JPS6391358A - α−ヒドロキシプロピンスルホン酸およびその塩、その製法およびこれを含有する酸性ニツケル浴 - Google Patents

α−ヒドロキシプロピンスルホン酸およびその塩、その製法およびこれを含有する酸性ニツケル浴

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JPS6391358A
JPS6391358A JP62236401A JP23640187A JPS6391358A JP S6391358 A JPS6391358 A JP S6391358A JP 62236401 A JP62236401 A JP 62236401A JP 23640187 A JP23640187 A JP 23640187A JP S6391358 A JPS6391358 A JP S6391358A
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    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/12Electroplating: Baths therefor from solutions of nickel or cobalt
    • C25D3/14Electroplating: Baths therefor from solutions of nickel or cobalt from baths containing acetylenic or heterocyclic compounds
    • C25D3/16Acetylenic compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はα−ヒドロキシプロピンスルホン酸およびその
塩、ならびにその製法およびこの化合物を含有する酸性
ニッケル浴に関する。
従来の技術 光沢のないメッキ層の代わりに光沢のあるニッケルメッ
キ層を得るために、酸性の、殊に弱酸性のニッケル電解
液に特定の有機物質が少量添加されることはずっと以前
から公知である。
第一光沢剤とも呼ばれる、この添加物の群は不飽和の、
たいていは芳香族のスルホン酸、スルフィノ酸、スルホ
ンア<yまたはスルフィミドもしくはその塩でありおよ
び最も公知の化合物はたとえばm−ペンゾールジスルホ
ン酸および安息香酸スルフイミrである。
この化合物は単独で電気浴に添加され、特定の電流密度
範囲を経て、光沢のある、しかしレベリング(平滑化)
されていない析出物を生じる。その単独の適用はそれに
より得られたニッケル被覆の品質が今日の要求に合致し
ないので、それゆえ全く実際に重要でない。
その明らかな欠点は析出物を脆弱化することなしに、粗
表面をレベリングする能力である。
レベリングされた析出物を生じる化合物も既に公知にさ
れている。これは大体において第一光沢剤1種または数
種と一緒に適用される。
公知のレベラー(平滑化剤)はたとえば三重不飽和アル
コールまたは三重不飽和アミンである。これは特に時間
のかかる作業の際および既に軽い過配量の際低い電流密
度範囲で黒いメッキ層を生じる。しばしばメッキ層が低
い電流密度範囲で生じずおよび素地が見えるままである
場合すら生じる。
その他にレベラーとしてピリジニウム−またはキノリニ
ウム化合物のような、四級の芳香族窒素含有化合物が提
案され、この際しかしレベリング作用は高い電流密度範
囲のみに限られる。
全てのレベラーは、これが既に開始時に、あるいはたい
ていは時間のかかる操作中でニッケル析出物を脆弱化す
るという点で一緒である。
レベリング作用を有する特定の物質にはその他とたとえ
ばプロパルギルアルデヒrのようなものが属しており、
これはしかし低い電流密度の範囲で、完全に被覆されて
いない箇所に導きおよび平均的電流密度範囲で段階析出
(レリーフ)を生じるという欠点を有する。その他にこ
れは化学的に不安定でありおよび水溶液中で貯蔵できな
い。
発明が解決しようとする問題点 本発明の課題は殊に低い電流密度で良好なレベリングも
すぐれた光沢形成も可能にする、電気浴、殊に酸性ニッ
ケル浴のための化合物を製造することである。
問題点を解決するための手段 この課題は特許請求の範囲第1項から第4項で特徴づけ
られた化合物により解決する。
本発明による化合物は酸性ニッケル浴中で驚異的にも良
好な深部分離もすぐれたレベリングも生じおよびさらに
浴のより長い操作の際も脆弱な析出物の形成を回避する
本発明による新規化合物は浴中にそのようなものとして
含有され、その際これが既に浴の製造の際この浴にその
ようなものとして添加されるかまたは化学反応に基づき
他の化合物から浴中で形成されるかどうかはささいなこ
とである二本発明による化合物の製造は、たとえばプロ
パルギルアルデヒVを水溶液中亜硫酸水素アルカリまた
は亜硫酸水素アンモニウムと等量で室温で反応させおよ
び反応生成物を自体公知の方法で単離することにより行
う。
α−ヒドロキシプロピンスルホン酸はそのようなものと
してまたはその塩、たとえばアルカリ塩、特にナトリウ
ム塩またはカリウム塩またはアンモニウム塩の形で使用
できる。
浴は本発明による化合物の添加下のニッケル析出物の析
出のために一般に、緩衝のために付加的に弱酸が添加さ
