり、ａ３はリードイン領域であり、ａ７はリードアウト領域であり、ａ４,ａ８はデータ記録領域であり、ａ５,ａ９は固定中間領域であり、ａ６,ａ１０はアウタ側のテスト記録領域（ＯＤＴＡＺ：Outer Disc Testing Area）である。

インナ側のテスト記録領域ａ１は、ドライブ用テスト記録領域ｂ１,ｂ２、ディスク製造用テスト記録領域ｂ３、および非使用のブランク領域ｂ４を備える。ドライブ用テスト記録領域ｂ１,ｂ２の容量は９０４０セクタであり、ドライブ用テスト記録領域ｂ１,ｂ２の中にＧＡＰのｃ１が含まれる。なお、ＧＡＰの容量は、インナ側で最大２５７ ＥＣＣブロックである。ＥＣＣブロックそれぞれは１６セクタである。

次に、上記のように構成された本実施の形態の光ディスク装置Ｅの動作を説明する。ここでは、光ディスク装置Ｅにおいて、記録再生装置１２から受信部１０に記録の要求があった場合を想定してその動作を説明する。光ディスク装置Ｅは、装着された光ディスク１へのテスト記録がすでに実施されているか否かを判断する。テスト記録が未実施であると判断する場合、光ディスク装置Ｅは、テスト記録処理を実施し、実施したテスト記録が成功する場合、光ディスク装置Ｅは、記録再生装置１２から要求された内容のデータ記録を光ディスク１に実施する。

図３は、光ディスク装置ＥによるＧＡＰ領域の探索方法の動作の一例を示すフローチャートである。ＧＡＰ位置の探索処理をスタートすると、まず、ステップＳ１において、１層目の情報記録層Ｌ０に対するアドレスリード処理を行う。ここで、アドレスとは光ディスク１の物理アドレスを示す。次いでステップＳ２において、１層目の情報記録層Ｌ０で取得したアドレス位置の真上に相当する２層目の情報記録層Ｌ１にジャンプして、２層目の情報記録層Ｌ１にアドレスリード処理を行う。これら互いに対向する各記録層のアドレス位置は、理想的には光ディスク１の半径方向の同一位置となる。

次いでステップＳ３において、１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１とから読み取った２つのアドレスにおける相対関係から、１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１とを貼り合せて光ディスク１を貼り合わせ製造した際に生じる、貼り合わせのずれ判定処理を行う。ずれ判定処理は例えば、次のようにして実施される。すなわち、１層目の情報記録層Ｌ０のアドレスと２層目の情報記録層Ｌ１のアドレスとが互いに対応する規定値になっているか否かで、上記ずれの判定を行う。より具体的には、２層目の情報記録層Ｌ１のアドレスが１層目の情報記録層Ｌ０のアドレスのほぼ反転した値となっている場合には、ずれがないと判定し、ほぼ反転した値になっていない場合には、ずれがあると判定する。１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１のアドレスに貼り合せ製造時のずれがある場合は、ステップＳ４に進む。一方、そうでない場合は、ステップＳ５に進む。

ステップＳ４では、貼り合せ製造時に生じたずれ量の算定処理を行うとともに、そのずれ量を本光ディスクのＧＡＰ領域の最大値としてテスト結果格納メモリ１１に格納する。ステップＳ４に進んでずれ量の計算処理が終了すると、本フローチャートの処理は終了する。

ここで、テスト結果格納メモリ１１は、ＣＰＵ８からアクセスできる空間に割当てられた記憶器であれば何でもよく、専用のメモリに限らない。テスト結果格納メモリ１１は、ＣＰＵ８からアクセス可能な任意のメモリの一部分から構成されてもよいし、メモリ以外にもレジスタなど他の記憶器から構成されてもよい。
なお、前述した、貼り合わせずれの判定処理とずれ量ｄの計算処理については、貼り合わせずれの判定処理を行わずに、ずれ量ｄの計算処理だけを行い、そこで得られたずれ量を本光ディスクのＧＡＰ領域の最大値としてテスト結果格納メモリ１１に格納するようにしてもよい。

また、前述したずれ量ｄの判定処理とずれ量ｄの計算処理とについては、上記の他、ずれ量ｄの計算処理を行ってから、ずれ量ｄが所定の量より大きいかどうか判断してもよい。この判定処理は、ずれ量ｄの判定処理に相当する。判定の結果、ずれ量ｄが所定の量より大きいときには、そのずれ量ｄは、本光ディスクのＧＡＰ領域の最大値としてテスト結果格納メモリ１１に格納される。以上に説明した、ずれ量ｄの計算処理に関する詳細手順については、上述した方法以外のものも合わせて後述する。

以上の処理が終了した後、テスト結果格納メモリ１１からずれ量ｄを読み出し、ディスク情報として光ディスク１のＲＡＭ領域に記録する。また、（テスト結果格納メモリ１１に格納されている）ずれ量ｄを光ディスク１に記録する際には、そのデータを前述したＲＡＭ領域に限ることなく光ディスク１のどこの領域に記録してもよい。つまり、ずれ量ｄをどこに記録するかを光ディスク装置Ｅが認識しておれば、そのデータの収納場所はどこでも構わない。さらには、新しい光ディスクが挿入されるたびにずれ量ｄを測定するようにすれば、必ずしもずれ量ｄを光ディスク１に記録する必要もない。

一方、ステップＳ５に進むと、通常のテスト記録の処理のためのテスト記録アドレス確定処理が実行される。この通常のテスト記録処理は、従来の技術と同様のものであり、本発明とは直接には関係しないが、以下、簡単に説明する。

ステップＳ５において、テスト記録アドレスＰＣＡ(Power Calibration Area)の指定処理を判断する。インナ側指定であると判定される場合には、次回追記時の物理的ブロックアドレスＰＢＡ（Physical Block Address）をインナ側のＰＣＡに設定する（ステップＳ６）。また、アウタ側指定であると判定される場合には、ＰＢＡをアウタ側のＰＣＡに設定する（ステップＳ７）。

次いでステップＳ８でブランクチェックを行い、ステップＳ９〜Ｓ１０で次回追記時のＰＢＡの計算処理を行い、ステップＳ１１で未記録／記録の境界を計算する。

以上のようにしてテスト記録領域の学習が終了すると、次いで図４のフローチャートの処理に進む。図４は光ディスク装置Ｅによるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。

まず、ステップＳ２１において、光ディスク１でテスト記録領域がすでに枯渇しているか否かを判断する。すなわち、記録可能域を探索し、記録可能域が存在すれば、ステップＳ２２に進んで、その領域でテスト記録を実施する。ステップＳ２２による通常のテスト記録領域でのテスト記録を行った後は、ステップＳ２５に進んで、テスト記録が成功したか否かを判断する。ステップＳ２５においてテスト記録が成功したと判断する場合は、光ディスク１への記録が可能であるとして、ステップＳ２６に進み、記録再生装置１２から光ディスク装置Ｅに対する要求である記録動作を実行する。

このようにして追記を繰り返していくと、テスト記録領域が枯渇するようになる。すると、ステップＳ２１による判断処理において、記録可能域が枯渇すると判断される。そうすると、処理はステップＳ２３に進む。ステップＳ２３においては、使用禁止領域とされているＧＡＰ領域で、前述したずれ量判定処理（図３のステップＳ４参照）で算定した記録可能域が枯渇しているか否かを判定する。この判定は具体的にＧＡＰ領域内で記録可能域が存在するか否かを検索することにより実施される。さらにはこの検索は例えば次のようにして実施される。すなわち、光ディスク１のＲＡＭ領域に格納されている、ＧＡＰ領域の最大値情報データを読み出し、読み出したＧＡＰ領域の最大値の範囲内において残存する記録可能域をテスト記録可能領域と見なし、その領域の有無およびその大きさを測定することで上記検索は実施される。ステップＳ２３で記録可能域が存在すると判定すれば、ステップＳ２４に進んで、ＧＡＰ領域における記録可能域にテスト記録を実施する。

ステップＳ２４の処理（ＧＡＰ領域内の記録可能域におけるテスト記録処理）を行った後は、ステップＳ２５に進んで、テスト記録が成功したか否かを判断する、ステップＳ２５で成功したと判断する場合には、光ディスク１への記録が可能であると判断して（ステップＳ２６）、記録動作を実行する。

一方、ステップＳ２５においてテスト記録が失敗したと判断する場合、あるいはステップＳ２３においてＧＡＰ領域内に記録可能域がないと判断する場合には、記録動作が不可と判断して（ステップＳ２７）、記録再生装置１２から要求されたデータ記録を光ディスク装置Ｅに実施することなく処理を終了する。

次に「ずれ量ｄの計算処理」の詳細な手順について、図５Ａ,図５Ｂ,図６Ａ,図６Ｂ,図７Ａ,図７Ｂ,図８−図２２を参照して説明する。
（詳細な手順の第一の例）
以下、ずれ量ｄの計算処理の詳細な手順の第一の例について説明する。図５Ａは光ディスク１のＬ０層のトラックとＬ１層のトラックとを示す図である。ここで、１０００はＬ０層の中心点であり、Ｌ０層の各トラックは中心点１０００を中心とする同心円形状となる。なお、実際には、光ディスク１の各トラックはスパイラル状に形成されているが、光ディスク１は多数のトラックから構成されているため、便宜上、各トラックを円と見なしても差し支えない。トラック１００２はＬ０層のトラックであり、中心点１０００を中心とする円形状を有する。同様に１０１０はＬ１層の中心点であり、トラック１０１１とトラック１０１２とトラック１０１３とは全てＬ１層のトラックであって、これらは中心点１０１０を中心とする同心円形状となる。ここで、Ｌ１層のトラック１０１２の半径とＬ０層のトラック１００２の半径とは、略同一である。Ｌ１層のトラック１０１１は、図中、中心点１０００,１０１０の右側においてＬ０層のトラック１００２に接する。Ｌ１層のトラック１０１３は、図中、中心点１０００,１０１０の左側においてＬ０層のトラック１００２に接する。

次に、図５Ｂ,図６Ａ,図６Ｂ,図７Ａ,図７Ｂを参照して、Ｌ０層からＬ１層へ、または、Ｌ１層からＬ０層へ層間ジャンプを実施する際におけるアドレス（物理アドレス）の取得方法を具体的に説明する。

図５Ｂは、図５Ａに追加の説明を加えたものである。図５Ｂにおいて、ｒは、トラック１００２の半径を示す。点１０２１はトラック１００２上の点であって、トラック１００２の中心である中心点１０００と点１０２１との間の距離はｒとなる。Ｒは、トラック１００２とは同心にならないトラックの中心である中心点１０１０とトラック１００２上の点１０２１との間の距離を示す。ｄは、互いに偏心している両トラックの中心である中心点１０００と中心点１０１０との間の距離を示す。距離ｄは２つの層の間に生じる貼り合わせのずれの量（以下、ずれ量という）に相当する。θは、中心点１０００と中心点１０１０とを結ぶ線分Ｑ１と、中心点１０００と点１０２１とを結部線分Ｑ２とによって形成される角度を示す。１０２２−１０２５は、点１０２１と同様、Ｌ０層のトラック１００２上の点を示す。１０２３,１０２５は、トラック１００２とトラック１０１２との交点を示す。

なお、以下の説明においては、点１０２１は現在の光スポット（光ピックアップ３によってレーザ光を照射されている点）を示し、点１０２２から左周りに移動して点１０２３から点１０２５を経由し、トラックを一周回って点１０２２（実際には１トラックずれた点）に戻ってくるものとする。角度θは、光スポットの回転角度を示しており、回転角度θは、０[rad]から２π[rad]まで変化すると見なせる。実際には、光ピックアップ３がトラック上を移動するのではなく、光ディスク１が回転しているために、光スポットがトラック上を移動するのであってディスク１の回転は連続的に続けられる。図５Ｂにおける中心点１０００,１０１０,１０２１を頂点とする三角形から、距離Ｒと回転角度θとの間には、次の（１）式が成立する。
Ｒ＝ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²−２ｒ・ｄ・ｃｏｓ（θ）） …（１）
この（１）式によれば、
Ｒ＝ｒ−ｄ （θ＝０[rad]）
Ｒ＝ｒ＋ｄ （θ＝π[rad]）
Ｒ＝ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²）
：θ＝π／２[rad],またはθ＝３π／２[rad]
となる。

なお、ＳＱＲＴ（ｘ）はｘの平方根を与える関数であり、ｃｏｓ（θ）は回転角度θに対する余弦を与えるコサイン関数を表わすものとする。

ここで、光スポットがＬ０層のトラック１０２２上を移動する状態における任意の時点（点１０２１で光スポットが示される時点）において、当該光スポットがＬ０層からＬ１層に層間ジャンプする状態について考察する。この場合、ジャンプ先のＬ１層のトラックは中心点１０１０を中心とする円状になり、その半径は、点１０２１とＬ１層の中心点１０１０との間の距離Ｒになる。距離Ｒが回転角度θによらず一定であれば、Ｌ０層からＬ１層に層間ジャンプしたとしても、光スポットは予め想定しておいたトラックに着地することになる。しかしながら、実際には、前述したように距離Ｒは回転角度θの関数となる。そのため、Ｌ１層における着地トラックの位置は、回転角度θ（言い換えれば、Ｌ０層上の点１０２１の場所）によって変動する。

以上のことから、次のことがわかる。
・距離Ｒが距離ｒより小さくなる位置に点１０２１が存在する状態、つまり、点１０２１が点１０２５から点１０２２を経由して点１０２３までの間にある状態では、ジャンプ後のＬ１層は、ジャンプ元のＬ０層より内周側になる。
・距離Ｒが距離ｒより大きくなる位置に点１０２１が存在する状態、つまり、点１０２１が点１０２３から点１０２４を経由して点１０２５までの間にある状態では、ジャンプ後のＬ１層は、ジャンプ元のＬ０層より外周側になる。
・点１０２２に接しているＬ１層のトラック１０１１は、当該トラック１０１１上で層間ジャンプが生じた際には最も内周側のトラックになる。
・点１０２４に接しているＬ１層のトラック１０１３は、当該トラック１０１３上で層間ジャンプが生じた際には最も外周側のトラックになる。
・点１０２３または点１０２５の場所で層間ジャンプが生じた場合は、もとのＬ０層のトラック１００２と同じ半径位置にあるＬ１層のトラック１０１２に光スポットが着地する。

図６Ａは、上述した距離Ｒと回転角度θとの関係式をグラフとして表したものである。図中、点１０２１は、トラック１００２を一周した際に、距離Ｒがどのように変化するかを示す図である。図の縦軸は距離Ｒを、横軸は回転角度θをそれぞれ示す。ここで、回転中心を中心点１０００にして、点１０２１がトラック１００２を一周する際における回転角度θの時間変化率ｄθ／ｄｔ（θを時間で微分した値）に着目する。光ディスク１の一回転にかかる時間の範囲で見た場合、この時間変化率ｄθ／ｄｔはほぼ一定の値となる。そのため、図６Ａにおける横軸θを時間ｔに置換してもグラフの形状は変わらない。それに対して、実際の光ディスク１の回転中心は、光ディスク１を光ディスク装置Ｅにローディングしてチャッキングする（ディスクをつかむ）毎にランダムに変動する。そのため、時間変化率ｄθ／ｄｔは、光ディスク１の一回転にかかる時間の範囲で見た場合、多少変動することになる。しかしながら、通常、光ディスク装置Ｅではチャッキングの誤差が所定の範囲内に収まるように設計されており、光ディスク１の回転中心は中心点１０００や中心点１０１０の周辺のある範囲内に存在することになる。そのため、回転中心の変動は誤差として無視できる程度であると言える。

図６Ａを見ると、Ｌ０層からＬ１層へ層間ジャンプした後の距離Ｒは、層間ジャンプした点に応じて、最小値（ｒ−ｄ）＝Ｒminから最大値（ｒ＋ｄ）＝Ｒmaxまで変化することがわかる。したがって、Ｌ０層における各トラック位置からＬ１層へ層間ジャンプを行いながら、層間ジャンプ毎に距離Ｒを測定することで、距離Ｒの最小値Ｒminと最大値Ｒmaxとを推定することができる。距離Ｒの最小値Ｒminと最大値Ｒmaxとに基づけば、Ｌ０層とＬ１層とを貼り合わせた際に生じるずれ量ｄは、以下の（２）式によって算定することができる。
ｄ＝（Ｒmax−Ｒmin）／２ …（２）
さらには、層間ジャンプ前のＬ０層におけるトラックの半径ｒを用いれは、ずれ量ｄは、以下の（３）式または（４）式によって算定することができる。
ｄ＝Ｒmax−ｒ …（３）
ｄ＝ｒ−Ｒmin …（４）
ところで、前述した記述では、（１）式において、θ＝π／２[rad]またはθ＝３π／２[rad]のとき、Ｒ＝ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²）になることを説明したが、その際のずれ量ｄは、距離ｒに比して極めて小さい（ｄ≪ｒ）。したがって、このときの距離Ｒと距離ｒとは、Ｒ≒ｒと見なすことができる。そこで、距離Ｒ（層間ジャンプ後のＬ１層トラックの半径）から距離ｒ（層間ジャンプ前のトラック半径）への変化量ΔＲについて考察する。ここで、変化量ΔＲは絶対値を示すものとする。変化量ΔＲと回転角度θとの関係は、以下の（５）式になる。
ΔＲ＝ＡＢＳ（ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²−２ｒ・ｄ・ｃｏｓ（θ））−ｒ） …（５）
ただし、ＡＢＳ（ｘ）はｘの絶対値を与える関数である。この式をグラフで表すと、図６Ｂに示すようになる。この変化量ΔＲの最大値はｄであるので、変化量ΔＲを繰り返し算定してその最大値ΔＲmaxをずれ量ｄとするようにしてもよい。このずれ量ｄの算定方法は、結局のところ、以下の（６）式によってずれ量ｄを算定しているのと等価になる。
ｄ＝Ｒmax−ｒ …（６）
なお、上記以外のずれ量ｄの算定方法としては、変化量ΔＲを繰り返し算定したうえでさらにその平均値ΔＲaveを算定し、算定した平均値ΔＲaveから最大値ΔＲmax（すなわち、ずれ量ｄ）を算定してもよい。具体的には、図６Ｂに示す（５）式の区間（θ＝０〜２π）における平均値ΔＲaveは、ΔＲave≒（２ｄ／π）と表せるため、ずれ量は、以下の（７）式によって算定することができる。
ｄ＝ΔＲmax≒ΔＲave×（π／２） …（７）
πは、範囲（3.1＜π＜3.2）に収まるため、ずれ量ｄは、平均値ΔＲaveを約1.55〜1.6倍することで推定できる。ここで、πの範囲を、約1.55〜1.6倍としたが、必ずしもこの範囲に限られるものではない。なお、変化量ΔＲの指標つまり絶対値を取る代わりに二乗し、さらにその二乗値（ΔＲ）²の平均値を算定することで、距離ｄに代わってｄ²を推定し、さらに推定したｄ²の平方根を算定することで、ずれ量ｄを得ることもできる。

