WO2006080144A1 - Ｘ線計測装置 - Google Patents

Ｘ線計測装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2006080144A1
WO2006080144A1 PCT/JP2005/022522 JP2005022522W WO2006080144A1 WO 2006080144 A1 WO2006080144 A1 WO 2006080144A1 JP 2005022522 W JP2005022522 W JP 2005022522W WO 2006080144 A1 WO2006080144 A1 WO 2006080144A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
ray
filter
projection data
measurement apparatus
thickness
Prior art date
Application number
PCT/JP2005/022522
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Rika Baba
Ken Ueda
Original Assignee
Hitachi Medical Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corporation filed Critical Hitachi Medical Corporation
Priority to US11/722,802 priority Critical patent/US7515689B2/en
Priority to JP2007500431A priority patent/JP4599392B2/ja
Publication of WO2006080144A1 publication Critical patent/WO2006080144A1/ja

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4035—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis the source being combined with a filter or grating
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
    • A61B6/4435—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure
    • A61B6/4441—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure the rigid structure being a C-arm or U-arm
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure

Definitions

  • the present invention relates to an X-ray measurement apparatus capable of obtaining a good three-dimensional image with suppressed detector saturation and improved value uniformity.
  • an X-ray measurement device in which an X-ray source and a two-dimensional X-ray detector are placed opposite to each other at both ends of a C-shaped support (hereinafter referred to as a C arm).
  • a C arm There is a structure that suspends the C-arm from the ceiling, and a structure that supports the floor force of the C-arm.
  • an X-ray measuring device installed on the gantry so that the X-ray source and the two-dimensional X-ray detector are opposed to each other. In these devices, by rotating the C-arm or gantry, it is possible to perform X-ray measurements while rotating the X-ray source and detector pair around the subject.
  • a plurality of measurement data obtained by rotational measurement are each corrected to obtain one set of projection data for three-dimensional reconstruction, and three-dimensional reconstruction is performed on the obtained one set of projection data.
  • a reconstruction algorithm can be used to obtain a 3D image.
  • Non-Patent Document 1 New medical care, October 2002, Vol. 29, No. 10, pp. 102-105
  • the X-ray dose reaching the detector increases, and a saturation phenomenon occurs in the detector element where the X-ray dose exceeds the detection limit, and the correct value is not shown.
  • a filter made of metal or the like is installed between the X-ray source and the subject in order to suppress the saturation of the detector, it will depend on the type and thickness of the filter.
  • the energy distribution of X-rays incident on the subject changes. When reconstruction is performed using X-ray images with different energy distributions, there is a problem that the obtained three-dimensional image cannot show positive U values.
  • An object of the present invention is to provide an X-ray measuring apparatus capable of correcting a non-uniformity of a value of a three-dimensional image and obtaining a good three-dimensional image with respect to these problems. .
  • the above-mentioned purpose is to detect, as measurement data, an X-ray source that generates X-rays to be irradiated on an inspection object, and transmission X-rays of the inspection object that are arranged so as to sandwich the X-ray source and the inspection object.
  • An X-ray detector a filter installed between the X-ray source and the inspection object for adjusting the amount of X-ray transmission, a holding device for holding the X-ray source and the X-ray detector, an X-ray source and an X-ray A rotating device that rotates the X-ray detector around the inspection object, and a control processing device that performs calculation processing of measurement data detected by the X-ray detector at a plurality of angles with respect to the inspection object rotated by the rotating device.
  • the control processing unit obtains the projection data by logarithmically converting the measurement data, obtains the X-ray absorption coefficient of the filter corresponding to the obtained projection data, and converts it to the obtained X-ray absorption coefficient.
  • the filter thickness is calculated using a predetermined conversion formula.
  • a correction coefficient corresponding to the projection data obtained by the thickness of the filtered filter is obtained, the obtained correction coefficient is multiplied by the projection data, and the projection data multiplied by the correction coefficient is reconstructed to obtain a three-dimensional image. It can be achieved by obtaining.
  • the saturation phenomenon of the X-ray detection element, the energy of the filter and the subject It is possible to obtain a three-dimensional image that excludes the effects of scattered X-rays that cause changes in the distribution or filters and subject forces.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram showing, in cross-sectional form, a side view of an example of an X-ray measuring apparatus to which the present invention is applied.
  • the X-ray measuring apparatus includes an X-ray source 401, a detector 402, a support 403, a rotating device 404, a bed 405, and a control processing device 406.
  • the X-ray source 401 and the detector 402 are installed on the support column 403.
  • a C-shaped arm, a U-shaped arm, a gantry, or the like is used.
  • Figure 4 shows a C-shaped arm.
  • a form in which the support 403 is suspended from the ceiling and a form in which the support 403 is supported from the floor are conceivable.
  • the support column 403 is rotated around the subject 408 lying on the bed 405 around the rotation axis 407 by the rotation device 404.
  • FIG. 4 shows a case where the rotating shaft 407 and the bed 405 are parallel to the floor as the most general form.
  • the rotation axis 407 can be set obliquely with respect to the body axis.
  • FIG. 4 shows a case where the X-ray source 401 and the detector 402 are rotated around the rotation axis 407 around the object 408 by the force rotating device 404.
  • a configuration is also possible in which the X-ray source 401 and the detector 402 are fixed, and the subject 408 is rotated about the rotation axis 407 by the rotation device 404.
  • a configuration in which the X-ray source 401, the detector 402, and the subject 408 rotate around the rotation axis 407 is also possible. In either case, the same rotational measurement can be obtained by considering it as a relative rotational motion.
  • the detector 402 may be a planar X-ray detector, a combination of an X-ray image intensifier and a CCD camera, an imaging plate, a CCD detector, a solid state detector, or the like.
  • Planar X-ray detectors include a pair of photodiodes and amorphous silicon TFTs arranged on a square matrix and a direct combination of this and a phosphor.
  • the X-ray generated from the X-ray source 401 passes through the subject 408, is converted into an electrical signal corresponding to the X-ray intensity by the detector 402, and is input as measurement data to the control processing device 406.
  • the control processing unit 406 generates X-rays in the X-ray source 401 and stores data in the detector 402.
  • the rotation of the column 403 in the acquisition and rotation device 404 is controlled.
  • the X-ray measurement apparatus can perform rotation measurement that generates X-rays and acquires measurement data while rotating the support column 403.
  • the control processing device 406 can perform logarithmic conversion processing, reconstruction calculation processing, and the like on the measurement data to acquire three-dimensional data.
  • the control processing device 406 is provided outside the detector 402, but a form provided inside the detector 402 is also possible. In that case, high-speed processing is possible.
  • a filter 410 can be installed between the X-ray source 401 and the detector 402.
  • the filter 410 is made of metal such as aluminum, copper, brass, ceramics, and grease. Most simply, it can be made from a liquid in a case such as plastic resin.
  • the filter shape is arbitrary, and the data correction processing described later can be applied to any filter shape.
  • the control processing device 406 of the present invention executes processing for correcting non-uniformity of the values of the three-dimensional image.
  • the control processing device 406 has a storage device 409 inside, and stores a tape and the like necessary for the correction processing.
  • the control processing device 406 has a mode for inputting the presence / absence of execution of correction processing, a switch, or the like as an operation menu.
  • Sensitivity data acquisition Measurement is performed by irradiating X-rays while the subject is not set up, and sensor sensitivity data is acquired.
  • Offset correction processing Measurement is performed without X-ray irradiation, and detector offset data is acquired. A subject is placed and rotation measurement is performed, and multiple subject data corresponding to the rotation are acquired. Each subject data force also subtracts offset data to obtain subject data after offset correction.
  • Sensitivity correction processing Sensitivity data power Offset data is subtracted to obtain sensitivity data after offset correction. Divide subject data after offset correction by sensitivity data after offset correction Then, subject data after sensitivity correction is obtained.
  • Logarithmic conversion processing is performed on the subject data after sensitivity correction, and the result is multiplied by 1 to obtain projection data.
  • Non-uniformity correction processing Multiply the projection data by the correction coefficient G to obtain non-uniformity corrected data.
  • FIG. 1 is a flowchart illustrating a procedure of non-uniformity correction processing according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a conversion table A used in the non-uniformity correction process of the first embodiment
  • FIG. 3 is a diagram showing a conversion table B used in the non-uniformity correction process of the first embodiment.
  • u be the horizontal coordinate and V be the vertical coordinate of the projection data.
  • a position v is designated for the projection data A s (u, v) of the subject (step 101).
  • the position u is designated for the projection data As (u, v) of the subject (step 102).
  • * Correct the u / rape position in Fig. 1) Search the conversion table A for the coordinates (u, V) to obtain the X-ray absorption Af (u, V) of the filter (step 103).
  • Equivalent filter thickness Ef (u, V) as filter thickness corresponding to filter X-ray absorption Af (u, V) by conversion formula A (described later) for filter X-ray absorption Af (u, V) ) Is calculated (step 104).
  • Conversion table B is searched for the calculated equivalent filter thickness Ef (u, V) and subject projection data As (u, v) to obtain a correction coefficient G (Ef, As) (step 105). . * Corrected notation of G in Figure 3. Although it is a notation of G, the force that subscripted Ef as the last correction is not possible. The subscript notation seems to be impossible, so it is revised again to the form of “G (Ef, As)”. In the text and figures, please use the same notation for G as “G (Ef, As)”. ) If conversion table B does not have the expected equivalent filter thickness Ef (u, V) and subject projection data As (u, V), correction coefficient G (Ef , As).
  • the object projection data As (u, v) is multiplied by a correction coefficient G (Ef, As) (step 106).
  • the process is executed for all coordinates u (step 107).
  • the process is executed for all coordinates V (step 108).
  • Processing is performed on all subject projection data (step 109).
  • a method of obtaining the conversion table A shown in Fig. 2 will be described.
  • a filter 410 used for measuring the subject is installed, and X-rays are irradiated without setting the subject to acquire measurement data.
  • the projection data is obtained by performing the offset correction, sensitivity correction, and logarithmic conversion processing described above on the measurement data.
  • the projection data value at the coordinates (u, V) is the X-ray absorption amount Af (u, V) of the filter.
  • the conversion table A it is also possible to calculate the X-ray absorption amount at an arbitrary coordinate by interpolating the coordinates at several points. In that case, the storage capacity of the table can be reduced.
  • the conversion table A can also be held as a conversion expression for calculating the X-ray absorption amount using coordinates as variables. In that case, the storage capacity of the table can be reduced.
  • a method for obtaining the conversion formula A will be described.
  • a filter 410 having a predetermined uniform thickness Ef is installed, and X-rays are irradiated without setting a subject to acquire measurement data.
  • the projection data is obtained by executing the offset correction, sensitivity correction, and logarithmic conversion processing described above on the measurement data.
  • An average value is calculated from the projection data, and this is set as the X-ray absorption amount Af of the filter 410.
  • a plurality of filters having different thicknesses are prepared as the filter 410, and projection data is acquired for each thickness filter, and an X-ray absorption amount Af for each filter thickness Ef is obtained.
  • the filter thickness Ef with respect to the X-ray absorption amount Af is approximated by Equation (1), and the coefficients a, a, a, 1- are obtained.
  • a filter 410 having a predetermined uniform thickness Ef is installed, an arbitrary subject is installed, X-rays are irradiated, and measurement data is acquired.
  • an arbitrary subject a cylindrical container or an elliptic cylinder container filled with water, an acrylic cylinder, or the like is used.
  • the offset correction, sensitivity correction, logarithmic conversion described above Execute processing to obtain projection data As (u, v).
  • the ideal projection data Ao (u, V) is divided by the subject projection data As (u, V) to calculate a correction coefficient G (Ef, As).
  • a plurality of filters with different thicknesses are prepared as the filter 410, and projection data is acquired using the same arbitrary subject for each filter of the thickness Ef, and subject projection at each filter thickness Ef is performed. Find the correction coefficient G (Ef, As) for data As.
  • the correction coefficient G (Ef, As) for the object projection data As is approximated by equation (2), and the coefficients b, b, b,-
  • the conversion table B it is also possible to calculate the correction coefficient by interpolation calculation with the filter thickness and subject projection data in increments of several points. In that case, the storage capacity of the table can be reduced.
  • Conversion table B can also be held as a conversion equation for calculating a correction coefficient using filter thickness and subject projection data as variables. In that case, the storage capacity of the table can be reduced.
  • FIGS. 5 (A) to 5 (C) are diagrams showing three examples of a cross-section (left side) and a perspective view (right side) of the filter 410 cut along the rotation surface of the X-ray source 401.
  • FIG. . (A) is a cross-sectional view and a perspective view of the filter 410 having a uniform thickness as a whole
