JPS639854A - 巻き取り物不良検知機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の技術分野〉 本発明は、巻き取り物の表面の不良検知を行なう検査機
に関するものであシ、特にラインセンナを用いた巻き取
り物不良検知機に関するものである。

〈従来技術〉 一般に印刷物のラミネート工程では、巻き取υ物の欠陥
、虫、毛、ゴミ等の異物の混入、樹脂ダレ、樹脂コゲと
いった不良が問題となっていた。

これら異物の検知は、はとんどが目視によって行なわれ
ているが、ラミネート工程では、その生産速度がはやい
ため、目視による確認ではおのずと限界がある。

また、巻き取り物のなかには、ある条件の部分では異物
があっても、加工工程で除去できる場合など、異常を発
見したからといって、すぐに生産ラインを止め々くても
良い場合がある。

そこで、このような条件を満たし、次工程での不良の除
去も容易に行なえ、しかもノイズに強い巻き取り物不良
検知機が望まれている。

〈発明の目的〉 本発明は以上のような現況に対しなされたものであシ、
２インセンサの主走査方向におけるデータを、副走査方
向に対し数本で総合評価することにより、誤差要因に影
響されない、巻き取り物不曳検知機を提供するものであ
る。

〈発明の構成〉 本発明を図面を参照して一実施例により詳細に説明する
。

第１図は、本発明の装置全体を示すブロック図である。

巻き取り物等の被検査物（４Ｇが測定位置に達すると、
反射−光学センサ等の物体検知センサ国が物体を感知し
、ＤＭＡ割込回路のにタイミング信号を送る。ＤＭＡ割
込回路■は、ＣＰＵ（１（Ｉに対してホールド信号を送
ｐｃＰＵＱ（ｌをストップさせておく、そして同時に、
画像ＲＡＭ（１３にデータを記憶させるための、アドレ
スデータ及びライト信号を送る。被検査物００の画像は
ラインセンサＧυによりとらえられ、二値化回路■でア
ナログ／デジタル変換され、前記ＤＭＡ割込回路■のア
ドレスデータ及びライト信号に基づき、画像ＲＡＭ（１
３に記憶される。同期信号発生回路Ｑυは、ラインセン
ナ０υとＤＭＡ割込回路ののタイミングを取るための一
定の同期パルスを発生する。画像の取り込みが終わると
ＤＭＡ割込回路器は割込信号をＣＰ　Ｕ　（ＩＩ）に送
り、ＣＰＵＱＩを動作させる。ラインセンサＧυからの
アナログ信号、及び二値化回路■を通したデジタル信号
は、オシロスコープωで見ることが出来る。

画像ＲＡＭ（１３は、二値化回路■からの画像データを
記憶するものである。ＣＰＵＱＩは処理プログラムが記
憶されているＲＯＭαυからのプログラム手順により画
像ＲＡＭＱ３内のデータ分析を行ない、結果をワーキン
グＲＡＭ（１２１に記憶する。ＣＰＵα〔ハアドレスバ
ス、データバス、コントロール信号線を通じて、主要部
に接続されておシ、アドレス信号、データ信号、コント
ロール信号の交換が行なわれる。

Ｉ１０命令デコード回路（ハ）は、入出力装置の選択の
時、アドレス信号及びコントロール信号を取り入れ、ア
ドレス４とットデータから１６個のＩ１０ボートアドレ
スへの変換を行なう。データ表示回路＠は、データバス
上にのった計算結果データと、工１０命令デコード回路
（ハ）からのポートアドレスに基づいて、データ表示器
（至）の必要な位置に計算結果の表示をおこなう。機械
停止信号回路（ハ）および警報信号回路端は、Ｉ１０命
令デコード回路（ハ）からの制御信号が「異常アリ」と
いう場合、生産ライン機械の停止、ブザーの作動を行な
うものである。また、データ処理のさいの基準値を外部
から設定するためのスイッチ群（ロ）が設けられておシ
、データ入力回路□□□を介しデータノ（スに接続して
あシ、ＲＯＭ（１１）に入力される。

また、現在のメータ数は、ロータリーエンコーダ国から
の信号をカウンタ回路＠でメータ数に変換し、データバ
ス線を通じてＣＰＵへ送られる。

こζで、本発明における検知機を用いて、具体的に不良
品の検知を行なった場合を説明する。

第２図は、不良のある被検査物の一例を示す説明図であ
る。不良の大きさは図のように様々である。また、条件
によってははじにある不良囚は異常としないといった判
定が必要である。以下、ある基準値より小さい異物（ト
）があるときは異常なしを付加した場合を一例として説
明する。

ラインセンサは、常時、被検査物を走査しているが、副
走査方向に対し走査線数本分をまとめて、データを取り
入れる。

このようにして取り入れたデータに対し、濃度差により
二値化を行ない、それぞれの位置のデータＭ（ｉｓ　　
ｊ）を得る。Ｍ（’％３）を副走査方向に積分を行なっ
た結果をＴｉとするとＴｉ　＝ΣＭ（ｉ−ｊ）　　　ｎ
：副走査方向のデータ数ｊ＝１ となる。

