JPWO2007139115A1 - 放射線撮像装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 567
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 75
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 58
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 47
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 27
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 22
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 22
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 5
- 238000003491 array Methods 0.000 claims 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 description 31
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 26
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 23
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 11
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 230000009471 action Effects 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009365 direct transmission Effects 0.000 description 2
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
- A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
- A61B6/4435—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure
- A61B6/4441—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure the rigid structure being a C-arm or U-arm
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
- A61B6/582—Calibration
- A61B6/583—Calibration using calibration phantoms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Medical Informatics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
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- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Public Health (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
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Abstract
Description
図11(a)は、従来の放射線撮像装置の一般的な実施態様である。従来の放射線撮像装置は、被検体Mに放射線を照射する放射線源1と、被検体Mの透過放射線Rを検出して画像信号に変換する二次元放射線検出器2と二次元放射線検出器2の前面に配置された散乱線除去グリッド3とから構成される受像手段4と、放射線源1と受像手段4とを所定の間隔で対向保持してなる映像系5と、二次元放射線検出器2で得られた画像信号を、所定の補正処理を施して保存・表示する画像処理装置6とから構成される。
すなわち請求項1に記載の放射線撮像装置は、放射線照射手段と、行列方向に配置され、放射線を電荷に変換する画素と、前記電荷を画像信号として読み出す読出し手段とを備えた二次元放射線検出器と、前記放射線照射手段と前記二次元放射線検出器との間に配置された散乱線除去グリッドとを有し、前記散乱線除去グリッドは複数の前記画素からなる画素列に平行にかつ複数の画素列毎に配置された複数の放射線遮蔽板を有し、前記放射線遮蔽板の陰影が投影される一または複数の前記画素列からなる遮蔽画素列から読み出された前記画像信号を、前記遮蔽画素列に対して行方向に隣接する複数の前記画素列から読み出された画像信号に基づいて補正する補正演算手段を有することを特徴とする。
2 二次元放射線検出器
3 散乱線除去グリッド
4 受像手段
5 映像系
6 画像処理装置
7 ガントリ
22 放射線感応層
23 バイアス電極
24 A/D変換回路
25 ゲート制御回路
26 読出手段
31 放射線遮蔽板
32 中間物質
33 保持板
34 調整機構
41 放射線遮蔽板の陰影
61 遮蔽画素列特定手段
62 遮蔽画素列推定手段
63 散乱線分布推定手段
64 診断用画像生成手段
65 診断用画像格納手段
66 診断用画像表示手段
67 バッファメモリ
68 不揮発メモリ
M 被検体
R’ 放射線
R 透過放射線
Rd’ 直接線
Rs’ 散乱線
Rd 透過直接線
Rd^ij 推定透過直接線
Rs 透過散乱線
Rs^ij 推定透過散乱線
Es’^ij 列方向フィルタを適用した推定透過散乱線
Es^ij 二次元フィルタを適用した推定透過散乱線
Gij 画像信号
G^ij 推定画像信号
Goij 診断画像
Pij 画素
DSij ソース電極
Dgij ゲート電極
Ddij ドレイン電極
SWij スイッチング素子
Cij 蓄積容量
GLj ゲートライン
DLi データライン
Psij 直接線透過率データ
SPij 遮蔽画素列の分布
f 放射線遮蔽板感応層間距離
t 放射線遮蔽板厚さ
h 放射線遮蔽板高さ
ΔX 放射線源のシフト量
ΔG 散乱線除去グリッドのシフト量
CL クロスライン
ΔC クロスラインギャップ