上述した説明では、トラックの半径値（距離Ｒ）に基づいてずれ量ｄを推定したが、多くの光ディスク装置では、トラックの半径量そのものの正確な値を直接得ることはできない。そこで、そのような装置構成では、アドレス値（現在読み出している物理アドレスの値）からトラック半径値（距離Ｒ）を算定してもよい。アドレス値をトラック半径値（距離Ｒ）に変換する方法の一例を、以下、説明する。

アドレス値が付与される単位（通常はセクタ単位）の長さをＬ、既知の半径値（距離Ｒ₀）における既知のアドレス値をＡ₀（通常は光ディスクの規格書において、例えば、最内周の位置とアドレス値などとして規定されている）、現在のアドレス値をＡ、トラックピッチをＴpとすると、現在の半径値（距離Ｒ）は以下の（８）式で算定することができる。
Ｒ＝ＳＱＲＴ（Ｔp・Ｌ・（Ａ−Ａ₀）／π＋Ｒ₀ ²） …（８）
同様に、アドレスＡ₀からアドレスＡまでのトラック本数Ｎは以下の（９）式で算定することができる。
Ｎ＝Ｒ／Ｔp＝ＳＱＲＴ（Ｔp・Ｌ・（Ａ−Ａ₀）／π＋Ｒ₀ ²）／Ｔp …（９）
アドレス値から半径値（距離Ｒ）あるいはトラック本数を算定する処理は、光ディスク装置において、シーク元アドレス値からシーク先アドレス値に向けて横断するトラック本数（上記のＮに相当）を計算するために必要な処理の一部でもあり、光ディスク装置内部で通常に行われている。したがって、アドレス値から半径値（距離Ｒ）を算定する方法については、上述した一例に限るわけではなく、同等の結果が得られるのであれば、どのような方法であってもよい。また、半径値（距離Ｒ）とアドレス値との関係に基づけば、逆に、半径値（距離Ｒ）からアドレス値Ａを算定することもできる。したがって、任意のトラック（例えば半径値（距離Ｒ））からずれ量ｄに応じて半径値（距離）が変化した半径値（距離Ｒ＋ｄ）,（距離Ｒ−ｄ）を有するトラックにおけるアドレス値を算定することも可能である。

ここで、これまでに説明した内容に基づいて、層間ジャンプ後のアドレス値からずれ量ｄを算定する光ディスク装置、およびそのずれ量算定方法を、図７,図８を参照して説明する。

図７はアドレス値からずれ量ｄを算定可能な光ディスク装置のブロック図である。なお図１と同一符号を付与した構成要素については詳細な説明を省略する。

光ディスク１は記録層が２層であるDVD-Rディスクである。この光ディスク１を所定回転数で回転させるスピンドルモータ２は回転位置信号ｈｅｏを出力する。

ディスク回転制御器１１１はスピンドルモータ２から供給される回転位置信号ｈｅｏに基づいてスピンドルモータ２の回転速度を算出して、目標回転になるように制御出力ｍｔｄをスピンドルモータ２に出力する。

光ピックアップ３は、光ディスク１に光ビームを照射したうえで反射光を集光して検出する機能を備える。光ピックアップ３は、集光レンズ（図示せず）と集光レンズを駆動するアクチュエータ（図示せず）とを備える。光ピックアップ３は、光ビームを光ディスク１の記録面に垂直方向（以下、フォーカス方向と記す）に沿った任意の位置に集光する機能と、光ディスク１上のトラックを横断する方向（以下、トラック方向と記す）に沿った任意の位置に集光する機能とを有する。

以下、上記光ディスク装置の各構成要素の動作をさらに詳細に説明する。光ピックアップ３は、反射光の一部あるいは全部を電気信号に変換してなる信号をフォーカスエラー検出器１１２とトラッキングエラー検出器１１３とアドレス検出器１１４とに出力する。

フォーカスエラー検出器１１２は集光された光ビームと光ディスク１の記録面との間の垂直方向に沿った位置ずれ量を検出し、その検出結果に基づいてフォーカスエラー信号ｆｅを生成してフォーカス制御器１１５に出力する。

フォーカス制御器１１５はフォーカスエラー信号ｆｅに基づいて、フォーカスエラー信号ｆｅがゼロになるように制御演算してなる駆動信号ｆｃｄを生成して光ピックアップ３のアクチュエータに出力する。フォーカス制御器１１５は光ディスク１の任意の記録層へ光ビームの集光位置を移動させる層間ジャンプ駆動において駆動制御を行う。

トラッキングエラー検出器１１３は集光された光ビームと光ディスク１上の任意のトラック位置との位置ずれ量を検出し、その検出結果に基づいてトラッキングエラー信号ｔｅを生成してトラッキング制御器１１６に出力する。

トラッキング制御器１１６はトラッキングエラー信号ｔｅに基づいて、トラッキングエラー信号ｔｅがゼロになるように制御演算してなる駆動信号ｔｋｄを生成して光ピックアップ３のアクチュエータに出力する。また、トラッキング制御器１１６は、光ディスク１上の任意のトラックに集光した光ビームを位置決めするスチルジャンプ駆動において駆動制御を行う。

アドレス検出器１１４は、光ディスク１からの反射光に基づいて、光ディスク１に予め記録されたＬＰＰ(Land Pre-Pit)などを検出することによって物理アドレスを検出する。アドレス検出器１１４はずれ量検出器１１７に結果idを出力する。結果idは、ずれ量検出器１１７からのリード命令ｒｄに基づいて集光された光ビーム位置が光ディスク１上のどの位置に集光されているのかを示すアドレス情報であって、以下、idをアドレス情報として記述する。

ずれ量検出器１１７はフォーカス制御器１１５に層間ジャンプ命令ｆｃｍｖを出力する。層間ジャンプ命令ｆｃｍｖは、光ビームの集光位置が光ディスク１上の所定の記録層に移動するように制御する命令信号である。ずれ量検出器１１７はアドレス検出器１１４から出力されるアドレス情報ｉｄに基づいて光ビームが集光している半径値（距離Ｒ）を算出する。ずれ量検出器１１７は、さらに各記録層（Ｌ０層,Ｌ１層）において算出した半径値（距離Ｒ）からずれ量ΔRを検出してＣＰＵ８に出力する。

ＣＰＵ８はスレッド４に駆動信号ｓｌｄを出力する。駆動信号ｓｌｄは、光ピックアップ３が光ディスク１の半径方向の所定位置まで移送するように制御する信号である。スレッド４は駆動信号ｓｌｄに基づいて光ピックアップ３を光ディスク１の半径方向の任意の位置に移送させる。ＣＰＵ８は光出力制御器１１９に光出力目標値ｒｅｆＰｗを出力することができる。出力目標値ｒｅｆＰｗは光ディスク１への記録および再生時において必要となる
光出力検出器１１８は、光ディスク１に照射される光出力レベルを検出してその検出結果を電気信号ｆｍに変換する。光出力検出器１１８は、光ピックアップ３の照射器が出力する光ビームの少なくとも一部を検出することで光出力レベルを検出する。電気信号ｆｍは光出力制御器１１９に供給される。光出力制御器１１９は、光出力目標値ｒｅｆＰｗと電気信号ｆｍ（光出力レベル）との差分がゼロに近づくように制御演算することで光出力制御信号Ｐｗｄを生成して光ピックアップ３の照射器に出力する。光ピックアップ３はＣＰＵ８から出力される駆動信号ｓｌｄに基づいて移送されるが、その際、ＣＰＵ８は
・ずれ量検出器１１７が光ディスク１上の任意の半径位置でずれ量ｄを検出できる、
・光ディスク１上の任意のトラックにデータを記録できる、
・光ディスク１上の任意のトラックに予め記録された情報を再生できる、
という条件が満たされるように、駆動信号ｓｌｄを制御する。

さらにＣＰＵ８は、
・光出力制御器１１９と光出力検出器１１８とによって光ディスク１上に任意の記録マークを形成できる、
・光ディスク１上に予め記録された情報を再生できる、
という条件が満たされるように、光出力の目標値ｒｅｆＰｗを制御する。

図８を参照して、ずれ量ｄを求める方法をさらに詳細に説明する。図８は図７に示す光ディスク装置においてずれ量ｄを求める手順を示したフローチャートである。最初に光ディスク１の任意のトラック上に集光された光ビームのサーボ制御を開始する（ステップＭ０１）。続いて予め決定していたＬ０層の任意のアドレスにシークしてスチルジャンプする（ステップＭ０２）。次にそのトラック上のランダムな位置で層間ジャンプをし、層間ジャンプ先のＬ１層における現在アドレスを取得し（ステップＭ０３）、前述した式（１）等を用いて半径値（距離）Ｒを算定する（ステップＭ０４）。

ステップＭ０１−Ｍ０４を複数回数繰り返すことで、半径値（距離）Ｒの最大値Ｒｍａｘと最小値Ｒｍｉｎとを算定する（ステップＭ０５）。そして最大値Ｒｍａｘと最小値Ｒｍｉｎとを、前述した（２）式に代入することで、ずれ量ｄを算出する（ステップＭ０６）。

ずれ量ｄを算出した後、算出したずれ量ｄに応じてあらかじめ使用禁止領域にテスト記録を実行するか否かを判定する（ステップＭ０７）。ここでテスト記録を実行する場合は記録可能域を決定し(ステップＭ０８)、テスト記録処理を行う（ステップＭ０９）。ステップＭ０４,Ｍ０６はずれ量検出器１１７が実施し、ステップＭ０９はＣＰＵ８が実施する。このような処理を実施するＣＰＵ８は、記録可能域特定器として機能する。また、ＣＰＵ８は、判断器,第１,第２の探索器,および第１,第２の確認器として機能する。

なお、ステップＭ０３においてランダムな位置で層間ジャンプをするとしたが、トラック円周上の所定間隔で（ほぼ等間隔で）層間ジャンプをするようにすると、ランダムな位置で層間ジャンプをする場合よりも、ステップＭ０１からステップＭ０４の繰り返し回数を減らすことが可能になる。

以下では、アドレス値の扱いについて、補足説明する。ＤＶＤ−Ｒ Ｄｕａｌ Ｌａｙｅｒディスクを含むＤＶＤ２層ディスクのオポジットトラックパス（ＯＴＰ）では、Ｌ０層のある半径値（距離Ｒ）のアドレス値と、Ｌ１層と同じ半径値（距離Ｒ）のアドレス値とはおよそビット反転した関係になるようにディスクが形成されている。したがって、一方層は内周から外周へ、他方層は外周から内周へ、それぞれアドレス値が増加する。このような構成を備えたディスクにおいては、一方層のアドレス値をビット反転したときに、その反転アドレス値が他方層のアドレス値とほぼ等しければ、２層のアドレス値はほぼ等しい半径値（距離Ｒ）を有する位置に存在していることになる。

前述した記述では、アドレス値から半径値（距離Ｒ）を算定する計算方法について説明を行ったが、その説明において例示した具体的な計算方法では、内周から外周へアドレスが増えていく層を想定した。反対に、外周から内周に向けてアドレスが増えていく層では、実際に読み出されたアドレス値をビット反転した後に、反転アドレス値をアドレス値と考えて上述した計算方法と同じ計算方法を実施すれば、その半径値（距離）Ｒを算定することができる。

ところで、これまでの説明では、層間ジャンプに要する時間をほぼゼロと見なして無視してきたが、実際には、層間ジャンプには若干ながらも時間を要する（例えば、１０ｍｓ程度）。層間ジャンプが実施される期間では、光ディスク装置にトラッキング制御が及ばないので、その期間を経れば、その分だけトラックが移動してしまう。以下、このようにして生じるトラック移動のことをトラック流れと称する。トラック流れは制御誤差を生じさせる。

層間ジャンプ中に光ディスク１が回転する角度が大きくなってくると、制御誤差から見てトラック流れは無視できない程の大きさになる。さらには、光ディスク１の回転速度に比例して光ディスク１の最大面ぶれ速度が大きくなるので、トラック流れが大きくなると、層間ジャンプ時のフォーカス引き込みに失敗する可能性が高くなる。なお、フォーカス引き込みとは、光スポットがＬ０層からＬ１層に、またはＬ１層からＬ０層に移動する状態において、移動先層における所望のトラックに光スポットを正確に移動させることをいう。

トラック流れを少なくしてこのような不都合を未然に防ぐためには、可及的に光ディスク１の回転速度を下げればよい。通常の光ディスク装置では、ＤＶＤを記録再生する際には、ＤＶＤの標準線速度（１倍速）以上の線速度で各種制御処理を行う。ＤＶＤ−Ｒからなる光ディスク１を標準線速度（１倍速）で回転させた場合、その内周側のＰＣＡ領域では、１回転あたり約４０ｍｓの時間を要する。そのため、この状態で層間ジャンプに例えば１０ｍｓ要すると、層間ジャンプの実施期間中に生じるトラック流れは、９０度回転になる。光ディスクの制御動作において、層間ジャンプ中でのトラック流れとして許容可能な誤差が例えば３０度程度である場合を想定すると、１／３倍速（０．３３倍速）以下で光ディスク１を回転させれば、前述した不都合を未然に防ぐことができる。

しかしながら、光ディスク１の回転速度を標準速度（１ｘ）以下にした場合には、光ピックアップ３から照射する再生レーザ光のパワーを低下させる必要がある。そうしないと、再生動作中にディスクが感光して記録がなされてしまうためである。

再生レーザ光のパワーを低下させるためには、上述したように光ピックアップ３から照射する再生レーザ光そのものパワーを低下させてもよいが、可及的に外周側のトラックにおいてずれ量ｄの測定処理（層間ジャンプ）を行うことでも上記不都合を防止できる。例えば、標準線速度（１倍速）でディスクを回転させた場合、ディスク最外周位置において１回転に要する時間は約１００ｍｓとなる。ディスク最外周位置において層間ジャンプをした場合における所要時間に例えば１０ｍｓ要したとすると、層間ジャンプの期間中において生じるトラック流れは、３６度回転となり、ディスク内周側でずれ量ｄの測定処理を実施した場合のトラック流れ（９０度回転）に比して大幅に減少する。このように、ずれ量ｄの測定処理（層間ジャンプ）を行うトラックを、可及的に外周側に設定すれば、その際のディスク回転速度がほぼ標準線速度（１倍速）であっても、層間ジャンプ中に生じるトラック流れを許容誤差内に収めることができる。

次に、光ディスク１の回転速度を下げた状態でずれ量ｄの測定処理（層間ジャンプ）を行うことが可能な光ディスク装置の構成例を図９を参照して説明する。図９の光ディスク装置では、図７に示す光ディスク装置においてＣＰＵ８からディスク回転制御器１１１に回転数変更命令Ｒｅｖ（ｍｅｓ）が供給されるように改良されている。すなわち、図９の光ディスク装置では、層間ジャンプに要する時間が無視できないことを想定して、ずれ量ｄを測定する期間において、スピンドルモータ２の回転速度を十分に小さくしている。具体的には、図１０に示すように、図８のフローチャートにおけるステップＭ０１とステップＭ０２との間に、ステップＭ１ａとステップＭ１ｂとが追加され、ステップＭ０４とステップＭ０５との間に、ステップＭ０１ｃが追加されている。

ステップＭ１ａでは、スピンドルモータ２の回転数を検出したうえで、その検出結果をＲｅｖ（ｐｒｅ）として記憶する。ステップＭ１ｂでは、スピンドルモータ２の回転周期（１周期に要する時間）が層間ジャンプに要する時間よりも十分に大きくなるように、モータ回転目標回転数Ｒｅｖ（ｍｅｓ）を制御する。ステップＭ１ｃでは、半径値（距離）Ｒを算定するステップＭ０４が終了したのち、スピンドルモータ２の回転数をステップＭ１ａで測定したＲｅｖ（ｐｒｅ）に戻す。

制御動作を図１０のフローチャートに示すように改良すれば、層間ジャンプによって光スポットがＬ０層からＬ１層に、またはＬ１層からＬ０層に移動する際におけるフォーカス引き込みの安定と、トラック流れに起因する測定誤差の抑制とを図ることができる。

