JPWO2004086345A1 - 表示むら補正方法 - Google Patents
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Abstract
表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップを備えている。
Description
この発明は、有機ＥＬパネル等の表示パネルにおける表示むら補正方法に関する。
有機ＥＬパネル等の表示パネルにおいては、全領域にわたって輝度特性を均一にさせることは現状では困難であり、表示むらの発生が大きな問題となっている。その原因として、表示パネルの製造工程における発光層の膜厚のばらつきなどが挙げられている。
このような表示むらを補正する方法として、予め各画素毎に全階調分の表示むら補正用パラメータを用意しておき、表示むら補正用パラメータに基づいて入力信号を補正するものがある。このような従来方法では、各画素毎に全階調分の表示むら補正用パラメータを用意する必要があった。
本発明者は、表示むらの原因が、有機ＥＬパネル内の薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）の閾値電圧（Ｖｏｌｔａｇｅ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ：Ｖｔｈ）のばらつきに起因することを発見した。
この発明は、表示むらの原因が、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）の閾値電圧のばらつきに起因することに着目し、画素間における発光開始階調レベルのばらつきを是正するように入力信号を補正することによって表示むらを補正するようにし、少ないパラメータ数で輝度均一性の向上化が図れる表示むら補正方法を提供することを目的とする。
このような表示むらを補正する方法として、予め各画素毎に全階調分の表示むら補正用パラメータを用意しておき、表示むら補正用パラメータに基づいて入力信号を補正するものがある。このような従来方法では、各画素毎に全階調分の表示むら補正用パラメータを用意する必要があった。
本発明者は、表示むらの原因が、有機ＥＬパネル内の薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）の閾値電圧（Ｖｏｌｔａｇｅ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ：Ｖｔｈ）のばらつきに起因することを発見した。
この発明は、表示むらの原因が、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）の閾値電圧のばらつきに起因することに着目し、画素間における発光開始階調レベルのばらつきを是正するように入力信号を補正することによって表示むらを補正するようにし、少ないパラメータ数で輝度均一性の向上化が図れる表示むら補正方法を提供することを目的とする。
この発明による第１の表示むらを補正する方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて補正する第２ステップを備えていることを特徴とする。
第１の表示むら補正方法において、第１ステップは、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた１つの階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｃステップ、およびｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度と、ｃステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｄステップを備えている。
ｂステップでは、例えば、面輝度測定装置によって各単位領域の輝度が測定される。ｂステップでは、例えば、表示パネルに流れる電流を測定することによって各単位領域の輝度が測定される。
各単位領域は、１画素単位の領域であってもよいし、複数の画素を含む所定の大きさの領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割するとともに表示パネルの表示領域をレーザアニール位置移動方向に直交する方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。
各単位領域が１画素単位の領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正する。各単位領域が複数の画素を含む所定の大きさの領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置の近傍の４単位領域の補正パラメータを２次線形補間することによって、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータを求めるステップ、および入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正するステップを備えている。
上記ｂステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｂステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｄステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第４ステップを備えており、第４ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
上記第１ステップは、例えば、基準領域の発光開始階調レベルが０レベル以外の場合には、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるステップ、および各単位領域の発光開始階調レベルを、黒リファレンス電圧調整後における各単位領域の発光開始階調レベルに置き換えた後に、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておくステップを備えている。
第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するｅステップ、予め定めた２つの異なる階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｆステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｇステップ、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、ｆステップにおいて基準領域に対して予め定めた２つの階調レベルで測定された２つの輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるｈステップ、およびｆステップにおいて単位領域毎に測定された輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性と、ｈステップで求められた調整値とに基づいて、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｉステップを備えている。
上記ｆステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｆステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｉステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第５ステップを備えており、第５ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
この発明による第２の表示むら補正方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を、入力映像信号レベルを変数として近似的に算出するための補正パラメータを予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップを備えていることを特徴とする。
第２の表示むら補正方法において、第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた第１の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、予め定めた第２の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｃステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｄステップ、ｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第１の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｅステップ、ｃステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第２の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｆステップ、ならびにｅステップにおいて各単位領域毎に求められた差と、ｆステップにおいて各単位領域毎に求められた差とに基づいて、補正パラメータを求めるｇステップを備えている。
第２の表示むら補正方法において、補正パラメータは、例えば、下記の式中のαとβである。
Ｖｔｈ＝（α×Ｙｉｎ／Ｙｍａｘ）＋β
Ｙｉｎ： 入力映像信号レベル
Ｙｍａｘ： 入力映像信号が取りうる信号レベルの最大値
Ｖｔｈ ： 入力映像信号レベルがＹｉｎのときのある単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差の近似値
第１の表示むら補正方法において、第１ステップは、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた１つの階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｃステップ、およびｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度と、ｃステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｄステップを備えている。
ｂステップでは、例えば、面輝度測定装置によって各単位領域の輝度が測定される。ｂステップでは、例えば、表示パネルに流れる電流を測定することによって各単位領域の輝度が測定される。
各単位領域は、１画素単位の領域であってもよいし、複数の画素を含む所定の大きさの領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割するとともに表示パネルの表示領域をレーザアニール位置移動方向に直交する方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。
各単位領域が１画素単位の領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正する。各単位領域が複数の画素を含む所定の大きさの領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置の近傍の４単位領域の補正パラメータを２次線形補間することによって、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータを求めるステップ、および入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正するステップを備えている。
上記ｂステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｂステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｄステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第４ステップを備えており、第４ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
上記第１ステップは、例えば、基準領域の発光開始階調レベルが０レベル以外の場合には、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるステップ、および各単位領域の発光開始階調レベルを、黒リファレンス電圧調整後における各単位領域の発光開始階調レベルに置き換えた後に、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておくステップを備えている。
第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するｅステップ、予め定めた２つの異なる階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｆステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｇステップ、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、ｆステップにおいて基準領域に対して予め定めた２つの階調レベルで測定された２つの輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるｈステップ、およびｆステップにおいて単位領域毎に測定された輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性と、ｈステップで求められた調整値とに基づいて、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｉステップを備えている。