  • (B) is a filter 410 that also has a combined force of a region having a concave surface and a region having a uniform thickness
  • (C) is a combination of a concave area, a convex area, and a uniform thickness area.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view and a perspective view of the filter 410.
  • X-rays are indicated with arrows on the cross-sectional view. It is also possible to make the X-ray incident direction opposite to the arrow.
  • Fig. 5 (A)-(C) if the filter shape is bilaterally symmetric, the X-ray absorption amount of the filter is bilaterally symmetric with respect to the center of the filter. A storage capacity can be halved. If the filter shape is the same in the depth direction of the cross section, the X-ray absorption amount of the filter will be the same in every cross section, and the calculation amount of absorption amount and the storage capacity of Table A can be reduced.
  • FIGS. 6A to 6C are a cross-sectional view and a plan view showing another shape of the filter 410.
  • FIG. Fig. 6 (B) is a plan view of the incident direction force of X-ray
  • Fig. 6 (A) is a cross-sectional view at the A-A position in the arrow direction
  • Fig. 6 (C) is the B-B position. It is sectional drawing seen in the arrow direction.
  • the filter 410 also has a combined force of a region having a concave force and a region having a constant value force at the position A—A.
  • the thickness of the filter changes at the top at the BB position.
  • the shape of the filter is viewed from the X-ray incident direction, it is the same as in Fig. 6 (B), and in the A-A cross section, as in Fig. 5 (C), a region with concave force and a region with convex surface And a region with a uniform thickness, the thickness changes at the top of the filter in the B-B cross section, and the boundary between the region with a concave surface and the region with a uniform thickness is a convex shape. It is also possible to
  • the filter 410 shown in FIG. 5 (A) performs measurement so that the subject is relatively flat in the measurement region (detection region of the detector 402) and prevents saturation of the detector 402 on average.
  • the filter 410 shown in FIGS. 5 (B) and 5 (C) is useful for measurement in which the thickness of the subject rapidly decreases on both sides in the measurement region.
  • the example in Fig. 6 is also useful for measurements where the thickness of the subject decreases rapidly even at the top of the measurement area.
  • the filter 410 shown in FIG. 5 (C) has a configuration in which a cross-sectional shape force of the filter has a convex arc next to the concave arc, and a straight line next to it.
  • the tangent line at the intersection of the concave arc and the convex arc has the same inclination
  • the tangent line at the intersection of the convex arc and the straight line has the same inclination.
  • a good 3D image can be obtained.
  • FIG. 6 when the thickness of the filter changes in the direction of the rotation center axis of the rotating device, shapes such as the head having different thicknesses in the body axis direction are formed. A good 3D image can be obtained for the inspection target.
  • an average value is calculated in the projection data acquired in a state in which a filter with a predetermined uniform thickness is installed and an inspection target is not installed, and a plurality of filter thicknesses are obtained.
  • the average value is obtained for the filter, and the average value is approximated to the filter thickness with a polynomial, and a conversion formula that expresses the relationship between the X-ray absorption amount of the filter and the filter thickness is created. Correction processing is possible for existing filters.
  • projection data is obtained in a state where a filter with a predetermined uniform thickness is installed and an arbitrary subject is installed, and the value of the reconstructed image is uniform.
  • Find the projection data for the inspection target calculate the correction coefficient by dividing the ideal projection data by the projection data for the inspection target, obtain the correction coefficient for multiple thickness filters, and determine the thickness of the filter and the inspection target.
  • correction processing can be performed on an inspection object having an arbitrary shape.
  • projection data is obtained in a state where an arbitrary subject is installed by installing a filter having an arbitrary shape instead of a filter having a uniform thickness. Then, the projection data of the ideal inspection object with uniform reconstructed image values is obtained, the ideal projection data is divided by the projection data of the inspection object, the correction coefficient is calculated, and the filter for multiple thicknesses is calculated.
  • the correction process is performed by the filter having the shape on the inspection object having an arbitrary shape. It becomes possible.
  • the inspection object can be simply and accurately simulated and the correction coefficient can be obtained.
  • a conversion table and a conversion formula are prepared one by one. Said about the case.
  • the control processing unit 406 stores the plurality of conversion tables and the set of conversion formulas, and selects them according to the photographing conditions and uses them for the correction processing.
  • the accuracy of correction can be improved.
  • a plurality of sets selected from a plurality of stored conversion tables and conversion formulas according to shooting conditions, and correction that fits any shooting conditions by interpolation or extrapolation of those sets. It is conceivable to calculate the coefficient and use it for correction processing. As a result, it is possible to realize correction with high accuracy for any shooting condition.
  • the saturation of the detector is suppressed except for the saturation phenomenon of the X-ray detection element, the change in the energy distribution due to the filter and the subject, or the influence of the scattered X-ray that also generated the filter and subject force. Therefore, it is possible to provide an X-ray measuring apparatus capable of obtaining a good three-dimensional image with improved value uniformity.
  • FIG. 1 is a flowchart showing a procedure of non-uniformity correction processing according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a conversion table A used in the non-uniformity correction process according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing a conversion table B used in the non-uniformity correction process according to the first embodiment. ⁇ 4] It is a conceptual diagram showing, in the form of a cross section, a side view of an example of an X-ray measuring apparatus to which the present invention is applied
  • FIGS. 5A to 5C are diagrams showing three examples of a cross section (left side) and a perspective view (right side) in which the filter 410 is cut along the rotation surface of the X-ray source 401.
  • A is a cross-sectional view and a perspective view of the filter 410 having a uniform thickness as a whole
  • (B) is a filter 410 that also has a combined force of a region having a concave surface and a region having a uniform thickness
  • (C) is a sectional view and a perspective view of the filter 410 comprising a combination of a concave area, a convex area, and a uniform thickness area.
  • FIG. 6 (A)-(C) are a sectional view and a plan view showing another shape of the filter 410, and (B) Is a plan view as seen from the X-ray incident direction, (A) is a cross-sectional view as seen in the arrow direction at the A-A position, and (C) is a cross-sectional view as seen in the arrow direction at the BB position.
  • 401 X-ray source
  • 402 detector
  • 403 support
  • 404 rotating device
  • 405 bed
  • 406 control processing device
  • 407 rotating shaft
  • 408 subject
  • 409 storage device
  • 410 filter.