図4は、画像処理装置6の詳細を示すブロック図である。画像処理装置6は、二次元放射線検出器2から画像信号Gijを逐次受信して、所定の列数分蓄積するバッファメモリ67と、遮蔽画素列の位置及び幅を予め特定する遮蔽画素列特定手段61と、遮蔽画素列の位置及び幅などを格納する不揮発メモリ68と、不揮発メモリ68に格納された遮蔽画素列位置における推定画像信号G^ijを求める遮蔽画素列推定手段62と、検出範囲全体における推定透過散乱線Rs^ijを求める散乱線分布推定手段63と、画像信号Gij、推定画像信号G^ij、及び推定透過散乱線分布Rs^ijから診断用画像Goijを生成する診断用画像生成手段64と、生成された診断用画像Goijを格納する診断用画像格納手段65と、生成された診断用画像Goijを表示する診断用画像表示手段66とを有している。以下それぞれの構成手段の機能について説明する。なお、診断用画像格納手段65と診断用画像表示手段66については、周知の構成であるので詳細な説明を省略する。遮蔽画素列特定手段61は、本発明における遮蔽画素列特定手段に相当し、散乱線分布推定手段63は、本発明における散乱線分布推定手段に相当し、診断用画像生成手段64は、本発明における画像信号から除去する手段に相当する。
予め被検体Mが無い状態でX線を照射し、遮蔽画素列の分布SP及び直接線透過率データPsを求めることにより、遮蔽画素列の位置及び散乱線除去グリッドの直接線吸収特性を的確に特定することが可能となる。以下遮蔽画素列の分布SPを特定する手順について説明する。
放射線源1と受像手段4を対向保持して回転させながら、被検体Mが無い状態で放射線を照射し、所定の角度毎に画像信号Gij(θ)を取得する。ここでθは回転角度であるとする。なお、画像信号Gij(θ)は、最大の画像信号を1として正規化し、直接線透過率データPsij(θ)として記憶しておく。
次に、回転角度θにおける画像信号Gij(θ)について行方向の平均値Gaj(θ)を算出する。
Gaj(θ)を、予め定められたしきい値を基準として2値化し、これを遮蔽画素列の分布SP(θ)として記憶する。すなわち、画像信号がしきい値より小さい列を遮蔽画素列として特定する。このとき、放射線遮蔽板の陰影41が2つの画素列の間に投影された場合は、双方ともに遮蔽画素列であるとして記憶される。この場合には、後の処理において、隣接する複数の遮蔽画素列をデジタルバインドすることにより、問題なく補正処理を行うことができる。
SIDを種々変化させながら、被検体Mが無い状態で放射線を照射し、画像信号Gij(SID)を取得する。なお、画像信号Gij(SID)は、最大の画像信号を1として正規化し、直接線透過率データPsij(SID)として記憶しておく。
次に、画像信号Gij(SID)について行方向の平均値Gaj(SID)を算出する。
Gaj(SID)を、予め定められたしきい値を基準として2値化し、これを遮蔽画素列の分布SP(SID)として記憶する。すなわち、画像信号がしきい値より小さい列を遮蔽画素列として特定する。このとき、放射線遮蔽板の陰影41が複数の画素列にわたって投影された場合は、遮蔽画素列が隣接する複数列に及び、双方ともに遮蔽画素列であるとして記憶される。この場合には、後の処理において、隣接する複数の遮蔽画素列をデジタルバインドすることにより、問題なく補正処理を行うことができる。
図7は、i行における10列分の画像信号Gijと真の直接線Rd’ijとの各分布を重ね合わせて表示したグラフである。上述のように、4列毎に放射線遮蔽板31が配置されるので、図7における画像信号Gijもj=3、7(遮蔽画素列)において信号強度が低下している。ただし真の直接線Rd’ij、真の散乱線Rs’ijは、共に散乱線除去グリッド3の前面における分布であるので、放射線遮蔽板31による影響は受けていない。
G^i3 = (Gi2+Gi4)
単純に平均値を用いる他にも、一般的に知られた多次元補間やスプライン補間などを用いることができる。その場合、隣接する複数の画素列の値を用いることとすれば、推定の精度が向上する。
遮蔽画素列推定手段62で算出されたG^ijと、元の画像信号Gijとの差分は、放射線遮蔽板31によって吸収された直接線、すなわち直接線Rd’と透過直接線Rdとの差であると推定される。このとき、予め遮蔽画素列における放射線遮蔽板31の直接線透過率分布を直接線透過率データPsijとして測定あるいは算定しておく。具体的には、被検体Mを配置せずに直接線のみを入射させたときの遮蔽画素列の画像信号とそれ以外の画像信号との比を、実測して保存しておくことにより容易に実現できる。このとき、Psijの最大値が1となるように正規化する。
診断用画像生成手段64は、元の画像信号Gijから、散乱線分布推定手段63により求めた二次元フィルタを適用した推定透過散乱線Es^ijを差し引いて直接線透過率データPsで除算することにより、診断画像Goijを生成する。具体的には、診断画像Goijを、Goij=(G−Es^ij)/Psで求めることができる。実際には遮蔽画素列について上記式を実行して診断画像Goijを求めるが、遮蔽画素列以外の画素列では上述したようにPsが最大値となって、Ps=1となるように正規化されているので、遮蔽画素列以外の画素列についても、元の画像信号Gijから推定透過散乱線Es^ijを差し引くだけで診断画像Goijを生成することができる。
すなわち請求項1に記載の放射線撮像装置は、放射線照射手段と、行列方向に配置され、放射線を電荷に変換する画素と、前記電荷を画像信号として読み出す読出し手段とを備えた二次元放射線検出器と、前記放射線照射手段と前記二次元放射線検出器との間に配置された散乱線除去グリッドとを有し、前記散乱線除去グリッドは複数の前記画素からなる画素列に平行にかつ複数の画素列毎に配置された複数の放射線遮蔽板を有し、前記放射線遮蔽板の陰影が投影される一または複数の前記画素列からなる遮蔽画素列から読み出された前記画像信号を、前記遮蔽画素列に対して行方向に隣接する複数の前記画素列から読み出された画像信号に基づいて補正する補正演算手段を有し、前記補正演算手段は、前記遮蔽画素列から読み出された画像信号に基づいて、前記二次元放射線検出器に入射する散乱線分布を推定する散乱線分布推定手段と、前記推定された散乱線分布に基づいた推定透過散乱成分を、少なくとも一部の画素から読みだされた画像信号から除去する手段を更に有することを特徴とする。
Claims (11)
- 放射線照射手段と、行列方向に配置され、放射線を電荷に変換する画素と、前記電荷を画像信号として読み出す読出し手段とを備えた二次元放射線検出器と、前記放射線照射手段と前記二次元放射線検出器との間に配置された散乱線除去グリッドとを有し、前記散乱線除去グリッドは複数の前記画素からなる画素列に平行にかつ複数の画素列毎に配置された複数の放射線遮蔽板を有し、前記放射線遮蔽板の陰影が投影される一または複数の前記画素列からなる遮蔽画素列から読み出された前記画像信号を、前記遮蔽画素列に対して行方向に隣接する複数の前記画素列から読み出された画像信号に基づいて補正する補正演算手段を有することを特徴とする放射線撮像装置。
- 前記補正演算手段は、前記遮蔽画素列から読み出された画像信号に基づいて、前記二次元放射線検出器に入射する散乱線分布を推定する散乱線分布推定手段と、前記推定された散乱線分布に基づいた推定透過散乱成分を、少なくとも一部の画素から読みだされた画像信号から除去する手段を更に有することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記遮蔽画素列が複数の前記画素列から構成され、前記遮蔽画素列を構成する複数の前記画素列の画像信号をアナログで結合することを特徴とする請求項1または2に記載の放射線撮像装置.
