JPS6388864A - 電荷結合装置 - Google Patents

電荷結合装置

Info

Publication number
JPS6388864A
JPS6388864A JP23399886A JP23399886A JPS6388864A JP S6388864 A JPS6388864 A JP S6388864A JP 23399886 A JP23399886 A JP 23399886A JP 23399886 A JP23399886 A JP 23399886A JP S6388864 A JPS6388864 A JP S6388864A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
register
charge
charge amount
coupled device
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP23399886A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2569501B2 (ja
Inventor
Tadakuni Narabe
忠邦 奈良部
Yasuto Maki
真城 康人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP61233998A priority Critical patent/JP2569501B2/ja
Priority to US07/102,432 priority patent/US5029189A/en
Priority to GB8722929A priority patent/GB2197556B/en
Priority to DE19873733250 priority patent/DE3733250A1/de
Priority to FR8713601A priority patent/FR2604820B1/fr
Publication of JPS6388864A publication Critical patent/JPS6388864A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2569501B2 publication Critical patent/JP2569501B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序に従って本発明を説明する。
A、産業上の利用分野 B9発明の概要 C0従来技術[第3図乃至第6図] D9発明が解決しようとする問題点 E1問題点を解決するための手段 F0作用 G、実施例[第1図、第2図] H9発明の効果 (A、産業上の利用分野) 本発明は電荷結合装置、特に本来のレジスタである第1
のレジスタのほかに互いに最大取り扱い電荷11が所定
比率に設定された第2と第3のレジスタを設け、第2と
第3のレジスタを流れる電荷の41を電荷!け検出手段
により検出し、その検出結果に基づき調節手段によって
その第2と第3のレジスタの電荷量を互いに等しくなる
ようにすることにより一上記第1のレジスタの人力バイ
アスを自動的に調節できるようにした電荷結合装置に関
する。
(B、発明の概要) 本発明は、本来のレジスタである第1のレジスタのほか
に互いに最大取り扱い電荷量が所定比率に設定された第
2と第3のレジスタを設け、第2と第3のレジスタを流
れる電荷の各電荷量を各電荷■11検出1段により検出
し、その検出結果に基づき調節手段によってその第2と
第3のレジスタの電荷量を互いに等しくなるようにする
ことにより上記第1のレジスタの人力バイアスを自動的
に調節できるようにした電荷結合装置におい′C1電荷
量検出手段の構成を簡tP−にし、11.つ電荷計検出
手段を駆動するパルスを不要にするため、電荷量検出り
段をど一りポールト回路により構成したものである。
(C,従来技術)[第3図乃ヤ第6図]第3図及び第4
図は電荷結合装置の従来例を示すものであり、この電荷
結合装置においてはP型シリコン基板1中に、信号電荷
が転送さかつ所定幅aを有する第1のレジスタ2 (C
CD遅延線)と、この第1のレジスタ2と同一の幅aと
ある長さ2とを仔する第2のレジスタ3と、第2のレジ
スタ3と同じく長さIを有する第3のレジスタ4とがそ
れぞれ形成されている。なお第3のレジスタ4は、その
入力端が長さU、にべって幅a / 2を有し、またそ
の出力側が長さ12に1「つて幅aを打している。また
上記第1、第2及び第3のレジスタ2.3.4は、上記
P型シリコン基板1の表面に形成されているn層から成
っている。
上記第1のレジスタ2の入力端の一端にはn層層から成
るソース領域5が形成されている。また1記第1のレジ
スタljLには、SiO2から成る絶縁層6を介して、
それぞれDOPO3(不純物をドープした多結晶シリコ
ン)から成る第1及び第2の人力ゲート電極7.8と、
第1層の多数の転送電極9及び第2層の多数の転送電極
10とが形成されている。なお上記第1層及び第2層の
転送型t4i9.10並びに第1及び第2の人力ゲート
電極7.8は、5i02から成る層間絶縁膜11によフ
てt7.いに電気的に絶縁されている。また上記第1及
び第2の人力ゲート電極7.8は第2のレジスタ3上に
迄延びて形成されていて、第2のレジスタ3の第1及び
第2の人力ゲート電極を兼用している。さらに上記第1
層及び第2層の転送電極9.10は第2及び第3のレジ
スタ3.4−トに迄延びて形成されていて、これらの第
2及び第3のレジスタ3.4の第1層及び第2層の転送
電極を兼用している。
また上記第2のレジスタ3の入力側の一端には、第1の
レジスタ2のソース領域5と同 のソース領域12が、
また他端にはn層層から成る浮動拡散領域13がそれぞ
れ形成されている。さらに浮動拡散領域13から所定間
隔離れた部分のP型シリコン基板1中にはプレチャージ
ドレ・rン領域14が形成されている。また上記第2の
レジスタ3Fには、上記第1及び第2の入力ゲート電極
7.8並びに第1層及び第2層の転送電極9.10に加
えて、それぞれDOPO3から成る出力ゲート電極15
及びプレヂャージゲート電J416が形成されている。
なおこれらの出力ゲート電極15及びプレチャージゲー
ト電極16は第3のレジスタ4Fに迄延びて形成されて
いて、第3のレジスタ4の出力ゲート電極及びプレチャ
ージゲート電極を兼用している。
次に上記第3のレジスタ4の入力端の 端には、n層層
から成るソース領域17が、また他端には第2のレジス
タ3の浮動拡散領域13と同一の浮動拡散領域18がそ
れぞれ形成されている。
さらにこの浮動拡散領域18から所定間隔離れて、第2
のレジスタ3のプレチャージドレイン領域14と同一の
ブレチャージドレイン領域19が形成さねている。また
上記第3のレジスタ4上には、第1層及び第2層の転送
電極9.10、出カケ−1・電極15及びプレチャージ
ゲート16に加えて、上記第1及び第2のレジスタ2.
3の第1及び第2の人力ゲート電極7.8に対応する位
置にDOPO3からなる第1層及び第2層の転送電極2
0.21が形成されている。
なお第2及び第3のレジスタ3.4のプレチャージドレ
イン領域14.19は、浮動拡散領域13.18の電荷
を後述のスイッチ25の開閉動作に関連して蓄積するた
めのものであり、ブレチャージゲート電極16によって
電荷の蓄積が制御される。
また上記第2のレジスタ3の浮動拡散領域13は、MO
3FET22.23から成るソース・ホロワ24及びM
OSFET (図示せず)から成るスイッチ25を介し
て、差動増幅器26のマイナス端子26aに接続されて
いる。同様に、第3のレジスタ4の浮動拡散領域18は
、M OS F E 第27.28から成るソース・ホ
ロワ29及びMOSFET(図示せず)から成るスイッ
チ30を介して、−F記差動増幅器26のプラス端子2
6bに接続されている。
上記差動増幅器26の出力端子26cは第2のレジスタ
3のソース領域12に接続されると共に、抵抗31を介
して第1のレジスタ2のソース領域5に接続されている
。またこのソース領域5には、コンデンサ32を介して
信号源33が接続されている。なお抵抗31は、信号源
33を差動増幅器26及び第2のレジスタ3から分離す
るためのものである。
なお上記ソース・ホロワ24.29、スイッチ25.3
0、差動増幅器26、抵抗31及びコンデンサ32は、
第1、第2及び第3のレジスタ2.3.4等と同様にP
型シリコン基板1上に形成されている。
次に上述のように構成された電荷結合装置の動作につき
説明する。なお以下においては、第5図にボずように、
第1のレジスタ2をダイナミックレンジの中央(VO)
に直流バイアスする場合を考える。
第3図及び第4図において、第3のレジスタ4のソース
領域17に接続されている電源34の電圧を十分大きく
することによって、この第3のレジスタ4にその最大取
り扱い電荷量に等しい電荷を常時転送させておく。なお
電荷の転送は、第1層の転送電極9.20と第2層の転
送電極10.21とから成る対に所定の二相の電圧(ク
ロックパルス電圧)φ1、φ2を印加することによって
行われる。また電荷の転送方向は、互いに対をなず上記
第1層の転送電極9.20と上記第2層の転送電極10
.21との間に所定の電位差(電池35で示す)を設け
ることによってレジスタに非対称なポテンシャル井戸を
形成することにより決定されている。
次に上述のようにして第3のレジスタ4中を転送されて
浮動拡散領域18に到達した電荷は、ソース・ホロワ2
9によって電圧に変換された後、スイッチ30によりサ
ンプル・ボールドが行われる。このようにして、差動増
幅器26のプラス端子26bに、第3のレジスタ4の最
大取り扱い電荷量に応じた大きさの電圧が供給される。
ところで、電荷結合装置の動作開始時においては、第2
のレジスタ3には電荷が存在しないため、差動増幅器2
6のマイナス端子26aへの供給電圧は0となる。そし
て、差動増幅器26の出力端子26cから、プラス端子
26b及びマイナス端r26aにそれぞれ供給される電
圧の差に応じた大きさの帰還電圧が第2のレジスタ3の
ソース領域12に供給されるので、この帰還電圧によっ
て上記ソース領域のポテンシャル井戸は所定の深さにな
る。この状態で第1及び第2の人力ゲート電極7.8に
所定のサンプリングパルス電圧V1、V2を印加すれば
、ソース領域12から、第1層及び第2層の転送電極9
.10下の第2のレジスタ3中に電荷が供給される。次
いでこの電荷は上記第1層及び第2層の転送電極9.1
0によって上記第2のレジスタ3中を転送され、最終的
に浮動拡散領域13に転送される。なお第1層及び第2
層の転送室I!Ii9.10並びに出力ゲート電極15
は第2のレジスタ3と第3のレジスタ4とで共通である
ため、第2のレジスタ3の浮動拡散領域13に)二記電
荷が転送されるタイミングと同一・のタイミングで、第
3のレジスタ4の浮動拡散領域18にもこの第3のレジ
スタ4の最大取り扱い電荷Vtに等しい量の電荷が転送
される。
次に上述の第2のレジスタ3の浮動拡散領域13と第3
のレジスタ4の浮動拡散領域18とにそれぞれ転送され
た上記電荷は、ソース・ホロワ24.29によってそれ
ぞれ電圧に変換された後、同 のタイミングでサンプル
・ホールドが行゛われる。この結果、差動増幅器26の
マイナス端r26 aには第2のレジスタ3中を転送さ
れている電荷量に応じた大きさの電圧か、またそのプラ
ス端子26bには第3のレジスタ4の最大取り扱い電荷
量に応じた大きさの電圧がそれぞれ供給される。このよ
うにして、差動増幅器26の出力端子26cから、上記
マイナス端子26a及びプラス端子26bにそれぞれ供
給される電圧の差に応じた大きさの帰還電圧が再び出力
され、この出力された帰還電圧によって第2のレジスタ
3のソース領域12のポテンシャル井戸の深さが変えら
れる。この結果、第2のレジスタ3中を転送される電荷
量が再び変化する。
このようにして第2のレジスタ3中を転送される電荷量
が第3のレジスタ4中を転送される電荷量と等しくなる
ように、差動増幅器26の出力端子26cから帰還電圧
が出力され、この帰還電圧が第2のレジスタ3のソース
領域12に供給されるようになっている。このため、定
常状態においては第2のレジスタ3中を転送される電荷
1辻は常に第3のレジスタ4中を転送されるその最大取
り扱い電荷fと等しく保たれる。
ところで、上記742のレジスタ3の幅は既述のように
第3のレジスタ4の入力端の部分の幅の2倍であるから
、第2のレジスタ3の最大取り扱い電荷量は第3のレジ
スタ4の最大取り扱い電荷量の2倍である。このため、
第2のレジスタ3は、その最大取り扱い電荷量の1/2
のバイアス条件で動作していることになる。そして、こ
の電荷結合装置においては、第1のレジスタ2の幅を第
2のレジスタ3の幅と等しくし、第1のレジスタ2のソ
ース領域5と第2のレジスタ3のソース領域12を同一
に構成しているばかりでなく、第1及び第2の人カゲー
ト電l!i7.8を共通にすることにより、第1のレジ
スタ2と第2のレジスタ3とを同一の入力構造にしてい
るので、第1のレジスタ2もその最大取り扱い電荷量の
