JPS6396583A - マイクロ波レベル計 - Google Patents
マイクロ波レベル計Info
- Publication number
- JPS6396583A JPS6396583A JP61243947A JP24394786A JPS6396583A JP S6396583 A JPS6396583 A JP S6396583A JP 61243947 A JP61243947 A JP 61243947A JP 24394786 A JP24394786 A JP 24394786A JP S6396583 A JPS6396583 A JP S6396583A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microwave
- controlled oscillator
- voltage
- frequency
- mixer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はマイクロ波のCWレーダ法による液面のレベ
ルを計測するマイクロ波レベル計に係り。
ルを計測するマイクロ波レベル計に係り。
マイクロ波レベル計を構成する電圧制御発振器(以下V
COと略す。)における電圧対周波数の直線性(以下重
縁性と略す)′jt改善できるマイクロ波レベル計に関
する。
COと略す。)における電圧対周波数の直線性(以下重
縁性と略す)′jt改善できるマイクロ波レベル計に関
する。
第5図は従来のマイクロ波レベル計を示す図であり9図
において、(11は鋸歯状波発生回路、(2)は上記鋸
歯状波発生回路il+からの鋸歯状波により周波数変調
されたマイクロ波を発振するVCO,(3)はマイクロ
波を分岐する方向性結合器、(4)はマイクロ波を被測
定面に対射する送信アンテナ、(5)は被測定面、(6
)は被測定面で反射したマイクロ波を受ける受信アンテ
ナ、(7)は上記受信アンテナ(6)からのマイクロ波
と方向性結合器(3)からのマイクロ波を混合するミキ
サー、(8)は上記ミキサー(7)からのビート信号を
電流に変換する周波数電流変換器である。
において、(11は鋸歯状波発生回路、(2)は上記鋸
歯状波発生回路il+からの鋸歯状波により周波数変調
されたマイクロ波を発振するVCO,(3)はマイクロ
波を分岐する方向性結合器、(4)はマイクロ波を被測
定面に対射する送信アンテナ、(5)は被測定面、(6
)は被測定面で反射したマイクロ波を受ける受信アンテ
ナ、(7)は上記受信アンテナ(6)からのマイクロ波
と方向性結合器(3)からのマイクロ波を混合するミキ
サー、(8)は上記ミキサー(7)からのビート信号を
電流に変換する周波数電流変換器である。
上記のように従来のマイクロ波レベル計は構成されてい
るから、鋸歯状波発生回路(1)で発生した鋸歯状波a
により、 v c o f2+はその発振周波数を増加
の方向に周波数変調されたマイクロ波すを発生する。上
記マイクロ波すは、方向性結合器(3)により送信アン
テナ(4)へ導かれるマイクロ波Cと下記ミキサー(7
)へ導かれるマイクロ波dに分岐する送信アンテナ(4
)から被測定面(5)に放射されたマイクロ波は距離り
を往復してdt時間経過して受信アンテナ(6)に戻る
。アンテナ(6)に戻ったマイクロ波eと上記方向性結
合器(3)で分岐されたマイクロ波dはミキサー(7)
で混合される。この時方向性結合器(3)からのマイク
ロ波dはアンテナ(6)からのマイクロ波eに比べて周
波数が高くなっているためにミキサー(7)はその差の
ビート信号fi発生する。
るから、鋸歯状波発生回路(1)で発生した鋸歯状波a
により、 v c o f2+はその発振周波数を増加
の方向に周波数変調されたマイクロ波すを発生する。上
記マイクロ波すは、方向性結合器(3)により送信アン
テナ(4)へ導かれるマイクロ波Cと下記ミキサー(7
)へ導かれるマイクロ波dに分岐する送信アンテナ(4
)から被測定面(5)に放射されたマイクロ波は距離り
を往復してdt時間経過して受信アンテナ(6)に戻る
。アンテナ(6)に戻ったマイクロ波eと上記方向性結
合器(3)で分岐されたマイクロ波dはミキサー(7)
で混合される。この時方向性結合器(3)からのマイク
ロ波dはアンテナ(6)からのマイクロ波eに比べて周
波数が高くなっているためにミキサー(7)はその差の
ビート信号fi発生する。
このビート信号では被測定面までの距MLが大きい程時
間遅れが大きくなり周波数が高くなり距離乙に比例する
。
間遅れが大きくなり周波数が高くなり距離乙に比例する
。
この関係を第(1)式と第6図に示す。
O
L
−−d t
fb:はビート信号fの周波数
J :はVCOの周波数偏移幅