- 前記散乱線除去グリッドと前記面検出器間の距離が前記放射線遮蔽板の高さの整数倍であることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 前記放射線照射手段と、前記散乱線除去グリッドおよび前記二次元放射線検出器との相対位置が所定の範囲で変化した場合においても、前記放射線遮蔽板の陰影が前記画素列内に収まるように前記散乱線除去グリッドの位置及び前記放射線遮蔽板の形状が設定されていることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 複数の前記放射線照射手段および前記二次元放射線検出器の位置において、前記放射線照射手段と前記二次元放射線検出器との間に被検体を配置せずに撮影した画像信号に基づいて、前記遮蔽画素列の位置及び遮蔽画素列の幅を取得する遮蔽画素列特定手段を有することを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 前記二次元放射線検出器と前記散乱線除去グリッドとの相対位置を調整する調整手段を更に有することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 前記散乱線除去グリッドがクロスグリッドであることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 前記放射線照射手段と二次元放射線検出器とをそれらの相対距離一定かつ対向配置した状態で回転駆動する回転駆動機構と、複数の回転位置で得た前記画像信号に基づいて断層画像を得る断層画像処理手段とを更に有することを特徴とする請求項1から8のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 前記二次元放射線検出器は、同一行に属する各画素のドレイン電極に接続されるデータラインと、同一列に属する各画素のゲート電極に接続されるゲートラインとを有しており、前記放射線遮蔽板を前記ゲートラインに平行に配置することで、前記画素列及び遮蔽画素列は、前記ゲートラインに平行であることを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の放射線撮像装置。
- 前記二次元放射線検出器は、同一行に属する各画素のゲート電極に接続されるゲートラインと、同一列に属する各画素のドレイン電極に接続されるデータラインとを有しており、前記放射線遮蔽板を前記データラインに平行に配置することで、前記画素列及び遮蔽画素列は、前記データラインに平行であることを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の放射線撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008517947A JP4840446B2 (ja) | 2006-05-31 | 2007-05-29 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006152558 | 2006-05-31 | ||
JP2006152558 | 2006-05-31 | ||
PCT/JP2007/060915 WO2007139115A1 (ja) | 2006-05-31 | 2007-05-29 | 放射線撮像装置 |
JP2008517947A JP4840446B2 (ja) | 2006-05-31 | 2007-05-29 | 放射線撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2007139115A1 true JPWO2007139115A1 (ja) | 2009-10-08 |
JP4840446B2 JP4840446B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=38778634
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008517947A Expired - Fee Related JP4840446B2 (ja) | 2006-05-31 | 2007-05-29 | 放射線撮像装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7753586B2 (ja) |
JP (1) | JP4840446B2 (ja) |
KR (1) | KR100987855B1 (ja) |
CN (1) | CN101453954B (ja) |
WO (1) | WO2007139115A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012192031A (ja) * | 2011-03-16 | 2012-10-11 | Shimadzu Corp | 位置合わせ装置 |
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JP4992739B2 (ja) * | 2008-01-25 | 2012-08-08 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置 |
JP5206426B2 (ja) * | 2009-01-08 | 2013-06-12 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置 |
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- 2007-05-29 JP JP2008517947A patent/JP4840446B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-29 US US12/302,795 patent/US7753586B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-29 WO PCT/JP2007/060915 patent/WO2007139115A1/ja active Application Filing
- 2007-05-29 KR KR1020087022243A patent/KR100987855B1/ko not_active IP Right Cessation
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CN101453954B (zh) | 2011-08-17 |
US20090238324A1 (en) | 2009-09-24 |
CN101453954A (zh) | 2009-06-10 |
KR100987855B1 (ko) | 2010-10-13 |
KR20080102187A (ko) | 2008-11-24 |
WO2007139115A1 (ja) | 2007-12-06 |
JP4840446B2 (ja) | 2011-12-21 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |