JPWO2006067937A1 - Sb−Te系合金焼結体ターゲット及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
スパッタリング法による被覆法は処理時間や供給電力等を調節することによって、安定した成膜速度でオングストローム単位の薄い膜から数十μmの厚い膜まで形成できるという特徴を有している。
ターゲットのクラック又は割れの発生は、ターゲットの密度及び強度(抗折力)が低いためである。このようなターゲット又はスパッタリングの際の問題は、記録媒体である薄膜の品質を低下させる大きな原因となっている。
また、Ge、Sb、Teを含む合金粉末のうち、タップ密度(相対密度)が50%以上になる粉末を型に流し込み、冷間もしくは温間で加圧し、冷間加圧後の密度が95%以上である成形材をArもしくは真空雰囲気中で熱処理を施すことにより焼結することにより、該焼結体の含有酸素量が700ppm以下であることを特徴とするGe−Sb−Te系スパッタリングターゲットの製造方法及びこれらに使用する粉末をアトマイズ法により製造する技術の記載がある(例えば特許文献2参照)。
この他にアトマイズ粉を使用してターゲットを製造する技術としては、下記特許文献4、5、6がある。
しかし、以上の特許文献については、アトマイズ粉をそのまま使用するもので、ターゲットの十分な強度が得られておらず、またターゲット組織の微細化及び均質化が達成されているとは言い難い。また、許容される酸素含有量も高く、相変化記録層を形成するためのSb−Te系スパッタリングターゲットとしては、十分とは言えないという問題がある。
この知見に基づき、本発明は
1.Sb−Te系合金のほぼ球状の粒子からなるアトマイズ粉を用いたスパッタリングターゲットであって、該球状のアトマイズ粉が押つぶされて扁平になった粒子からなり、扁平粒子の短軸と長軸の比(扁平率)が0.6以下である粒子が全体の50%以上を占めていることを特徴とするSb−Te系合金焼結体ターゲット
2.長軸の向きがターゲット表面に平行な方向に±45°以内で揃っている粒子が全体の60%以上を占めることを特徴とする上記1記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット
3.ターゲット中の酸素濃度が1500wtppm以下であることを特徴とする上記1又は2記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット
4.ターゲット中の酸素濃度が1000wtppm以下であることを特徴とする上記1又は2記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット
5.ターゲット中の酸素濃度が500wtppm以下であることを特徴とする上記1又は2記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット
6.Sb−Te系合金のほぼ球状の粒子からなるアトマイズ粉を用いてプレス成形及び焼結してスパッタリングターゲットを製造する方法において、前記球状のアトマイズ粉を押つぶして扁平とし、焼結体ターゲット中に存在する扁平粒子の短軸と長軸の比(扁平率)が0.6以下である粒子が全体の50%以上を占めるように製造することを特徴とするSb−Te系合金焼結体ターゲットの製造方法。
7.長軸の向きがターゲット表面に平行な方向に±45°以内で揃っている粒子が全体の60%以上を占めるように製造することを特徴とする上記6記載のSb−Te系合金焼結体ターゲットの製造方法、を提供する。
なお、上記1〜7の発明の構成要件において、公知技術が存在しない限り、それぞれ独立した上記1又は6のみで、発明としての条件を十分に満たしていることは、理解されるべきである。従属する構成要件、すなわち上記2、3、4、5、7は、それぞれ好ましい付随する要件である。これらも亦、上記1又は8の構成要件に結合されることにより、新たな発明として成立するものである。
通常、Sb−Te系合金ターゲットとしてはSbを10〜90at%含有するもの、特にSbを20〜80at%含有するSn−Te系合金が用いられる。しかし、本願発明は、このような成分範囲に限定されるものではなく、この成分範囲外でも適用できることは言うまでもない。
一般に、ガスアトマイズ粉は、機械粉末に比べ極めて微細な粉末を得ることができ、粉砕機械の使用による汚染が防止できるので、そのまま焼結粉末として使用するのが望ましいと言える。このガスアトマイズ粉を用いて焼結したターゲットは、その表面粗さRaを0.1μm以下に小さく加工することが容易となり、後述するように、機械粉砕した粉末に比べ特性上優れている。
このようなターゲット組織は、密度を向上させることができ、抗折力も著しく高くなる。したがって、本発明の高密度・高強度Sb−Te系合金焼結体ターゲットは、製造工程においてクラック又は割れの発生を著しく減少させることができる。そして、ターゲットのクラック又は割れに起因するノジュール及びパーティクル発生を効果的に抑制することができる。