なお、これまでの説明ではＬ０層からＬ１層へのジャンプを例にして説明したが、Ｌ１層からＬ０層にジャンプする場合でも、同様に考えることができ、同様の近似式でずれ量ｄを算定することが可能である。このようにＬ１層からＬ０層へ層間ジャンプした後の半径値またはアドレス値に基づいて、ずれ量ｄを算定することができる。

なお、これまでに様々な計算方法を例示したが、本手順は、これらの計算方法に限られるものではない。これらの計算方法と同傾向の結果が得られると当業者が容易に推測できるような計算方法によってこれらの計算方法が代替されてもよい。
（詳細な手順の第二の例）
以下、ずれ量ｄの計算処理の詳細な手順の第二の例について説明する。図１１Ａは光ディスク１のＬ０層とＬ１層のトラックについて示した図である。ここで、１０００はＬ０層のトラック１００２の中心点であり、中心点１０１０はＬ１層のトラック１０１２の中心点である。また、１０２０はディスク１の回転中心である。なお、回転中心１０２０は、光ディスク１を光ディスク装置Ｅにローディングしてチャッキングする（ディスクをつかむ）毎にランダムに位置決めされる。回転中心１０２０と中心点１０００とを結んだ直線Ｑ３とトラック１００２との交点を、それぞれ１０４１と１０４２とで示す。交点１０４１は、回転中心１０２０からみて交点１０４２より遠い。また、回転中心１０２０と中心点１０１０とを結んだ直線Ｑ４とトラック１０１２との交点を、それぞれ１０３１と１０３２とで示す。交点１０３１は、回転中心１０２０からみて交点１０３２より遠い。

図１１Ｂは、図１１Ａにおける要部拡大図であって、中心点１０００と中心点１０１０と回転中心１０２０との位置関係を詳細に示す図である。図において、ｄは、中心点１０００と中心点１０１０との間の距離を示し、ｄ₁は、中心点１０００と回転中心１０２０との間の距離を示し、ｄ₂は、中心点１０１０と回転中心１０２０との間の距離を示し、１０５１は、回転中心１０２０を通る基準線を示し、θ₁は、線分Ｑ３と基準線１０５１との間に形成される角度を示し、θ₂は、線分Ｑ４と基準線１０５１との間に形成される角度を示す。基準線１０５１は、点１０２０を通りさえすれば、どのように引いても構わない。これは、最終的に計算で必要となるパラメータ回転角度θは、次の（１０）式によって算定されるためである。
θ＝ＡＢＳ（θ₁−θ₂） …（１０）
図１２は、各層（Ｌ０層とＬ１層）のトラック追従時（トラッキング制御時）において、光ピックアップ３のレンズ位置（トラッキング方向）が光ディスク１の回転に伴って変動する状態を示す。図１２において、変動量のプラス符号は外周側を、マイナス符号は内周側を、さらには、０（ゼロ）は変動の中心をそれぞれ示す。図１２で示すレンズ位置の変動は、例えば、次のようにして算定される。

トラッキング制御は、回転中心１０２０と実際のトラックの中心（中心点１０００あるいは中心点１０１０）との間のずれに起因して生じる回転変動の吸収を主目的として実施される。トラッキング制御において、上記変動は、当該トラッキング制御によって光ピックアップ３のレンズを駆動した量（具体的には駆動によって移動した量の見積もり値）を積算（積分）して得られる値に基づいて算定される。あるいは、トラッキング制御に用いられるトラッキング誤差信号の低域成分に基づいて上記変動は算定される。多くの光ディスク装置において、図１２で示す変動を測定して偏心量（すなわち、図１２のｄ₁やｄ₂に相当する量）を算定する処理は通常に行われる。本実施形態では、このことに着目して、新たな処理を追加することなく上記変動を算定する。しかしながら、上記変動を算定する方法は、上述した方法に限るわけではなく、同等の結果が得られる方法であれば、どのような方法であっても構わない。

ここで、光ディスク１の回転速度は、少なくとも短い期間（ディスク数回転からディスク数百回転程度）では一定であると考えてよく、その間、ディスク１回転に要する時間Ｓは、ほぼ一定であると見なせる。また、図１２で示す変動を得るために測定値を取得する時間間隔（サンプリング間隔、あるいはグラフで言えばプロット間隔）をＴとすると、ディスク１回転の間に測定値を取得する回数（サンプリング回数）は（Ｓ／Ｔ）回となる。

次に上述した方法で算出される偏心量（図１２におけるｄ₁やｄ₂）に基づいて、ずれ量ｄを算定可能な光ディスク装置の構成およびその方法を図１３および図１４を参照して説明する。

図１３は偏心量に基づいてずれ量ｄを算定可能な光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、図７と同一の符号を付与した構成要素については詳細な説明を省略する。トラッキングエラー検出器１１３は集光された光ビームと光ディスク１上の任意のトラック位置との位置ずれ量を検出してトラッキングエラー信号ｔｅを生成してトラッキング制御器１１６に出力する。トラッキング制御器１１６はトラッキングエラー信号ｔｅに基づいて、トラッキングエラー信号ｔｅがゼロになるように制御演算することで駆動信号ｔｋｄを生成して光ピックアップ３のアクチュエータとずれ量検出器１１７とに出力する。なお、図７の説明でも述べたように、トラッキング制御器１１６は、光ディスク１上の任意のトラックに集光した光ビームを位置決めできるようにスチルジャンプ駆動制御も実施できる。

クロック生成器１２０は一定周波数信号を出力する素子の出力を分周等してなる一定周波数のパルス信号である出力ｃｌｋを生成して出力する。クロック生成器１２０は例えば水晶発信器から構成される。クロック生成器１２０は、出力ｃｌｋをずれ量検出器１１７に出力する。

ずれ量検出器１１７は、トラッキング制御器１１６からの駆動出力ｔｋｄを、クロック生成器１２０からの出力ｃｌｋに基づいて設定するサンプリング周期でサンプリングすることで、光ディスク１の周方向位置に対する偏心に相当する値を測定する。ずれ量検出器１１７は、この測定を光ディスク１の各記録層に実行することで得られる各記録層の偏心情報に基づいてずれ量ｄを検出する。以下、このずれ量ｄの検出方法を図１４を参照して説明する。

図１４は図１３に示す光ディスク装置において光ディスク１が回転したときのトラッキング制御器１１６の出力とクロック生成器１２０の出力とを示す図である。図において、横軸は光ディスク１の周方向における回転位置を、縦軸はトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄおよびクロック生成器１２０の出力ｃｌｋをそれぞれ示す。また、図１４において、Ｌ０層におけるトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄは実線で示され、Ｌ１層におけるトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄは破線で示される。図１２を参照して前述したように、光ディスク１が回転すると光ディスク１の偏心に追従するためにトラッキング制御器１１６は図１４に示す余弦波状の駆動信号を出力する。ここで光ディスク１の偏心量が大きくなると縦軸に示すトラッキング制御出力ｔｋｄの振幅が大きくなる。ずれ量検出器１１５は出力ｃｌｋの立ち上がりと立ち下りのタイミングとでトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄをサンプリングする。ずれ量検出器１１５は、この測定（サンプリング）を少なくとも１回転分以上の期間で行い、トラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄが最も大きいサンプルを最大値出力サンプルとして検出し、そのサンプルの出力ｔｋｄを最大値として検出する。図１４では、Ｌ０層におけるトラッキング制御器１１６の最大値出力サンプルはｔ１０となり、最大値は＋ｄ０となる。同様にＬ１層におけるトラッキング制御器１１６の最大値出力サンプルはｔ１２となり、最大値は＋ｄ１となる。

図１４に示す各データを、前述した（１）式に代入すれば、ずれ量ｄは、次のようにして算出される。次の式（１−１）は、図１４に示す各データを前述した（１）式に代入した式である。
ｄ＝ＳＱＲＴ（ｄ０²＋ｄ１²−２ｄ０・ｄ１・ｃｏｓ（θ）） …（１−１）
ただし、（１−１）式におけるθは次の（１２）式で得られる。
θ（ｄｅｇ）＝２π・２／４０＝１８（ｄｅｇ） …（１２）
（１２）式における定数（２／４０）は、次のようにして設定される。すなわち、Ｌ０層とＬ１層とによって偏心量が最も大きかったサンプリングの差（ｔ１０とｔ１２）の絶対値が２であり、光ディスク１が１回転する区間において、ずれ量検出器１１７による総サンプリング数が４０であることから、定数（２／４０）は設定されている。ここで、ディスク１回転あたり約４０サンプルに相当するサンプリング周波数でトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄをサンプルする場合を例に説明したが、何もこの程度のサンプリング周波数に限定される訳ではない。サンプリング周波数を大きくする程、高精度にずれ量ｄを算出することが可能になる。

なお、ずれ量検出器１１７は、図７の説明において示したように、光ディスク１上の任意の記録層に光ビームの集光位置を移動させるようにフォーカス制御器１１５に層間ジャンプ命令ｆｃｍｖを出力できる。

次に、図１５を参照して、ずれ量ｄを算出する方法を説明する。図１５は図１３に示す光ディスク装置において、ずれ量ｄを算出する手順を示すフローチャートである。最初に光ディスク１の任意のトラック上に集光された光ビームの制御を開始する（サーボＯＮ：ステップＭ０１）。続いて予め決定していたＬ０層の任意のアドレスをシークして光スポットをアドレスにスチルジャンプさせる（ステップＭ１２）。次にそのトラック上におけるトラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄとクロック生成器１２０の出力ｃｌｋとに基づいて偏心に相当する値の最大値ｄ０とその最大値ｄ０をサンプリングしたタイミングθ０とを計測する（ステップＭ１３）。続いてスチルジャンプを解除したうえで（スチルジャンプＯＦＦ）、Ｌ１層に層間ジャンプして、再びスチルジャンプを開始する（スチルジャンプＯＮ：ステップＭ１４）。そしてＬ１層においてもステップＭ１３と同様にトラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄとクロック生成器１２０の出力ｃｌｋとに基づいて偏心に相当する値の最大値ｄ１とその最大値ｄ１をサンプリングしたタイミングθ１とを計測する（ステップＭ１５）。ステップＭ１３およびステップＭ１５で計測した結果（ｄ０,ｄ１,θ０,θ１）を用いてずれ量ｄを算出する（ステップＭ１６）。

以上のステップＭ１１？Ｍ１６を実施することでずれ量ｄを算出することができる。ずれ量ｄを算出した後、ずれ量ｄに応じてあらかじめ使用禁止領域にテスト記録を実行するか否かを判定する（ステップＭ０７）。ステップM０７の判定処理の例としては、ずれ量ｄがある程度大きいときには使用禁止領域にテスト記録を実行しないように判定する方法などがある。ステップM０７でテスト記録を実行すると判定した場合には、使用禁止領域にテスト記録を行う。具体的には、利用可能領域を決定し（ステップM０８)、その利用可能領域にテスト記録を行う（ステップM０９)。なお、ステップM０７の判定処理を省略し、必ずステップM０８からステップM０９の処理が行われるようにしてもよい。

なお、（１？１）式におけるｃｏｓ（θ）は次のようにして算出してもよい。すなわち、一方の記録層においてトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄが最大値となる一方の記録層のサンプリング位置と他方の記録層のサンプリング位置との差を引数とするテーブルを予め設定して記憶したうえで、実際の処理では、このテーブルを参照することによってｃｏｓ（θ）を算出してもよい。計測を行う際のトラック半径と線速度とを事前に設定しておけば１回転当たりの総サンプリング数Ｓの値が自ずと決まるので、上記テーブルは事前に作成しておくことができる。

なお、上述した説明では、変動量最大点と、ディスク１回転の基準タイミング（図１２における零点位置）との位置の相違に基づいて、図１２に示す変動を算定していたが、変動量最大点の代わり変動量最小点を用いてもよい。また、変動量最大点と変動量最小点との両方を用いて、より精度の高い計算を実施してもよい。例えば、Ｌ０層における変動量最大点の値がｄ₁maxであり、最小点の値がｄ₁minである場合に、ｄ₁＝（ｄ₁max−ｄ₁min）／２として最大値ｄ₁を算定しても、（ｄ₁min−ｄ₁max）／２から最小値を算定してもよい。このようにすると、特に変動の中心が０（ゼロ）からずれて（あるオフセット量を持って）変動量が計測されている場合に、そのオフセット量の影響をキャンセルできる。

なお、以上の説明ではＬ０層からＬ１層へのジャンプを例にして説明したが、Ｌ１層からＬ０層にジャンプする場合でも、同様にしてずれ量ｄを算定することができる。

また本発明の光ディスク装置では、 あらかじめ使用禁止領域として規定されている領域も、テスト記録領域として使用できるようになり、追記回数を十分に確保することが可能になる。また本発明の光ディスク装置では、上述した方法を用いて算出したずれ量ｄに応じて１回のテスト記録で使用する記録領域の位置や大きさを決定することによっても、ずれ量ｄが大きい光ディスクにおいて追記回数を同様に十分に確保できる。その具体的な方法を示す本発明の実施例を、図１６,図１７を参照して説明する。図１６は、図１５と同様、図１３に示す光ディスク装置において、ずれ量ｄを算出する手順を示すフローチャートである。図１６に示すずれ量検出方法は、図１５に示すずれ量検出方法とステップＭ１６まで同じであるが、ステップＭ１６でずれ量ｄを検出した後に、その結果に応じて１回のテスト記録で使用する記録領域を決定する処理（ステップＭ２０）が追加されており、この点で図１５と異なる。

ここで本実施例における、ずれ量ｄと１回のテスト記録で使用する記録領域との間の関係について図１７を参照して説明する。図１７において、横軸は、ずれ量ｄ（単位をトラックと記す）を、縦軸は、１回のテスト記録当たりに使用できる記録領域（単位をバイトと記す）をそれぞれ示す。本実施例の光ディスク装置は、
・ずれ量ｄが小さくなる（ゼロ（トラック）に近づく）ほど、１回のテスト記録当たりに使用できる記録容量を大きくする、
・ずれ量ｄが大きくなるほど、１回のテスト記録当たりに使用できる記録容量が小さくなるようにする、
という制御を実施する。

以上の制御を実施するうえでは、図１７において破線で示すように、１回のテスト記録当たりに使用できる記録容量とずれ量ｄとを反比例の関係で制御してもよい。

なお光ディスクに記録する際には、通常最小記録単位が存在するので破線で示したように完全な反比例の関係で実現することは困難である。そこで実線で示すようにずれ量ｄに応じて、任意の記録単位で制御する、すなわち、段階的に反比例状に制御してもよい。また、テスト記録の目的に応じて１回当たりのテスト記録に使用できる記録容量を変更してもよい。例えば光ディスク装置がテスト記録する目的としては、
・光ディスクに情報を記録する際に記録マーク形成に必要な光出力あるいはライトストラテジを決定する目的、
・光ディスクに記録された情報を再生するための電気回路特性を決定する目的、
・光ディスクの任意のトラックに高精度に光ビームを集光するサーボ処理を行う目的、
などの目的に高い優先順位を設定したうえで、
・ずれ量ｄが大きい程、優先順位が高い目的を達成できるようにテスト記録し、
・ずれ量ｄが小さい程、優先順位の低い目的を達成できるようにテスト記録する、
ように構成すれば、ずれ量ｄの大小に関わらず光ディスクへの追記可能回数を十分に確保することが可能となる。

また図１３では、トラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄより光ディスク１の偏心量を算出したが、図１８に示すように、トラッキング制御器１１６は、トラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅに含まれる低域成分（図１８において、低域成分はｔｋｐｉと表記されている）のみを抽出して、ずれ量検出器１１７に入力してもよい。そのような構成においても、図１３の装置構成および図１５のフローチャートを参照して説明した本実施例のずれ量検出方法と同様のずれ量検出が実現できるのは明らかである。

さらに図９,図１０を参照して説明したように、本発明には、スピンドルモータ２の回転周波数がクロック生成器１２０の出力ｃｌｋに対して十分に小さくない（比較的大きい）場合には、測定精度が劣化してしまう。これに対しては、図１９に示すように、各記録層におけるずれ量ｄを検出するときにスピンドルモータ２の回転数を予め設定しておいた一定の速度まで減速することで、高い測定精度を維持することができる。

図１９の光ディスク装置は、図１３に示す光ディスク装置において、さらに、ＣＰＵ８は、回転数変更命令Ｒｅｖ（ｍｅｓ）をディスク回転制御器１１１に供給している。これは次の理由による。すなわち、光ディスク１の回転周期に対して、クロック生成器１２０の出力ｃｌｋの周期が無視できないほど大きくなる場合がある。図１９の光ディスク装置は、このことを想定して、ずれ量ｄを測定するステップを実施する期間においてスピンドルモータ２の回転を十分に小さくしている。具体的には図２０のフローチャートに示すように、図１５のフローチャートにおけるステップＭ−１とステップＭ−２との間に、スピンドルモータ２の回転数を検出してＲｅｖ（ｐｒｅ）として記憶する処理（ステップＭ１ａ）と、層間ジャンプに要する期間よりも十分に大きい期間になるように、スピンドルモータ２の回転周期を制御するためのモータ回転目標回転数Ｒｅｖ（ｍｅｓ）に制御する（ステップＭ１ｂ）処理とを追加し、さらに、Ｌ１層における偏心量の計測を行うステップＭ４が終了したのち、スピンドルモータ２の回転数をステップＭ１ａで測定したＲｅｖ（ｐｒｅ）に戻す処理（ステップ）を行う。以上のようにすることで、偏心量を測定するためのサンプリング時間を十分に確保することが可能になって、さらにずれ量検出精度が高くなる。