それを主走査方向に全て求めることにより、第３図Ａに
示すデータが得られる。第２図に示されるゴミやノイズ
の影響が残っている。

ここで、このような影響を除くため、Ｔｉに対しである
基準値を設けて白い部分、黒い部分の判定を行なうが、
データが少ないため、ある値Ｔｉの前後の値も考慮する
ことにし、Ｔｌ−１＋　Ｔｉ　＋　Ｔｉ＋□を計算しく
但し、ｉ＝１の時はＴＩ＋Ｔ２　　ｉ　＝　ｎの時はＴ
ｎ−１＋Ｔｎ％第３図Ｂ）、合計値が考えられうる最大
値の２７３以上の場合Ｔｉ−（１）（黒い部分）２／３
未満の場合Ｔｉ　＝　（０）　（白い部分）とする（第
３図Ｃ） 次にＴｉの内容を順次調べ、〔１〕から（０）への変化
、すなわち黒い部分から白い部分への変化の回数を調べ
る。ここで、回数が２回以上のときは継目テープがある
ことになるので異常を表示する。

異常がないときは、〔Ｏ〕のかたｔ、ｂの長さ、すなわ
ち白い部分の長さを求める。

次に、本発明における装置の全体の働きを、第４図のフ
ローチャートを用いて説明する。オペレータの手間を省
く為、あらかじめ被検査物の幅を入力しておき、読み取
った幅とを比較する方式ではなく、検知機が最初に読み
取った幅と次に読み取った幅とを順次比較する方式にし
た。

被検査物のデータを読み取ると、まず変化の回数を調べ
る。もし、異常があると警戒を表示し、次の被検査物の
読み取りを行なう。異常がないときは、比較するデータ
があるか調べ、ないときは比較せずに求めた幅の値を比
較データとし、次の読み取りを行なう。比較データがあ
るときは、これを読み取ったばかシのデータを比較し、
その幅の変化が基準値以内であれば良品とし読み取った
データを次の比較データとし次の読み取りを行なう。

幅の変化があった場合は、その変化の原因となる黒ビッ
トの位置を求める。具体的には副走査方向に対し、はじ
から何ビットめかを求める。

そして、もしとの黒ビットの位置がゆるされている位置
であるならば次の読み取りを行なう。

また、ゆるされない位置であるならば警戒を表示し、次
の読み取りを行なう。

ここで、同じ警戒が３回続くと不良品を検知したと判定
し、そのときのメータ数を読み取るとともに、生産ライ
ン機械を停止し、ブザー等によりオペレータに注意を行
なう。

〈発明の効果〉 本発明による巻き取り物不良検知機により、高速に移動
する巻き取り物であっても、不良を検知でき、しかも、
その大きさ、位置等の条件によって異常表示の判定をか
えることも可能となシ、より正確に巻き取り物の不良検
知を行なえるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の装置全体を示すブロック図、第２図は
被検査物にあるさまざまな不良を示す説明図、第３図Ａ
は前記第２図に示す不良Ｃをラインセンサが走査した際
の副走線方向の積分を行なりたデータを示すグラフ、同
図Ｂは、前記Ａに対して、前後との合計値をとったグラ
フ、同図Ｃは、前記Ｂのデータから〔Ｏ〕、〔１〕の判
定を行った結果を示すグラフ、第４図は読み取りを行な
うフローチャート図、第５図は本発明の装置全体の働き
を示すフローチャート図。 αＱ・・・ＣＰＵ　　　　　　　αυ・・・ＲＯＭα２
・・・ワーキングＲＡＭ　　　Ｑ３）・・・画像ＲＡＭ
■・・・二値化回路　　　　　Ｃυ・・・同期信号発生
回路（ハ）・・・ＤＭＡ割込回路　　　（ハ）・・・デ
ータ表示回路Ｃ４１・・・データ入力回路　　　（ハ）
・・・し０命令デコ一ド回路（イ）・・・機械停止信号
回路　　■・・・警報信号回路いト・・カウンタ回路　
　　　艶・・・オシロスコープ０１）・・・ラインセン
サ　　　　Ｃ３３・・・物体検知センサ缶・・・データ
表示器　　　　　（財）・・・スイッチ群（ト）・・・
光源　　　　　　　　　（至）・・・ロータリーエンコ
ータ（４１ｍ・・・被検査物

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）ラインセンサから取り入れたデータの信号を濃度差
   より、二値化をしてメモリに格納する第１の信号処理手
   段と、前記二値化信号の変化に任意の基準値を設定して
   不良の有無の判定を行なう第２の処理手段と、前記二値
   化信号の積分値に対し任意の基準値を設定して不良の有
   無の判定を行なう第３の処理手段とを設けて、正確に無
   地の巻き取り物の表面の不良を検知できるようにし、さ
   らにロータリーエンコーダにより正確にその不良ｍ数を
   とらえられるようにしたことを特徴とする巻き取り物不
   良検知機。