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

　検査対象にＸ線を照射し、検査対象に関する計測データを検出するとともにＸ線源と検査対象との間にＸ線の透過量を調整するフィルタを設置し、Ｘ線源と検査対象に対する相対位置を変化させ、得られた計測データの演算処理を行うＸ線計測装置であって、計測データを対数変換して投影データを得、得られた投影データに対応する前記フィルタのＸ線吸収量を得、得られたＸ線吸収量に対して所定の変換式を用いてフィルタの厚さを算出し、算出されたフィルタの厚さにより得られた投影データに対応する補正係数を得、得られた補正係数を前記投影データに乗算し、補正係数が乗算された投影データを再構成演算して３次元像を得る。

Description

明 細 書
X線計測装置
技術分野
[0001] 本発明は、検出器の飽和を抑制し、値の均一性を向上した良好な 3次元像を得るこ とが可能な X線計測装置に関する。
背景技術
[0002] C字型の支柱 (以下、 Cアームと言う）の開放された両端に X線源と 2次元 X線検出 器を対向するように設置した X線計測装置がある。 Cアームを天井カゝら吊るす構造や 、 Cアームを床力も支える構造がある。また、ガントリ上に X線源と 2次元 X線検出器を 対向するように設置した X線計測装置がある。これらの装置において、 Cアームあるい はガントリを回転させることにより、 X線源と検出器の対を被写体の周囲で回転させな がら X線計測を行うことが可能である。また、回転計測により得られた複数の計測デ ータにそれぞれ補正処理を施して 3次元再構成のための 1組の投影データを得、得 られた 1組の投影データに対して 3次元再構成アルゴリズムを用いて再構成処理を行 い、 3次元像を得ることが可能である。これらの 3次元計測が非特許文献 1に記載され ている。
[0003] 非特許文献 1 :新医療、 2002年 10月、 Vol. 29、 No. 10、 pp. 102—105
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] 従来の X線計測装置にお!、ては、厚 、被写体を計測すると、被写体を透過して検 出器に到達する X線量は少量となり、計測される X線像の画質は劣化する。 X線源か ら照射する X線量を強化する、あるいは、 X線源と検出器の距離を短くする等の工夫 をして、検出器に到達する X線量を増加させると、被写体領域の画質を向上すること ができる。しかし、一方、被写体の存在しない領域、あるいは被写体の薄い領域では
、検出器に到達する X線量が増大し、 X線量が検出限界を超えた検出素子では飽和 現象が生じ、正しい値を示さなくなる。検出器の飽和を抑制するために、 X線源と被 写体の間に金属等カゝらなるフィルタを設置すると、フィルタの種類や厚さによって被 写体に入射する X線のエネルギー分布が変わる。エネルギー分布の異なる X線像を 用いて再構成処理を行うと、得られた 3次元像は正 U、値を示すことができな 、と言う 課題がある。
[0005] また、フィルタを設置しな 、場合やフィルタの種類や厚さが一様な場合では、被写 体に入射するエネルギー分布は一様となる力 被写体の種類や厚さによって被写体 を透過するうちに X線のエネルギー分布が変わる。エネルギー分布の異なる X線像を 用いて再構成処理を行うと、得られた 3次元像は正 U、値を示すことができな 、と言う 課題がある。
[0006] また、フィルタや被写体カゝら発生した散乱 X線力 検出器に入射してデータに混在 する。散乱 X線の混在した X線像を用いて再構成処理を行うと、得られた 3次元像は 正 、値を示すことができな 、と言う課題がある。
[0007] 本発明の目的は、これらの課題に対して、 3次元像の値の不均一性を補正し、良好 な 3次元像を得ることが可能な X線計測装置を提供することにある。
課題を解決するための手段
[0008] 上記の目的は、検査対象に照射する X線を発生する X線源と、この X線源と検査対 象を挟むように対向配置され検査対象の透過 X線を計測データとして検出する X線 検出器と、 X線源と検査対象との間に設置された X線の透過量を調整するフィルタと 、 X線源と X線検出器を保持する保持装置と、 X線源および X線検出器を検査対象の 周囲に回転させる回転装置と、回転装置によって回転された検査対象に対する複数 の角度にて X線検出器により検出された計測データの演算処理を行う制御処理装置 とを有する X線計測装置とし、制御処理装置は、計測データを対数変換して投影デ ータを得、得られた投影データに対応するフィルタの X線吸収係数を得、得られた X 線吸収係数に対して所定の変換式を用いてフィルタの厚さを算出し、算出されたフィ ルタの厚さにより得られた投影データに対応する補正係数を得、得られた補正係数 を投影データに乗算し、補正係数が乗算された投影データを再構成演算して 3次元 像を得ることにより達成できる。
発明の効果
[0009] 本発明によれば、 X線の検出素子の飽和現象、フィルタや被写体によるエネルギー 分布の変化、あるいは、フィルタや被写体力も発生した散乱 X線による影響を除いた 3次元像を得ることができる。
発明を実施するための最良の形態
[0010] 図 4は本発明を適用する X線計測装置の例の側面図を断面の形で示す概念図で ある。 X線計測装置は X線源 401、検出器 402、支柱 403、回転装置 404、寝台 405 、制御処理装置 406から成る。 X線源 401と検出器 402は支柱 403に設置されてい る。支柱 403には C字型のアームや、コ字型のアームや、ガントリ等が用いられる。図 4では、 C字型のアームを示す。支柱 403を天井から吊るす形態や、支柱 403を床か ら支える形態が考えられる。支柱 403は回転装置 404により、回転軸 407を中心とし て寝台 405上に横になつた被写体 408の周囲を回転する。
[0011] 図 4では、最も一般的な形態として、回転軸 407および寝台 405が床に平行である 場合を示した。支柱 403および寝台 405を移動させることにより、回転軸 407を体軸 に対して斜めに設定することも可能である。また、回転軸 407が床に対して垂直であ り、支柱 403が立位あるいは椅子に座った被写体 408の周囲を回転する形態も可能 である。
[0012] 図 4では、 X線源 401と検出器 402力回転装置 404〖こよって、被写体 408の周囲を 回転軸 407を中心として回転する場合を示した。 X線源 401と検出器 402が固定で、 被写体 408が回転装置 404によって、回転軸 407を中心として回転する形態も可能 である。あるいは、 X線源 401、検出器 402、被写体 408が回転軸 407を中心として 回転する形態も可能である。いずれの場合も、相対的な回転運動と捉えることにより、 同様の回転計測となる。
[0013] 検出器 402には平面型 X線検出器、 X線イメージインテンシファイアと CCDカメラの 組み合わせ、イメージングプレート、 CCD検出器、固体検出器等が用いられる。平面 型 X線検出器としては、フォトダイオードとアモルファスシリコン TFTを一対としてこれ を正方マトリックス上に配置し、これと蛍光体を直接組み合わせたもの等がある。
[0014] X線源 401から発生された X線は被写体 408を透過し、検出器 402により X線強度 に応じた電気信号に変換され、制御処理装置 406に計測データとして入力される。 制御処理装置 406は、 X線源 401における X線発生、検出器 402におけるデータの 取得、回転装置 404における支柱 403の回転を制御する。これにより、 X線計測装置 は、支柱 403を回転しながら X線の発生と計測データの取得を行う回転計測が可能 である。制御処理装置 406は、計測データに対して、対数変換処理や再構成演算処 理等を実行し、 3次元データを取得することが可能である。図 4では制御処理装置 40 6は検出器 402の外部に備えられているが、検出器 402の内部に備えられる形態も 可能である。その場合、高速処理が可能となる。
[0015] 本発明に係わる X線計測装置は、 X線源 401と検出器 402の間にフィルタ 410を設 置することが可能である。フィルタ 410はアルミニウム、銅、真鍮等の金属、セラミック 、榭脂等力も成る。最も簡便には、プラスチックゃ榭脂等のケースに入れた液体で作 成することも可能である。フィルタ形状は任意であり、後述するデータ補正処理は任 意のフィルタ形状に対応可能である。
実施例 1
[0016] 以下、本発明の第一の実施例を説明する。
[0017] 本発明の制御処理装置 406は、 3次元像の値の不均一性を補正する処理を実行 する。制御処理装置 406は、内部に記憶装置 409を有し、補正処理に必要なテープ ル等を記憶する。制御処理装置 406の入力手段としては、図示しないが、キーボード 力ものキー入力、ファイル力もの読み込み、記憶チップの交換が考えられる。制御処 理装置 406は操作メニューとして補正処理の実行の有無を入力するモード、あるい は、スィッチ等を有する。
[0018] 以下、 3次元像の値の不均一性を補正する処理の手順を示す。
( 1)感度データ取得：被写体を設置しな ヽ状態で X線を照射して計測を行 ヽ、検出 器の感度データを取得する。
(2)オフセット補正処理: X線を照射しな 、状態で計測を行 、、検出器のオフセットデ ータを取得する。被写体を設置して回転計測を行い、回転に応じた複数の被写体デ ータを取得する。各被写体データ力もオフセットデータを減算し、オフセット補正後被 写体データを得る。
(3)感度補正処理:感度データ力 オフセットデータを減算し、オフセット補正後感度 データを得る。オフセット補正後被写体データをオフセット補正後感度データで除算 し、感度補正後被写体データを得る。
(4)対数変換処理:感度補正後被写体データに対して対数変換処理を行い、 1倍 し、投影データを得る。
(5)不均一性補正処理：投影データに対して補正係数 Gを乗算し、不均一性補正後 データを得る。
(6) 3次元データ取得:全ての被写体データに対して、上述の処理を終了したら、再 構成演算処理を行い、 3次元データを得る。
[0019] 図 1は、実施例 1の不均一性補正処理の手順を示すフローチャートである。図 2は、 実施例 1の不均一性補正処理で使用する変換テーブル Aを示す図、図 3は、実施例 1の不均一性補正処理で使用する変換テーブル Bを示す図である。
[0020] 投影データの横方向の座標を u、縦方向の座標を Vとする。被写体の投影データ A s (u, v)に対して位置 vを指定する (ステップ 101)。被写体の投影データ As (u, v)に 対して位置 uを指定する（ステップ 102)。 ※ 図 1の u/レープの位置を修正） 座標（ u, V)に対して変換テーブル Aを検索し、フィルタの X線吸収量 Af (u, V)を得る (ステ ップ 103)。フィルタ X線吸収量 Af (u, V)に対して変換式 A (後述）により、フィルタ X 線吸収量 Af (u, V)に相当するフィルタの厚さとして等価フィルタ厚さ Ef (u, V)を算出 する（ステップ 104)。
[0021] 算出した等価フィルタ厚さ Ef (u, V)および被写体投影データ As (u, v)に対して変 換テーブル Bを検索し、補正係数 G (Ef, As)を得る（ステップ 105)。 ※ 図 3の Gの 表記を修正。 Gの表記ですが、前回の修正として Efを下付け表記にしました力 下付 け標記ができないようですので、「G (Ef, As)」の形に再修正します。文中および図 中において、 Gの表記を「G (Ef, As)」に統一して下さい。 ) 変換テーブル Bに、期 待する等価フィルタ厚さ Ef (u, V)および被写体投影データ As (u, V)が無い場合に は、近い値力 補間演算あるいは外挿演算により補正係数 G (Ef, As)を求める。被 写体投影データ As (u, v)に対して、補正係数 G (Ef, As)を乗算する (ステップ 106) 。全ての座標 uに対して処理を実行する (ステップ 107)。全ての座標 Vに対して処理 を実行する (ステップ 108)。全ての被写体投影データに対して処理を実行する (ステ ップ 109)。 [0022] 図 2に示した変換テーブル Aの求め方を示す。被写体を計測する際に用いるフィル タ 410を設置し、被写体を設置しないで X線を照射し、計測データを取得する。計測 データに対して、前述したオフセット補正、感度補正、対数変換処理を実行して投影 データを得る。座標（u, V)における投影データの値をフィルタの X線吸収量 Af (u, V )とする。投影データの横方向の座標 uを 1から最大値 Nuまで変化させ、縦方向の座 標 Vを 1から最大値 Nvまで変化させ、各座標（u, V)において Af (u, V)を求め、テー ブルに格納する。
[0023] これらの処理にぉ 、て、同じ条件で取得した投影データを加算平均した投影デー タを用いることにすれば、統計ノイズを減少させ、精度を向上させることができる。
[0024] 変換テーブル Aにお ヽて座標を数点刻みとし、補間演算により任意の座標におけ る X線吸収量を算出するようにすることも可能である。その場合は、テーブルの記憶 容量を低減できる。
[0025] 変換テーブル Aは、座標を変数として X線吸収量を算出する変換式として保持する ことも可能である。その場合、テーブルの記憶容量を低減できる。
[0026] 変換式 Aの求め方を示す。所定の一様な厚さ Efのフィルタ 410を設置し、被写体を 設置しないで X線を照射し、計測データを取得する。計測データに対して、前述した オフセット補正、感度補正、対数変換処理を実行して投影データを得る。投影データ において平均値を算出し、これをフィルタ 410の X線吸収量 Afとする。フィルタ 410と して、厚さを異にする複数のフィルタを用意して、それぞれの厚さのフィルタに対して 投影データを取得し、各々のフィルタ厚さ Efに対する X線吸収量 Afを得る。 X線吸収 量 Afに対するフィルタ厚さ Efを式（1)で近似し、係数 a , a , a , 一-を求める。
0 1 2
[0027] [数 1]
E = ai) + a^ - Aj- + a2 - Aj-i + a3 - A + · · · ( 1) 図 3に示した変換テーブル Bの求め方を示す。所定の一様な厚さ Efのフィルタ 410 を設置し、任意の被写体を設置して X線を照射し、計測データを取得する。ここでは 、任意の被写体としては、円柱形容器や楕円柱容器に水を詰めたものや、アクリル円 柱等を用いる。計測データに対して、前述したオフセット補正、感度補正、対数変換 処理を実行して投影データ As (u, v)を得る。再構成像の値が均一となる理想的な被 写体の投影データ Ao (u, V)を設定する。各座標 (u, V)において、理想投影データ Ao (u, V)を被写体投影データ As (u, V)で除算し、補正係数 G (Ef, As)を算出する 。フィルタ 410として、厚さを異にする複数のフィルタを用意して、それぞれの厚さ Ef のフィルタに対して同じ任意の被写体を用いて投影データを取得し、各々のフィルタ 厚さ Efにおける被写体投影データ Asに対する補正係数 G (Ef, As)を求める。被写 体投影データ Asに対する補正係数 G (Ef, As)を式（2)で近似し、係数 b , b , b , -
0 1 2
—を求める。
[0028] [数 2]
Cr = + bj■ Λ5 + b2 ' + b3 Ά +· · · (Δ) 複数の厚さのフィルタに対してフィルタ厚さ Efを 0から最大値 Emaxまで変化させ、 被写体投影データ Asを 0から最大値 Smaxまで変化させ、近似式（2)を用いて G (Ef , As)を求め、テーブルに格納する。
[0029] これらの処理にぉ 、て、同じ条件で取得した投影データを加算平均した投影デー タを用いることにより、統計ノイズを減少させ、補正係数の算出精度を向上させること ができる。
[0030] 変換テーブル Bにおいて、フィルタ厚さおよび被写体投影データを数点刻みとし、 補間演算により補正係数を算出することも可能である。その場合、テーブルの記憶容 量を低減できる。
[0031] 変換テーブル Bは、フィルタ厚さおよび被写体投影データを変数として補正係数を 算出する変換式として保持することも可能である。その場合、テーブルの記憶容量を 低減できる。
[0032] 図 5 (A) - (C)は、フィルタ 410を X線源 401の回転面に沿って切った断面（左側） と斜視図 (右側）について、 3種類の例を示す図である。（A)は、全体が一様な厚さと されたフィルタ 410の断面図と斜視図、（B)は、凹面から成る領域と、一様な厚さとさ れた領域との組み合わせ力も成るフィルタ 410の断面図と斜視図、（C)は、凹面から 成る領域と、凸面から成る領域と、一様な厚さとされた領域との組み合わせから成る フィルタ 410の断面図と斜視図である。断面図に矢印を表示して X線と付記したのは X線の入射方向を示すためである。 X線の入射方向を矢印と逆方向にすることも可能 である。図 5 (A)— (C)に示すように、フィルタ形状を左右対称形とすると、フィルタ中 心に対してフィルタの X線吸収量が左右対称となり、前述した吸収量の算出演算量 およびテーブル Aの記憶容量が半減できる。フィルタ形状を断面の奥行き方向に同 形とすると、フィルタの X線吸収量がどの断面においても同じとなり、吸収量の算出演 算量およびテーブル Aの記憶容量を減少できる。
[0033] 図 6 (A) - (C)は、フィルタ 410の別の形状を示す断面図および平面図である。図 6 (B)は X線の入射方向力 見た平面図であり、図 6 (A)は、 A— A位置で矢印方向 に見た断面図、図 6 (C)は、 B— B位置で矢印方向に見た断面図である。図 6 (A)に 示されるように、フィルタ 410は A— A位置で凹面力 成る領域と一定値力 成る領域 の組み合わせ力も成る。また、 B—B位置でフィルタは上部で厚さが変化する。
[0034] フィルタの形状を、 X線入射方向から見た場合には図 6 (B)と同様とし、 A— A断面 において図 5 (C)と同様に凹面力 成る領域と、凸面から成る領域と、一様な厚さから 成る領域との組み合わせとし、 B— B断面においてフィルタ上部で厚さが変化し、 つ凹面から成る領域と、一様な厚さから成る領域との境界を凸面形状とすることも可 能である。
[0035] 図 5 (A)に示すフィルタ 410は、被写体が計測領域 (検出器 402の検出領域）にお いて比較的平坦であり、検出器 402の飽和を平均的に防止するような計測の場合に 有用であり、図 5 (B) , (C)に示すフィルタ 410は、被写体の厚さが計測領域におい て両側で急激に減少する計測の場合に有用である。図 6の例では、さらに、被写体 の厚さが計測領域の上部においても急激に減少する計測の場合に有用である。
[0036] 具体的に言えば、図 5 (C)に示すフィルタ 410は、フィルタの断面形状力 凹型の 円弧の隣に凸型の円弧があり、その隣に直線がある構成をしており、凹型の円弧と凸 型の円弧の交点における接線が同じ傾きであり、凸型の円弧と直線の交点における 接線が同じ傾きをしていることにより、頭部、腹部、下肢などの人体形状に対して良好 な 3次元像を得ることができる。さらに、図 6の例によれば、フィルタの厚さが回転装置 の回転中心軸方向に変化することにより、頭部など、体軸方向に厚さの異なる形状を 持つ検査対象に対して良好な 3次元像を得ることができる。
[0037] 実施例 1によれば、所定の一様な厚さのフィルタを設置して検査対象を設置しな ヽ 状態で取得した投影データにおいて平均値を算出し、複数の厚さのフィルタに対し て平均値を取得し、フィルタ厚さに対して平均値を多項式で近似し、フィルタの X線 吸収量とフィルタの厚さの関係を表す変換式を作成することにより、任意の厚さを有 するフィルタに対して補正処理が可能となる。
[0038] また、実施例 1によれば、所定の一様な厚さのフィルタを設置して任意の被写体を 設置した状態で投影データを得、再構成像の値が均一となる理想的な検査対象の 投影データを求め、理想投影データを検査対象の投影データで除算して補正係数 を算出し、複数の厚さのフィルタに対して補正係数を取得し、フィルタの厚さと検査対 象の投影データと補正係数の関係を表す変換テーブルを作成することにより、任意 の形状を有する検査対象に対して補正処理が可能となる。
[0039] また、上述の実施例 1を発展させれば、一様な厚さのフィルタに代えて、任意の形 状を有するフィルタを設置して検査対象を設置しな!、状態で投影データを得、投影 データの横方向の座標と縦方向の座標を変化させて各座標における投影データの 値を求め、検査対象の投影データとフィルタの X線吸収量の関係を表す変換テープ ルを作成することにより、当該形状を有するフィルタに対して補正処理が可能となる。
[0040] また、上述の実施例 1を発展させれば、一様な厚さのフィルタに代えて、任意の形 状を有するフィルタを設置して任意の被写体を設置した状態で投影データを得、再 構成像の値が均一となる理想的な検査対象の投影データを求め、理想投影データ を検査対象の投影データで除算して補正係数を算出し、複数の厚さのフィルタに対 して補正係数を取得し、フィルタの厚さと検査対象の投影データと補正係数の関係を 表す変換テーブルを作成することにより、任意の形状を有する検査対象に対して当 該形状を有するフィルタによって補正処理が可能となる。
[0041] また、実施例 1によれば、任意の被写体として、水円柱、あるいは、水楕円柱を用い ることにより、簡便に精度よく検査対象を模擬し、補正係数を求めることができる。
[0042] (その他の実施例）
上述した実施例 1の補正処理では、変換テーブルおよび変換式を一つずつ準備し た場合について述べた。他の実施例では、 X線管電圧、散乱 X線遮蔽グリッド、コリメ ータなど撮影条件に対応して、あらかじめ複数の変換テーブルおよび変換式を準備 することが考えられる。その場合、制御処理装置 406は、これらの複数の変換テープ ルおよび変換式のセットを格納し、これらを撮影条件によって選択して補正処理に使 用する。撮影条件に対応した変換テーブルおよび変換式を用いることにより、補正の 精度を向上することができる。また、別の実施例では、格納した複数の変換テーブル および変換式のセットの中から撮影条件によって複数のセットを選択して、それらの 補間演算または外挿演算により任意の撮影条件に適合する補正係数を算出し、補 正処理に使用することが考えられる。これにより、任意の撮影条件に対して、精度の 高 、補正を実現することができる。
産業上の利用可能性
[0043] 本発明によれば、 X線の検出素子の飽和現象、フィルタや被写体によるエネルギー 分布の変化、あるいは、フィルタや被写体力も発生した散乱 X線による影響を除き、 検出器の飽和を抑制し、値の均一性を向上した良好な 3次元像を得ることが可能な X 線計測装置を提供できる。
図面の簡単な説明
[0044] [図 1]実施例 1の不均一性補正処理の手順を示すフローチャートである。
[図 2]実施例 1の不均一性補正処理で使用する変換テーブル Aを示す図である。
[図 3]実施例 1の不均一性補正処理で使用する変換テーブル Bを示す図である。 圆 4]本発明を適用する X線計測装置の例の側面図を断面の形で示す概念図である
[図 5] (A) - (C)は、フィルタ 410を X線源 401の回転面に沿って切った断面 (左側） と斜視図 (右側）について、 3種類の例を示す図である。（A)は、全体が一様な厚さと されたフィルタ 410の断面図と斜視図、（B)は、凹面から成る領域と、一様な厚さとさ れた領域との組み合わせ力も成るフィルタ 410の断面図と斜視図、（C)は、凹面から 成る領域と、凸面から成る領域と、一様な厚さとされた領域との組み合わせから成る フィルタ 410の断面図と斜視図である。
[図 6] (A) - (C)は、フィルタ 410の別の形状を示す断面図および平面図であり、 (B) は X線の入射方向から見た平面図、（A)は、 A— A位置で矢印方向に見た断面図、（ C)は、 B— B位置で矢印方向に見た断面図である。
符号の説明
401:X線源、 402:検出器、 403:支柱、 404:回転装置、 405:寝台、 406:制御処 理装置、 407:回転軸、 408:被写体、 409:記憶装置、 410:フィルタ。