また上述した各実施例は、トラッキング制御器１１６が光ビームを光ディスク１の任意のトラックに集光制御された状態（トラッキング制御状態）において、ずれ量ｄを検出する構成を説明したものである。しかしながら、本発明は、トラッキング制御状態でなくても、ずれ量ｄを検出することが可能である。以下、その構成と方法を、図２１,図２２を参照して説明する。図２１は本発明の光ディスク装置のブロック図である。以下、この光ディスク装置の説明を行うが、図１８に示す光ディスク装置と同一の構成についてはその説明を省略し、構成要素が異なる部分のみ説明を行う。トラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄはスイッチ１２１を介して光ピックアップ３に搭載されたアクチュエータに出力される。スイッチ１２１はずれ量検出器１１７によって開閉される。トラッキング制御器１１６が動作し且つスイッチ１２１が閉じた状態では、トラッキング制御ループは閉じられる。ずれ量検出器１１７はスイッチ１２１を開閉制御するｏｎ／ｏｆｆ信号をスイッチ１２１に出力する。ずれ量検出器１１７は、光ディスク１の偏心を測定するときのみｏｎ／ｏｆｆ信号をｏｆｆにしてスイッチ１２１を開く。

トラッキングエラー検出器１１３は、その出力ｔｅをトラッキングエラー周期検出器１２２に出力する。トラッキングエラー周期検出器１２２はトラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅを２値化したうえで、２値化した出力ｔｅ（パルス信号）の周期を計測する。トラッキングエラー周期検出器１２２は、周期計測した結果である出力tefをずれ量検出器１１７に出力する。

ここで光ディスク１の偏心量とトラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅとトラッキングエラー周期検出器１２２の出力ｔｅｆとの関係について図２２を参照して説明する。図２２は光ディスク１の回転位置と、ずれ量ｄと、出力ｔｅと、出力ｔｅの２値化信号と、出力ｔｅｆとの関係を示す。図２２の（１）に示すように、光ディスク１がある速度で１回転すると、光ディスク１の偏心量に応じてずれ量ｄが正弦波状に変化する。ここで、光ディスク１の偏心量が大きい場合には、ずれ量ｄ（正弦波）の振幅が大きくなり、小さい場合にはその振幅が小さくなる。

光ディスク１上に集光された光ビームが光ディスク１のトラックを横断すると図２２の（２）に示すトラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅは正弦波状になる。図２１に示す光ディスク装置においてトラッキング制御ループが開いている状態ならば、光ディスク１の偏心によって１トラックに相当する距離だけ光ビーム位置が変化すると、１周期分の出力ｔｅ（正弦波信号）が出力される。このことから、出力ｔｅ１の周期を測定することで、光ディスク１の１トラック（図２２においてＴｐと記す）に相当する距離を検出できることがわかる。

トラッキングエラー周期検出器１２２はトラッキングエラー検出器１２２の出力ｔｅを２値化する。ｔｅ二値化信号を図２２の（３）に示す。ｔｅ二値化信号は、出力ｔｅとゼロレベルとを比較したものとなる。続いて、ｔｅ２値化信号の立ち上がりエッジの周期を検出して逆数してなる信号ｔｅｆを検出する。信号ｔｅｆは、図２２−（４）において実線で表示される。信号ｔｅｆはある偏心量を持つ光ディスク１が回転することによって、光ディスク１の回転位置に応じて変化する半径位置の変化速度を検出したものとなる。この変化速度は、光ディスク１の回転位置に対する偏心量の微分値である偏心速度を意味しており、このようにして、偏心速度が検出される。

信号ｔｅｆの大きさは、光ディスク１の偏心量に比例しており、光ディスク１の偏心量が大きくなるほど大きくなり、偏心量が小さくなるほど小さくなる。したがって、光ディスク１が１回転する期間における信号ｔｅｆの最大値あるいは最小値と、その値を検出したディスク回転位置とを検出することによって、各記録層におけるずれ量ｄを速度として検出できる。

なお、本実施例におけるずれ量検出器１１７は、光ディスク１が１回転する期間におけるトラッキングエラー周期検出器１２２の出力ｔｅｆを積分し、各記録層でそれぞれ測定した積分値を偏心量として検出する。さらには、出力ｔｅｆの最大値を検出したクロック生成器１２０の出力ｃｌｋどうしの差分を位相ずれ量として検出する。

以上のように本実施例によれば、光ディスク装置のトラッキングループが開いていても偏心量に基づいてずれ量ｄを検出することができる。その結果、トラッキング制御器１１６の制御特性に依存することなく、高精度な検出を実現することができる。

以上で、ずれ量ｄの計算処理の詳細な手順の第一の例と第二の例とを説明した。
次に、ずれ量ｄから、テスト記録領域中で実際に使用禁止とすべき領域の総セクタ数Ｍを見積もる方法について説明する。当該セクタ数Ｍとは、「ＧＡＰ領域の総セクタ数」から「ＧＡＰ領域中における、実際にはテスト記録が可能な領域のセクタ数」を差し引いた値に相当する。見積もる対象になるＧＡＰ領域周辺のトラック半径をＲ_GAPとし、アドレス値が付与される単位（通常はセクタ単位）の長さをＬとし、トラックピッチをＴpとすると、「テスト記録領域中で実際に使用禁止とすべき領域の総セクタ数」であるＭは次の（１３）式で算出することができる。
Ｍ＝（２π／（Ｌ・Ｔｐ））・Ｒ_GAP・ｄ …（１３）
ここで、（２π／（Ｌ・Ｔｐ））は予め算出しておくことができる値である。Ｒ_GAPの値は、既に説明した（８）式に基づいて、ＧＡＰ領域周辺のアドレス値Ａ_GAPから算出される。次の（８−１）式は、前述した各データを前述した（８）式に代入した式である。
Ｒ_GAP＝ＳＱＲＴ（Ｔp・Ｌ・（Ａ_GAP−Ａ₀）／π＋Ｒ₀ ²） …（８−１）
なお、内周側のテスト記録領域（ＩＤＴＡＺ）の位置は予め決まっているため、厳密な計算が必要な場合を除き、Ｒ_GAPの値を予め算出しておくことができる。このことから、本願の発明では、「テスト記録領域中で実際に使用禁止とすべき領域の総セクタ数Ｍ」を算出したうえで、互いに算出したセクタ数M以上、離間するように、各層のテスト記録領域（位置や記録量）が決められることによって、予め使用禁止と規定された使用禁止領域（ＧＡＰ領域等）を有効活用でき、追記可能回数の増加と記録品質の向上とが図れる。これに対して、従来の技術では、一方の層のテスト記録済み領域と他方の層のテスト記録済み領域の距離（セクタ数で規定）は少なくともＧＡＰ領域の総セクタ数以上離しておく必要があった。

以上のように、例えば１層目の情報記録層Ｌ０から読み出したアドレスと２層目の情報記録層Ｌ１から読み出したアドレスとの相関関係などから、１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１を貼り合せて光ディスク１を製造した時に生じた実際のずれ量ｄを算出したうえで、算出したずれ量ｄから光ディスク１のＧＡＰ領域を算定する。そして、記録再生装置１２から記録要求がされたものの初期段階のテスト記録において通常のテスト記録領域での記録可能域が枯渇したと判断する際には、通常は使用禁止領域とされているＧＡＰ領域を次の記録可能域候補に設定したうえで、そのＧＡＰ領域に記録可能域が存在するかどうかを判定する。そして、記録可能域があると判定する場合には、そのＧＡＰ領域にテスト記録を行う。

このようにして、ＧＡＰ領域内を有効活用することにより、記録可能域を増加させることができるので、光ディスク１に対する追記可能回数を増加させることが可能となる。

前述した図４のフローチャートによる処理に代えて、図２３に示すフローチャートでの処理も有効である。図２３は光ディスク装置Ｅによるディスク情報記録処理の動作を示すフローチャートである。

まず、ステップＳ３１において、光ディスク１の所定の領域に対して規格に準拠したディスク情報の記録を開始する。ここでディスク情報が、光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報のことである。例えばＤＶＤ−ＲにおけるＲＭＤ(Recording Management Data)である。次いでステップＳ３２において、規格で定められたディスク情報以外のディスク固有情報が存在するか否かを判断する。ディスク固有の情報が存在しない場合は処理を終了するが、ディスク固有情報が存在する場合には、ステップＳ３３に進む。次いでステップＳ３３において、使用禁止領域とされているＧＡＰ領域内に記録可能域が存在するか否かを判断する。ここでディスク固有情報とは、光ディスク１と光ディスク装置Ｅの組み合わせにおいて生じる固有のもので、安定な記録・再生を実現する上で有効な情報のことである。例えば、レーザパワーの温度補正値，半径位置毎のチルト情報,調整時の温度情報や時間情報等の条件,GAP領域確定済み情報(以降、GAP領域判定しなくても良い),偏心情報,偏重心情報,層間の(TR/FC Gain・Att, Tilt,... )情報,層毎の(TR/FC Gain・Att, Tilt等の情報：ただしこれらの情報は規格では定められたものではない)などである。

ＧＡＰ領域において記録可能域が存在した場合には、ステップＳ３４に進み、その領域にディスク固有情報を記録する。記録可能域が存在しない場合は、ディスク固有情報の記録は実施しない。

ここで記録したディスク固有情報を、次回ディスク起動時に読み込んで使用することにより、当該の光ディスク１に最適な設定での記録および再生が可能となる。これにより、記録・再生の品質を向上させることができる。なお、ＤＶＤ−Ｒ Ｄｕａｌ Ｌａｙｅｒ以外の多層記録ディスクに対して本発明を適用してもよい。

本発明の光ディスク装置制御方法は、貼り合わせ構造で記録層多層の光ディスクにおけるＧＡＰのような使用禁止領域を有効活用するもので、追記可能回数の増加または記録品質の向上等に有用である。

本発明は、貼り合わせ構造で記録層多層の光ディスクを記録・再生可能な光ディスク装置およびその制御方法に関する。

記録層多層の光ディスクは、各記録層を貼り合せて製造される。２層構造を有するディスクでは、１層目の情報記録層と２層目の情報記録層とを貼り合わせる際に、情報記録層が規定の貼り合せ位置から位置ずれする可能性がある。ＤＶＤ−Ｒ Dual Layerメディアに例示される光ディスクでは、１層目の情報記録層と２層目の情報記録層との間に位置ずれが生じる可能性がある。そこで、２層目の情報記録層において、記録してはいけない使用禁止領域であるＧａｐ(The area located in the Disc Testing Area (DTA) to prevent the influence of recordings for OPC on the other layer. Gap shall not be used for OPC procedure.）が定義されている。２層目の情報記録層に記録する際には、Ｇａｐを考慮して１層目の記録位置より内周位置から記録する。ＧＡＰ（使用禁止領域）は、最大で、インナ側に２５７ ＥＣＣブロック（４１１２セクタ）、アウタ側に６７６ ＥＣＣブロック（１０８１６セクタ）存在する。
特開平５−５４３９６号公報

光ディスクのユーザデータ領域への記録については、通常、記録実施前にあらかじめテスト記録領域にテスト記録を行い、レーザパワーの調整等を行うことで、ユーザデータ領域での記録が安定して行えるようにしている。記録層多層の光ディスクでは、このテスト記録領域に使用禁止領域（ＧＡＰ）が存在するため、テスト記録に使用できる領域が単層ディスクに比べて少なくなる。

特にＤＶＤ−Ｒ Dual Layerメディアのような２層記録が可能な光ディスクでは、記録可能なユーザデータ領域が単層ディスクに比べて大きいことから、追記する可能性も単層ディスクに比べて大きくなる。

しかしながら、テスト記録領域が枯渇した場合、ユーザデータ領域に空きが存在する光ディスクでも、テスト記録ができなくなるため、ユーザデータ領域への記録が不可能となる。結果として、単層ディスクに比べて、追記記録を実施できる回数が減少してしまう。

本発明は、このような事情に鑑みて創作したものであり、貼り合わせ構造を有する記録層多層の光ディスクにおいて、追記可能回数を増加させることを主たる目的とする。

本発明による光ディスク装置制御方法は、記録層が貼り合わされて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置の制御方法であって、
前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を算出するステップと、
前記記録層に予め規定されている使用禁止領域における記録可能域の大きさを、前記ずれ量に基づいて特定するステップと、
を含む。

この光ディスク装置制御方法において、記録層多層の光ディスクにおける各記録層は、貼り合わせに起因するずれがない正規の構造であれば、同一半径位置でのアドレスが規定の相関関係を有する。しかしながら、製造時に貼り合わせにずれが生じていた場合には、同一半径位置での各記録層のアドレスが規定の相関関係から外れたものになる。そこで、各記録層のアドレスを比較することによってずれ量を算出し、算出したずれ量に基づいて規定の使用禁止領域の中での記録可能域を特定する。ここで、特定した記録可能域の情報は記憶しておくのが好ましい。なお、ここで使用禁止領域とは、例えば、ＤＶＤ−Ｒ Dual LayerメディアにおけるＧＡＰ領域のようなもののことである。

従来では使用禁止領域とされていたディスク領域において記録可能域を探索することで記録可能域の情報を取得する。当該情報が取得された記録層多層の光ディスクにデータの追記を行うときは、記録可能域の情報に基づいて記録可能域を割り出してその領域に追記を行うことで、追記可能回数が増加された光ディスクとなる。

本発明は、前記光ディスクにテスト記録を行う際に、前記光ディスクに設けられたテスト記録領域に残余のテスト記録可能域が存在するか否かを探索するステップと、
前記テスト記録領域において残余の前記テスト記録可能域が存在しないと判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを探索するステップと、
前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域にテスト記録を実行するステップと、
をさらに含む、のが好ましい。

この光ディスク装置制御方法によれば、従来では使用禁止領域とされていたディスク領域において記録可能域を設定し、この記録可能域を利用してテスト記録を行うので、通常のテスト記録領域のみを用いた場合と比較して、記録可能域が増加する。そのため、結果的に追記可能回数を増加させることができる。しかも、記録可能域をテスト記録可能領域として使用するのは、通常のテスト記録領域が枯渇した場合に限定するため、従来の光ディスク装置との間で記録・再生動作の互換性を保つことが可能となる。

また、本発明は、前記光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報が存在するか否かを確認するステップと、
前記固有の制御情報が存在すると判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを確認するステップと、
前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域に前記固有の制御情報を記録するステップと、
をさらに含む、のが好ましい。

この光ディスク装置制御方法によれば、従来では使用禁止領域とされていた記録可能域を、光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報の記録領域として有効利用するので、記録品質をさらに向上させることができる。

本発明によれば、記録層が貼り合わせられてなる多層の光ディスクにおいて、使用禁止領域中の記録可能域にテスト記録を行うので、追記可能回数を増加させることができる。

以下、本発明にかかわる光ディスク装置制御方法の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。

図１において、１は貼り合わせ構造を有する記録層多層の光ディスクであり、ここでは、１層目の情報記録層と２層目の情報記録層とを貼り合わせて作製されたＤＶＤ−Ｒ Dual Layerメディアであって、情報記録層が２以上存在する追記可能な構成を備える。Ｅは光ディスク装置であり、１１はテスト結果格納メモリであり、１２は記録再生装置である。

光ディスク装置Ｅは、光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２と、光ディスク１にデータ記録とデータ再生を行う光ピックアップ（光ヘッド）３と、光ピックアップ３を光ディスク１の半径方向に沿ってガイドするスレッド４と、スピンドルモータ２を制御するディスク回転制御部５と、光ピックアップ３が光ディスク１から読み取った光学信号に対応する電気信号に各種の信号処理を行い、ディジタルデータとして出力する信号処理ＬＳＩ６と、信号処理ＬＳＩ６による信号処理結果のディジタルデータを一時的に格納するＤＲＡＭバッファ７と、光ディスク装置Ｅの構成要素（光ピックアップ３,スレッド４,ディスク回転制御部５,信号処理ＬＳＩ６,テスト結果格納メモリ１１等）の制御を行うＣＰＵ８と、ＤＲＡＭバッファ７からのディジタルデータを外部の記録再生装置１２に送信する送信部９と、記録再生装置１２から送信されてくるデータ・信号を受信する受信部１０とを備える。

光ピックアップ３は、ＣＰＵ８からの制御に応じてスレッド４上を移動することによって、光ディスク１の所定位置にデータの書き込みを、当該所定位置からデータの読み出しをそれぞれ行う。なお、ＣＰＵ８は、光ピックアップ３の制御に基づいて、レーザパワーを調整する機能や最適なレーザパワーに補正する学習機能を備える。

図２は、ＤＶＤ−Ｒ Dual Layerの光ディスク１の構造の一例を模式的に示す。

図２において、ａ１はインナ側のテスト記録領域（ＩＤＴＡＺ：Inner Disc Testing Area）であり、ａ２は記録管理領域（ＲＭＡ：Recording Management Area）であり、ａ０は２つの領域ａ１,ａ２からなる情報記録領域であり、ａ３はリードイン領域であり、ａ７はリードアウト領域であり、ａ４,ａ８はデータ記録領域であり、ａ５,ａ９は固定中間領域であり、ａ６,ａ１０はアウタ側のテスト記録領域（ＯＤＴＡＺ：Outer Disc Testing Area）である。