上記ｆステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｆステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｉステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第５ステップを備えており、第５ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
この発明による第２の表示むら補正方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を、入力映像信号レベルを変数として近似的に算出するための補正パラメータを予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップを備えていることを特徴とする。
第２の表示むら補正方法において、第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた第１の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、予め定めた第２の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｃステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｄステップ、ｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第１の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｅステップ、ｃステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第２の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｆステップ、ならびにｅステップにおいて各単位領域毎に求められた差と、ｆステップにおいて各単位領域毎に求められた差とに基づいて、補正パラメータを求めるｇステップを備えている。
第２の表示むら補正方法において、補正パラメータは、例えば、下記の式中のαとβである。
Ｖｔｈ＝（α×Ｙｉｎ／Ｙｍａｘ）＋β
Ｙｉｎ： 入力映像信号レベル
Ｙｍａｘ： 入力映像信号が取りうる信号レベルの最大値
Ｖｔｈ ： 入力映像信号レベルがＹｉｎのときのある単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差の近似値
図１は、画素ａ、ｂの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図２は、画素ｂに対する入力映像信号にΔＶｔｈを加算した値を画素ｂに与えて、画素ｂの入力映像信号レベル−輝度特性をΔＶｔｈ分だけ左方向にシフトさせた場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を示すグラフである。
図３は、画素ａ、ｂ，ｃの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図４は、入力映像信号のステップ幅変更処理を行った後にシフト処理を行った場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を示すグラフである。
図５は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図６は、表示パネル上の表示画面領域を、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割した様子を示す模式図である。
図７は、各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡ〜ＬＦの測定結果を示す模式図である。
図８は、表示むら補正回路の構成を示すブロック図である。
図９は、二次線形補間処理を説明するための模式図である。
図１０は、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合を示すグラフである。
図１１は、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合に、Ｙｉｎ＝０から発光が開始させるように、黒側のリファレンス電圧を調整することを示すグラフである。
図１２は、Ｂｒｅｆを考慮した補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図１３は、１２７階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＬ〜ＬＦＬの測定結果および２５５階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＨ〜ＬＦＨの測定結果を示す模式図である。
図１４は、Ｂｒｅｆ＝−１６．９の場合の基準領域Ａの発光特性曲線を示すグラフである。
図１５は、レーザアニール工程を説明するための模式図である。
図１６は、レーザアニールムラを考慮した際の、領域分割方法を示す模式図である。
図１７は、図１６（ｃ）の各分割領域Ｓｉ毎の補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図１８は、表示パネルの互いに異なる画素ａ，ｂの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図１９は、２つの入力映像信号Ｙｉｎ１とＹｉｎ２（この例では１００と２００）において、算出されたシフト量Ｖｔｈ１およびＶｔｈ２を示すグラフである。
図２０は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図２１は、表示むら補正回路の構成を示すブロック図である。
図２は、画素ｂに対する入力映像信号にΔＶｔｈを加算した値を画素ｂに与えて、画素ｂの入力映像信号レベル−輝度特性をΔＶｔｈ分だけ左方向にシフトさせた場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を示すグラフである。
図３は、画素ａ、ｂ，ｃの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図４は、入力映像信号のステップ幅変更処理を行った後にシフト処理を行った場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を示すグラフである。
図５は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図６は、表示パネル上の表示画面領域を、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割した様子を示す模式図である。
図７は、各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡ〜ＬＦの測定結果を示す模式図である。
図８は、表示むら補正回路の構成を示すブロック図である。
図９は、二次線形補間処理を説明するための模式図である。
図１０は、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合を示すグラフである。
図１１は、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合に、Ｙｉｎ＝０から発光が開始させるように、黒側のリファレンス電圧を調整することを示すグラフである。
図１２は、Ｂｒｅｆを考慮した補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図１３は、１２７階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＬ〜ＬＦＬの測定結果および２５５階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＨ〜ＬＦＨの測定結果を示す模式図である。
図１４は、Ｂｒｅｆ＝−１６．９の場合の基準領域Ａの発光特性曲線を示すグラフである。
図１５は、レーザアニール工程を説明するための模式図である。
図１６は、レーザアニールムラを考慮した際の、領域分割方法を示す模式図である。
図１７は、図１６（ｃ）の各分割領域Ｓｉ毎の補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図１８は、表示パネルの互いに異なる画素ａ，ｂの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図１９は、２つの入力映像信号Ｙｉｎ１とＹｉｎ２（この例では１００と２００）において、算出されたシフト量Ｖｔｈ１およびＶｔｈ２を示すグラフである。
図２０は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示すフローチャートである。
図２１は、表示むら補正回路の構成を示すブロック図である。
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態について説明する。
以下においては、Ａ／Ｄ変換後の入力映像信号は８ビットであるものとする。また、表示パネルに与えられる電圧を２５６段階で表す値を入力階調レベルということにする。また、Ａ／Ｄ変換後の入力映像信号のレベルを入力映像信号レベルといい、入力階調レベルと区別して使用することにする。
〔Ａ〕第１の実施例についての説明
〔１〕表示むらの補正方法の原理についての説明
表示パネルの互いに異なる画素ａ、ｂの入力階調レベル−輝度特性が、図１にａ、ｂで示すような特性であるとする。このように、画素によって発光開始電圧Ｖｔｈが異なると、表示むらが発生する。
画素間の発光効率特性自体は、ほぼ等しいため、両画素の発光開始階調レベルＶｔｈの差分ΔＶｔｈに応じた値だけ、一方の画素の入力映像信号レベル−輝度特性を水平シフトさせると、両画素ａ、ｂ位置での入力映像信号レベル−輝度特性が等しくなり、表示むらを補正することができる。
例えば、図１の例では、画素ｂに対する入力映像信号にΔＶｔｈを加算した値を画素ｂに与えて、画素ｂの入力映像信号レベル−輝度特性をΔＶｔｈ分だけ左方向にシフトさせることにより、両画素ａ、ｂでの入力映像信号レベル−輝度特性を等しくすることができる。この場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を図２に示す。
ただし、表示パネルは入力階調レベルが”２５５”に対応する輝度より高い輝度は出せないため、最も暗い画素（発光開始階調レベルＶｔｈが最も高い画素）の入力階調が”２５５”であるときの輝度を上限として補正する必要がある。上記の例では、補正を行う際には、図１、図２に示すように、最も暗い画素ｂの入力階調が”２５５”であるときの輝度Ｌ（ｂ）を上限とする必要がある。この結果、入力映像信号レベルが（２５５−ΔＶｔｈ）より大きなレベルに対する輝度が一定値（Ｌ（ｂ））となり、表現階調がΔＶｔｈだけ低下することになる。
そこで、入力映像信号レベルの０〜２５５を、最も暗い画素の入力映像信号に対するシフト処理後の表現階調数に均等に割り振る。上記の例で、ΔＶｔｈ＝３０とすると、最も暗い画素の入力映像信号に対するシフト処理後の表現階調数は、２２６段階（０〜２２５）となる。そこで、各画素に対する入力映像信号のレベル範囲０〜２５５を０〜２２５に均等に割り振ってから、シフト処理を行う。
例えば、図３に示すように、表示パネルの互いに異なる画素ａ、ｂ、ｃの入力階調レベル−輝度特性が、図３にａ、ｂ、ｃで示すような特性であるとする。特性ａを基準とした場合、画素ｂの入力映像信号に対するシフト量が１５と決定され、画素ｃの入力映像信号に対するシフト量が３０と決定されたとする。
この場合には、画素ｃの入力信号に対するシフト量が最も大きいので、各画素に対する入力映像信号のレベル範囲０〜２５５を、画素ｃの入力映像信号に対するシフト処理後の表現階調数２２６（０〜２２５）に均等に割り振る。
つまり、入力映像信号に、（２５５−最暗画素に対するシフト量）／２５５を乗算することにより、乗算後の入力映像信号レベルの範囲は０〜２２５となる。これにより、入力映像信号のステップ幅が変更せしめられる。このような処理を入力映像信号のステップ幅変更処理ということにする。そして、乗算後の信号に対してシフト処理を行う。
画素ａについては、シフト量が０であるので、シフト処理後の入力階調レベルの範囲は、０〜２２５となる。一方、画素ｂについては、シフト量が１５であるため、シフト処理後の入力階調レベルの範囲は、１５〜２４０となる。一方、画素ｃについては、シフト量が３０であるため、シフト処理後の入力階調レベルの範囲は、３０〜２５５となる。
したがって、入力映像信号レベル（０〜２５５）に対する輝度特性は、各画素ａ、ｂ、ｃとも図４に実線で示すようになり、表示むらをなくすことができるとともに、図２に比べて高階調側での階調低下が減少する。
上記のようなシフト量を補正パラメータということにする。この実施の形態では、画素毎に補正パラメータを求めておくのではなく、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割し、各領域毎に補正パラメータを予め求めておく。そして、各画素に対する補正パラメータは、表示むら補正時に、その画素の近傍４領域の補正パラメータを線形補間することにより求める。
〔２〕領域毎の補正パラメータの算出方法についての説明
図５は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する（ステップＳ１）。例えば、表示パネル上の表示画面領域を、図６に示すように、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割する。実際には、より多くの領域に分割することが好ましいが、説明の便宜上、ここでは、６つの領域に分割することにする。