Claims

請求の範囲
[1] 検査対象に照射する X線を発生する X線源と、この X線源と前記検査対象を挟むよ うに対向配置され前記検査対象の透過 X線を計測データとして検出する X線検出器 と、前記 X線源と前記検査対象との間に設置された X線の透過量を調整するフィルタ と、前記 X線源と前記 X線検出器を保持する保持装置と、前記 X線源および前記 X線 検出器を前記検査対象の周囲に回転させる回転装置と、前記回転装置によって回 転された前記検査対象に対する複数の角度にて前記 X線検出器により検出された計 測データの演算処理を行う制御処理装置と、を有する X線計測装置であって、 前記制御処理装置は、前記計測データを対数変換して投影データを得、前記得ら れた投影データに対応する前記フィルタの X線吸収係数を得、前記得られた X線吸 収係数に対して所定の変換式を用いて前記フィルタの厚さを算出し、前記算出され たフィルタの厚さにより前記得られた投影データに対応する補正係数を得、前記得ら れた補正係数を前記投影データに乗算し、前記補正係数が乗算された投影データ を再構成演算して 3次元像を得ることを特徴とする X線計測装置。
[2] 前記制御処理装置は、前記フィルタの X線吸収量を前記投影データに対して第 1 の変換テーブルを検索して得ることを特徴とする請求項 1に記載の X線計測装置。
[3] 前記第 1の変換テーブルは、検査対象の計測に先行して、前記フィルタを設置して 検査対象を設置しな!ヽ状態で計測データを得、前記計測データを対数変換して投 影データを得、前記投影データの横方向の座標と縦方向の座標を変化させて各座 標における投影データの値を求め、検査対象の投影データとフィルタの X線吸収量と の関係を得て作成されるものである請求項 1に記載の X線計測装置。
[4] 前記制御処理装置は、前記補正係数を前記投影データに対して第 2の変換テー ブルを検索して得ることを特徴とする請求項 1に記載の X線計測装置。
[5] 前記第 2の変換テーブルは、所定の一様な厚さのフィルタを設置して任意の被写 体を設置した状態で計測データを得、前記計測データを対数変換して投影データを 得、再構成像の値が均一となる理想的な検査対象の投影データを求め、理想投影 データを検査対象の投影データで除算して補正係数を算出し、複数の厚さのフィル タに対して補正係数を取得し、フィルタの厚さと検査対象の投影データと補正係数の 関係を求めて作成されるものである請求項 1に記載の X線計測装置。
[6] 前記制御処理装置は、前記フィルタの X線吸収量を得る際に、同じ条件で取得さ れた投影データを加算平均した投影データを用いることを特徴とする請求項 1に記 載の X線計測装置。
[7] 前記制御処理装置は、前記フィルタの X線吸収量を得る際に、前記第 1の変換テ 一ブルにお 、て座標を数点刻みとし、補間演算により任意の座標における X線吸収 量を算出することを特徴とする請求項 2に記載の X線計測装置。
[8] 前記制御処理装置は、前記フィルタの X線吸収量を得る際に、前記第 2の変換テ 一ブルを座標を変数として X線吸収量を算出する変換式として保持し、前記変換式 によって X線吸収量を算出することを特徴とする請求項 2に記載の X線計測装置。
[9] 前記制御処理装置は、前記フィルタの厚さを得る際に、同じ条件で取得された投影 データを加算平均した投影データを用いることを特徴とする請求項 1に記載の X線計 測装置。
[10] 前記制御処理装置は、前記フィルタの厚さを得る際に、前記第 2の変換テーブルに おいて座標を数点刻みとし、補間演算により任意の座標における X線吸収量を算出 することを特徴とする請求項 4に記載の X線計測装置。
[11] 前記制御処理装置は、前記フィルタの厚さを得る際に、前記第 2の変換テーブルを 座標を変数として X線吸収量を算出する変換式として保持し、前記変換式によって X 線吸収量を算出することを特徴とする請求項 4に記載の X線計測装置。
[12] 前記フィルタは、その形状が左右対称形であることを特徴とする請求項 1に記載の X線計測装置。
[13] 前記フィルタは、その断面の奥行き方向の形状が同形であることを特徴とする請求 項 1に記載の X線計測装置。
[14] 前記フィルタは、その断面の形状が凹型の円弧での隣に凸型の円弧があり、その 隣に直線がある構成をしており、凹型の円弧と凸型の円弧の交点における接線が同 じ傾きであり、凸型の円弧と直線の交点における接線が同じ傾きをしていることを特 徴とする請求項 1に記載の X線計測装置。
[15] 前記フィルタは、その厚さが前記回転装置の回転中心軸方向に変化することを特 徴とする請求項 1に記載の X線計測装置。
[16] 前記制御処理装置は、水円柱あるいは水楕円柱の形状の任意の被写体の投影デ 一タカ 得る補正係数を備えることを特徴とする請求項 1に記載の X線計測装置。
[17] 前記制御処理装置は、前記検査対象を撮影するための撮影条件に応じて複数の 補正係数から補正係数を選択することを特徴とする請求項 1に記載の X線計測装置
PCT/JP2005/022522 2005-01-27 2005-12-08 Ｘ線計測装置 WO2006080144A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/722,802 US7515689B2 (en) 2005-01-27 2005-12-08 X-ray measuring instrument
JP2007500431A JP4599392B2 (ja) 2005-01-27 2005-12-08 Ｘ線計測装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005-019285 2005-01-27
JP2005019285 2005-01-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006080144A1 true WO2006080144A1 (ja) 2006-08-03