インナ側のテスト記録領域ａ１は、ドライブ用テスト記録領域ｂ１,ｂ２、ディスク製造用テスト記録領域ｂ３、および非使用のブランク領域ｂ４を備える。ドライブ用テスト記録領域ｂ１,ｂ２の容量は９０４０セクタであり、ドライブ用テスト記録領域ｂ１,ｂ２の中にＧＡＰのｃ１が含まれる。なお、ＧＡＰの容量は、インナ側で最大２５７ ＥＣＣブロックである。ＥＣＣブロックそれぞれは１６セクタである。

次に、上記のように構成された本実施の形態の光ディスク装置Ｅの動作を説明する。ここでは、光ディスク装置Ｅにおいて、記録再生装置１２から受信部１０に記録の要求があった場合を想定してその動作を説明する。光ディスク装置Ｅは、装着された光ディスク１へのテスト記録がすでに実施されているか否かを判断する。テスト記録が未実施であると判断する場合、光ディスク装置Ｅは、テスト記録処理を実施し、実施したテスト記録が成功する場合、光ディスク装置Ｅは、記録再生装置１２から要求された内容のデータ記録を光ディスク１に実施する。

図３は、光ディスク装置ＥによるＧＡＰ領域の探索方法の動作の一例を示すフローチャートである。ＧＡＰ位置の探索処理をスタートすると、まず、ステップＳ１において、１層目の情報記録層Ｌ０に対するアドレスリード処理を行う。ここで、アドレスとは光ディスク１の物理アドレスを示す。次いでステップＳ２において、１層目の情報記録層Ｌ０で取得したアドレス位置の真上に相当する２層目の情報記録層Ｌ１にジャンプして、２層目の情報記録層Ｌ１にアドレスリード処理を行う。これら互いに対向する各記録層のアドレス位置は、理想的には光ディスク１の半径方向の同一位置となる。

次いでステップＳ３において、１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１とから読み取った２つのアドレスにおける相対関係から、１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１とを貼り合せて光ディスク１を貼り合わせ製造した際に生じる、貼り合わせのずれ判定処理を行う。ずれ判定処理は例えば、次のようにして実施される。すなわち、１層目の情報記録層Ｌ０のアドレスと２層目の情報記録層Ｌ１のアドレスとが互いに対応する規定値になっているか否かで、上記ずれの判定を行う。より具体的には、２層目の情報記録層Ｌ１のアドレスが１層目の情報記録層Ｌ０のアドレスのほぼ反転した値となっている場合には、ずれがないと判定し、ほぼ反転した値になっていない場合には、ずれがあると判定する。１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１のアドレスに貼り合せ製造時のずれがある場合は、ステップＳ４に進む。一方、そうでない場合は、ステップＳ５に進む。

ステップＳ４では、貼り合せ製造時に生じたずれ量の算定処理を行うとともに、そのずれ量を本光ディスクのＧＡＰ領域の最大値としてテスト結果格納メモリ１１に格納する。ステップＳ４に進んでずれ量の計算処理が終了すると、本フローチャートの処理は終了する。

ここで、テスト結果格納メモリ１１は、ＣＰＵ８からアクセスできる空間に割当てられた記憶器であれば何でもよく、専用のメモリに限らない。テスト結果格納メモリ１１は、ＣＰＵ８からアクセス可能な任意のメモリの一部分から構成されてもよいし、メモリ以外にもレジスタなど他の記憶器から構成されてもよい。

なお、前述した、貼り合わせずれの判定処理とずれ量ｄの計算処理については、貼り合わせずれの判定処理を行わずに、ずれ量ｄの計算処理だけを行い、そこで得られたずれ量を本光ディスクのＧＡＰ領域の最大値としてテスト結果格納メモリ１１に格納するようにしてもよい。

また、前述したずれ量ｄの判定処理とずれ量ｄの計算処理とについては、上記の他、ずれ量ｄの計算処理を行ってから、ずれ量ｄが所定の量より大きいかどうか判断してもよい。この判定処理は、ずれ量ｄの判定処理に相当する。判定の結果、ずれ量ｄが所定の量より大きいときには、そのずれ量ｄは、本光ディスクのＧＡＰ領域の最大値としてテスト結果格納メモリ１１に格納される。以上に説明した、ずれ量ｄの計算処理に関する詳細手順については、上述した方法以外のものも合わせて後述する。

以上の処理が終了した後、テスト結果格納メモリ１１からずれ量ｄを読み出し、ディスク情報として光ディスク１のＲＡＭ領域に記録する。また、（テスト結果格納メモリ１１に格納されている）ずれ量ｄを光ディスク１に記録する際には、そのデータを前述したＲＡＭ領域に限ることなく光ディスク１のどこの領域に記録してもよい。つまり、ずれ量ｄをどこに記録するかを光ディスク装置Ｅが認識しておれば、そのデータの収納場所はどこでも構わない。さらには、新しい光ディスクが挿入されるたびにずれ量ｄを測定するようにすれば、必ずしもずれ量ｄを光ディスク１に記録する必要もない。

一方、ステップＳ５に進むと、通常のテスト記録の処理のためのテスト記録アドレス確定処理が実行される。この通常のテスト記録処理は、従来の技術と同様のものであり、本発明とは直接には関係しないが、以下、簡単に説明する。

ステップＳ５において、テスト記録アドレスＰＣＡ(Power Calibration Area)の指定処理を判断する。インナ側指定であると判定される場合には、次回追記時の物理的ブロックアドレスＰＢＡ（Physical Block Address）をインナ側のＰＣＡに設定する（ステップＳ６）。また、アウタ側指定であると判定される場合には、ＰＢＡをアウタ側のＰＣＡに設定する（ステップＳ７）。

次いでステップＳ８でブランクチェックを行い、ステップＳ９〜Ｓ１０で次回追記時のＰＢＡの計算処理を行い、ステップＳ１１で未記録／記録の境界を計算する。

以上のようにしてテスト記録領域の学習が終了すると、次いで図４のフローチャートの処理に進む。図４は光ディスク装置Ｅによるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。

まず、ステップＳ２１において、光ディスク１でテスト記録領域がすでに枯渇しているか否かを判断する。すなわち、記録可能域を探索し、記録可能域が存在すれば、ステップＳ２２に進んで、その領域でテスト記録を実施する。ステップＳ２２による通常のテスト記録領域でのテスト記録を行った後は、ステップＳ２５に進んで、テスト記録が成功したか否かを判断する。ステップＳ２５においてテスト記録が成功したと判断する場合は、光ディスク１への記録が可能であるとして、ステップＳ２６に進み、記録再生装置１２から光ディスク装置Ｅに対する要求である記録動作を実行する。

このようにして追記を繰り返していくと、テスト記録領域が枯渇するようになる。すると、ステップＳ２１による判断処理において、記録可能域が枯渇すると判断される。そうすると、処理はステップＳ２３に進む。ステップＳ２３においては、使用禁止領域とされているＧＡＰ領域で、前述したずれ量判定処理（図３のステップＳ４参照）で算定した記録可能域が枯渇しているか否かを判定する。この判定は具体的にＧＡＰ領域内で記録可能域が存在するか否かを検索することにより実施される。さらにはこの検索は例えば次のようにして実施される。すなわち、光ディスク１のＲＡＭ領域に格納されている、ＧＡＰ領域の最大値情報データを読み出し、読み出したＧＡＰ領域の最大値の範囲内において残存する記録可能域をテスト記録可能領域と見なし、その領域の有無およびその大きさを測定することで上記検索は実施される。ステップＳ２３で記録可能域が存在すると判定すれば、ステップＳ２４に進んで、ＧＡＰ領域における記録可能域にテスト記録を実施する。

ステップＳ２４の処理（ＧＡＰ領域内の記録可能域におけるテスト記録処理）を行った後は、ステップＳ２５に進んで、テスト記録が成功したか否かを判断する、ステップＳ２５で成功したと判断する場合には、光ディスク１への記録が可能であると判断して（ステップＳ２６）、記録動作を実行する。

一方、ステップＳ２５においてテスト記録が失敗したと判断する場合、あるいはステップＳ２３においてＧＡＰ領域内に記録可能域がないと判断する場合には、記録動作が不可と判断して（ステップＳ２７）、記録再生装置１２から要求されたデータ記録を光ディスク装置Ｅに実施することなく処理を終了する。

次に「ずれ量ｄの計算処理」の詳細な手順について、図５Ａ,図５Ｂ,図６Ａ,図６Ｂ,図７Ａ,図７Ｂ,図８−図２２を参照して説明する。

（詳細な手順の第一の例）
以下、ずれ量ｄの計算処理の詳細な手順の第一の例について説明する。図５Ａは光ディスク１のＬ０層のトラックとＬ１層のトラックとを示す図である。ここで、１０００はＬ０層の中心点であり、Ｌ０層の各トラックは中心点１０００を中心とする同心円形状となる。なお、実際には、光ディスク１の各トラックはスパイラル状に形成されているが、光ディスク１は多数のトラックから構成されているため、便宜上、各トラックを円と見なしても差し支えない。トラック１００２はＬ０層のトラックであり、中心点１０００を中心とする円形状を有する。同様に１０１０はＬ１層の中心点であり、トラック１０１１とトラック１０１２とトラック１０１３とは全てＬ１層のトラックであって、これらは中心点１０１０を中心とする同心円形状となる。ここで、Ｌ１層のトラック１０１２の半径とＬ０層のトラック１００２の半径とは、略同一である。Ｌ１層のトラック１０１１は、図中、中心点１０００,１０１０の右側においてＬ０層のトラック１００２に接する。Ｌ１層のトラック１０１３は、図中、中心点１０００,１０１０の左側においてＬ０層のトラック１００２に接する。

次に、図５Ｂ,図６Ａ,図６Ｂ,図７Ａ,図７Ｂを参照して、Ｌ０層からＬ１層へ、または、Ｌ１層からＬ０層へ層間ジャンプを実施する際におけるアドレス（物理アドレス）の取得方法を具体的に説明する。

図５Ｂは、図５Ａに追加の説明を加えたものである。図５Ｂにおいて、ｒは、トラック１００２の半径を示す。点１０２１はトラック１００２上の点であって、トラック１００２の中心である中心点１０００と点１０２１との間の距離はｒとなる。Ｒは、トラック１００２とは同心にならないトラックの中心である中心点１０１０とトラック１００２上の点１０２１との間の距離を示す。ｄは、互いに偏心している両トラックの中心である中心点１０００と中心点１０１０との間の距離を示す。距離ｄは２つの層の間に生じる貼り合わせのずれの量（以下、ずれ量という）に相当する。θは、中心点１０００と中心点１０１０とを結ぶ線分Ｑ１と、中心点１０００と点１０２１とを結部線分Ｑ２とによって形成される角度を示す。１０２２−１０２５は、点１０２１と同様、Ｌ０層のトラック１００２上の点を示す。１０２３,１０２５は、トラック１００２とトラック１０１２との交点を示す。

なお、以下の説明においては、点１０２１は現在の光スポット（光ピックアップ３によってレーザ光を照射されている点）を示し、点１０２２から左周りに移動して点１０２３から点１０２５を経由し、トラックを一周回って点１０２２（実際には１トラックずれた点）に戻ってくるものとする。角度θは、光スポットの回転角度を示しており、回転角度θは、０[rad]から２π[rad]まで変化すると見なせる。実際には、光ピックアップ３がトラック上を移動するのではなく、光ディスク１が回転しているために、光スポットがトラック上を移動するのであってディスク１の回転は連続的に続けられる。図５Ｂにおける中心点１０００,１０１０,１０２１を頂点とする三角形から、距離Ｒと回転角度θとの間には、次の（１）式が成立する。
Ｒ＝ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²−２ｒ・ｄ・ｃｏｓ（θ）） …（１）
この（１）式によれば、
Ｒ＝ｒ−ｄ （θ＝０[rad]）
Ｒ＝ｒ＋ｄ （θ＝π[rad]）
Ｒ＝ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²）
：θ＝π／２[rad],またはθ＝３π／２[rad]
となる。

なお、ＳＱＲＴ（ｘ）はｘの平方根を与える関数であり、ｃｏｓ（θ）は回転角度θに対する余弦を与えるコサイン関数を表わすものとする。

ここで、光スポットがＬ０層のトラック１０２２上を移動する状態における任意の時点（点１０２１で光スポットが示される時点）において、当該光スポットがＬ０層からＬ１層に層間ジャンプする状態について考察する。この場合、ジャンプ先のＬ１層のトラックは中心点１０１０を中心とする円状になり、その半径は、点１０２１とＬ１層の中心点１０１０との間の距離Ｒになる。距離Ｒが回転角度θによらず一定であれば、Ｌ０層からＬ１層に層間ジャンプしたとしても、光スポットは予め想定しておいたトラックに着地することになる。しかしながら、実際には、前述したように距離Ｒは回転角度θの関数となる。そのため、Ｌ１層における着地トラックの位置は、回転角度θ（言い換えれば、Ｌ０層上の点１０２１の場所）によって変動する。

以上のことから、次のことがわかる。
・距離Ｒが距離ｒより小さくなる位置に点１０２１が存在する状態、つまり、点１０２１が点１０２５から点１０２２を経由して点１０２３までの間にある状態では、ジャンプ後のＬ１層は、ジャンプ元のＬ０層より内周側になる。
・距離Ｒが距離ｒより大きくなる位置に点１０２１が存在する状態、つまり、点１０２１が点１０２３から点１０２４を経由して点１０２５までの間にある状態では、ジャンプ後のＬ１層は、ジャンプ元のＬ０層より外周側になる。
・点１０２２に接しているＬ１層のトラック１０１１は、当該トラック１０１１上で層間ジャンプが生じた際には最も内周側のトラックになる。
・点１０２４に接しているＬ１層のトラック１０１３は、当該トラック１０１３上で層間ジャンプが生じた際には最も外周側のトラックになる。
・点１０２３または点１０２５の場所で層間ジャンプが生じた場合は、もとのＬ０層のトラック１００２と同じ半径位置にあるＬ１層のトラック１０１２に光スポットが着地する。

図６Ａは、上述した距離Ｒと回転角度θとの関係式をグラフとして表したものである。図中、点１０２１は、トラック１００２を一周した際に、距離Ｒがどのように変化するかを示す図である。図の縦軸は距離Ｒを、横軸は回転角度θをそれぞれ示す。ここで、回転中心を中心点１０００にして、点１０２１がトラック１００２を一周する際における回転角度θの時間変化率ｄθ／ｄｔ（θを時間で微分した値）に着目する。光ディスク１の一回転にかかる時間の範囲で見た場合、この時間変化率ｄθ／ｄｔはほぼ一定の値となる。そのため、図６Ａにおける横軸θを時間ｔに置換してもグラフの形状は変わらない。それに対して、実際の光ディスク１の回転中心は、光ディスク１を光ディスク装置Ｅにローディングしてチャッキングする（ディスクをつかむ）毎にランダムに変動する。そのため、時間変化率ｄθ／ｄｔは、光ディスク１の一回転にかかる時間の範囲で見た場合、多少変動することになる。しかしながら、通常、光ディスク装置Ｅではチャッキングの誤差が所定の範囲内に収まるように設計されており、光ディスク１の回転中心は中心点１０００や中心点１０１０の周辺のある範囲内に存在することになる。そのため、回転中心の変動は誤差として無視できる程度であると言える。

図６Ａを見ると、Ｌ０層からＬ１層へ層間ジャンプした後の距離Ｒは、層間ジャンプした点に応じて、最小値（ｒ−ｄ）＝Ｒminから最大値（ｒ＋ｄ）＝Ｒmaxまで変化することがわかる。したがって、Ｌ０層における各トラック位置からＬ１層へ層間ジャンプを行いながら、層間ジャンプ毎に距離Ｒを測定することで、距離Ｒの最小値Ｒminと最大値Ｒmaxとを推定することができる。距離Ｒの最小値Ｒminと最大値Ｒmaxとに基づけば、Ｌ０層とＬ１層とを貼り合わせた際に生じるずれ量ｄは、以下の（２）式によって算定することができる。
ｄ＝（Ｒmax−Ｒmin）／２ …（２）
さらには、層間ジャンプ前のＬ０層におけるトラックの半径ｒを用いれは、ずれ量ｄは、以下の（３）式または（４）式によって算定することができる。
ｄ＝Ｒmax−ｒ …（３）
ｄ＝ｒ−Ｒmin …（４）
ところで、前述した記述では、（１）式において、θ＝π／２[rad]またはθ＝３π／２[rad]のとき、Ｒ＝ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²）になることを説明したが、その際のずれ量ｄは、距離ｒに比して極めて小さい（ｄ≪ｒ）。したがって、このときの距離Ｒと距離ｒとは、Ｒ≒ｒと見なすことができる。そこで、距離Ｒ（層間ジャンプ後のＬ１層トラックの半径）から距離ｒ（層間ジャンプ前のトラック半径）への変化量ΔＲについて考察する。ここで、変化量ΔＲは絶対値を示すものとする。変化量ΔＲと回転角度θとの関係は、以下の（５）式になる。
ΔＲ＝ＡＢＳ（ＳＱＲＴ（ｒ²＋ｄ²−２ｒ・ｄ・ｃｏｓ（θ））−ｒ） …（５）
ただし、ＡＢＳ（ｘ）はｘの絶対値を与える関数である。この式をグラフで表すと、図６Ｂに示すようになる。この変化量ΔＲの最大値はｄであるので、変化量ΔＲを繰り返し算定してその最大値ΔＲmaxをずれ量ｄとするようにしてもよい。このずれ量ｄの算定方法は、結局のところ、以下の（６）式によってずれ量ｄを算定しているのと等価になる。
ｄ＝Ｒmax−ｒ …（６）
なお、上記以外のずれ量ｄの算定方法としては、変化量ΔＲを繰り返し算定したうえでさらにその平均値ΔＲaveを算定し、算定した平均値ΔＲaveから最大値ΔＲmax（すなわち、ずれ量ｄ）を算定してもよい。具体的には、図６Ｂに示す（５）式の区間（θ＝０〜２π）における平均値ΔＲaveは、ΔＲave≒（２ｄ／π）と表せるため、ずれ量は、以下の（７）式によって算定することができる。
ｄ＝ΔＲmax≒ΔＲave×（π／２） …（７）
πは、範囲（3.1＜π＜3.2）に収まるため、ずれ量ｄは、平均値ΔＲaveを約1.55〜1.6倍することで推定できる。ここで、πの範囲を、約1.55〜1.6倍としたが、必ずしもこの範囲に限られるものではない。なお、変化量ΔＲの指標つまり絶対値を取る代わりに二乗し、さらにその二乗値（ΔＲ）²の平均値を算定することで、距離ｄに代わってｄ²を推定し、さらに推定したｄ²の平方根を算定することで、ずれ量ｄを得ることもできる。

上述した説明では、トラックの半径値（距離Ｒ）に基づいてずれ量ｄを推定したが、多くの光ディスク装置では、トラックの半径量そのものの正確な値を直接得ることはできない。そこで、そのような装置構成では、アドレス値（現在読み出している物理アドレスの値）からトラック半径値（距離Ｒ）を算定してもよい。アドレス値をトラック半径値（距離Ｒ）に変換する方法の一例を、以下、説明する。

アドレス値が付与される単位（通常はセクタ単位）の長さをＬ、既知の半径値（距離Ｒ₀）における既知のアドレス値をＡ₀（通常は光ディスクの規格書において、例えば、最内周の位置とアドレス値などとして規定されている）、現在のアドレス値をＡ、トラックピッチをＴpとすると、現在の半径値（距離Ｒ）は以下の（８）式で算定することができる。
Ｒ＝ＳＱＲＴ（Ｔp・Ｌ・（Ａ−Ａ₀）／π＋Ｒ₀ ²） …（８）
同様に、アドレスＡ₀からアドレスＡまでのトラック本数Ｎは以下の（９）式で算定することができる。
Ｎ＝Ｒ／Ｔp＝ＳＱＲＴ（Ｔp・Ｌ・（Ａ−Ａ₀）／π＋Ｒ₀ ²）／Ｔp …（９）
アドレス値から半径値（距離Ｒ）あるいはトラック本数を算定する処理は、光ディスク装置において、シーク元アドレス値からシーク先アドレス値に向けて横断するトラック本数（上記のＮに相当）を計算するために必要な処理の一部でもあり、光ディスク装置内部で通常に行われている。したがって、アドレス値から半径値（距離Ｒ）を算定する方法については、上述した一例に限るわけではなく、同等の結果が得られるのであれば、どのような方法であってもよい。また、半径値（距離Ｒ）とアドレス値との関係に基づけば、逆に、半径値（距離Ｒ）からアドレス値Ａを算定することもできる。したがって、任意のトラック（例えば半径値（距離Ｒ））からずれ量ｄに応じて半径値（距離）が変化した半径値（距離Ｒ＋ｄ）,（距離Ｒ−ｄ）を有するトラックにおけるアドレス値を算定することも可能である。

ここで、これまでに説明した内容に基づいて、層間ジャンプ後のアドレス値からずれ量ｄを算定する光ディスク装置、およびそのずれ量算定方法を、図７,図８を参照して説明する。

図７はアドレス値からずれ量ｄを算定可能な光ディスク装置のブロック図である。なお図１と同一符号を付与した構成要素については詳細な説明を省略する。

光ディスク１は記録層が２層であるＤＶＤ−Ｒディスクである。この光ディスク１を所定回転数で回転させるスピンドルモータ２は回転位置信号ｈｅｏを出力する。

ディスク回転制御器１１１はスピンドルモータ２から供給される回転位置信号ｈｅｏに基づいてスピンドルモータ２の回転速度を算出して、目標回転になるように制御出力ｍｔｄをスピンドルモータ２に出力する。

光ピックアップ３は、光ディスク１に光ビームを照射したうえで反射光を集光して検出する機能を備える。光ピックアップ３は、集光レンズ（図示せず）と集光レンズを駆動するアクチュエータ（図示せず）とを備える。光ピックアップ３は、光ビームを光ディスク１の記録面に垂直方向（以下、フォーカス方向と記す）に沿った任意の位置に集光する機能と、光ディスク１上のトラックを横断する方向（以下、トラック方向と記す）に沿った任意の位置に集光する機能とを有する。

以下、上記光ディスク装置の各構成要素の動作をさらに詳細に説明する。光ピックアップ３は、反射光の一部あるいは全部を電気信号に変換してなる信号をフォーカスエラー検出器１１２とトラッキングエラー検出器１１３とアドレス検出器１１４とに出力する。

フォーカスエラー検出器１１２は集光された光ビームと光ディスク１の記録面との間の垂直方向に沿った位置ずれ量を検出し、その検出結果に基づいてフォーカスエラー信号ｆｅを生成してフォーカス制御器１１５に出力する。

フォーカス制御器１１５はフォーカスエラー信号ｆｅに基づいて、フォーカスエラー信号ｆｅがゼロになるように制御演算してなる駆動信号ｆｃｄを生成して光ピックアップ３のアクチュエータに出力する。フォーカス制御器１１５は光ディスク１の任意の記録層へ光ビームの集光位置を移動させる層間ジャンプ駆動において駆動制御を行う。

トラッキングエラー検出器１１３は集光された光ビームと光ディスク１上の任意のトラック位置との位置ずれ量を検出し、その検出結果に基づいてトラッキングエラー信号ｔｅを生成してトラッキング制御器１１６に出力する。

トラッキング制御器１１６はトラッキングエラー信号ｔｅに基づいて、トラッキングエラー信号ｔｅがゼロになるように制御演算してなる駆動信号ｔｋｄを生成して光ピックアップ３のアクチュエータに出力する。また、トラッキング制御器１１６は、光ディスク１上の任意のトラックに集光した光ビームを位置決めするスチルジャンプ駆動において駆動制御を行う。

アドレス検出器１１４は、光ディスク１からの反射光に基づいて、光ディスク１に予め記録されたＬＰＰ(Land Pre-Pit)などを検出することによって物理アドレスを検出する。アドレス検出器１１４はずれ量検出器１１７に結果ｉｄを出力する。結果ｉｄは、ずれ量検出器１１７からのリード命令ｒｄに基づいて集光された光ビーム位置が光ディスク１上のどの位置に集光されているのかを示すアドレス情報であって、以下、ｉｄをアドレス情報として記述する。

ずれ量検出器１１７はフォーカス制御器１１５に層間ジャンプ命令ｆｃｍｖを出力する。層間ジャンプ命令ｆｃｍｖは、光ビームの集光位置が光ディスク１上の所定の記録層に移動するように制御する命令信号である。ずれ量検出器１１７はアドレス検出器１１４から出力されるアドレス情報ｉｄに基づいて光ビームが集光している半径値（距離Ｒ）を算出する。ずれ量検出器１１７は、さらに各記録層（Ｌ０層,Ｌ１層）において算出した半径値（距離Ｒ）からずれ量ΔRを検出してＣＰＵ８に出力する。

ＣＰＵ８はスレッド４に駆動信号ｓｌｄを出力する。駆動信号ｓｌｄは、光ピックアップ３が光ディスク１の半径方向の所定位置まで移送するように制御する信号である。スレッド４は駆動信号ｓｌｄに基づいて光ピックアップ３を光ディスク１の半径方向の任意の位置に移送させる。ＣＰＵ８は光出力制御器１１９に光出力目標値ｒｅｆＰｗを出力することができる。出力目標値ｒｅｆＰｗは光ディスク１への記録および再生時において必要となる。

光出力検出器１１８は、光ディスク１に照射される光出力レベルを検出してその検出結果を電気信号ｆｍに変換する。光出力検出器１１８は、光ピックアップ３の照射器が出力する光ビームの少なくとも一部を検出することで光出力レベルを検出する。電気信号ｆｍは光出力制御器１１９に供給される。光出力制御器１１９は、光出力目標値ｒｅｆＰｗと電気信号ｆｍ（光出力レベル）との差分がゼロに近づくように制御演算することで光出力制御信号Ｐｗｄを生成して光ピックアップ３の照射器に出力する。光ピックアップ３はＣＰＵ８から出力される駆動信号ｓｌｄに基づいて移送されるが、その際、ＣＰＵ８は
・ずれ量検出器１１７が光ディスク１上の任意の半径位置でずれ量ｄを検出できる、
・光ディスク１上の任意のトラックにデータを記録できる、
・光ディスク１上の任意のトラックに予め記録された情報を再生できる、
という条件が満たされるように、駆動信号ｓｌｄを制御する。

さらにＣＰＵ８は、
・光出力制御器１１９と光出力検出器１１８とによって光ディスク１上に任意の記録マークを形成できる、
・光ディスク１上に予め記録された情報を再生できる、
という条件が満たされるように、光出力の目標値ｒｅｆＰｗを制御する。

図８を参照して、ずれ量ｄを求める方法をさらに詳細に説明する。図８は図７に示す光ディスク装置においてずれ量ｄを求める手順を示したフローチャートである。最初に光ディスク１の任意のトラック上に集光された光ビームのサーボ制御を開始する（ステップＭ０１）。続いて予め決定していたＬ０層の任意のアドレスにシークしてスチルジャンプする（ステップＭ０２）。次にそのトラック上のランダムな位置で層間ジャンプをし、層間ジャンプ先のＬ１層における現在アドレスを取得し（ステップＭ０３）、前述した式（１）等を用いて半径値（距離）Ｒを算定する（ステップＭ０４）。

ステップＭ０１−Ｍ０４を複数回数繰り返すことで、半径値（距離）Ｒの最大値Ｒmaxと最小値Ｒminとを算定する（ステップＭ０５）。そして最大値Ｒmaxと最小値Ｒminとを、前述した（２）式に代入することで、ずれ量ｄを算出する（ステップＭ０６）。

ずれ量ｄを算出した後、算出したずれ量ｄに応じてあらかじめ使用禁止領域にテスト記録を実行するか否かを判定する（ステップＭ０７）。ここでテスト記録を実行する場合は記録可能域を決定し(ステップＭ０８)、テスト記録処理を行う（ステップＭ０９）。ステップＭ０４,Ｍ０６はずれ量検出器１１７が実施し、ステップＭ０９はＣＰＵ８が実施する。このような処理を実施するＣＰＵ８は、記録可能域特定器として機能する。また、ＣＰＵ８は、判断器,第１,第２の探索器,および第１,第２の確認器として機能する。

なお、ステップＭ０３においてランダムな位置で層間ジャンプをするとしたが、トラック円周上の所定間隔で（ほぼ等間隔で）層間ジャンプをするようにすると、ランダムな位置で層間ジャンプをする場合よりも、ステップＭ０１からステップＭ０４の繰り返し回数を減らすことが可能になる。

以下では、アドレス値の扱いについて、補足説明する。ＤＶＤ−Ｒ Dual Layerディスクを含むＤＶＤ２層ディスクのオポジットトラックパス（ＯＴＰ）では、Ｌ０層のある半径値（距離Ｒ）のアドレス値と、Ｌ１層と同じ半径値（距離Ｒ）のアドレス値とはおよそビット反転した関係になるようにディスクが形成されている。したがって、一方層は内周から外周へ、他方層は外周から内周へ、それぞれアドレス値が増加する。このような構成を備えたディスクにおいては、一方層のアドレス値をビット反転したときに、その反転アドレス値が他方層のアドレス値とほぼ等しければ、２層のアドレス値はほぼ等しい半径値（距離Ｒ）を有する位置に存在していることになる。

前述した記述では、アドレス値から半径値（距離Ｒ）を算定する計算方法について説明を行ったが、その説明において例示した具体的な計算方法では、内周から外周へアドレスが増えていく層を想定した。反対に、外周から内周に向けてアドレスが増えていく層では、実際に読み出されたアドレス値をビット反転した後に、反転アドレス値をアドレス値と考えて上述した計算方法と同じ計算方法を実施すれば、その半径値（距離）Ｒを算定することができる。

ところで、これまでの説明では、層間ジャンプに要する時間をほぼゼロと見なして無視してきたが、実際には、層間ジャンプには若干ながらも時間を要する（例えば、１０ｍｓ程度）。層間ジャンプが実施される期間では、光ディスク装置にトラッキング制御が及ばないので、その期間を経れば、その分だけトラックが移動してしまう。以下、このようにして生じるトラック移動のことをトラック流れと称する。トラック流れは制御誤差を生じさせる。

層間ジャンプ中に光ディスク１が回転する角度が大きくなってくると、制御誤差から見てトラック流れは無視できない程の大きさになる。さらには、光ディスク１の回転速度に比例して光ディスク１の最大面ぶれ速度が大きくなるので、トラック流れが大きくなると、層間ジャンプ時のフォーカス引き込みに失敗する可能性が高くなる。なお、フォーカス引き込みとは、光スポットがＬ０層からＬ１層に、またはＬ１層からＬ０層に移動する状態において、移動先層における所望のトラックに光スポットを正確に移動させることをいう。

トラック流れを少なくしてこのような不都合を未然に防ぐためには、可及的に光ディスク１の回転速度を下げればよい。通常の光ディスク装置では、ＤＶＤを記録再生する際には、ＤＶＤの標準線速度（１倍速）以上の線速度で各種制御処理を行う。ＤＶＤ−Ｒからなる光ディスク１を標準線速度（１倍速）で回転させた場合、その内周側のＰＣＡ領域では、１回転あたり約４０ｍｓの時間を要する。そのため、この状態で層間ジャンプに例えば１０ｍｓ要すると、層間ジャンプの実施期間中に生じるトラック流れは、９０度回転になる。光ディスクの制御動作において、層間ジャンプ中でのトラック流れとして許容可能な誤差が例えば３０度程度である場合を想定すると、１／３倍速（０．３３倍速）以下で光ディスク１を回転させれば、前述した不都合を未然に防ぐことができる。

しかしながら、光ディスク１の回転速度を標準速度（１ｘ）以下にした場合には、光ピックアップ３から照射する再生レーザ光のパワーを低下させる必要がある。そうしないと、再生動作中にディスクが感光して記録がなされてしまうためである。

再生レーザ光のパワーを低下させるためには、上述したように光ピックアップ３から照射する再生レーザ光そのものパワーを低下させてもよいが、可及的に外周側のトラックにおいてずれ量ｄの測定処理（層間ジャンプ）を行うことでも上記不都合を防止できる。例えば、標準線速度（１倍速）でディスクを回転させた場合、ディスク最外周位置において１回転に要する時間は約１００ｍｓとなる。ディスク最外周位置において層間ジャンプをした場合における所要時間に例えば１０ｍｓ要したとすると、層間ジャンプの期間中において生じるトラック流れは、３６度回転となり、ディスク内周側でずれ量ｄの測定処理を実施した場合のトラック流れ（９０度回転）に比して大幅に減少する。このように、ずれ量ｄの測定処理（層間ジャンプ）を行うトラックを、可及的に外周側に設定すれば、その際のディスク回転速度がほぼ標準線速度（１倍速）であっても、層間ジャンプ中に生じるトラック流れを許容誤差内に収めることができる。

次に、光ディスク１の回転速度を下げた状態でずれ量ｄの測定処理（層間ジャンプ）を行うことが可能な光ディスク装置の構成例を図９を参照して説明する。図９の光ディスク装置では、図７に示す光ディスク装置においてＣＰＵ８からディスク回転制御器１１１に回転数変更命令Ｒｅｖ（ｍｅｓ）が供給されるように改良されている。すなわち、図９の光ディスク装置では、層間ジャンプに要する時間が無視できないことを想定して、ずれ量ｄを測定する期間において、スピンドルモータ２の回転速度を十分に小さくしている。具体的には、図１０に示すように、図８のフローチャートにおけるステップＭ０１とステップＭ０２との間に、ステップＭ１ａとステップＭ１ｂとが追加され、ステップＭ０４とステップＭ０５との間に、ステップＭ０１ｃが追加されている。

ステップＭ１ａでは、スピンドルモータ２の回転数を検出したうえで、その検出結果をＲｅｖ（ｐｒｅ）として記憶する。ステップＭ１ｂでは、スピンドルモータ２の回転周期（１周期に要する時間）が層間ジャンプに要する時間よりも十分に大きくなるように、モータ回転目標回転数Ｒｅｖ（ｍｅｓ）を制御する。ステップＭ１ｃでは、半径値（距離）Ｒを算定するステップＭ０４が終了したのち、スピンドルモータ２の回転数をステップＭ１ａで測定したＲｅｖ（ｐｒｅ）に戻す。

制御動作を図１０のフローチャートに示すように改良すれば、層間ジャンプによって光スポットがＬ０層からＬ１層に、またはＬ１層からＬ０層に移動する際におけるフォーカス引き込みの安定と、トラック流れに起因する測定誤差の抑制とを図ることができる。

なお、これまでの説明ではＬ０層からＬ１層へのジャンプを例にして説明したが、Ｌ１層からＬ０層にジャンプする場合でも、同様に考えることができ、同様の近似式でずれ量ｄを算定することが可能である。このようにＬ１層からＬ０層へ層間ジャンプした後の半径値またはアドレス値に基づいて、ずれ量ｄを算定することができる。