T :は測定用周期
L :は被測定面までの距離
C;は光速
dt −:はマイクロ波が被測定面まで距離りを往復す
る時間 従ってビート信号での周波数fbを測定する事により距
離を測定する事が出来る。
る時間 従ってビート信号での周波数fbを測定する事により距
離を測定する事が出来る。
上記の様なマイクロ波レベル計において使用するV C
Of21の直線性が悪い時は測定結果に誤差を生じる。
Of21の直線性が悪い時は測定結果に誤差を生じる。
この関係を第6図に示す。
第6図において曲線Wは補正されていないマイクロ波4
1曲線Xは上記Wが時間遅れdt後にミキサー(7)に
入るマイクロ波eft示し、ミキサー(7)では上記曲
線(イ)と戟)との差の周波数のビート信号fbが出力
される。この場合、測定1周期内でft)の周波数にむ
らが生じ測定誤差となる。ここでVCOf21の直線性
が完全に直線である場合ケ)と(Z)との周波数差は1
周期内どこでも一定の周波数となるため測定誤差が生じ
ない。従って精度よく測定するためにはV COt21
の直線性が良好である事が必要になる。
1曲線Xは上記Wが時間遅れdt後にミキサー(7)に
入るマイクロ波eft示し、ミキサー(7)では上記曲
線(イ)と戟)との差の周波数のビート信号fbが出力
される。この場合、測定1周期内でft)の周波数にむ
らが生じ測定誤差となる。ここでVCOf21の直線性
が完全に直線である場合ケ)と(Z)との周波数差は1
周期内どこでも一定の周波数となるため測定誤差が生じ
ない。従って精度よく測定するためにはV COt21
の直線性が良好である事が必要になる。
従来のマイクロ波レベル針では直線性の良好なVCOを
用いているが非常に高価になる。従って価格的に/1o
程度の安価な直線性の二くないVCoを用いる為には直
線性の補正を行う必要が有る。また安価なVCOは周囲
温度に対する特性の変動が大きく、直線性の補正がa度
によりずれる事により測定誤差を生じる。
用いているが非常に高価になる。従って価格的に/1o
程度の安価な直線性の二くないVCoを用いる為には直
線性の補正を行う必要が有る。また安価なVCOは周囲
温度に対する特性の変動が大きく、直線性の補正がa度
によりずれる事により測定誤差を生じる。
この発明は上記高価なVCOを使用せずに安価なVCO
を使用しても安定に精度の良いマイクロ波レベル計を得
る事を目的とする。
を使用しても安定に精度の良いマイクロ波レベル計を得
る事を目的とする。
この発明においては、VCOの特性を補正する為に例え
ばROM(リード・オンリー・メモリ)に記憶されたデ
ーターにより鋸歯状波を合成して直線性の補正を行い、
またVCOの温度を一定にするようにしたものである。
ばROM(リード・オンリー・メモリ)に記憶されたデ
ーターにより鋸歯状波を合成して直線性の補正を行い、
またVCOの温度を一定にするようにしたものである。
この発明においては予じめVCOの電圧対周波数の特性
データー全収得して、測定周期Tを例えばROMのアド
レス数(8BITの場合は256)に分割し各アドレス
値に対応する周波数偏移が一定となる様に電圧を求めこ
の電圧を発生する様にD/A−コ、ンバーターのデータ
を計算してデータを計算してデータを作成し2周期TK
対応してVCOの発振周波数の偏移幅が一定となる様に
計算し念データーにより鋸歯状波を合成することにより
VCOの直線性を改善する。またVCOの温度を一定に
制御して温度変化によるVCOの特性の変動を抑える。
データー全収得して、測定周期Tを例えばROMのアド
レス数(8BITの場合は256)に分割し各アドレス
値に対応する周波数偏移が一定となる様に電圧を求めこ
の電圧を発生する様にD/A−コ、ンバーターのデータ
を計算してデータを計算してデータを作成し2周期TK
対応してVCOの発振周波数の偏移幅が一定となる様に
計算し念データーにより鋸歯状波を合成することにより
VCOの直線性を改善する。またVCOの温度を一定に
制御して温度変化によるVCOの特性の変動を抑える。
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図で、(1
)は鋸歯状波発生回路、(2)〜(8)は上記従来の装
置と全く同一のものである。(9)は基準信号発生回路
、α1は基準信号発生回路(9)の出力全カウントする
アドレスカウンタ、+1υは上記アドレスカウンタ11
1によりアドレスされる補正ROM 、α2は前記RO
Mのデータにより鋸歯状波を作成するD / Aコンバ
ータである。
)は鋸歯状波発生回路、(2)〜(8)は上記従来の装
置と全く同一のものである。(9)は基準信号発生回路
、α1は基準信号発生回路(9)の出力全カウントする