Family

ID=36740178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2005/022522 WO2006080144A1 (ja) 2005-01-27 2005-12-08 Ｘ線計測装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7515689B2 (ja)
JP (1) JP4599392B2 (ja)
CN (1) CN100579453C (ja)
WO (1) WO2006080144A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10201321B4 (de) * 2002-01-15 2011-02-24 Siemens Ag Computertomographie-Gerät und Verfahren mit aktiver Anpassung der Mess-Elektronik
JP4512187B2 (ja) * 2004-07-06 2010-07-28 株式会社日立メディコ Ｘ線計測装置
US8218715B2 (en) * 2007-05-31 2012-07-10 General Electric Company Methods and systems to facilitate correcting gain fluctuations in iterative image reconstruction
DE102009012631B4 (de) * 2009-03-11 2011-07-28 Bayer Schering Pharma Aktiengesellschaft, 13353 Filter für einen Computertomographen sowie Computertomograph
CN101587052B (zh) * 2009-06-15 2011-03-30 浙江大学 基于x射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法
WO2012093440A1 (ja) 2011-01-07 2012-07-12 株式会社 東芝 Ｘ線ｃｔ装置
US10667767B2 (en) * 2014-05-02 2020-06-02 General Electric Company Systems and methods for selecting bowtie filter configuration
JP6165695B2 (ja) * 2014-09-24 2017-07-19 富士フイルム株式会社 放射線画像解析装置および方法並びにプログラム
CN104475462B (zh) * 2014-11-24 2016-08-24 北京金自天正智能控制股份有限公司 一种x射线测厚仪的在线校正装置及方法
CN105433973B (zh) * 2015-12-30 2018-09-18 沈阳东软医疗系统有限公司 Ct扫描设备、ct系统和控制过滤器组件的方法及装置
CN106955118B (zh) * 2017-04-11 2020-04-17 沈阳开普医疗影像技术有限公司 Ct形状过滤器缺陷的单能矫正方法
CN107179650A (zh) * 2017-05-12 2017-09-19 太仓诚泽网络科技有限公司 一种基于射线的摄影方法
CN110353712B (zh) * 2019-07-19 2023-07-21 深圳安科高技术股份有限公司 一种滤波器、调节ct系统射线束的方法及装置
JP7249666B2 (ja) * 2020-10-30 2023-03-31 株式会社リガク 蛍光ｘ線分析装置
KR102530973B1 (ko) * 2021-06-25 2023-05-16 (주)아이스트 2차 전지 x-선 검사를 위한 보정 데이터 취득 장치 및 방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003339686A (ja) * 2002-05-29 2003-12-02 Shimadzu Corp Ｘ線撮影装置
JP2004305349A (ja) * 2003-04-04 2004-11-04 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置における補正係数算出方法、ビームハードニング後処理方法およびｘ線ｃｔ装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE347859B (ja) * 1970-11-30 1972-08-14 Medinova Ab
US6418193B1 (en) * 1999-11-01 2002-07-09 General Electric Company Imaging system including radiation filter for x-ray imaging
DE10035984C1 (de) * 2000-07-24 2002-01-31 Siemens Ag Röntgen-Computertomographieeinrichtung
JP2002102217A (ja) * 2000-09-28 2002-04-09 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔシステム、ガントリ装置、コンソール端末及びその制御方法及び記憶媒体
DE10048775B4 (de) * 2000-09-29 2006-02-02 Siemens Ag Röntgen-Computertomographieeinrichtung
US6990171B2 (en) * 2003-10-27 2006-01-24 General Electric Company System and method of determining a user-defined region-of-interest of an imaging subject for x-ray flux management control

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003339686A (ja) * 2002-05-29 2003-12-02 Shimadzu Corp Ｘ線撮影装置
JP2004305349A (ja) * 2003-04-04 2004-11-04 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置における補正係数算出方法、ビームハードニング後処理方法およびｘ線ｃｔ装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2006080144A1 (ja) 2008-06-19
CN100579453C (zh) 2010-01-13
US7515689B2 (en) 2009-04-07
JP4599392B2 (ja) 2010-12-15
US20080043900A1 (en) 2008-02-21
CN101098660A (zh) 2008-01-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2006080144A1 (ja) Ｘ線計測装置
JP5384521B2 (ja) 放射線撮像装置
JP5226523B2 (ja) Ｘ線撮像に関する方法および装置
RU2619839C1 (ru) Способ исследования с помощью кт и устройство для кт
KR101560662B1 (ko) 화상 처리장치, 화상 처리방법, 및 비일시적 기억매체
JP5582514B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP5343065B2 (ja) 放射線撮影システム
US8150131B2 (en) Computer tomography method for determining an object region with the aid of projection images
JP6805173B2 (ja) 暗視野・位相コントラストイメージングをスキャンするためのビーム硬化補正
JP5194095B2 (ja) 半撮影域のみをカバーする縮小サイズ検出器を利用するコンピュータ断層撮影システムに用いる装置及び方法
JP5780931B2 (ja) 放射線断層撮影装置および被曝線量計算方法並びにプログラム
JP2012090944A (ja) 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
JP6891030B2 (ja) 放射線画像診断装置及び医用画像処理装置
JP5220383B2 (ja) 放射線撮像装置
JP2007111314A (ja) Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ装置の画像生成方法、ｘ線ｃｔ装置の散乱線成分算出装置、及びｘ線ｃｔ装置の散乱線成分算出方法
JP4769487B2 (ja) Ｘ線計測装置
JP2019037550A (ja) Ｘ線ｃｔ装置及び画像生成方法
EP0608237B1 (en) Method and apparatus for computing tomographic and panoramic scans
Kim et al. Planar cone-beam computed tomography with a flat-panel detector
JP2010022692A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP4512187B2 (ja) Ｘ線計測装置
JP2007175160A (ja) 断層撮影装置および放射線信号処理方法
JP2006068338A (ja) 放射線撮影装置
JP2008043820A (ja) Ｘ線ｃｔ装置
Abboud Dose and image quality considerations in computed tomography

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007500431

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11722802

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200580046148.8

Country of ref document: CN

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 11722802

Country of ref document: US

32PN Ep: public notification in the ep bulletin as address of the adressee cannot be established

Free format text: NOTING OF LOSS OF RIGHTS PURSUANT TO RULE 69(1) EPC, EPO FORM 1205A OF 16.11.07

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 05814700

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1