1/2のバイアス条件になっていることになり、第5図
に示すバイアス条件が実現されたことになる。従って、
信号源33により、第1のレジスタ2のソース領域5に
コンデンサ32を介して正弦波入力信号を加えれば、ダ
イナミックレンジの1/2の点を中心として動作するこ
とがわかる。
この例によれば、差動増幅器26の作用によって、第1
のレジスタ2の直流バイアス電圧レベルを自動的にダイ
ナミックレンジの中央に設定することができる。このた
め、バイアス電圧レベルを調節するためにホリウムを用
いる必要が全くないばかりでなく、バイアス電圧レベル
を調節すること自体か不要となる。また第1のレジスタ
2と第2のレジスタ3の入力構造を同一にすると共に、
第2のレジスタ3と第3のレジスタ4の出力構造を同一
にしているので、温度が変化した場合、第1のレジスタ
2の人力部及び第2のレジスタ30入力部は共に同一の
影響を受け、また第2のレジスタ3の出力部及び第3の
レジスタ4の出力部も共に同一の影響を受ける。このた
め、温度変化による第1のレジスタ2の直流バイアス電
圧レベルの変化を防止することができる。
また上記の例によりば、第2のレジスタ3の幅を第3の
レジスタ40入力端の部分の幅の2倍にすることによっ
て、バイアス点をダイナミックレンジの中央に設定して
いる。そしてレジスタの幅は半導体装置の製造工程の露
光り程において用いられるフォトマスタパターンによっ
て決めることができるので、バイアス電圧レベルを所定
値に高精度かつ再現性良く設定することができる。
なおト述の例によれば第3のレジスタ4の入力端の部分
の幅をa / 2としたが、例えば3a/4にすると第
6図に示すようにダイナミックレンジの3/4の点にバ
イアスすることができる。
(D、を明が解決しようとする問題点)ところで、第3
図、第4図に示す電荷結合装置においては第2のレジス
タ2及び第3のレジスタ3の電荷量を検出するためにソ
ースフロア回路24.29と、サンプルホールド回路(
スイッチ25.30とコンデンサC1、C2)からなる
電荷量検出回路を設けていた。従って、電荷量検出回路
が占有する面積が広くなるだけでなく、上記サンプルホ
ールド回路の特にスイッチ25.30をコントロールす
るサンプルホールドパルスを与えなければならず、回路
構成か複雑になり、しかもそのサンプルホールドパルス
が信号ラインに入り込むという虞れがあった。
本発明はこのような問題点を解決すべく為されたもので
あり、電荷量検出手段の構成を簡単にし、且つ電荷量検
出手段を駆動するパルスを不要にすることを目的とする
(E、問題点を解決するための手段) 本発明電荷結合装置は上記問題点を解決するため、本来
のレジスタである第1のレジスタのほかに互いに最大取
り扱い電荷ji■が所定比率に設定された第2と第3の
レジスタを設け、第2と第3のレジスタから出力を電荷
量検出手段により検出し、上記電荷量検出手段による電
荷量の検出結果に基づき調節手段によってその第2と第
3のレジスタの電荷量を互いに等しくなるようにするこ
とにより上記第1のレジスタの人力バイアスを自動的に
調節できるようにした電荷結合装置において、上記電荷
量検出手段をピークホールド回路により構成したことを
特徴とするものである。
(F、作用) 本発明電荷結合装置によれば、電荷量検出1段をピーク
ホールド回路により構成したので、サンプルホールドパ
ルスを電荷量検出手段に与える必要がなく、回路構成を
簡単にすることができる。
しかも、サンプルホールドパルスが不要なのでサンプル
ホールドパルスが信号ラインに飛び込む虞れも回避する
ことができる。
(G、実施例)[第1図、第2図] 以F、本発明電荷結合装置を図示実施例に従って詳細に
説明する。
第1図は本発明の一つの実施例を示す回路ブロック図で
ある。
同図において、2は信号電荷を伝送するところの本来の
レジスタである第1のレジスタ、3はオートバイアス用
のレジスタである第2のレジスタ、4は同しくオートバ
イアス用のレジスタである第3のレジスタであり、この
電荷結合装置における第1のレジスタ2と、第2のレジ
スタ3と、第3のレジスタ4の間の関係は第3図及び第
4図に示した電荷結合装置における第1のレジスタ2と
、第2のレジスタ3と、第3のレジスタ4の間の関係と
全く同じであり、また、オートバイアスの原理も第3図
及び第4図に示した電荷結合装置のそれと全く同じであ
