JPWO2006080144A1 - X線計測装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)感度データ取得:被写体を設置しない状態でX線を照射して計測を行い、検出器の感度データを取得する。
(2)オフセット補正処理:X線を照射しない状態で計測を行い、検出器のオフセットデータを取得する。被写体を設置して回転計測を行い、回転に応じた複数の被写体データを取得する。各被写体データからオフセットデータを減算し、オフセット補正後被写体データを得る。
(3)感度補正処理:感度データからオフセットデータを減算し、オフセット補正後感度データを得る。オフセット補正後被写体データをオフセット補正後感度データで除算し、感度補正後被写体データを得る。
(4)対数変換処理:感度補正後被写体データに対して対数変換処理を行い、−1倍し、投影データを得る。
(5)不均一性補正処理:投影データに対して補正係数Gを乗算し、不均一性補正後データを得る。
(6)3次元データ取得:全ての被写体データに対して、上述の処理を終了したら、再構成演算処理を行い、3次元データを得る。
上述した実施例1の補正処理では、変換テーブルおよび変換式を一つずつ準備した場合について述べた。他の実施例では、X線管電圧、散乱X線遮蔽グリッド、コリメータなど撮影条件に対応して、あらかじめ複数の変換テーブルおよび変換式を準備することが考えられる。その場合、制御処理装置406は、これらの複数の変換テーブルおよび変換式のセットを格納し、これらを撮影条件によって選択して補正処理に使用する。撮影条件に対応した変換テーブルおよび変換式を用いることにより、補正の精度を向上することができる。また、別の実施例では、格納した複数の変換テーブルおよび変換式のセットの中から撮影条件によって複数のセットを選択して、それらの補間演算または外挿演算により任意の撮影条件に適合する補正係数を算出し、補正処理に使用することが考えられる。これにより、任意の撮影条件に対して、精度の高い補正を実現することができる。
Claims (17)
- 検査対象に照射するX線を発生するX線源と、このX線源と前記検査対象を挟むように対向配置され前記検査対象の透過X線を計測データとして検出するX線検出器と、前記X線源と前記検査対象との間に設置されたX線の透過量を調整するフィルタと、前記X線源と前記X線検出器を保持する保持装置と、前記X線源および前記X線検出器を前記検査対象の周囲に回転させる回転装置と、前記回転装置によって回転された前記検査対象に対する複数の角度にて前記X線検出器により検出された計測データの演算処理を行う制御処理装置と、を有するX線計測装置であって、
前記制御処理装置は、前記計測データを対数変換して投影データを得、前記得られた投影データに対応する前記フィルタのX線吸収係数を得、前記得られたX線吸収係数に対して所定の変換式を用いて前記フィルタの厚さを算出し、前記算出されたフィルタの厚さにより前記得られた投影データに対応する補正係数を得、前記得られた補正係数を前記投影データに乗算し、前記補正係数が乗算された投影データを再構成演算して3次元像を得ることを特徴とするX線計測装置。 - 前記制御処理装置は、前記フィルタのX線吸収量を前記投影データに対して第1の変換テーブルを検索して得ることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記第1の変換テーブルは、検査対象の計測に先行して、前記フィルタを設置して検査対象を設置しない状態で計測データを得、前記計測データを対数変換して投影データを得、前記投影データの横方向の座標と縦方向の座標を変化させて各座標における投影データの値を求め、検査対象の投影データとフィルタのX線吸収量との関係を得て作成されるものである請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記補正係数を前記投影データに対して第2の変換テーブルを検索して得ることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記第2の変換テーブルは、所定の一様な厚さのフィルタを設置して任意の被写体を設置した状態で計測データを得、前記計測データを対数変換して投影データを得、再構成像の値が均一となる理想的な検査対象の投影データを求め、理想投影データを検査対象の投影データで除算して補正係数を算出し、複数の厚さのフィルタに対して補正係数を取得し、フィルタの厚さと検査対象の投影データと補正係数の関係を求めて作成されるものである請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記フィルタのX線吸収量を得る際に、同じ条件で取得された投影データを加算平均した投影データを用いることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記フィルタのX線吸収量を得る際に、前記第1の変換テーブルにおいて座標を数点刻みとし、補間演算により任意の座標におけるX線吸収量を算出することを特徴とする請求項2に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記フィルタのX線吸収量を得る際に、前記第2の変換テーブルを座標を変数としてX線吸収量を算出する変換式として保持し、前記変換式によってX線吸収量を算出することを特徴とする請求項2に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記フィルタの厚さを得る際に、同じ条件で取得された投影データを加算平均した投影データを用いることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記フィルタの厚さを得る際に、前記第2の変換テーブルにおいて座標を数点刻みとし、補間演算により任意の座標におけるX線吸収量を算出することを特徴とする請求項4に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記フィルタの厚さを得る際に、前記第2の変換テーブルを座標を変数としてX線吸収量を算出する変換式として保持し、前記変換式によってX線吸収量を算出することを特徴とする請求項4に記載のX線計測装置。
- 前記フィルタは、その形状が左右対称形であることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記フィルタは、その断面の奥行き方向の形状が同形であることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記フィルタは、その断面の形状が凹型の円弧での隣に凸型の円弧があり、その隣に直線がある構成をしており、凹型の円弧と凸型の円弧の交点における接線が同じ傾きであり、凸型の円弧と直線の交点における接線が同じ傾きをしていることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記フィルタは、その厚さが前記回転装置の回転中心軸方向に変化することを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、水円柱あるいは水楕円柱の形状の任意の被写体の投影データから得る補正係数を備えることを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
- 前記制御処理装置は、前記検査対象を撮影するための撮影条件に応じて複数の補正係数から補正係数を選択することを特徴とする請求項1に記載のX線計測装置。
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