次に、予め定められた階調レベル（以下、輝度測定用階調レベルといい、ここでは、”１２７”に設定されていいるものとする）である場合の、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ２）。具体的には、入力階調が１２７に相当するレベルの入力映像信号を表示パネルの全画素に入力させ、各領域Ａ〜Ｆの輝度を、例えば、面輝度測定装置によって測定する。
なお、表示パネルに流れる電流と輝度とは比例するため、次のようにして、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定するようにしてもよい。つまり、表示パネルの領域Ａのみを点灯させ、その時の表示パネルに流れている全電流の積算値を測定し、得られた積算値を領域Ａの輝度とする。同様にして、他の領域Ｂ〜Ｆの輝度を測定する。
この例では、各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡ〜ＬＦの測定結果が、図７に示すような値になったとする。つまり、ＬＡ＝１００、ＬＢ＝８０、ＬＣ＝７５、ＬＤ＝９５、ＬＥ＝８０、ＬＦ＝７０となっている。最も明るい領域（最明領域）は領域Ａであり、最も暗い領域（最暗領域）は領域Ｆである。
次に、領域Ａ〜Ｆのうちの任意の領域において、発光効率特性γを算出する（ステップ３）。例えば、領域Ａにおいて、発光効率特性γを算出する。この際、領域Ａにおいて、複数の階調毎に輝度測定を行ってγ値を算出してもよいし、予め既知のγ値を使用してもよい。
領域Ａにおいて、複数の階調毎に輝度測定を行ってγ値を算出する際には、次式（１）に基づいて複数の階調毎にγを算出する。そして、たとえば、得られた複数のγの平均値を、領域Ａのγとする。
上記式（１）において、１２７は輝度測定用階調レベル、１００は輝度測定用階調レベルでの輝度、Ｌは輝度、Ｉは入力階調である。
次に、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータを算出する（ステップＳ４）。
Ｖｔｈ（ｉ）、Ｄａｔａ（ｉ）、Ｌｅｖｅｌおよびγを次のように定義すると、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータは、次式（２）に基づいて算出される。
Ｖｔｈ（ｉ）：領域ｉの基準領域ωからのシフト量（補正パラメータ）
Ｄａｔａ（ｉ）：領域ｉにおける輝度測定用階調レベルでの測定輝度
Ｄａｔａ（ω）：基準領域ωにおける輝度測定用階調レベルでの測定輝度
Ｌｅｖｅｌ ：輝度測定用階調レベル
γ：表示パネルの発光効率特性（定数値）
ここでは、最明領域（輝度測定用階調レベルでの測定輝度が最も高い領域）Ａを、基準領域ωとする。基準領域を領域Ａとし、輝度測定用階調レベルを”１２７”とし、γ＝２とし、各領域Ａ〜Ｆにおける輝度測定用階調レベルでの測定輝度が図７に示すような値であるとすると、上記式（２）から、領域Ａ〜Ｆそれぞれに対して次式（３）〜（８）が成り立つ。
上記式（３）〜（８）に基づいて、領域Ａ〜Ｆにおける基準領域Ａからのシフト量Ｖｔｈ（ｉ）が算出される。算出結果は、次の通りである。
Ｖｔｈ（Ａ）＝０
Ｖｔｈ（Ｂ）＝１３．４
Ｖｔｈ（Ｃ）＝１７．０
Ｖｔｈ（Ｄ）＝３．２
Ｖｔｈ（Ｅ）＝１３．４
Ｖｔｈ（Ｆ）＝２０．７
〔３〕表示むら補正回路についての説明
図８は、表示むら補正回路の構成を示している。
ＥＥＰＲＯＭ５には、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータＶｔｈ（Ａ）〜Ｖｔｈ（Ｆ）が格納されている。また、ＥＥＰＲＯＭ５には、補正パラメータの最大値が、ＶｔｈＭＡＸとして格納されている。補正パラメータの最大値は最暗領域に対する補正パラメータとなり、上記の例では、ＶｔｈＭＡＸ＝Ｖｔｈ（Ｆ）＝２０．７となる。
入力映像信号Ｙｉｎは、入力映像信号のステップ幅変更処理を行うための乗算器１、乗算器１の出力に対してシフト処理を行うための加算器２および加算器２の出力をアナログ信号に変換するためのＤＡＣ３を介して表示パネル（有機ＥＬパネル）に送られる。
ゲイン算出部１０には、ＥＥＰＲＯＭ５から、補正パラメータの最大値ＶｔｈＭ ＡＸが送られている。ゲイン算出部１０は、次式（９）に基づいて、ゲイン（ｇａｉｎ）を算出し、算出したゲインを乗算器１に与えている。
入力映像信号に含まれている同期信号は、位置情報算出部４に送られる。位置情報算出部４は、同期信号に基づいて、現在入力されている映像信号（注目画素の映像信号）の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）を算出する。
位置情報算出部４によって算出された注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）は、セレクタ６、水平係数算出部７および垂直係数算出部８に送られる。セレクタ６には、ＥＥＰＲＯＭ５から各領域Ａ〜Ｆに対応する補正パラメータＶｔｈ（Ａ）〜Ｖｔｈ（Ｆ）が入力している。セレクタ６は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータを出力する。セレクタ６から出力された４領域に対応する補正パラメータは、線形補間回路９に送られる。
水平係数算出部７は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の水平係数ｈを算出する。垂直係数算出部８は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の垂直係数ｖを算出する。水平係数算出部７によって算出された水平係数ｈおよび垂直係数算出部８によって算出された垂直係数ｖは、線形補間回路９に送られる。
線形補間回路９は、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータと、垂直係数ｖと、水平係数ｈとに基づいて、二次線形補間処理を行うことにより、注目画素に対応するシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を算出する。算出された注目画素に対応するシフト量Ｖｔｈ（ｑ）は、加算器２に送られる。
二次線形補間処理について説明する。図９は、注目画素ｑと、注目画素ｑの近傍４領域を示している。ここでは、注目画素ｑの近傍４領域を領域Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４とする。注目画素の座標を（ｘｑ，ｙｑ）とする。
各領域Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４の水平方向の画素数をＨ、垂直方向の画素数をＶとする。また、領域Ｐ１の中心画素ｐ１の座標を（ｘ１，ｙ１）とし、領域Ｐ４の中心画素ｐ４の座標を（ｘ２，ｙ２）とすると、領域Ｐ２の中心画素ｐ２の座標は（ｘ２，ｙ１）となり、領域Ｐ３の中心画素ｐ３の座標は（ｘ１，ｙ２）となる。
注目画素ｑと領域Ｐ１の中心画素ｐ１との水平方向距離は、（ｘｑ−ｘ１）となる。注目画素ｑと領域Ｐ２の中心画素ｐ２との水平方向距離は、（ｘ２−ｘｑ）となる。注目画素ｑと領域Ｐ１の中心画素ｐ１との垂直方向距離は、（ｙｑ−ｙ１）となる。注目画素ｑと領域Ｐ３の中心画素ｐ３との垂直方向距離は、（ｙ２−ｙｑ）となる。
水平係数ｈは、ｈ：（１−ｈ）＝（ｘｑ−ｘ１）：（ｘ２−ｘｑ）を満たすｈとして求められる。ただし、ｘ２−ｘ１＝Ｈである。つまり、水平係数算出部７は、次式（１０）に基づいて、水平係数ｈを算出する。
垂直係数ｖは、ｖ：（１−ｖ）＝（ｙｑ−ｙ１）：（ｙ２−ｙｑ）を満たすｖとして求められる。ただし、ｙ２−ｙ１＝Ｖである。つまり、垂直係数算出部８は、次式（１１）に基づいて、垂直係数ｖを算出する。
線形補間回路８は、領域Ｐ１〜Ｐ４に対応する補正パラメータをＶｔｈ（ｐ１）、Ｖｔｈ（ｐ２）、Ｖｔｈ（ｐ３）、Ｖｔｈ（ｐ４）とすると、注目画素ｑに対応するシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を次式（１２）に基づいて算出する。
乗算器１は、入力映像信号Ｙｉｎにゲイン（ｇａｉｎ）を乗算する。乗算器１の出力は、加算器２に送られる。加算器２は、乗算器１の出力にシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を加算する。加算器２の出力は、ＤＡＣ３に送られてアナログ信号Ｙｏｕｔに変換されて、表示パネルに送られる。
上記実施の形態によれば、全領域にわたって輝度特性を均一にさせることができるようになる。また、従来と比較して、シフト量のみで表示むらを補正することができるため、補正に必要とするパラメータ数を大幅に削減できる。
なお、上記実施の形態では、複数の画素を含む領域毎に補正パラメータを算出しているが、画素毎に補正パラメータを算出してもよい。この場合には、水平係数算出部７、垂直係数算出部８、線形補間回路９は不要となる。
〔４〕補正パラメータの算出方法の変形例の説明
上記〔２〕で説明した補正パラメータの算出方法では、基準領域の入力階調レベル−輝度特性が原点（入力階調レベル”０”）から発光を開始することを前提としている。しかしながら、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合には、表示むらの補正精度が低下する。
例えば、図１０に実線で示すように、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合には、上記〔２〕で説明した補正パラメータの算出方法では、基準領域の発光特性曲線が、図１０に破線で示すような曲線を描くものとして取り扱っている。このため、実際は、図１０の実線に対するシフト量を算出しなければならないのに、図１０の破線に対するシフト量を算出してしまうので、補正誤差が生じる。
そこで、図１１に示すように、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合には、Ｙｉｎ＝０から発光が開始させるように、Ａ／Ｄ変換器に与えられる黒側のリファレンス電圧を調整する。黒側のリファレンス電圧とは、信号レベル０の入力に対する印加電圧の値をいう。図１０における黒側のリファレンス電圧が例えば４Ｖであるとすると、黒側のリファレンス電圧を４．５Ｖにすると、図１１に示すような特性となる。
このような黒側のリファレンス電圧の調整を行うためには、図１０に示す基準領域の発光特性曲線がＹｉｎ軸と交わる点のＹｉｎ値（以下、Ｂｒｅｆ）を求めるとともに、Ｂｒｅｆを考慮して補正パラメータを算出する必要がある。以下、Ｂｒｅｆを考慮した補正パラメータの算出方法について説明する。
図１２は、Ｂｒｅｆを考慮した補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する（ステップＳ１１）。例えば、表示パネル上の表示画面領域を、図６に示すように、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割する。
次に、予め定められた２種類の階調レベル（輝度測定用階調レベル：ＩＬ，ＩＨ）において、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ１２）。例えば、１２７階調（ＩＬ）と、２５５階調（ＩＨ）とにおいて、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する。
この例では、１２７階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＬ〜ＬＦＬの測定結果が、図１３（ａ）に示すような値になり、２５５階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＨ〜ＬＦＨの測定結果が、図１３（ｂ）に示すような値になったとする。つまり、ＬＡ Ｌ＝１００、ＬＢＬ＝８０、ＬＣＬ＝７５、ＬＤＬ＝９５、ＬＥＬ＝８０、ＬＦ Ｌ＝７０となり、ＬＡＨ＝３５７、ＬＢＨ＝２８６、ＬＣＨ＝２６８、ＬＤＨ＝３３９、ＬＥＨ＝２８６、ＬＦＨ＝２５０となっている。最も明るい領域（最明領域）は領域Ａであり、最も暗い領域（最暗領域）は領域Ｆである。
次に、任意の領域において、発光効率特性γを算出する（ステップＳ１３）。例えば、領域Ａにおいて、発光効率特性γを算出する。この際、領域Ａにおいて、複数の階調毎に輝度測定を行ってγ値を算出してもよいし、予め既知のγ値を使用してもよい。
次に、Ｂｒｅｆと各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータを算出する（ステップＳ１４）。
Ｂｒｅｆ、Ｖｔｈ（ｉ）、Ｄａｔａ＿Ｌｏｗ（ｉ）、Ｄａｔａ＿Ｈｉｇｈ（ｉ）、ＩＬ、ＩＨおよびγを次のように定義すると、Ｂｒｅｆおよび各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータは、次式（１３）、（１４）に基づいて算出される。
Ｂｒｅｆ ：基準領域ωにおける発光特性曲線のｘ切片
ＩＬ，ＩＨ：輝度測定用階調レベル
Ｖｔｈ（ｉ）：領域ｉの基準領域ωからのシフト量（補正パラメータ）
Ｄａｔａ＿Ｌｏｗ（ｉ） ：領域ｉにおける階調レベルＩＬでの測定輝度
Ｄａｔａ＿Ｈｉｇｈ（ｉ）：領域ｉにおける階調レベルＩＨでの測定輝度
γ：表示パネルの発光効率特性（定数値）
ここでは、最明領域（輝度測定用階調レベルでの測定輝度が最も高い領域）Ａを、基準領域とする。基準領域を領域Ａとし、輝度測定用階調レベルＩＬを”１２７”、輝度測定用階調レベルＩＨを”２５５”とし、γ＝２とし、各領域Ａ〜Ｆにおける輝度測定用階調レベルＩＬ，ＩＨでの測定輝度が図１３に示すような値であるとすると、上記式（１３）から、Ｂｒｅｆを求めるための次式（１５）が成り立つ。
したがって、Ｂｒｅｆ＝−１６．９となる。この場合の基準領域Ａの発光特性曲線は、図１４に示すようになる。したがって、黒リファレンス電圧を１６．９階調分左にシフトするように調整を行えば、原点から発光を開始することを意味している。この１６．９階調分は、電圧値に変換すると、たとえば、０．２０Ｖとなり、黒リファレンス電圧を０．２０Ｖ大きな値に設定すればよい。
また、上記式（１４）から、領域Ａ〜Ｆそれぞれに対して次式（１６）〜（２１）が成り立つ。
上記式（１６）〜（２１）に基づいて、領域Ａ〜Ｆにおける基準領域Ａからのシフト量Ｖｔｈ（ｉ）が算出される。算出結果は、次の通りである。
Ｖｔｈ（Ａ）＝０
Ｖｔｈ（Ｂ）＝１５．２
Ｖｔｈ（Ｃ）＝１９．０
Ｖｔｈ（Ｄ）＝３．６
Ｖｔｈ（Ｅ）＝１５．２
Ｖｔｈ（Ｆ）＝２３．５
〔５〕レーザアニールムラを考慮した分割領域の設定方法についての説明
上記〔２〕では、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割し、各分割領域毎に補正パラメータを算出している。ここでは、レーザアニールムラを考慮して分割領域を決定する。
有機ＥＬパネルの作成過程においては、ポリシリコンＴＦＴを形成するために、レーザアニールが用いられる。レーザアニールとは、ガラス基板の融解や変形が生じない低温プロセスでポリシリコンＴＦＴを形成するために、レーザー照射によってアモルファス（非結晶）シリコン膜のみを瞬時に溶解して結晶化することをいう。
レーザアニールを行う場合には、たとえば、図１５に示すように、基板１００の上方からスリット状のレーザ光２００をパルス的に照射する。基板１００の表面全体にレーザ光を照射させるために、基板１００を矢印１０１の方向にステップ的に移動させる毎に、レーザ光２００をパルス的に照射させる。
レーザアニールを行うと、基板１００上には、基板１００の移動方向（以下、レーザアニール位置移動方向という）にレーザアニールムラが発生するとともに、基板１００の移動方向に直交する方向（以下、レーザアニール位置移動方向に直交する方向という）にもレーザアニールムラが発生する。
そこで、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する際には、レーザアニールムラが発生する単位領域毎に領域を分割する。ここでは、表示パネルの水平ラインに直交する方向（表示パネルの垂直方向）が基板移動方向（レーザアニール位置移動方向）に対応するものとする。
図１６（ａ）に示すように、表示パネルの垂直方向（レーザアニール位置移動方向）に、１または複数の水平ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域をＳＶｉ（ｉ＝１，２，…）とする。また、図１６（ｂ）に示すように、表示パネルの水平方向（レーザアニール位置移動方向に直交する方向という）に、１または複数の垂直ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域をＳＨｉ（ｉ＝１，２，…）とする。
そして、図１６（ｃ）に示すように、図１６（ａ）で示す分割領域ＳＶｉと図１６（ｂ）で示す分割領域ＳＨｉとを組み合わせることにより、最終的な分割領域Ｓｉ（ｉ＝１，２，…）を設定する。各分割領域Ｓｉ毎の補正パラメータ（シフト量）Ｖｔｈ（ｉ）の算出方法について説明する。
図１７は、各分割領域Ｓｉ毎の補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を、レーザアニール位置移動方向に複数の領域に分割する（ステップＳ２１）。この例では、図１６（ａ）に示すように、表示パネルの垂直方向（レーザアニール位置移動方向）に、１または複数の水平ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域を第１の分割領域といい、ＳＶｉ（ｉ＝１，２，…）で表すことにする。
そして、予め定められた階調レベル（以下、輝度測定用階調レベルといい、ここでは、”１２７”に設定されているものとする）である場合の、各領域ＳＶｉの輝度を測定する（ステップＳ２２）。例えば、領域ＳＶ１に対する輝度は、領域ＳＶ１のみを輝度測定用階調レベルで点灯させ、表示パネルに流れる全電流を測定し、その測定結果を領域ＳＶ１の面積（領域ＳＶ１内の総画素数）で除算することによって求められる。
次に、表示パネル上の表示画面領域を、レーザアニール位置移動方向と直交する方向に複数の領域に分割する（ステップＳ２３）。この例では、図１６（ｂ）に示すように、表示パネルの水平方向（レーザアニール位置移動方向）に、１または複数の垂直ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域を第２の分割領域といい、ＳＨｉ（ｉ＝１，２，…）で表すことにする。
そして、予め定められた階調レベル（以下、輝度測定用階調レベルといい、ここでは、”１２７”に設定されていいるものとする）である場合の、各領域ＳＨｉの輝度を測定する（ステップＳ２４）。例えば、領域ＳＨ１に対する輝度は、領域ＳＨ１のみを輝度測定用階調レベルで点灯させ、表示パネルに流れる全電流を測定し、その測定結果を領域ＳＨ１の面積（領域ＳＨ１内の総画素数）で除算することによって求められる。
次に、上記ステップＳ２１で得られた第１の分割領域ＳＶｉと上記ステップＳ２３で得られた第２の分割領域ＳＨｉとを組み合わせることにより、図１６（ｃ）で示すような、最終的な分割領域Ｓｉ（ｉ＝１，２，…）を設定する（ステップＳ２５）。
第１の分割領域ＳＶｉの輝度と第２の分割領域ＳＨｉの輝度とに基づいて、各分割領域Ｓｉの輝度を算出する（ステップＳ２６）。つまり、最終的な分割領域Ｓｉの輝度は、その領域を含む第１の分割領域ＳＶｉの輝度とその領域を含む第２の分割領域ＳＨｉの輝度とを平均することによって求められる。なお、最終的な分割領域Ｓｉの輝度を、その領域を含む第１の分割領域ＳＶｉの輝度とその領域を含む第２の分割領域ＳＨｉの輝度とを加算することによって求めてもよい、
次に、領域Ｓｉのうちの任意の領域（基準領域）において、発光効率特性γを算出する（ステップＳ２７）。発光効率特性γの算出方法は、図５のステップＳ３と同じである。
次に、各領域領域Ｓｉ毎の補正パラメータを算出する（ステップＳ２８）。補正パラメータの算出方法は、図５のステップＳ４と同じである。
このようにして得られた各領域領域Ｓｉ毎の補正パラメータを用いて、図８を用いて説明したのと同様な方法で、表示むら補正を行う。
なお、レーザアニール位置移動方向にのみ表示領域を分割し、得られた分割領域を単位領域としてもよい。
〔Ｂ〕第２の実施例についての説明
〔１〕第２実施例の基本的な考え方についての説明
上記第１の実施例では、表示パネルの画素間の発光効率特性自体は、ほぼ等しいと仮定し、両画素の発光開始階調レベルＶｔｈの差分ΔＶｔｈに応じた値だけ、一方の画素の入力映像信号レベル−輝度特性を水平シフトさせている。しかしながら、様々な原因によって、図１８に示すように、表示パネルの画素間の発光効率特性自体が異なる場合もある。
図１８は、表示パネルの互いに異なる画素ａ，ｂの入力階調レベル−輝度特性を示している。ここでは、説明の便宜上、入力階調レベル−輝度特性が直線で表されているが、実際は曲線となる。
図１８に示すような場合には、全階調においてシフト量を一定にした場合には、両画素ａ，ｂの入力映像信号レベル−輝度特性は等しくならない。
そこで、第２の実施例では、全ての入力階調に同一のシフト量を使用するのでなく、入力階調によってシフト量を調整するようにした。具体的には、入力階調が高くなるほどシフト量を大きくする場合と、入力階調が低くなるほどシフト量を大きくする場合とがある。
図６に示すように、表示パネル上の表示画面領域が複数の領域Ａ〜Ｆに分割されているとし、入力階調が８ビットで表されるとすると、ある領域ｉのシフト量Ｖｔｈ（ｉ）は、次式（２２）で表される。
Ｙｉｎは入力映像信号である。αは第１補正パラメータである。βは第２補正パラメータであり、図１８に示すように、入力階調が０のときのシフト量（発光開始階調レベルの差分ΔＶｔｈ）に相当する。
補正パラメータα，βの算出方法の考え方について説明する。図１８、図１９に示すように、画素ｂの入力階調レベル−輝度特性をシフトすることにより、画素ａ，ｂの入力映像信号レベル−輝度特性を等しくする場合を想定する。
図１９に示すように、２つの入力映像信号Ｙｉｎ１とＹｉｎ２（この例では１００と２００）において、第１の実施例と同様な手法により、シフト量Ｖｔｈ１およびＶｔｈ２とを算出する。図１９の例では、Ｖｔｈ１＝１０，Ｖｔｈ２＝１５となる。Ｙｉｎ１，Ｙｉｎ２，Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ２を、上記式（２２）に代入すると、次式（２３）で示すような連立方程式が得られる。
この連立方程式を解くことによって、画素ｂに対する補正パラメータα，βを得る。この例では、α＝１２．７５，β＝５となる。
〔２〕領域毎の補正パラメータα，βの算出方法についての説明
図２０は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する（ステップＳ３１）。例えば、表示パネル上の表示画面領域を、図６に示すように、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割する。
次に、予め定められた第１の階調レベル（以下、第１の輝度測定用階調レベルといい、例えば、”１００”に設定される）である場合の、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ３２）。
次に、予め定められた第２の階調レベル（以下、第２の輝度測定用階調レベルといい、例えば、”２００”に設定される）である場合の、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ３３）。
領域Ａ〜Ｆのうちの任意の領域において、発光効率特性γを算出する（ステップＳ３４）。例えば、領域Ａにおいて、発光効率特性γを算出する。
次に、上記ステップＳ３２で得られた第１の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆの輝度と、上記ステップＳ３４で算出された領域Ａの発光効率特性γとに基づいて、第１の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆ毎のシフト量（第１のシフト量）Ｖｔｈ１（Ａ）〜Ｖｔｈ１（Ｆ）を算出する（ステップＳ３５）。第１のシフト量Ｖｔｈ１の算出方法は、図５のステップＳ４と同様である。
次に、上記ステップＳ３３で得られた第２の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆの輝度と、上記ステップＳ３４で算出された領域Ａの発光効率特性γとに基づいて、第２の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆ毎のシフト量（第２のシフト量）Ｖｔｈ２（Ａ）〜Ｖｔｈ２（Ｆ）を算出する（ステップＳ３６）。第２のシフト量Ｖｔｈ２の算出方法は、図５のステップＳ４と同様である。
次に、上記ステップＳ３５で算出された各領域Ａ〜Ｆ毎の第１のシフト量Ｖｔｈ１（Ａ）〜Ｖｔｈ１（Ｆ）と、上記ステップＳ３６で算出された各領域Ａ〜Ｆ毎の第２のシフト量Ｖｔｈ２（Ａ）〜Ｖｔｈ２（Ｆ）とに基づいて、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータα（Ａ）〜α（Ｆ），β（Ａ）〜β（Ｆ）を算出する（ステップＳ３７）。例えば、領域Ａに対する補正パラメータα（Ａ），β（Ａ）は、領域Ａに対する第１のシフト量Ｖｔｈ１（Ａ）および第２のシフト量Ｖｔｈ２（Ａ）と上記式（２２）とに基づいて算出される。
〔３〕表示むら補正回路についての説明
図２１は、表示むら補正回路の構成を示している。図２１において、図８に対応するものには同じ符号を付してある。
ＥＥＰＲＯＭ５には、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータα（Ａ）〜α（Ｆ），β（Ａ）〜β（Ｆ）が格納されている。また、ＥＥＰＲＯＭ５には、全ての領域および階調の中での、シフト量〔Ｖｔｈ（ｉ）＝｛α×（Ｙｉｎ／２５５｝＋β〕の最大値が、ＶｔｈＭＡＸとして格納されている。
入力映像信号Ｙｉｎは、入力映像信号のステップ幅変更処理を行うための乗算器１、乗算器１の出力に対してシフト処理を行うための加算器２および加算器２の出力をアナログ信号に変換するためのＤＡＣ３を介して表示パネル（有機ＥＬパネル）に送られる。
ゲイン算出部１０には、ＥＥＰＲＯＭ５から、シフト量の最大値ＶｔｈＭＡＸが送られている。ゲイン算出部１０は、次式（２４）に基づいて、ゲイン（ｇａｉｎ）を算出し、算出したゲインを乗算器１に与えている。
入力映像信号に含まれている同期信号は、位置情報算出部４に送られる。位置情報算出部４は、同期信号に基づいて、現在入力されている映像信号（注目画素の映像信号）の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）を算出する。
位置情報算出部４によって算出された注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）は、セレクタ６、水平係数算出部７および垂直係数算出部８に送られる。セレクタ６には、ＥＥＰＲＯＭ５から各領域Ａ〜Ｆに対応する補正パラメータα（Ａ）〜α（Ｆ），β（Ａ）〜β（Ｆ）が入力している。セレクタ６は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータα，βを出力する。セレクタ６から出力された４領域に対応する補正パラメータα，βは、線形補間回路９に送られる。
水平係数算出部７は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の水平係数ｈを算出する。垂直係数算出部８は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の垂直係数ｖを算出する。水平係数算出部７によって算出された水平係数ｈおよび垂直係数算出部８によって算出された垂直係数ｖは、線形補間回路９に送られる。