アドレスカウンタ、+1υは上記アドレスカウンタ11
1によりアドレスされる補正ROM 、α2は前記RO
Mのデータにより鋸歯状波を作成するD / Aコンバ
ータである。
上記の様に構成されたマイクロ波レベル計の鋸歯状波発
生回路における動作を第1図、第2図。
生回路における動作を第1図、第2図。
第3図で説明する。
第3図は、V−F特性で曲線Cは未補正の特性で予じめ
取得する。Dは理想的な特性を示す。
取得する。Dは理想的な特性を示す。
第3図における横軸は、測定周期Tにも相崩しアドレス
カウンターが0からフルビットnになるまでの時間とな
る。従って補正用ROMのアドレスも最大nとなる。
カウンターが0からフルビットnになるまでの時間とな
る。従って補正用ROMのアドレスも最大nとなる。
ここで鋸歯状波はD/Aコンバーターで作成するため、
VmaxはD/Aコンバータのフルビット(P)に相当
する。ここで第3図の8点、すなわちROMのアドレス
EにおけるROMの補正データは。
VmaxはD/Aコンバータのフルビット(P)に相当
する。ここで第3図の8点、すなわちROMのアドレス
EにおけるROMの補正データは。
発振周波数が(G)となるようなり / Aコンバータ
のデータで、(F)とする事により補正出来る。このよ
うにROMのアドレスに対してすべて同様に決定すると
第4図の(B)のような曲線となり、VCOの’/−F
特性を補正する事が出来る。従って上記の様に動作する
事により安価で精度の良いレベル計を得る事が出来る。
のデータで、(F)とする事により補正出来る。このよ
うにROMのアドレスに対してすべて同様に決定すると
第4図の(B)のような曲線となり、VCOの’/−F
特性を補正する事が出来る。従って上記の様に動作する
事により安価で精度の良いレベル計を得る事が出来る。
さて、この発明は上記のようにVCOの直線性を補正す
るものであるがVCOの特性は、温度により変動するた
めこれを押さえる必要が有る。第2図に示したQ3はこ
れを押えるための温度制御回路である。これにより周囲
の温度変化による補正のずれを防ぐことができる。
るものであるがVCOの特性は、温度により変動するた
めこれを押さえる必要が有る。第2図に示したQ3はこ
れを押えるための温度制御回路である。これにより周囲
の温度変化による補正のずれを防ぐことができる。
なお上記実施例では記憶手段としてROMを用いて説明
したが、この発明はROMに限るものではな(RAM(
ランダム・アクセス・メモリ)を用いても良い。
したが、この発明はROMに限るものではな(RAM(
ランダム・アクセス・メモリ)を用いても良い。
この発明は以上説明した通り、安価なVCQの直線性を
改善し、レベル測定精度の改善に効果があるとともに、
VCOの補正が周囲温度に影響されずに安定に動作させ
る効果がある。
改善し、レベル測定精度の改善に効果があるとともに、
VCOの補正が周囲温度に影響されずに安定に動作させ
る効果がある。
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図。
第2図はこの発明の他の実施例を示すブロック図。
第3図はVCOのV−F特性と理想的なV−F特性金示
す図、第4図は補正用の鋸歯状波を示す図。 第5図は従来のマイクロ波しベルttt示すブロック図
、第6図は未補正の’VCOと補正を行ったVCOによ
るビート信号の周波数の関係金示す図である。 図中、(1)は鋸歯状波発生回路、(21はVCO、(
3)は方向性結合器、(4)は送信アンテナ、(5)は
被測定面、(6)は受信アンテナ、(7)はミキサー、
(8)は周波数電流変換器、(9)は基準信号発生回路
、 inはアドレスカウンタ、rLυは補正ROM 、
α2ばD / Aコンバーター、0国は温度制御回路で
ある。 なお図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
す図、第4図は補正用の鋸歯状波を示す図。 第5図は従来のマイクロ波しベルttt示すブロック図
、第6図は未補正の’VCOと補正を行ったVCOによ
るビート信号の周波数の関係金示す図である。 図中、(1)は鋸歯状波発生回路、(21はVCO、(
3)は方向性結合器、(4)は送信アンテナ、(5)は
被測定面、(6)は受信アンテナ、(7)はミキサー、
(8)は周波数電流変換器、(9)は基準信号発生回路
、 inはアドレスカウンタ、rLυは補正ROM 、
α2ばD / Aコンバーター、0国は温度制御回路で
ある。 なお図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- (1)CWレーダー法を用いたマイクロ波レベル計にお