れる、ニッケル塩溶液を使用する。
実際には有利に次の組成: 硫酸ニッケル(NISO4・7H20)   200〜
4oog/l塩化ニッケル(N1CL2・6H20) 
    60〜2oog/lホウ酸(H3BO3)  
          60〜501/ 1を有する、ワ
ット浴(Wattsches Bad )を使用する。
浴は3〜5.5、特に4〜5の一一価を有する。
温度は電流密度の上昇のために75℃までであり、大体
において50〜60℃である。
高性能浴は10〜5011/lの塩化物含量を有しおよ
び本発明による化合物の使用の際最良の結果を示す。塩
化ニッケルは部分的にまたは完全に塩化ナトリウムによ
り代えられていてよい。電流密度は55℃で10A/d
m2までである。
本発明による化合物は驚異的にも公知レベラーのように
高い電流密度範囲で有利に作用するのではなく、中程度
〜低い電流密度範囲でもレベリング作用する。他の重要
な利点は本発明による化合物の強い配量の際でさえ、析
出物が公知レベラーとは反対に、たいてい低い電流密度
で生じる、黒いニッケル析出物を生じないことである。
本発明による化合物はなるほど既にそれだけですぐれた
作用を示すが、最適の結果はしかし殊に公知第一光沢剤
およびレベラーとの組合せにより達成される。そこで、
この方法で全ての実際に必要な電流密度範囲にわたって
、析出物が黒いメッキ層の公知欠点を示すことなしにす
ぐれたレベリングが達成される。
ニッケル浴中の本発明による化合物の濃度は非常にわず
かでありおよび0.005〜51!/l。
特に0.05〜0.2#/lである。低い濃度は本発明
による化合物が第一光沢剤およびピリジニウム化合物を
主体とするレベラーとの組合せで適用される場合、有利
に適用する。
第一光沢剤は大体において0.1〜10g/lの量で電
解液に添加する。レベラー、殊にキリジニウム化合物は
有利に0.02〜0.25g/l配量される。多孔性メ
ッキ層の阻止のための湿潤剤は10g/lまでの量で添
加する。
次側につき本発明を詳述する。
実施例 例  1 α−ヒドロキシプロピンスルホン酸、ナトリウム塩の製
造 40チ亜硫酸水素ナトリウム−溶液(NaH8Osへ0
.1モル)26gが250TII9攪拌フラスコ中に装
入される。これにプロパルギルアルデヒド(HCE C
−C!(O/40.1 モ/l/ ) 5.41が10
分間内に滴下される。反応は室温で生じおよびさらに2
0分径路了される。
単離のために反応溶液が50℃および20トルで回転蒸
発器で濃縮される。収率は理論値の97%である。
α−ヒドロキシプロピンスルホン酸、ナトリウム塩、融
点=130℃(分解) 特徴づけを溶剤としてD2o中標準3− () りメチ
ルシリル)−プロピオン酸、ナトリウム塩(TMS )
に対するNMRおよびIRスペクトルにより行った。
δ= 3.05 pl[)m (TMS / D20)
δ” 5. I DDm (TMS / r)+O)例
  2 α−ヒドロキシプロピンスルホン酸、カリウム塩の製造 カリウム塩の製造の際40%重亜硫酸カリウム−溶液(
K2S2O660,05(−ル) カ装入すレる。反応
後カリウム塩は40’Cおよび2oトルで濃縮される。
収率は95%である。
α−ヒドロキシゾロピンスルホン酸、カリウム塩、融点
=134°C(分解) ハルセル(Hull−Zelle )中でこの物質ナト
リウム塩と同様の作用を示す。
スペクトルはナトリウム塩のものと同様である。
例  3 α−ヒドロキシプロピノスルホノ酸、アンモニウム塩の
製造 アンモニウム塩の製造の際最初に二亜硫酸アンモニウム
がアンモニア溶液中への二酸化硫黄の導入により製造さ
れる(グメーリノ(()MELIN)NH−巻、26、
第259〜261ページ参照)。
この際40チ重亜硫酸アンモニウムー溶液((NH4)
 28206会0.05モル)を使用する。
収率は80%である。
ハルセル中でこの物質はすl−IJウム塩と同様の作用
を示す。
スペクトルはナトリウム塩のものと同様である。
α−ヒドロキシプロピンスルホン酸、アンモニウム塩、
融点=121℃より上(分解)。
例  4 次の組成 硫酸ニッケル(NiSO4・7H20)       
 270g/l塩化ニッケル(Ni(J2・6H20)
          40 g/lホウ酸      
            409/12−エチルへキシ
ルスルフェート、Na−塩、湿潤剤として0.1g/l
を有する浴に本発明による化合物α−ヒドロキシプロピ
ンスルホン酸、ナトリウム塩0.15g/lが添加され
た。
この添加は0.1〜3 A / dm2の電流密度で注
目すべき光沢深部分離を伴う光沢のあるメッキ層を生じ
た。
例  5 次の組成 硫酸ニッケル(NiSO4・7H30)     25
0 、!i’/ l塩化ニッケル(NiCJz 6H2
0)      80 g / lホウ酸      
        4CH1/12−エチルへキシルスル
フェート、Na−塩、湿潤剤として0.11//lを有
する浴に本発明による化合物α−ヒドロキシプロピンス
ルホン酸、ナトリウム塩0.15971およびサッカリ
ン(安息香酸スルフィミド、Na−塩>1g/lが添加
された。
0.1〜8A/dm2の電流密度範囲で光沢のある、明
らかにレベリングされたメッキ層が達成された。