線形補間回路９は、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータα，βと、垂直係数ｖと、水平係数ｈとに基づいて、二次線形補間処理を行うことにより、注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）を算出する。第２実施例では、注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）のそれぞれが二次線形補間処理によって算出されるが、二次線形補間処理の方法は、第１実施例で説明した方法と同じである。線形補間回路９によって算出された注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）は、シフト量演算部１１に送られる。
入力映像信号Ｙｉｎは、乗算器１に送られるとともに、シフト量演算部１１に送られる。シフト量演算部１１は、線形補間回路９から与えられた注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）と入力映像信号Ｙｉｎとを上記式（２２）に代入することにより、当該注目画素に対応しかつその入力映像信号レベルに応じたシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を算出する。シフト量演算部１１によって算出されたシフト量Ｖｔｈ（ｑ）は、加算器２に送られる。
乗算器１は、入力映像信号Ｙｉｎにゲイン算出部１０によって与えられたゲイン（ｇａｉｎ）を乗算する。乗算器１の出力は、加算器２に送られる。加算器２は、乗算器１の出力にシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を加算する。加算器２の出力は、ＤＡＣ３に送られてアナログ信号Ｙｏｕｔに変換されて、表示パネルに送られる。
以下においては、Ａ／Ｄ変換後の入力映像信号は８ビットであるものとする。また、表示パネルに与えられる電圧を２５６段階で表す値を入力階調レベルということにする。また、Ａ／Ｄ変換後の入力映像信号のレベルを入力映像信号レベルといい、入力階調レベルと区別して使用することにする。
〔Ａ〕第１の実施例についての説明
〔１〕表示むらの補正方法の原理についての説明
表示パネルの互いに異なる画素ａ、ｂの入力階調レベル−輝度特性が、図１にａ、ｂで示すような特性であるとする。このように、画素によって発光開始電圧Ｖｔｈが異なると、表示むらが発生する。
画素間の発光効率特性自体は、ほぼ等しいため、両画素の発光開始階調レベルＶｔｈの差分ΔＶｔｈに応じた値だけ、一方の画素の入力映像信号レベル−輝度特性を水平シフトさせると、両画素ａ、ｂ位置での入力映像信号レベル−輝度特性が等しくなり、表示むらを補正することができる。
例えば、図１の例では、画素ｂに対する入力映像信号にΔＶｔｈを加算した値を画素ｂに与えて、画素ｂの入力映像信号レベル−輝度特性をΔＶｔｈ分だけ左方向にシフトさせることにより、両画素ａ、ｂでの入力映像信号レベル−輝度特性を等しくすることができる。この場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を図２に示す。
ただし、表示パネルは入力階調レベルが”２５５”に対応する輝度より高い輝度は出せないため、最も暗い画素（発光開始階調レベルＶｔｈが最も高い画素）の入力階調が”２５５”であるときの輝度を上限として補正する必要がある。上記の例では、補正を行う際には、図１、図２に示すように、最も暗い画素ｂの入力階調が”２５５”であるときの輝度Ｌ（ｂ）を上限とする必要がある。この結果、入力映像信号レベルが（２５５−ΔＶｔｈ）より大きなレベルに対する輝度が一定値（Ｌ（ｂ））となり、表現階調がΔＶｔｈだけ低下することになる。
そこで、入力映像信号レベルの０〜２５５を、最も暗い画素の入力映像信号に対するシフト処理後の表現階調数に均等に割り振る。上記の例で、ΔＶｔｈ＝３０とすると、最も暗い画素の入力映像信号に対するシフト処理後の表現階調数は、２２６段階（０〜２２５）となる。そこで、各画素に対する入力映像信号のレベル範囲０〜２５５を０〜２２５に均等に割り振ってから、シフト処理を行う。
例えば、図３に示すように、表示パネルの互いに異なる画素ａ、ｂ、ｃの入力階調レベル−輝度特性が、図３にａ、ｂ、ｃで示すような特性であるとする。特性ａを基準とした場合、画素ｂの入力映像信号に対するシフト量が１５と決定され、画素ｃの入力映像信号に対するシフト量が３０と決定されたとする。
この場合には、画素ｃの入力信号に対するシフト量が最も大きいので、各画素に対する入力映像信号のレベル範囲０〜２５５を、画素ｃの入力映像信号に対するシフト処理後の表現階調数２２６（０〜２２５）に均等に割り振る。
つまり、入力映像信号に、（２５５−最暗画素に対するシフト量）／２５５を乗算することにより、乗算後の入力映像信号レベルの範囲は０〜２２５となる。これにより、入力映像信号のステップ幅が変更せしめられる。このような処理を入力映像信号のステップ幅変更処理ということにする。そして、乗算後の信号に対してシフト処理を行う。
画素ａについては、シフト量が０であるので、シフト処理後の入力階調レベルの範囲は、０〜２２５となる。一方、画素ｂについては、シフト量が１５であるため、シフト処理後の入力階調レベルの範囲は、１５〜２４０となる。一方、画素ｃについては、シフト量が３０であるため、シフト処理後の入力階調レベルの範囲は、３０〜２５５となる。
したがって、入力映像信号レベル（０〜２５５）に対する輝度特性は、各画素ａ、ｂ、ｃとも図４に実線で示すようになり、表示むらをなくすことができるとともに、図２に比べて高階調側での階調低下が減少する。
上記のようなシフト量を補正パラメータということにする。この実施の形態では、画素毎に補正パラメータを求めておくのではなく、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割し、各領域毎に補正パラメータを予め求めておく。そして、各画素に対する補正パラメータは、表示むら補正時に、その画素の近傍４領域の補正パラメータを線形補間することにより求める。
〔２〕領域毎の補正パラメータの算出方法についての説明
図５は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する（ステップＳ１）。例えば、表示パネル上の表示画面領域を、図６に示すように、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割する。実際には、より多くの領域に分割することが好ましいが、説明の便宜上、ここでは、６つの領域に分割することにする。
次に、予め定められた階調レベル（以下、輝度測定用階調レベルといい、ここでは、”１２７”に設定されていいるものとする）である場合の、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ２）。具体的には、入力階調が１２７に相当するレベルの入力映像信号を表示パネルの全画素に入力させ、各領域Ａ〜Ｆの輝度を、例えば、面輝度測定装置によって測定する。
なお、表示パネルに流れる電流と輝度とは比例するため、次のようにして、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定するようにしてもよい。つまり、表示パネルの領域Ａのみを点灯させ、その時の表示パネルに流れている全電流の積算値を測定し、得られた積算値を領域Ａの輝度とする。同様にして、他の領域Ｂ〜Ｆの輝度を測定する。
この例では、各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡ〜ＬＦの測定結果が、図７に示すような値になったとする。つまり、ＬＡ＝１００、ＬＢ＝８０、ＬＣ＝７５、ＬＤ＝９５、ＬＥ＝８０、ＬＦ＝７０となっている。最も明るい領域（最明領域）は領域Ａであり、最も暗い領域（最暗領域）は領域Ｆである。
次に、領域Ａ〜Ｆのうちの任意の領域において、発光効率特性γを算出する（ステップ３）。例えば、領域Ａにおいて、発光効率特性γを算出する。この際、領域Ａにおいて、複数の階調毎に輝度測定を行ってγ値を算出してもよいし、予め既知のγ値を使用してもよい。
領域Ａにおいて、複数の階調毎に輝度測定を行ってγ値を算出する際には、次式（１）に基づいて複数の階調毎にγを算出する。そして、たとえば、得られた複数のγの平均値を、領域Ａのγとする。
次に、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータを算出する（ステップＳ４）。
Ｖｔｈ（ｉ）、Ｄａｔａ（ｉ）、Ｌｅｖｅｌおよびγを次のように定義すると、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータは、次式（２）に基づいて算出される。
Ｖｔｈ（ｉ）：領域ｉの基準領域ωからのシフト量（補正パラメータ）
Ｄａｔａ（ｉ）：領域ｉにおける輝度測定用階調レベルでの測定輝度
Ｄａｔａ（ω）：基準領域ωにおける輝度測定用階調レベルでの測定輝度
Ｌｅｖｅｌ ：輝度測定用階調レベル
γ：表示パネルの発光効率特性（定数値）
Ｖｔｈ（Ａ）＝０
Ｖｔｈ（Ｂ）＝１３．４
Ｖｔｈ（Ｃ）＝１７．０
Ｖｔｈ（Ｄ）＝３．２
Ｖｔｈ（Ｅ）＝１３．４
Ｖｔｈ（Ｆ）＝２０．７
〔３〕表示むら補正回路についての説明
図８は、表示むら補正回路の構成を示している。
ＥＥＰＲＯＭ５には、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータＶｔｈ（Ａ）〜Ｖｔｈ（Ｆ）が格納されている。また、ＥＥＰＲＯＭ５には、補正パラメータの最大値が、ＶｔｈＭＡＸとして格納されている。補正パラメータの最大値は最暗領域に対する補正パラメータとなり、上記の例では、ＶｔｈＭＡＸ＝Ｖｔｈ（Ｆ）＝２０．７となる。
入力映像信号Ｙｉｎは、入力映像信号のステップ幅変更処理を行うための乗算器１、乗算器１の出力に対してシフト処理を行うための加算器２および加算器２の出力をアナログ信号に変換するためのＤＡＣ３を介して表示パネル（有機ＥＬパネル）に送られる。
ゲイン算出部１０には、ＥＥＰＲＯＭ５から、補正パラメータの最大値ＶｔｈＭ ＡＸが送られている。ゲイン算出部１０は、次式（９）に基づいて、ゲイン（ｇａｉｎ）を算出し、算出したゲインを乗算器１に与えている。
位置情報算出部４によって算出された注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）は、セレクタ６、水平係数算出部７および垂直係数算出部８に送られる。セレクタ６には、ＥＥＰＲＯＭ５から各領域Ａ〜Ｆに対応する補正パラメータＶｔｈ（Ａ）〜Ｖｔｈ（Ｆ）が入力している。セレクタ６は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータを出力する。セレクタ６から出力された４領域に対応する補正パラメータは、線形補間回路９に送られる。
水平係数算出部７は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の水平係数ｈを算出する。垂直係数算出部８は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の垂直係数ｖを算出する。水平係数算出部７によって算出された水平係数ｈおよび垂直係数算出部８によって算出された垂直係数ｖは、線形補間回路９に送られる。
線形補間回路９は、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータと、垂直係数ｖと、水平係数ｈとに基づいて、二次線形補間処理を行うことにより、注目画素に対応するシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を算出する。算出された注目画素に対応するシフト量Ｖｔｈ（ｑ）は、加算器２に送られる。
二次線形補間処理について説明する。図９は、注目画素ｑと、注目画素ｑの近傍４領域を示している。ここでは、注目画素ｑの近傍４領域を領域Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４とする。注目画素の座標を（ｘｑ，ｙｑ）とする。
各領域Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４の水平方向の画素数をＨ、垂直方向の画素数をＶとする。また、領域Ｐ１の中心画素ｐ１の座標を（ｘ１，ｙ１）とし、領域Ｐ４の中心画素ｐ４の座標を（ｘ２，ｙ２）とすると、領域Ｐ２の中心画素ｐ２の座標は（ｘ２，ｙ１）となり、領域Ｐ３の中心画素ｐ３の座標は（ｘ１，ｙ２）となる。
注目画素ｑと領域Ｐ１の中心画素ｐ１との水平方向距離は、（ｘｑ−ｘ１）となる。注目画素ｑと領域Ｐ２の中心画素ｐ２との水平方向距離は、（ｘ２−ｘｑ）となる。注目画素ｑと領域Ｐ１の中心画素ｐ１との垂直方向距離は、（ｙｑ−ｙ１）となる。注目画素ｑと領域Ｐ３の中心画素ｐ３との垂直方向距離は、（ｙ２−ｙｑ）となる。
水平係数ｈは、ｈ：（１−ｈ）＝（ｘｑ−ｘ１）：（ｘ２−ｘｑ）を満たすｈとして求められる。ただし、ｘ２−ｘ１＝Ｈである。つまり、水平係数算出部７は、次式（１０）に基づいて、水平係数ｈを算出する。
上記実施の形態によれば、全領域にわたって輝度特性を均一にさせることができるようになる。また、従来と比較して、シフト量のみで表示むらを補正することができるため、補正に必要とするパラメータ数を大幅に削減できる。
なお、上記実施の形態では、複数の画素を含む領域毎に補正パラメータを算出しているが、画素毎に補正パラメータを算出してもよい。この場合には、水平係数算出部７、垂直係数算出部８、線形補間回路９は不要となる。
〔４〕補正パラメータの算出方法の変形例の説明
上記〔２〕で説明した補正パラメータの算出方法では、基準領域の入力階調レベル−輝度特性が原点（入力階調レベル”０”）から発光を開始することを前提としている。しかしながら、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合には、表示むらの補正精度が低下する。