なお、これまでに様々な計算方法を例示したが、本手順は、これらの計算方法に限られるものではない。これらの計算方法と同傾向の結果が得られると当業者が容易に推測できるような計算方法によってこれらの計算方法が代替されてもよい。

（詳細な手順の第二の例）
以下、ずれ量ｄの計算処理の詳細な手順の第二の例について説明する。図１１Ａは光ディスク１のＬ０層とＬ１層のトラックについて示した図である。ここで、１０００はＬ０層のトラック１００２の中心点であり、中心点１０１０はＬ１層のトラック１０１２の中心点である。また、１０２０はディスク１の回転中心である。なお、回転中心１０２０は、光ディスク１を光ディスク装置Ｅにローディングしてチャッキングする（ディスクをつかむ）毎にランダムに位置決めされる。回転中心１０２０と中心点１０００とを結んだ直線Ｑ３とトラック１００２との交点を、それぞれ１０４１と１０４２とで示す。交点１０４１は、回転中心１０２０からみて交点１０４２より遠い。また、回転中心１０２０と中心点１０１０とを結んだ直線Ｑ４とトラック１０１２との交点を、それぞれ１０３１と１０３２とで示す。交点１０３１は、回転中心１０２０からみて交点１０３２より遠い。

図１１Ｂは、図１１Ａにおける要部拡大図であって、中心点１０００と中心点１０１０と回転中心１０２０との位置関係を詳細に示す図である。図において、ｄは、中心点１０００と中心点１０１０との間の距離を示し、ｄ₁は、中心点１０００と回転中心１０２０との間の距離を示し、ｄ₂は、中心点１０１０と回転中心１０２０との間の距離を示し、１０５１は、回転中心１０２０を通る基準線を示し、θ₁は、線分Ｑ３と基準線１０５１との間に形成される角度を示し、θ₂は、線分Ｑ４と基準線１０５１との間に形成される角度を示す。基準線１０５１は、点１０２０を通りさえすれば、どのように引いても構わない。これは、最終的に計算で必要となるパラメータ回転角度θは、次の（１０）式によって算定されるためである。
θ＝ＡＢＳ（θ₁−θ₂） …（１０）
図１２は、各層（Ｌ０層とＬ１層）のトラック追従時（トラッキング制御時）において、光ピックアップ３のレンズ位置（トラッキング方向）が光ディスク１の回転に伴って変動する状態を示す。図１２において、変動量のプラス符号は外周側を、マイナス符号は内周側を、さらには、０（ゼロ）は変動の中心をそれぞれ示す。図１２で示すレンズ位置の変動は、例えば、次のようにして算定される。

トラッキング制御は、回転中心１０２０と実際のトラックの中心（中心点１０００あるいは中心点１０１０）との間のずれに起因して生じる回転変動の吸収を主目的として実施される。トラッキング制御において、上記変動は、当該トラッキング制御によって光ピックアップ３のレンズを駆動した量（具体的には駆動によって移動した量の見積もり値）を積算（積分）して得られる値に基づいて算定される。あるいは、トラッキング制御に用いられるトラッキング誤差信号の低域成分に基づいて上記変動は算定される。多くの光ディスク装置において、図１２で示す変動を測定して偏心量（すなわち、図１２のｄ₁やｄ₂に相当する量）を算定する処理は通常に行われる。本実施形態では、このことに着目して、新たな処理を追加することなく上記変動を算定する。しかしながら、上記変動を算定する方法は、上述した方法に限るわけではなく、同等の結果が得られる方法であれば、どのような方法であっても構わない。

ここで、光ディスク１の回転速度は、少なくとも短い期間（ディスク数回転からディスク数百回転程度）では一定であると考えてよく、その間、ディスク１回転に要する時間Ｓは、ほぼ一定であると見なせる。また、図１２で示す変動を得るために測定値を取得する時間間隔（サンプリング間隔、あるいはグラフで言えばプロット間隔）をＴとすると、ディスク１回転の間に測定値を取得する回数（サンプリング回数）は（Ｓ／Ｔ）回となる。

次に上述した方法で算出される偏心量（図１２におけるｄ₁やｄ₂）に基づいて、ずれ量ｄを算定可能な光ディスク装置の構成およびその方法を図１３および図１４を参照して説明する。

図１３は偏心量に基づいてずれ量ｄを算定可能な光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、図７と同一の符号を付与した構成要素については詳細な説明を省略する。トラッキングエラー検出器１１３は集光された光ビームと光ディスク１上の任意のトラック位置との位置ずれ量を検出してトラッキングエラー信号ｔｅを生成してトラッキング制御器１１６に出力する。トラッキング制御器１１６はトラッキングエラー信号ｔｅに基づいて、トラッキングエラー信号ｔｅがゼロになるように制御演算することで駆動信号ｔｋｄを生成して光ピックアップ３のアクチュエータとずれ量検出器１１７とに出力する。なお、図７の説明でも述べたように、トラッキング制御器１１６は、光ディスク１上の任意のトラックに集光した光ビームを位置決めできるようにスチルジャンプ駆動制御も実施できる。

クロック生成器１２０は一定周波数信号を出力する素子の出力を分周等してなる一定周波数のパルス信号である出力ｃｌｋを生成して出力する。クロック生成器１２０は例えば水晶発信器から構成される。クロック生成器１２０は、出力ｃｌｋをずれ量検出器１１７に出力する。

ずれ量検出器１１７は、トラッキング制御器１１６からの駆動出力ｔｋｄを、クロック生成器１２０からの出力ｃｌｋに基づいて設定するサンプリング周期でサンプリングすることで、光ディスク１の周方向位置に対する偏心に相当する値を測定する。ずれ量検出器１１７は、この測定を光ディスク１の各記録層に実行することで得られる各記録層の偏心情報に基づいてずれ量ｄを検出する。以下、このずれ量ｄの検出方法を図１４を参照して説明する。

図１４は図１３に示す光ディスク装置において光ディスク１が回転したときのトラッキング制御器１１６の出力とクロック生成器１２０の出力とを示す図である。図において、横軸は光ディスク１の周方向における回転位置を、縦軸はトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄおよびクロック生成器１２０の出力ｃｌｋをそれぞれ示す。また、図１４において、Ｌ０層におけるトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄは実線で示され、Ｌ１層におけるトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄは破線で示される。図１２を参照して前述したように、光ディスク１が回転すると光ディスク１の偏心に追従するためにトラッキング制御器１１６は図１４に示す余弦波状の駆動信号を出力する。ここで光ディスク１の偏心量が大きくなると縦軸に示すトラッキング制御出力ｔｋｄの振幅が大きくなる。ずれ量検出器１１５は出力ｃｌｋの立ち上がりと立ち下りのタイミングとでトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄをサンプリングする。ずれ量検出器１１５は、この測定（サンプリング）を少なくとも１回転分以上の期間で行い、トラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄが最も大きいサンプルを最大値出力サンプルとして検出し、そのサンプルの出力ｔｋｄを最大値として検出する。図１４では、Ｌ０層におけるトラッキング制御器１１６の最大値出力サンプルはｔ１０となり、最大値は＋ｄ₀となる。同様にＬ１層におけるトラッキング制御器１１６の最大値出力サンプルはｔ１２となり、最大値は＋ｄ₁となる。

図１４に示す各データを、前述した（１）式に代入すれば、ずれ量ｄは、次のようにして算出される。次の式（１−１）は、図１４に示す各データを前述した（１）式に代入した式である。
ｄ＝ＳＱＲＴ（ｄ₀ ²＋ｄ₁ ²−２ｄ₀・ｄ₁・ｃｏｓ（θ）） …（１−１）
ただし、（１−１）式におけるθは次の（１２）式で得られる。
θ（ｄｅｇ）＝２π・２／４０＝１８（ｄｅｇ） …（１２）
（１２）式における定数（２／４０）は、次のようにして設定される。すなわち、Ｌ０層とＬ１層とによって偏心量が最も大きかったサンプリングの差（ｔ１０とｔ１２）の絶対値が２であり、光ディスク１が１回転する区間において、ずれ量検出器１１７による総サンプリング数が４０であることから、定数（２／４０）は設定されている。ここで、ディスク１回転あたり約４０サンプルに相当するサンプリング周波数でトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄをサンプルする場合を例に説明したが、何もこの程度のサンプリング周波数に限定される訳ではない。サンプリング周波数を大きくする程、高精度にずれ量ｄを算出することが可能になる。

なお、ずれ量検出器１１７は、図７の説明において示したように、光ディスク１上の任意の記録層に光ビームの集光位置を移動させるようにフォーカス制御器１１５に層間ジャンプ命令ｆｃｍｖを出力できる。

次に、図１５を参照して、ずれ量ｄを算出する方法を説明する。図１５は図１３に示す光ディスク装置において、ずれ量ｄを算出する手順を示すフローチャートである。最初に光ディスク１の任意のトラック上に集光された光ビームの制御を開始する（サーボＯＮ：ステップＭ０１）。続いて予め決定していたＬ０層の任意のアドレスをシークして光スポットをアドレスにスチルジャンプさせる（ステップＭ１２）。次にそのトラック上におけるトラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄとクロック生成器１２０の出力ｃｌｋとに基づいて偏心に相当する値の最大値ｄ₀とその最大値ｄ₀をサンプリングしたタイミングθ₀とを計測する（ステップＭ１３）。続いてスチルジャンプを解除したうえで（スチルジャンプＯＦＦ）、Ｌ１層に層間ジャンプして、再びスチルジャンプを開始する（スチルジャンプＯＮ：ステップＭ１４）。そしてＬ１層においてもステップＭ１３と同様にトラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄとクロック生成器１２０の出力ｃｌｋとに基づいて偏心に相当する値の最大値ｄ₁とその最大値ｄ₁をサンプリングしたタイミングθ₁とを計測する（ステップＭ１５）。ステップＭ１３およびステップＭ１５で計測した結果（ｄ₀,ｄ₁,θ₀,θ₁）を用いてずれ量ｄを算出する（ステップＭ１６）。

以上のステップＭ１１−Ｍ１６を実施することでずれ量ｄを算出することができる。ずれ量ｄを算出した後、ずれ量ｄに応じてあらかじめ使用禁止領域にテスト記録を実行するか否かを判定する（ステップＭ０７）。ステップＭ０７の判定処理の例としては、ずれ量ｄがある程度大きいときには使用禁止領域にテスト記録を実行しないように判定する方法などがある。ステップＭ０７でテスト記録を実行すると判定した場合には、使用禁止領域にテスト記録を行う。具体的には、利用可能領域を決定し（ステップＭ０８)、その利用可能領域にテスト記録を行う（ステップＭ０９)。なお、ステップＭ０７の判定処理を省略し、必ずステップＭ０８からステップＭ０９の処理が行われるようにしてもよい。

なお、（１−１）式におけるｃｏｓ（θ）は次のようにして算出してもよい。すなわち、一方の記録層においてトラッキング制御器１１６の出力ｔｋｄが最大値となる一方の記録層のサンプリング位置と他方の記録層のサンプリング位置との差を引数とするテーブルを予め設定して記憶したうえで、実際の処理では、このテーブルを参照することによってｃｏｓ（θ）を算出してもよい。計測を行う際のトラック半径と線速度とを事前に設定しておけば１回転当たりの総サンプリング数Ｓの値が自ずと決まるので、上記テーブルは事前に作成しておくことができる。

なお、上述した説明では、変動量最大点と、ディスク１回転の基準タイミング（図１２における零点位置）との位置の相違に基づいて、図１２に示す変動を算定していたが、変動量最大点の代わり変動量最小点を用いてもよい。また、変動量最大点と変動量最小点との両方を用いて、より精度の高い計算を実施してもよい。例えば、Ｌ０層における変動量最大点の値がｄ₁maxであり、最小点の値がｄ₁minである場合に、ｄ₁＝（ｄ₁max−ｄ₁min）／２として最大値を算定しても、（ｄ₁min−ｄ₁max）／２から最小値を算定してもよい。このようにすると、特に変動の中心が０（ゼロ）からずれて（あるオフセット量を持って）変動量が計測されている場合に、そのオフセット量の影響をキャンセルできる。

なお、以上の説明ではＬ０層からＬ１層へのジャンプを例にして説明したが、Ｌ１層からＬ０層にジャンプする場合でも、同様にしてずれ量ｄを算定することができる。

また本発明の光ディスク装置では、 あらかじめ使用禁止領域として規定されている領域も、テスト記録領域として使用できるようになり、追記回数を十分に確保することが可能になる。また本発明の光ディスク装置では、上述した方法を用いて算出したずれ量ｄに応じて１回のテスト記録で使用する記録領域の位置や大きさを決定することによっても、ずれ量ｄが大きい光ディスクにおいて追記回数を同様に十分に確保できる。その具体的な方法を示す本発明の実施例を、図１６,図１７を参照して説明する。図１６は、図１５と同様、図１３に示す光ディスク装置において、ずれ量ｄを算出する手順を示すフローチャートである。図１６に示すずれ量検出方法は、図１５に示すずれ量検出方法とステップＭ１６まで同じであるが、ステップＭ１６でずれ量ｄを検出した後に、その結果に応じて１回のテスト記録で使用する記録領域を決定する処理（ステップＭ２０）が追加されており、この点で図１５と異なる。

ここで本実施例における、ずれ量ｄと１回のテスト記録で使用する記録領域との間の関係について図１７を参照して説明する。図１７において、横軸は、ずれ量ｄ（単位をトラックと記す）を、縦軸は、１回のテスト記録当たりに使用できる記録領域（単位をバイトと記す）をそれぞれ示す。本実施例の光ディスク装置は、
・ずれ量ｄが小さくなる（ゼロ（トラック）に近づく）ほど、１回のテスト記録当たりに使用できる記録容量を大きくする、
・ずれ量ｄが大きくなるほど、１回のテスト記録当たりに使用できる記録容量が小さくなるようにする、
という制御を実施する。

以上の制御を実施するうえでは、図１７において破線で示すように、１回のテスト記録当たりに使用できる記録容量とずれ量ｄとを反比例の関係で制御してもよい。

なお光ディスクに記録する際には、通常最小記録単位が存在するので破線で示したように完全な反比例の関係で実現することは困難である。そこで実線で示すようにずれ量ｄに応じて、任意の記録単位で制御する、すなわち、段階的に反比例状に制御してもよい。また、テスト記録の目的に応じて１回当たりのテスト記録に使用できる記録容量を変更してもよい。例えば光ディスク装置がテスト記録する目的としては、
・光ディスクに情報を記録する際に記録マーク形成に必要な光出力あるいはライトストラテジを決定する目的、
・光ディスクに記録された情報を再生するための電気回路特性を決定する目的、
・光ディスクの任意のトラックに高精度に光ビームを集光するサーボ処理を行う目的、
などの目的に高い優先順位を設定したうえで、
・ずれ量ｄが大きい程、優先順位が高い目的を達成できるようにテスト記録し、
・ずれ量ｄが小さい程、優先順位の低い目的を達成できるようにテスト記録する、
ように構成すれば、ずれ量ｄの大小に関わらず光ディスクへの追記可能回数を十分に確保することが可能となる。

また図１３では、トラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄより光ディスク１の偏心量を算出したが、図１８に示すように、トラッキング制御器１１６は、トラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅに含まれる低域成分（図１８において、低域成分はｔｋｐｉと表記されている）のみを抽出して、ずれ量検出器１１７に入力してもよい。そのような構成においても、図１３の装置構成および図１５のフローチャートを参照して説明した本実施例のずれ量検出方法と同様のずれ量検出が実現できるのは明らかである。

さらに図９,図１０を参照して説明したように、本発明には、スピンドルモータ２の回転周波数がクロック生成器１２０の出力ｃｌｋに対して十分に小さくない（比較的大きい）場合には、測定精度が劣化してしまう。これに対しては、図１９に示すように、各記録層におけるずれ量ｄを検出するときにスピンドルモータ２の回転数を予め設定しておいた一定の速度まで減速することで、高い測定精度を維持することができる。

図１９の光ディスク装置は、図１３に示す光ディスク装置において、さらに、ＣＰＵ８は、回転数変更命令Ｒｅｖ（ｍｅｓ）をディスク回転制御器１１１に供給している。これは次の理由による。すなわち、光ディスク１の回転周期に対して、クロック生成器１２０の出力ｃｌｋの周期が無視できないほど大きくなる場合がある。図１９の光ディスク装置は、このことを想定して、ずれ量ｄを測定するステップを実施する期間においてスピンドルモータ２の回転を十分に小さくしている。具体的には図２０のフローチャートに示すように、図１５のフローチャートにおけるステップＭ−１とステップＭ−２との間に、スピンドルモータ２の回転数を検出してＲｅｖ（ｐｒｅ）として記憶する処理（ステップＭ１ａ）と、層間ジャンプに要する期間よりも十分に大きい期間になるように、スピンドルモータ２の回転周期を制御するためのモータ回転目標回転数Ｒｅｖ（ｍｅｓ）に制御する（ステップＭ１ｂ）処理とを追加し、さらに、Ｌ１層における偏心量の計測を行うステップＭ４が終了したのち、スピンドルモータ２の回転数をステップＭ１ａで測定したＲｅｖ（ｐｒｅ）に戻す処理（ステップ）を行う。以上のようにすることで、偏心量を測定するためのサンプリング時間を十分に確保することが可能になって、さらにずれ量検出精度が高くなる。