不純物である酸素はできるだけ低い方が望ましいが、特に含有量を1500wtppm以下とすることが良い。これを超える酸素の含有は、酸化物量を増加させ不純物発生の原因となり易い。酸素含有量を下げ、酸化物量を減少させることは、アーキングを防止し、このアーキングによるノジュール及びパーティクルの発生を抑制することにつながる。
一般に、スパッタリング後のエロージョン面は、表面粗さRaが1μm以上の粗い面となり、スパッタリングの進行と共にさらに粗くなる傾向になるが、本発明の高密度Sb−Te系合金スパッタリングターゲットは、スパッタリングした後のエロージョン面の表面粗さRaが0.4μm以下を維持でき、ノジュール及びパーティクル発生を効果的に抑制し、特異なSb−Te系合金スパッタリングターゲットを得ることができる。
また、組織微細化によりスパッタ膜も面内及びロット間の組成変動が抑えられ、相変化記録層の品質が安定するというメリットがある。そして、このようにスパッタリングの際の、パーティクルの発生、異常放電、ノジュールの発生等を効果的に抑制することができる。
さらに、本発明のSb−Te系スパッタリングターゲットにおいて、酸素等のガス成分含有量を1500ppm以下、特に1000ppm以下さらには、酸素等のガス成分含有量を500ppm以下とすることができる。このような酸素等のガス成分の低減は、ノジュール、パーティクル、異常放電の発生をさらに低減することができる。
Ge2Sb2Te5合金原料を、ガスアトマイズ装置を使用し、ノズル径2.00mmφ、噴射ガスとしてアルゴン(100kgf/cm2)を使用して780°Cで噴射しアトマイズ粉を製造した。これによって、きれいな球形の粉末が得られた。このガスアトマイズ粉の酸素含有量は250ppmであった。
さらに、このアトマイズ粉をプレス及び焼結を行った。プレス圧は150kgf/cm2であり、プレス温度を600°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ge2Sb2Te5合金ターゲットとした。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数はそれぞれ、30個/ウエハー、ターゲットのノジュール個数が50個/ターゲットであり、優れたターゲットが得られた。
Ag5In5Sb70Te20合金原料を、ガスアトマイズ装置を使用し、ノズル径2.00mmφ、噴射ガスとしてアルゴン(100kgf/cm2)を使用して780°Cで噴射しアトマイズ粉を製造した。これによって、きれいな球形の粉末が得られた。このガスアトマイズ粉の酸素含有量は140ppmであった。
さらに、このアトマイズ粉をプレス及び焼結を行った。プレス圧は200kgf/cm2であり、プレス温度を500°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ag−In−Sb−Te合金ターゲットとした。
このターゲットを用いてスパッタリングを実施した。この結果、アーキングの発生がなく、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数、ノジュール個数の結果を、同様に表1に示す。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数はそれぞれ、21個/ウエハー、ターゲットのノジュール個数が35個/ターゲットであり、優れたターゲットが得られた。
Ge2Sb2Te5合金原料を、ガスアトマイズ装置を使用し、ノズル径2.00mmφ、噴射ガスとしてアルゴン(100kgf/cm2)を使用して780°Cで噴射しアトマイズ粉を製造した。これによって、きれいな球形の粉末が得られた。このガスアトマイズ粉の酸素含有量は250ppmであった。
さらに、このアトマイズ粉をプレス及び焼結を行った。プレス圧は75kgf/cm2であり、プレス温度を600°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ge2Sb2Te5合金ターゲットとした。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数は102個/ウエハーと異常に多く、ターゲットのノジュール個数が300個/ターゲット以上となり、品質の悪いターゲットとなった。
Ge2Sb2Te5合金原料を、ガスアトマイズ装置を使用し、ノズル径2.00mmφ、噴射ガスとしてアルゴン(100kgf/cm2)を使用して780°Cで噴射しアトマイズ粉を製造した。これによって、きれいな球形の粉末が得られた。このガスアトマイズ粉の酸素含有量は250ppmであった。