例えば、図１０に実線で示すように、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合には、上記〔２〕で説明した補正パラメータの算出方法では、基準領域の発光特性曲線が、図１０に破線で示すような曲線を描くものとして取り扱っている。このため、実際は、図１０の実線に対するシフト量を算出しなければならないのに、図１０の破線に対するシフト量を算出してしまうので、補正誤差が生じる。
そこで、図１１に示すように、基準領域の発光開始点が原点からずれている場合には、Ｙｉｎ＝０から発光が開始させるように、Ａ／Ｄ変換器に与えられる黒側のリファレンス電圧を調整する。黒側のリファレンス電圧とは、信号レベル０の入力に対する印加電圧の値をいう。図１０における黒側のリファレンス電圧が例えば４Ｖであるとすると、黒側のリファレンス電圧を４．５Ｖにすると、図１１に示すような特性となる。
このような黒側のリファレンス電圧の調整を行うためには、図１０に示す基準領域の発光特性曲線がＹｉｎ軸と交わる点のＹｉｎ値（以下、Ｂｒｅｆ）を求めるとともに、Ｂｒｅｆを考慮して補正パラメータを算出する必要がある。以下、Ｂｒｅｆを考慮した補正パラメータの算出方法について説明する。
図１２は、Ｂｒｅｆを考慮した補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する（ステップＳ１１）。例えば、表示パネル上の表示画面領域を、図６に示すように、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割する。
次に、予め定められた２種類の階調レベル（輝度測定用階調レベル：ＩＬ，ＩＨ）において、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ１２）。例えば、１２７階調（ＩＬ）と、２５５階調（ＩＨ）とにおいて、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する。
この例では、１２７階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＬ〜ＬＦＬの測定結果が、図１３（ａ）に示すような値になり、２５５階調での各領域Ａ〜Ｆの輝度ＬＡＨ〜ＬＦＨの測定結果が、図１３（ｂ）に示すような値になったとする。つまり、ＬＡ Ｌ＝１００、ＬＢＬ＝８０、ＬＣＬ＝７５、ＬＤＬ＝９５、ＬＥＬ＝８０、ＬＦ Ｌ＝７０となり、ＬＡＨ＝３５７、ＬＢＨ＝２８６、ＬＣＨ＝２６８、ＬＤＨ＝３３９、ＬＥＨ＝２８６、ＬＦＨ＝２５０となっている。最も明るい領域（最明領域）は領域Ａであり、最も暗い領域（最暗領域）は領域Ｆである。
次に、任意の領域において、発光効率特性γを算出する（ステップＳ１３）。例えば、領域Ａにおいて、発光効率特性γを算出する。この際、領域Ａにおいて、複数の階調毎に輝度測定を行ってγ値を算出してもよいし、予め既知のγ値を使用してもよい。
次に、Ｂｒｅｆと各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータを算出する（ステップＳ１４）。
Ｂｒｅｆ、Ｖｔｈ（ｉ）、Ｄａｔａ＿Ｌｏｗ（ｉ）、Ｄａｔａ＿Ｈｉｇｈ（ｉ）、ＩＬ、ＩＨおよびγを次のように定義すると、Ｂｒｅｆおよび各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータは、次式（１３）、（１４）に基づいて算出される。
Ｂｒｅｆ ：基準領域ωにおける発光特性曲線のｘ切片
ＩＬ，ＩＨ：輝度測定用階調レベル
Ｖｔｈ（ｉ）：領域ｉの基準領域ωからのシフト量（補正パラメータ）
Ｄａｔａ＿Ｌｏｗ（ｉ） ：領域ｉにおける階調レベルＩＬでの測定輝度
Ｄａｔａ＿Ｈｉｇｈ（ｉ）：領域ｉにおける階調レベルＩＨでの測定輝度
γ：表示パネルの発光効率特性（定数値）
また、上記式（１４）から、領域Ａ〜Ｆそれぞれに対して次式（１６）〜（２１）が成り立つ。
Ｖｔｈ（Ａ）＝０
Ｖｔｈ（Ｂ）＝１５．２
Ｖｔｈ（Ｃ）＝１９．０
Ｖｔｈ（Ｄ）＝３．６
Ｖｔｈ（Ｅ）＝１５．２
Ｖｔｈ（Ｆ）＝２３．５
〔５〕レーザアニールムラを考慮した分割領域の設定方法についての説明
上記〔２〕では、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割し、各分割領域毎に補正パラメータを算出している。ここでは、レーザアニールムラを考慮して分割領域を決定する。
有機ＥＬパネルの作成過程においては、ポリシリコンＴＦＴを形成するために、レーザアニールが用いられる。レーザアニールとは、ガラス基板の融解や変形が生じない低温プロセスでポリシリコンＴＦＴを形成するために、レーザー照射によってアモルファス（非結晶）シリコン膜のみを瞬時に溶解して結晶化することをいう。
レーザアニールを行う場合には、たとえば、図１５に示すように、基板１００の上方からスリット状のレーザ光２００をパルス的に照射する。基板１００の表面全体にレーザ光を照射させるために、基板１００を矢印１０１の方向にステップ的に移動させる毎に、レーザ光２００をパルス的に照射させる。
レーザアニールを行うと、基板１００上には、基板１００の移動方向（以下、レーザアニール位置移動方向という）にレーザアニールムラが発生するとともに、基板１００の移動方向に直交する方向（以下、レーザアニール位置移動方向に直交する方向という）にもレーザアニールムラが発生する。
そこで、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する際には、レーザアニールムラが発生する単位領域毎に領域を分割する。ここでは、表示パネルの水平ラインに直交する方向（表示パネルの垂直方向）が基板移動方向（レーザアニール位置移動方向）に対応するものとする。
図１６（ａ）に示すように、表示パネルの垂直方向（レーザアニール位置移動方向）に、１または複数の水平ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域をＳＶｉ（ｉ＝１，２，…）とする。また、図１６（ｂ）に示すように、表示パネルの水平方向（レーザアニール位置移動方向に直交する方向という）に、１または複数の垂直ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域をＳＨｉ（ｉ＝１，２，…）とする。
そして、図１６（ｃ）に示すように、図１６（ａ）で示す分割領域ＳＶｉと図１６（ｂ）で示す分割領域ＳＨｉとを組み合わせることにより、最終的な分割領域Ｓｉ（ｉ＝１，２，…）を設定する。各分割領域Ｓｉ毎の補正パラメータ（シフト量）Ｖｔｈ（ｉ）の算出方法について説明する。
図１７は、各分割領域Ｓｉ毎の補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を、レーザアニール位置移動方向に複数の領域に分割する（ステップＳ２１）。この例では、図１６（ａ）に示すように、表示パネルの垂直方向（レーザアニール位置移動方向）に、１または複数の水平ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域を第１の分割領域といい、ＳＶｉ（ｉ＝１，２，…）で表すことにする。
そして、予め定められた階調レベル（以下、輝度測定用階調レベルといい、ここでは、”１２７”に設定されているものとする）である場合の、各領域ＳＶｉの輝度を測定する（ステップＳ２２）。例えば、領域ＳＶ１に対する輝度は、領域ＳＶ１のみを輝度測定用階調レベルで点灯させ、表示パネルに流れる全電流を測定し、その測定結果を領域ＳＶ１の面積（領域ＳＶ１内の総画素数）で除算することによって求められる。
次に、表示パネル上の表示画面領域を、レーザアニール位置移動方向と直交する方向に複数の領域に分割する（ステップＳ２３）。この例では、図１６（ｂ）に示すように、表示パネルの水平方向（レーザアニール位置移動方向）に、１または複数の垂直ライン幅単位毎に領域を分割する。分割された領域を第２の分割領域といい、ＳＨｉ（ｉ＝１，２，…）で表すことにする。
そして、予め定められた階調レベル（以下、輝度測定用階調レベルといい、ここでは、”１２７”に設定されていいるものとする）である場合の、各領域ＳＨｉの輝度を測定する（ステップＳ２４）。例えば、領域ＳＨ１に対する輝度は、領域ＳＨ１のみを輝度測定用階調レベルで点灯させ、表示パネルに流れる全電流を測定し、その測定結果を領域ＳＨ１の面積（領域ＳＨ１内の総画素数）で除算することによって求められる。
次に、上記ステップＳ２１で得られた第１の分割領域ＳＶｉと上記ステップＳ２３で得られた第２の分割領域ＳＨｉとを組み合わせることにより、図１６（ｃ）で示すような、最終的な分割領域Ｓｉ（ｉ＝１，２，…）を設定する（ステップＳ２５）。
第１の分割領域ＳＶｉの輝度と第２の分割領域ＳＨｉの輝度とに基づいて、各分割領域Ｓｉの輝度を算出する（ステップＳ２６）。つまり、最終的な分割領域Ｓｉの輝度は、その領域を含む第１の分割領域ＳＶｉの輝度とその領域を含む第２の分割領域ＳＨｉの輝度とを平均することによって求められる。なお、最終的な分割領域Ｓｉの輝度を、その領域を含む第１の分割領域ＳＶｉの輝度とその領域を含む第２の分割領域ＳＨｉの輝度とを加算することによって求めてもよい、
次に、領域Ｓｉのうちの任意の領域（基準領域）において、発光効率特性γを算出する（ステップＳ２７）。発光効率特性γの算出方法は、図５のステップＳ３と同じである。
次に、各領域領域Ｓｉ毎の補正パラメータを算出する（ステップＳ２８）。補正パラメータの算出方法は、図５のステップＳ４と同じである。
このようにして得られた各領域領域Ｓｉ毎の補正パラメータを用いて、図８を用いて説明したのと同様な方法で、表示むら補正を行う。
なお、レーザアニール位置移動方向にのみ表示領域を分割し、得られた分割領域を単位領域としてもよい。
〔Ｂ〕第２の実施例についての説明
〔１〕第２実施例の基本的な考え方についての説明
上記第１の実施例では、表示パネルの画素間の発光効率特性自体は、ほぼ等しいと仮定し、両画素の発光開始階調レベルＶｔｈの差分ΔＶｔｈに応じた値だけ、一方の画素の入力映像信号レベル−輝度特性を水平シフトさせている。しかしながら、様々な原因によって、図１８に示すように、表示パネルの画素間の発光効率特性自体が異なる場合もある。
図１８は、表示パネルの互いに異なる画素ａ，ｂの入力階調レベル−輝度特性を示している。ここでは、説明の便宜上、入力階調レベル−輝度特性が直線で表されているが、実際は曲線となる。
図１８に示すような場合には、全階調においてシフト量を一定にした場合には、両画素ａ，ｂの入力映像信号レベル−輝度特性は等しくならない。
そこで、第２の実施例では、全ての入力階調に同一のシフト量を使用するのでなく、入力階調によってシフト量を調整するようにした。具体的には、入力階調が高くなるほどシフト量を大きくする場合と、入力階調が低くなるほどシフト量を大きくする場合とがある。
図６に示すように、表示パネル上の表示画面領域が複数の領域Ａ〜Ｆに分割されているとし、入力階調が８ビットで表されるとすると、ある領域ｉのシフト量Ｖｔｈ（ｉ）は、次式（２２）で表される。
補正パラメータα，βの算出方法の考え方について説明する。図１８、図１９に示すように、画素ｂの入力階調レベル−輝度特性をシフトすることにより、画素ａ，ｂの入力映像信号レベル−輝度特性を等しくする場合を想定する。
図１９に示すように、２つの入力映像信号Ｙｉｎ１とＹｉｎ２（この例では１００と２００）において、第１の実施例と同様な手法により、シフト量Ｖｔｈ１およびＶｔｈ２とを算出する。図１９の例では、Ｖｔｈ１＝１０，Ｖｔｈ２＝１５となる。Ｙｉｎ１，Ｙｉｎ２，Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ２を、上記式（２２）に代入すると、次式（２３）で示すような連立方程式が得られる。
〔２〕領域毎の補正パラメータα，βの算出方法についての説明
図２０は、領域毎の補正パラメータの算出手順を示している。
まず、表示パネル上の表示画面領域を複数の領域に分割する（ステップＳ３１）。例えば、表示パネル上の表示画面領域を、図６に示すように、２×３の６つの領域Ａ〜Ｆに分割する。
次に、予め定められた第１の階調レベル（以下、第１の輝度測定用階調レベルといい、例えば、”１００”に設定される）である場合の、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ３２）。
次に、予め定められた第２の階調レベル（以下、第２の輝度測定用階調レベルといい、例えば、”２００”に設定される）である場合の、各領域Ａ〜Ｆの輝度を測定する（ステップＳ３３）。
領域Ａ〜Ｆのうちの任意の領域において、発光効率特性γを算出する（ステップＳ３４）。例えば、領域Ａにおいて、発光効率特性γを算出する。
次に、上記ステップＳ３２で得られた第１の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆの輝度と、上記ステップＳ３４で算出された領域Ａの発光効率特性γとに基づいて、第１の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆ毎のシフト量（第１のシフト量）Ｖｔｈ１（Ａ）〜Ｖｔｈ１（Ｆ）を算出する（ステップＳ３５）。第１のシフト量Ｖｔｈ１の算出方法は、図５のステップＳ４と同様である。
次に、上記ステップＳ３３で得られた第２の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆの輝度と、上記ステップＳ３４で算出された領域Ａの発光効率特性γとに基づいて、第２の輝度測定用階調レベルでの各領域Ａ〜Ｆ毎のシフト量（第２のシフト量）Ｖｔｈ２（Ａ）〜Ｖｔｈ２（Ｆ）を算出する（ステップＳ３６）。第２のシフト量Ｖｔｈ２の算出方法は、図５のステップＳ４と同様である。
次に、上記ステップＳ３５で算出された各領域Ａ〜Ｆ毎の第１のシフト量Ｖｔｈ１（Ａ）〜Ｖｔｈ１（Ｆ）と、上記ステップＳ３６で算出された各領域Ａ〜Ｆ毎の第２のシフト量Ｖｔｈ２（Ａ）〜Ｖｔｈ２（Ｆ）とに基づいて、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータα（Ａ）〜α（Ｆ），β（Ａ）〜β（Ｆ）を算出する（ステップＳ３７）。例えば、領域Ａに対する補正パラメータα（Ａ），β（Ａ）は、領域Ａに対する第１のシフト量Ｖｔｈ１（Ａ）および第２のシフト量Ｖｔｈ２（Ａ）と上記式（２２）とに基づいて算出される。