いて、マイクロ波を発振する電圧制御発振器と、上記電
圧制御発振器からのマイクロ波を分岐する方向性結合器
と、上記方向性結合器からのマイクロ波を空中へ放射す
る送信アンテナと、被測定面で反射されたマイクロ波を
受ける受信アンテナと、上記受信アンテナからのマイク
ロ波と上記方向性結合器からのマイクロ波とを混合する
ミキサーと、上記ミキサーからのビート信号を電流に変
換する周波数電流変換器と、基準信号発生回路、この基
準信号発生回路の出力信号をカウントするアドレスカウ
ンタ、上記電圧制御発振器の発振周波数の偏移幅が一定
となるような補正データが記憶してあり、上部アドレス
カウンタのアドレスに対応するデータを出力する記憶手
段、この記憶手段の出力データをアナログし、変換する
D/Aコンバータとを有し、上記電圧制御発振器の電圧
対周波数の直線性を補正する変調電圧を発生する鋸歯状
波発生回路とを備えたことを特徴とするマイクロ波レベ
ル計。 - (2)電圧制御発振器に温度を一定にする温度制御回路
を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記
載のマイクロ波レベル計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61243947A JPS6396583A (ja) | 1986-10-14 | 1986-10-14 | マイクロ波レベル計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61243947A JPS6396583A (ja) | 1986-10-14 | 1986-10-14 | マイクロ波レベル計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6396583A true JPS6396583A (ja) | 1988-04-27 |
Family
ID=17111401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61243947A Pending JPS6396583A (ja) | 1986-10-14 | 1986-10-14 | マイクロ波レベル計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6396583A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05509169A (ja) * | 1991-04-18 | 1993-12-16 | エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング ウント コンパニー | 反射ビーム方式による間隔距離測定のための方法及び装置 |
US6597308B2 (en) * | 2001-07-11 | 2003-07-22 | Fujitsu Ten Limited | Radar apparatus |
JP2013253936A (ja) * | 2012-06-08 | 2013-12-19 | Musashino Kiki Kk | 液位測定装置およびそのvcoキャリブレイション方法 |
JP2014092417A (ja) * | 2012-11-02 | 2014-05-19 | Musashino Kiki Kk | 液位測定装置 |
-
1986
- 1986-10-14 JP JP61243947A patent/JPS6396583A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05509169A (ja) * | 1991-04-18 | 1993-12-16 | エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング ウント コンパニー | 反射ビーム方式による間隔距離測定のための方法及び装置 |
US6597308B2 (en) * | 2001-07-11 | 2003-07-22 | Fujitsu Ten Limited | Radar apparatus |
JP2013253936A (ja) * | 2012-06-08 | 2013-12-19 | Musashino Kiki Kk | 液位測定装置およびそのvcoキャリブレイション方法 |
JP2014092417A (ja) * | 2012-11-02 | 2014-05-19 | Musashino Kiki Kk | 液位測定装置 |
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