さらに、このアトマイズ粉をプレス及び焼結を行った。プレス圧は150kgf/cm2であり、プレス温度を500°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ge2Sb2Te5合金ターゲットとした。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数は85個/ウエハーと多く、ターゲットのノジュール個数が240個/ターゲット以上となり、品質の悪いターゲットとなった。
Ge、Sb、Teのそれぞれの原料粉を機械粉砕し、粉砕後の粉末原料をGe2Sb2Te5の組成比となるように調合及び混合し、プレス及び焼結を実施した。
プレス圧は150kgf/cm2であり、プレス温度を600°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ge2Sb2Te5合金ターゲットとした。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数は150個/ウエハーと異常に多く、ターゲットのノジュール個数が300個/ターゲット以上となり、品質の悪いターゲットとなった。
Ag5In5Sb70Te20合金原料を、ガスアトマイズ装置を使用し、ノズル径2.00mmφ、噴射ガスとしてアルゴン(100kgf/cm2)を使用して780°Cで噴射しアトマイズ粉を製造した。これによって、きれいな球形の粉末が得られた。このガスアトマイズ粉の酸素含有量は120ppmであった。
さらに、このアトマイズ粉をプレス及び焼結を行った。プレス圧は200kgf/cm2であり、プレス温度を400°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ag−In−Sb−Te合金ターゲットとした。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数は90個/ウエハーと異常に多く、ターゲットのノジュール個数が300個/ターゲット以上となり、品質の悪いターゲットとなった。
Ag5In5Sb70Te20合金原料を、ガスアトマイズ装置を使用し、ノズル径2.00mmφ、噴射ガスとしてアルゴン(100kgf/cm2)を使用して780°Cで噴射しアトマイズ粉を製造した。これによって、球形の粉末が得られた。このガスアトマイズ粉の酸素含有量は180ppmであった。
さらに、このアトマイズ粉をプレス及び焼結を行った。プレス圧は200kgf/cm2であり、プレス温度を500°Cとした。このようにして得た焼結体を機械加工し、さらに研磨して、Ag−In−Sb−Te合金ターゲットとした。
表1に示すように、100kW・hrまでのスパッタリングを実施した場合の、パーティクル発生個数は62個/ウエハーと多く、ターゲットのノジュール個数が120個/ターゲットとなり、品質の悪いターゲットとなった。
Claims (7)
- Sb−Te系合金のほぼ球状の粒子からなるアトマイズ粉を用いたスパッタリングターゲットであって、該球状のアトマイズ粉が押つぶされて扁平になった粒子からなり、扁平粒子の短軸と長軸の比(扁平率)が0.6以下である粒子が全体の50%以上を占めていることを特徴とするSb−Te系合金焼結体ターゲット。
- 長軸の向きがターゲット表面に平行な方向に±45°以内で揃っている粒子が全体の60%以上を占めることを特徴とする請求項1記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット。
- ターゲット中の酸素濃度が1500wtppm以下であることを特徴とする請求項1又は2記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット。
- ターゲット中の酸素濃度が1000wtppm以下であることを特徴とする請求項1又は2記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット。
- ターゲット中の酸素濃度が500wtppm以下であることを特徴とする請求項1又は2記載のSb−Te系合金焼結体ターゲット。
- Sb−Te系合金のほぼ球状の粒子からなるアトマイズ粉を用いてプレス成形及び焼結してスパッタリングターゲットを製造する方法において、前記球状のアトマイズ粉を押つぶして扁平とし、焼結体ターゲット中に存在する扁平粒子の短軸と長軸の比(扁平率)が0.6以下である粒子が全体の50%以上を占めるように製造することを特徴とするSb−Te系合金焼結体ターゲットの製造方法。
- 長軸の向きがターゲット表面に平行な方向に±45°以内で揃っている粒子が全体の60%以上を占めるように製造することを特徴とする請求項6記載のSb−Te系合金焼結体ターゲットの製造方法。
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