〔３〕表示むら補正回路についての説明
図２１は、表示むら補正回路の構成を示している。図２１において、図８に対応するものには同じ符号を付してある。
ＥＥＰＲＯＭ５には、各領域Ａ〜Ｆ毎の補正パラメータα（Ａ）〜α（Ｆ），β（Ａ）〜β（Ｆ）が格納されている。また、ＥＥＰＲＯＭ５には、全ての領域および階調の中での、シフト量〔Ｖｔｈ（ｉ）＝｛α×（Ｙｉｎ／２５５｝＋β〕の最大値が、ＶｔｈＭＡＸとして格納されている。
入力映像信号Ｙｉｎは、入力映像信号のステップ幅変更処理を行うための乗算器１、乗算器１の出力に対してシフト処理を行うための加算器２および加算器２の出力をアナログ信号に変換するためのＤＡＣ３を介して表示パネル（有機ＥＬパネル）に送られる。
ゲイン算出部１０には、ＥＥＰＲＯＭ５から、シフト量の最大値ＶｔｈＭＡＸが送られている。ゲイン算出部１０は、次式（２４）に基づいて、ゲイン（ｇａｉｎ）を算出し、算出したゲインを乗算器１に与えている。
位置情報算出部４によって算出された注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）は、セレクタ６、水平係数算出部７および垂直係数算出部８に送られる。セレクタ６には、ＥＥＰＲＯＭ５から各領域Ａ〜Ｆに対応する補正パラメータα（Ａ）〜α（Ｆ），β（Ａ）〜β（Ｆ）が入力している。セレクタ６は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータα，βを出力する。セレクタ６から出力された４領域に対応する補正パラメータα，βは、線形補間回路９に送られる。
水平係数算出部７は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の水平係数ｈを算出する。垂直係数算出部８は、位置情報算出部４から送られてきた注目画素の位置情報（ｘｑ，ｙｑ）に基づいて、線形補間用の垂直係数ｖを算出する。水平係数算出部７によって算出された水平係数ｈおよび垂直係数算出部８によって算出された垂直係数ｖは、線形補間回路９に送られる。
線形補間回路９は、注目画素の近傍４領域に対応する補正パラメータα，βと、垂直係数ｖと、水平係数ｈとに基づいて、二次線形補間処理を行うことにより、注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）を算出する。第２実施例では、注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）のそれぞれが二次線形補間処理によって算出されるが、二次線形補間処理の方法は、第１実施例で説明した方法と同じである。線形補間回路９によって算出された注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）は、シフト量演算部１１に送られる。
入力映像信号Ｙｉｎは、乗算器１に送られるとともに、シフト量演算部１１に送られる。シフト量演算部１１は、線形補間回路９から与えられた注目画素に対応する補正パラメータα（ｑ），β（ｑ）と入力映像信号Ｙｉｎとを上記式（２２）に代入することにより、当該注目画素に対応しかつその入力映像信号レベルに応じたシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を算出する。シフト量演算部１１によって算出されたシフト量Ｖｔｈ（ｑ）は、加算器２に送られる。
乗算器１は、入力映像信号Ｙｉｎにゲイン算出部１０によって与えられたゲイン（ｇａｉｎ）を乗算する。乗算器１の出力は、加算器２に送られる。加算器２は、乗算器１の出力にシフト量Ｖｔｈ（ｑ）を加算する。加算器２の出力は、ＤＡＣ３に送られてアナログ信号Ｙｏｕｔに変換されて、表示パネルに送られる。
【０００２】
この発明による第１の表示むらを補正する方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて補正する第２ステップを備えており、第１ステップは、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた１つの階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｃステップ、およびｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度と、ｃステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｄステップを備えていることを特徴とする。
ｂステップでは、例えば、面輝度測定装置によって各単位領域の輝度が測定される。ｂステップでは、例えば、表示パネルに流れる電流を測定することによって各単位領域の輝度が測定される。
各単位領域は、１画素単位の領域であってもよいし、複数の画素を含む所定の大きさの領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割するとともに表示パネルの表示領域をレーザアニール位置移動方向に直交する方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。
各単位領域が１画素単位の領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正する。各単位領域が複数の画素を含む所定の大きさの領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置の近傍の４単位領域の補正パラメ
この発明による第１の表示むらを補正する方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて補正する第２ステップを備えており、第１ステップは、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた１つの階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｃステップ、およびｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度と、ｃステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｄステップを備えていることを特徴とする。
ｂステップでは、例えば、面輝度測定装置によって各単位領域の輝度が測定される。ｂステップでは、例えば、表示パネルに流れる電流を測定することによって各単位領域の輝度が測定される。
各単位領域は、１画素単位の領域であってもよいし、複数の画素を含む所定の大きさの領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。また、各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割するとともに表示パネルの表示領域をレーザアニール位置移動方向に直交する方向に複数に分割することによって得られた分割領域であってもよい。
各単位領域が１画素単位の領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正する。各単位領域が複数の画素を含む所定の大きさの領域である場合には、第２ステップは、例えば、入力映像信号の画素位置の近傍の４単位領域の補正パラメ
【０００３】
ータを２次線形補間することによって、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータを求めるステップ、および入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正するステップを備えている。
上記ｂステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｂステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｄステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第４ステップを備えており、第４ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
この発明による第２の表示むらを補正する方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて補正する第２ステップを備えており、上記第１ステップは、基準領域の発光開始階調レベルが０レベル以外の場合には、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるステップ、および各単位領域の発光開始階調レベルを、黒リファレンス電圧調整後における各単位領域の発光開始階調レベルに置き換えた後に、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておくステップを備えていることを特徴とする。
第２の表示むら補正方法において、第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するｅステップ、予め定めた２つの異なる階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｆステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｇステップ、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、ｆステップにおいて基準領域に対して予め定めた２つの階調レ
ータを２次線形補間することによって、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータを求めるステップ、および入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正するステップを備えている。
上記ｂステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｂステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｄステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第４ステップを備えており、第４ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
この発明による第２の表示むらを補正する方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて補正する第２ステップを備えており、上記第１ステップは、基準領域の発光開始階調レベルが０レベル以外の場合には、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるステップ、および各単位領域の発光開始階調レベルを、黒リファレンス電圧調整後における各単位領域の発光開始階調レベルに置き換えた後に、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておくステップを備えていることを特徴とする。
第２の表示むら補正方法において、第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するｅステップ、予め定めた２つの異なる階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｆステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｇステップ、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、ｆステップにおいて基準領域に対して予め定めた２つの階調レ
【０００４】
ベルで測定された２つの輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるｈステップ、およびｆステップにおいて単位領域毎に測定された輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性と、ｈステップで求められた調整値とに基づいて、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｉステップを備えている。
上記ｆステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｆステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｉステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第５ステップを備えており、第５ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
この発明による第３の表示むら補正方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を、入力映像信号レベルを変数として近似的に算出するための補正パラメータを予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップを備えていることを特徴とする。
第３の表示むら補正方法において、第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた第１の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、予め定めた第２の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｃステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｄステップ、ｂステップにおいて各単位領域毎に測定された