例  6 次の組゛成 硫酸ニッケ/I/ (Niso4+ 7 H2O)  
    270 g / l塩化ニッケル(NiCJz
・6H20)       409/1ホウ酸    
           409/1を有する浴にサッカ
リン1 g/l、ピリジニウムゾロビルスルホン酸ベタ
イン0.15g/lおよび湿潤剤としてラウリルエーテ
ルスルフェートo、5g/lが添加された。
析出物は2〜12 A / dm2で光沢があり、しか
し4〜iQA/dm2でレベリングされおよび高い光沢
を有した。浴はそれによりたとえばバレル析出のために
は完全に適していない。本発明による化合物0A51/
lの添加により範囲0.5〜12 A / dm2で良
好にレベリングされた。
レベリングは層厚に依存せずにα−ヒドロキシプロピン
スルホン酸、ナトリウム塩が上述の範囲でレベリングさ
れており、そこですぐれた装飾的効果がたとえばアーマ
チュア部分で生じた。
例  7 次の組成 硫酸ニッケル(NiSO4・7H2,0)      
250 g/l塩化ナトリウム(NaCJ)     
     60 g/ lホウ酸(H3BO3)   
          30 g/ 12−エチルへキシ
ルスルフェート、ナトリウム塩、湿潤剤として    
        0.1F!/1を有する浴にサッカリ
ンI El/lおよびアリルスルホン酸、ナトリウム塩
0.6171が添加された。均一な光沢のある試験薄板
がレベリングなしに達成された。本発明による物質α−
ヒドロキシゾロピンスルホン酸、ナトリウム塩0,2g
/lの添加後、9A/dm2までで均一な光沢のある、
良好にレベリングされたメッキ層が達成され、これはそ
の深部分離のために特にバレル中での材料電流メッキの
ために適している。
浴は8維間まで安定でありおよび不変に良好な作業性を
示した。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、α−ヒドロキシプロピンスルホン酸またはその塩。 2、α−ヒドロキシプロピンスルホン酸のナトリウム塩
    である、特許請求の範囲第1項記載の化合物。 3、α−ヒドロキシプロピンスルホン酸のカリウム塩で
    ある、特許請求の範囲第1項記載の化合物。 4、α−ヒドロキシプロピンスルホン酸のアンモニウム
    塩である、特許請求の範囲第1項記載の化合物。 5、プロパルギルアルデヒドを水溶液中、亜硫酸水素ア
    ルカリまたは−アンモニウムと、当量で室温で反応させ
    および反応生成物を自体公知の方法で単離することを特
    徴とする、α−ヒドロキシプロピンスルホン酸またはそ
    の塩の製法。 6、α−ヒドロキシプロピンスルホン酸またはその塩少
    なくとも1種を含有することを特徴とする、酸性ニッケ
    ル浴。 7、化合物を0.005〜5g/lの濃度で含有する、
    特許請求の範囲第5項または第6項記載の酸性ニッケル
    浴。 8、0.1〜10g/lの濃度で第一光沢剤を付加的に
    含有する、特許請求の範囲第6項または第7項記載の酸
    性ニッケル浴。 9、0.02〜0.25g/lの濃度でレベラーを付加
    的に含有する、特許請求の範囲第6項または第7項記載
    の酸性ニッケル浴。 10、10g/lまでの濃度で湿潤剤を付加的に含有す
    る、特許請求の範囲第6項または第7項記載の酸性ニッ
    ケル浴。
JP62236401A 1986-09-22 1987-09-22 α−ヒドロキシプロピンスルホン酸およびその塩、その製法およびこれを含有する酸性ニツケル浴 Expired - Lifetime JPH0776205B2 (ja)

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DE19863632514 DE3632514A1 (de) 1986-09-22 1986-09-22 (alpha)-hydroxi propinsulfonsaeure und deren salze, saure nickelbaeder enthaltend diese verbindungen sowie verfahren zu ihrer herstellung
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JPS6391358A true JPS6391358A (ja) 1988-04-22
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DE (2) DE3632514A1 (ja)
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AT397248B (de) 1994-02-25
DE3773099D1 (de) 1991-10-24
JPH0776205B2 (ja) 1995-08-16
ES2026157T3 (es) 1992-04-16
DE3632514A1 (de) 1988-03-24
EP0261331B1 (de) 1991-09-18

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