また上述した各実施例は、トラッキング制御器１１６が光ビームを光ディスク１の任意のトラックに集光制御された状態（トラッキング制御状態）において、ずれ量ｄを検出する構成を説明したものである。しかしながら、本発明は、トラッキング制御状態でなくても、ずれ量ｄを検出することが可能である。以下、その構成と方法を、図２１,図２２を参照して説明する。図２１は本発明の光ディスク装置のブロック図である。以下、この光ディスク装置の説明を行うが、図１８に示す光ディスク装置と同一の構成についてはその説明を省略し、構成要素が異なる部分のみ説明を行う。トラッキング制御器１１６の駆動出力ｔｋｄはスイッチ１２１を介して光ピックアップ３に搭載されたアクチュエータに出力される。スイッチ１２１はずれ量検出器１１７によって開閉される。トラッキング制御器１１６が動作し且つスイッチ１２１が閉じた状態では、トラッキング制御ループは閉じられる。ずれ量検出器１１７はスイッチ１２１を開閉制御するｏｎ／ｏｆｆ信号をスイッチ１２１に出力する。ずれ量検出器１１７は、光ディスク１の偏心を測定するときのみｏｎ／ｏｆｆ信号をｏｆｆにしてスイッチ１２１を開く。

トラッキングエラー検出器１１３は、その出力ｔｅをトラッキングエラー周期検出器１２２に出力する。トラッキングエラー周期検出器１２２はトラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅを２値化したうえで、２値化した出力ｔｅ（パルス信号）の周期を計測する。トラッキングエラー周期検出器１２２は、周期計測した結果である出力ｔｅｆをずれ量検出器１１７に出力する。

ここで光ディスク１の偏心量とトラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅとトラッキングエラー周期検出器１２２の出力ｔｅｆとの関係について図２２を参照して説明する。図２２は光ディスク１の回転位置と、ずれ量ｄと、出力ｔｅと、出力ｔｅの２値化信号と、出力ｔｅｆとの関係を示す。図２２の（１）に示すように、光ディスク１がある速度で１回転すると、光ディスク１の偏心量に応じてずれ量ｄが正弦波状に変化する。ここで、光ディスク１の偏心量が大きい場合には、ずれ量ｄ（正弦波）の振幅が大きくなり、小さい場合にはその振幅が小さくなる。

光ディスク１上に集光された光ビームが光ディスク１のトラックを横断すると図２２の（２）に示すトラッキングエラー検出器１１３の出力ｔｅは正弦波状になる。図２１に示す光ディスク装置においてトラッキング制御ループが開いている状態ならば、光ディスク１の偏心によって１トラックに相当する距離だけ光ビーム位置が変化すると、１周期分の出力ｔｅ（正弦波信号）が出力される。このことから、出力ｔｅ１の周期を測定することで、光ディスク１の１トラック（図２２においてＴｐと記す）に相当する距離を検出できることがわかる。

トラッキングエラー周期検出器１２２はトラッキングエラー検出器１２２の出力ｔｅを２値化する。ｔｅ二値化信号を図２２の（３）に示す。ｔｅ二値化信号は、出力ｔｅとゼロレベルとを比較したものとなる。続いて、ｔｅ２値化信号の立ち上がりエッジの周期を検出して逆数してなる信号ｔｅｆを検出する。信号ｔｅｆは、図２２−（４）において実線で表示される。信号ｔｅｆはある偏心量を持つ光ディスク１が回転することによって、光ディスク１の回転位置に応じて変化する半径位置の変化速度を検出したものとなる。この変化速度は、光ディスク１の回転位置に対する偏心量の微分値である偏心速度を意味しており、このようにして、偏心速度が検出される。

信号ｔｅｆの大きさは、光ディスク１の偏心量に比例しており、光ディスク１の偏心量が大きくなるほど大きくなり、偏心量が小さくなるほど小さくなる。したがって、光ディスク１が１回転する期間における信号ｔｅｆの最大値あるいは最小値と、その値を検出したディスク回転位置とを検出することによって、各記録層におけるずれ量ｄを速度として検出できる。

なお、本実施例におけるずれ量検出器１１７は、光ディスク１が１回転する期間におけるトラッキングエラー周期検出器１２２の出力ｔｅｆを積分し、各記録層でそれぞれ測定した積分値を偏心量として検出する。さらには、出力ｔｅｆの最大値を検出したクロック生成器１２０の出力ｃｌｋどうしの差分を位相ずれ量として検出する。

以上のように本実施例によれば、光ディスク装置のトラッキングループが開いていても偏心量に基づいてずれ量ｄを検出することができる。その結果、トラッキング制御器１１６の制御特性に依存することなく、高精度な検出を実現することができる。

以上で、ずれ量ｄの計算処理の詳細な手順の第一の例と第二の例とを説明した。

次に、ずれ量ｄから、テスト記録領域中で実際に使用禁止とすべき領域の総セクタ数Ｍを見積もる方法について説明する。当該セクタ数Ｍとは、「ＧＡＰ領域の総セクタ数」から「ＧＡＰ領域中における、実際にはテスト記録が可能な領域のセクタ数」を差し引いた値に相当する。見積もる対象になるＧＡＰ領域周辺のトラック半径をＲ_GAPとし、アドレス値が付与される単位（通常はセクタ単位）の長さをＬとし、トラックピッチをＴpとすると、「テスト記録領域中で実際に使用禁止とすべき領域の総セクタ数」であるＭは次の（１３）式で算出することができる。
Ｍ＝（２π／（Ｌ・Ｔｐ））・Ｒ_GAP・ｄ …（１３）
ここで、（２π／（Ｌ・Ｔｐ））は予め算出しておくことができる値である。Ｒ_GAPの値は、既に説明した（８）式に基づいて、ＧＡＰ領域周辺のアドレス値Ａ_GAPから算出される。次の（８−１）式は、前述した各データを前述した（８）式に代入した式である。
Ｒ_GAP＝ＳＱＲＴ（Ｔp・Ｌ・（Ａ_GAP−Ａ₀）／π＋Ｒ₀ ²） …（８−１）
なお、内周側のテスト記録領域（ＩＤＴＡＺ）の位置は予め決まっているため、厳密な計算が必要な場合を除き、Ｒ_GAPの値を予め算出しておくことができる。このことから、本願の発明では、「テスト記録領域中で実際に使用禁止とすべき領域の総セクタ数Ｍ」を算出したうえで、互いに算出したセクタ数Ｍ以上、離間するように、各層のテスト記録領域（位置や記録量）が決められることによって、予め使用禁止と規定された使用禁止領域（ＧＡＰ領域等）を有効活用でき、追記可能回数の増加と記録品質の向上とが図れる。これに対して、従来の技術では、一方の層のテスト記録済み領域と他方の層のテスト記録済み領域の距離（セクタ数で規定）は少なくともＧＡＰ領域の総セクタ数以上離しておく必要があった。

以上のように、例えば１層目の情報記録層Ｌ０から読み出したアドレスと２層目の情報記録層Ｌ１から読み出したアドレスとの相関関係などから、１層目の情報記録層Ｌ０と２層目の情報記録層Ｌ１を貼り合せて光ディスク１を製造した時に生じた実際のずれ量ｄを算出したうえで、算出したずれ量ｄから光ディスク１のＧＡＰ領域を算定する。そして、記録再生装置１２から記録要求がされたものの初期段階のテスト記録において通常のテスト記録領域での記録可能域が枯渇したと判断する際には、通常は使用禁止領域とされているＧＡＰ領域を次の記録可能域候補に設定したうえで、そのＧＡＰ領域に記録可能域が存在するかどうかを判定する。そして、記録可能域があると判定する場合には、そのＧＡＰ領域にテスト記録を行う。

このようにして、ＧＡＰ領域内を有効活用することにより、記録可能域を増加させることができるので、光ディスク１に対する追記可能回数を増加させることが可能となる。

前述した図４のフローチャートによる処理に代えて、図２３に示すフローチャートでの処理も有効である。図２３は光ディスク装置Ｅによるディスク情報記録処理の動作を示すフローチャートである。

まず、ステップＳ３１において、光ディスク１の所定の領域に対して規格に準拠したディスク情報の記録を開始する。ここでディスク情報が、光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報のことである。例えばＤＶＤ−ＲにおけるＲＭＤ(Recording Management Data)である。次いでステップＳ３２において、規格で定められたディスク情報以外のディスク固有情報が存在するか否かを判断する。ディスク固有の情報が存在しない場合は処理を終了するが、ディスク固有情報が存在する場合には、ステップＳ３３に進む。次いでステップＳ３３において、使用禁止領域とされているＧＡＰ領域内に記録可能域が存在するか否かを判断する。ここでディスク固有情報とは、光ディスク１と光ディスク装置Ｅの組み合わせにおいて生じる固有のもので、安定な記録・再生を実現する上で有効な情報のことである。例えば、レーザパワーの温度補正値，半径位置毎のチルト情報,調整時の温度情報や時間情報等の条件,GAP領域確定済み情報(以降、GAP領域判定しなくても良い),偏心情報,偏重心情報,層間の(TR/FC Gain・Att, Tilt,... )情報,層毎の(TR/FC Gain・Att, Tilt等の情報：ただしこれらの情報は規格では定められたものではない)などである。

ＧＡＰ領域において記録可能域が存在した場合には、ステップＳ３４に進み、その領域にディスク固有情報を記録する。記録可能域が存在しない場合は、ディスク固有情報の記録は実施しない。

ここで記録したディスク固有情報を、次回ディスク起動時に読み込んで使用することにより、当該の光ディスク１に最適な設定での記録および再生が可能となる。これにより、記録・再生の品質を向上させることができる。なお、ＤＶＤ−Ｒ Dual Layer以外の多層記録ディスクに対して本発明を適用してもよい。

本発明の光ディスク装置制御方法は、貼り合わせ構造で記録層多層の光ディスクにおけるＧＡＰのような使用禁止領域を有効活用するもので、追記可能回数の増加または記録品質の向上等に有用である。

本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。 ＤＶＤ−Ｒ Dual Layerの光ディスクの構造を示す模式図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるＧＡＰ領域探索の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 光ディスクの記録層のトラックを示す図である。 光ディスクの記録層のトラックをさらに詳細を示す図である。 距離Ｒと回転角度θとの関係をグラフとして示す第１の図である。 距離Ｒと回転角度θとの関係をグラフとして示す第２の図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 光ディスクの記録層のトラックを示す図である。 光ディスクの記録層のトラックをさらに詳細を示す図である。 トラッキング制御時におけるレンズ位置の変動状態を示す図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 トラッキング制御器の出力とクロック生成器の出力とを示す図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 ずれ量と１回のテスト記録で使用する記録領域との間の関係とを示す図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるテスト記録処理の動作を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態における制御方法が適用される光ディスク装置の詳細構成を示すブロック図である。 光ディスクの回転位置とずれ量と出力ｔｅと出力ｔｅの２値化信号と出力ｔｅｆとの関係を示す図である。 本発明の実施の形態における光ディスク装置によるディスク情報記録処理の動作を示すフローチャートである。

符号の説明

Ｅ 光ディスク装置
Ｌ０ １層目の情報記録層
Ｌ１ ２層目の情報記録層
１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
３ 光ピックアップ
４ スレッド
５ ディスク回転制御部
６ 信号処理ＬＳＩ
７ ＤＲＡＭバッファ
８ ＣＰＵ
９ 送信部
１０ 受信部
１１ テスト結果格納メモリ
１２ 記録再生装置
１１１ ディスク回転制御器
１１２ フォーカスエラー検出器
１１３ トラッキングエラー検出器
１１４ アドレス検出器
１１５ フォーカス制御器
１１６ トラッキング制御器
１１７ ずれ量検出器
１１８ 光出力検出器
１１９ 光出力制御器
１２０ クロック生成器
１２１ スイッチ
１２２ トラッキングエラー周期検出器

Claims (22)

1. 記録層が貼り合わされて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置の制御方法であって、
   前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を算出するステップと、
   前記記録層に予め規定されている使用禁止領域における記録可能域の大きさを、前記ずれ量に基づいて特定するステップと、
   を含む、
   光ディスク装置の制御方法。
2. 大きさを特定した前記記録可能域にテスト記録を行うステップを、
   さらに含む、
   請求項１の光ディスク装置の制御方法。
3. 大きさを特定した前記記録可能域にテスト記録を行うステップでは、各テスト記録動作において記録動作に使用される前記記録可能域の大きさを前記ずれ量に基づいて設定する、
   請求項２の光ディスク装置の制御方法。
4. 前記ずれ量を算出ステップは、
   前記光ディスクの同一半径位置における各記録層のアドレスを読み取るステップと、
   前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を、前記アドレスの比較に基づいて算出するステップと、
   を含む、
   請求項１の光ディスク装置の制御方法。
5. 前記記録可能域に関する情報を含むディスク情報を記憶するステップを、
   さらに含む、
   請求項１の光ディスク装置の制御方法。
6. 記録層が貼り合わされて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置の制御方法であって、
   前記記録層を貼り合せる際に生じたずれ量に応じて、予め規定されている使用禁止領域にテスト記録するか否かを判断する判断ステップと、
   前記判断ステップの判断結果に応じて、前記使用禁止領域にテスト記録を行うテスト記録ステップと、
   を含む、
   光ディスク装置の制御方法。
7. 前記光ディスクにテスト記録を行う際に、前記光ディスクに設けられたテスト記録領域に残余のテスト記録可能域が存在するか否かを探索するステップと、
   前記テスト記録領域において残余の前記テスト記録可能域が存在しないと判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを探索するステップと、
   前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域にテスト記録を実行するステップと、
   をさらに含む、
   請求項１の光ディスク装置の制御方法。
8. 前記光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報が存在するか否かを確認するステップと、
   前記固有の制御情報が存在すると判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを確認するステップと、
   前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域に前記固有の制御情報を記録するステップと、
   をさらに含む、
   請求項１の光ディスク装置制御方法。
9. 前記ずれ量は、前記光ディスクの回転中心と各記録層との偏心を計測した結果に基づいて算定する、
   請求項１の光ディスク装置の制御方法。
10. 前記光ディスクの回転を通常記録再生における回転速度よりも下げた状態で前記ずれ量を算出する、
    請求項１の光ディスク装置の制御方法。
11. 記録層が貼り合わせられて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置の制御方法であって、
    前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を算出するステップと、
    前記記録層において予め規定されている使用禁止領域にテスト記録するステップと、
    を含み、
    前記使用禁止領域にテスト記録するステップでは、各テスト記録動作においての記録動作に使用される記録領域の大きさを前記ずれ量に基づいて設定する、
    光ディスク装置の制御方法。
12. 記録層が貼り合われて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置であって、
    前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を算出するずれ量算出器と、
    前記記録層に予め規定されている使用禁止領域における記録可能域の大きさを、前記ずれ量に基づいて特定する記録可能域特定器と、
    を備える、
    光ディスク装置。
13. 大きさを特定した前記記録可能域にテスト記録を行う、
    請求項１２の光ディスク装置。
14. 前記記録器は、各テスト記録動作において記録動作に使用される前記記録可能域の大きさを前記ずれ量に基づいて設定する、
    請求項１３の光ディスク装置。
15. 前記ずれ量算出器は、前記光ディスクの同一半径位置における各記録層のアドレスを読み取ったうえで、前記記録層を貼り合わせる際に生じたずれ量を、前記アドレスの比較に基づいて算出する、
    請求項１２の光ディスク装置。
16. 前記記録可能域に関する情報を含むディスク情報を記憶する、
    請求項１２の光ディスク装置。
17. 記録層が貼り合わされて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置であって、
    前記記録層を貼り合せる際に生じたずれ量に応じて、予め規定されている使用禁止領域にテスト記録するか否かを判断する判断器を備え、
    前記判断器の判断結果に応じて、前記使用禁止領域にテスト記録を行う、
    光ディスク装置。
18. 前記光ディスクにテスト記録を行う際に、前記光ディスクに設けられたテスト記録領域に残余のテスト記録可能域が存在するか否かを探索する第１の探索器と、
    前記第１の探索器が、前記テスト記録領域において残余の前記テスト記録可能域が存在しないと判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを探索する第２の探索器と、
    をさらに備え、
    前記第２の探索器が、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域にテスト記録を実行する、
    請求項１２の光ディスク装置。
19. 前記光ディスクと光ディスク装置の組み合わせで生じる固有の制御情報が存在するか否かを確認する第１の確認器と、
    前記第１の確認器が、前記固有の制御情報が存在すると判断すると、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在するか否かを確認する第２の確認器と、
    をさらに備え、
    前記第２の確認器が、前記使用禁止領域において残余の記録可能域が存在すると判断すると、当該使用禁止領域における残余の記録可能域に前記固有の制御情報を記録する、
    請求項１２の光ディスク装置制御方法。
20. 前記ずれ量算出器は、前記ずれ量を、前記光ディスクの回転中心と各記録層との偏心を計測した結果に基づいて算定する、
    請求項１２の光ディスク装置。
21. 前記ずれ量算出器は、前記光ディスクの回転を通常記録再生における回転速度よりも下げた状態で前記ずれ量を算出する、
    請求項１２の光ディスク装置。
22. 記録層が貼り合わせられて多層になった光ディスクを記録・再生する光ディスク装置であって、
    前記記録層を貼り合せる際に生じたずれ量を算出するずれ量算出器を、
    備え、
    前記記録層において予め規定されている使用禁止領域に、前記ずれ量に応じた記録量でテスト記録を行う、
    光ディスク装置。

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