ベルで測定された２つの輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるｈステップ、およびｆステップにおいて単位領域毎に測定された輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性と、ｈステップで求められた調整値とに基づいて、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｉステップを備えている。
上記ｆステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、上記ｆステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｉステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第５ステップを備えており、第５ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理を行うようにしてもよい。
この発明による第３の表示むら補正方法は、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を、入力映像信号レベルを変数として近似的に算出するための補正パラメータを予め求めておく第１ステップ、および入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップを備えていることを特徴とする。
第３の表示むら補正方法において、第１ステップは、例えば、表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、予め定めた第１の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、予め定めた第２の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｃステップ、任意の単位領域において発光効率特性を求めるｄステップ、ｂステップにおいて各単位領域毎に測定された
【０００５】
輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第１の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｅステップ、ｃステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第２の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｆステップ、ならびにｅステップにおいて各単位領域毎に求められた差と、ｆステップにおいて各単位領域毎に求められた差とに基づいて、補正パラメータを求めるｇステップを備えている。
第３の表示むら補正方法において、補正パラメータは、例えば、下記の式中のαとβである。
Ｖｔｈ＝（α×Ｙｉｎ／Ｙｍａｘ）＋β
Ｙｉｎ： 入力映像信号レベル
Ｙｍａｘ： 入力映像信号が取りうる信号レベルの最大値
Ｖｔｈ： 入力映像信号レベルがＹｉｎのときのある単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差の近似値
＜図面の簡単な説明＞
図１は、画素ａ、ｂの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図２は、画素ｂに対する入力映像信号にΔＶｔｈを加算した値を画素ｂに与えて、画素ｂの入力映像信号レベル−輝度特性をΔＶｔｈ分だけ左方向にシフトさせた場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を示すグラフである。
図３は、画素ａ、ｂ，ｃの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図４は、入力映像信号のステップ幅変更処理を行った後にシフト処理を行った
輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第１の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｅステップ、ｃステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第２の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｆステップ、ならびにｅステップにおいて各単位領域毎に求められた差と、ｆステップにおいて各単位領域毎に求められた差とに基づいて、補正パラメータを求めるｇステップを備えている。
第３の表示むら補正方法において、補正パラメータは、例えば、下記の式中のαとβである。
Ｖｔｈ＝（α×Ｙｉｎ／Ｙｍａｘ）＋β
Ｙｉｎ： 入力映像信号レベル
Ｙｍａｘ： 入力映像信号が取りうる信号レベルの最大値
Ｖｔｈ： 入力映像信号レベルがＹｉｎのときのある単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差の近似値
＜図面の簡単な説明＞
図１は、画素ａ、ｂの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図２は、画素ｂに対する入力映像信号にΔＶｔｈを加算した値を画素ｂに与えて、画素ｂの入力映像信号レベル−輝度特性をΔＶｔｈ分だけ左方向にシフトさせた場合の、入力映像信号レベル−輝度特性を示すグラフである。
図３は、画素ａ、ｂ，ｃの入力階調レベル−輝度特性を示すグラフである。
図４は、入力映像信号のステップ幅変更処理を行った後にシフト処理を行った
Claims (17)
- 表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておく第１ステップ、および
入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップ、
を備えていることを特徴とする表示むら補正方法。 - 第１ステップは、
表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、
予め定めた１つの階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、
任意の単位領域において発光効率特性を求めるｃステップ、および
ｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度と、ｃステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｄステップ、
を備えていることを特徴とする請求項１に記載の表示むら補正方法。 - ｂステップでは、面輝度測定装置によって各単位領域の輝度を測定することを特徴とする請求項２に記載の表示むら補正方法。
- ｂステップでは、表示パネルに流れる電流を測定することによって各単位領域の輝度を測定することを特徴とする請求項２に記載の表示むら補正方法。
- 各単位領域が１画素単位の領域であることを特徴とする請求項１乃至２に記載の表示むら補正方法。
- 各単位領域が複数の画素を含む所定の大きさの領域であることを特徴とする請求項１乃至２に記載の表示むら補正方法。
- 各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割することによって得られた分割領域であることを特徴とする請求項６に記載の表示むら補正方法。
- 各単位領域は、表示パネルの表示領域を表示パネル作成過程でのレーザアニール位置移動方向に複数に分割するとともに表示パネルの表示領域をレーザアニール位置移動方向に直交する方向に複数に分割することによって得られた分割領域であることを特徴とする請求項６に記載の表示むら補正方法。
- 第２ステップは、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正するものであることを特徴する請求項５に記載の表示むら補正方法。
- 第２ステップは、入力映像信号の画素位置の近傍の４単位領域の補正パラメータを２次線形補間することによって、入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータを求めるステップ、および
入力映像信号の画素位置に応じた補正パラメータに基づいて、入力映像信号を補正するステップ、
を備えていることを特徴する請求項６乃至８に記載の表示むら補正方法。 - 上記ｂステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、
上記ｂステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｄステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第４ステップを備えており、第４ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理が行われることを特徴とする請求項２に記載の表示むら補正方法。 - 上記第１ステップは、
基準領域の発光開始階調レベルが０レベル以外の場合には、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるステップ、および
各単位領域の発光開始階調レベルを、黒リファレンス電圧調整後における各単位領域の発光開始階調レベルに置き換えた後に、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして予め求めておくステップ、
を備えていることを特徴とする請求項１に記載の表示むら補正方法。 - 第１ステップは、
表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するｅステップ、
予め定めた２つの異なる階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｆステップ、
任意の単位領域において発光効率特性を求めるｇステップ、
各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、ｆステップにおいて基準領域に対して予め定めた２つの階調レベルで測定された２つの輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、基準領域の発光開始階調レベルが０レベルとなるように黒リファレンス電圧を調整するための調整値を求めるｈステップ、および
ｆステップにおいて単位領域毎に測定された輝度と、ｇステップにおいて求められた発光効率特性と、ｈステップで求められた調整値とに基づいて、各単位領域毎にその単位領域の発光開始階調レベルと基準領域の発光開始階調レベルとの差に応じた値を、補正パラメータとして算出するｉステップ、
を備えていることを特徴とする請求項１２に記載の表示むら補正方法。 - 上記ｆステップで測定された輝度のうち最も高い輝度に対応する単位領域が基準単位領域として決定されており、
上記ｆステップで測定された輝度のうち最も低い輝度に対応する単位領域に対して上記ｉステップで求められた補正パラメータを補正パラメータ最高値とし、入力映像信号に対して、入力映像信号のレベル数を、全階調数から補正パラメータ最高値を減算した階調数のレベルに振り分けるための処理を行う第５ステップを備えており、第５ステップの処理の後に、上記第２ステップの処理が行われることを特徴とする請求項１３に記載の表示むら補正方法。 - 表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割し、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を、入力映像信号レベルを変数として近似的に算出するための補正パラメータを予め求めておく第１ステップ、および
入力映像信号を、各単位領域毎に求められた補正パラメータに基づいて、補正する第２ステップ、
を備えていることを特徴とする表示むら補正方法。 - 第１ステップは、
表示パネルの表示領域を複数の単位領域に分割するａステップ、
予め定めた第１の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｂステップ、
予め定めた第２の階調レベルにおいて、各単位領域の輝度を測定するｃステップ、
任意の単位領域において発光効率特性を求めるｄステップ、
ｂステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第１の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｅステップ、
ｃステップにおいて各単位領域毎に測定された輝度とｄステップにおいて求められた発光効率特性とに基づいて、各単位領域のうちの任意の１つの単位領域を基準領域とし、各単位領域毎に、第２の階調レベルでの、その単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差を算出するｆステップ、ならびに
ｅステップにおいて各単位領域毎に求められた差と、ｆステップにおいて各単位領域毎に求められた差とに基づいて、補正パラメータを求めるｇステップを備えていることを特徴とする請求項１５に表示むら補正方法。 - 補正パラメータが次式のαとβであることを特徴とする請求項１５乃至１６に記載の表示むら補正方法。
Ｖｔｈ＝（α×Ｙｉｎ／Ｙｍａｘ）＋β
Ｙｉｎ： 入力映像信号レベル
Ｙｍａｘ： 入力映像信号が取りうる信号レベルの最大値
Ｖｔｈ ： 入力映像信号レベルがＹｉｎのときのある単位領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性と、基準領域における各入力映像信号レベルに対する発光輝度特性との間における同一輝度に対する入力映像信号の差の近似値
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