る。ただ、第2のレジスタ3と第3のレジスタ4の電荷
fflの検出回路が異なっている。即ち、第2のレジス
タ3の電荷1」はピークホールド回路40を介して検出
され、その出力が第1のレジスタ2の人力直流バイアス
を自動調節する調節手段である差動増幅器26の一方の
入力端子に人力される。41はピークホールド用コンデ
ンサである。
また、第3のレジスタ4の電荷量はピークホールド回路
42を介して検出され、その出力が]二記差動増幅器2
6の他方の入力端子に人力される。
43はピークホールド用コンデンサである。
そして、差動増幅器26の出力を抵抗44とコンデンサ
45からなるローパスフィルタで直流化し、直流化され
た信号を第2のレジスタ3の人力部と、第1のレジスタ
2の人力クランプ回路46とに人力する。しかして、こ
の第2のレジスタ3、第3のレジスタ4のピークホール
ド回路40.42、差動増幅器26等からなるオートバ
イアス回路の出力レベルに第1のレジスタ2の人力レベ
ルがクランプされることになる。
このように、第2のレジスタ3及び第4のレジスタ4の
電荷量を検出するためにピークホールド回路40 (4
1)、42 (43)を用いているので、電荷量検出に
サンプルホールドパルスを必要としない。従って、回路
構成が簡単になり、電荷1検出回路の占有面積が少なく
ても済む。しかも、電荷1■検出のためにサンプルホー
ルドパルスを必要としないので、サンプルホールドパル
スが信号ラインに飛び込む虞れも全くないのである。
第2図は第1図に示した電荷結合装置の具体例を示す構
成図である。この電荷結合装置は本発明のフローティン
グゲートアンブリファイア法で電荷を検出するタイプの
ものに通用したものである。フローティングゲートアン
ブリファイアタイプのものはフローティングディフュー
ジョンアンプリファイアタイプのものに比較して低い電
圧で電荷を引くことができるので例えば5vの単一電源
で駆動でき、例えば9vと5■の2つの電源がなければ
駆動できないフローティングディフュージョンアンプリ
ファイアタイプのものに比較して優れているので、本発
明電荷結合装置の具体例としてフローティングゲートタ
イプに適用したものを選んだのである。しかし、本発明
はフローティングディフュージョンタイプのものにも適
用することができることはいうまでもない。
尚、フローティングゲートアンブリファイアタイプの電
荷結合装置においては、フローティングゲート(第2の
レジスタ3のそれは47、第3のレジスタのそれは48
である。第1のレジスタ2のそれは図示しない)まで来
た電荷を引き抜いてやる必要があり、そのためにはフロ
ーティングゲート47.48から前側よりも後側の方を
ポテンシャル井戸を深くしなければならない。ところで
、ポテンシャル井戸を深くするために高い電圧の電源を
特別に用いると低い電源電圧で駆動することができると
いうフローティングゲートタイプの電荷結合装置の利点
を活かすことができなくなる。そこで、コンデンサCa
、Cbを用いて転送パルスφ1、φ2を昇圧し、昇圧し
たものをフローティングゲート47より後側の転送電極
に印加することによりポテンシャル井戸を深くして電荷
をスムースに後側へ流すようにしている。
具体的には、フローティングゲート47よりも航方にあ
る転送用パルスφ2を受ける転送電極49.50とフロ
ーティングゲート47の後方にある転送電極55.56
との間にはコンデンサcbが接続され該コンデンサCb
の転送電極55.56側の端子にはMO3FETQbを
介して+2.8Vの電圧が印加されており、この電圧に
よりコンデンサCaを充電した分転送電極55.56の
電位は転送電極49.50の電位よりも高くなり、延い
てはポテンシャル井戸を深くすることができる。
同様にして、フローティングゲート47のすぐ餌にある
φ1を受ける転送電極51.52とフローティングゲー
ト47のすぐ後にある転送電極53.54との間にもコ
ンデンサCaが接続され、該コンデンサCaの転送電極
53.54と接続された側の電極にはM OS F E
 T Q aを介して+6Vの電源電圧が印加されてお
り、この電圧による充電電圧分転送電極53.54の方
か転送電極51.52よりも電位が高くなり、ポテンシ
ャル井戸が深くなるのである。この原理は第2のレジス
タ3だけでなく第3のレジスタ4にもそして、図示はし
ないが第1のレジスタ2にも適用されている。
尚、この第2図に示す回路において、第2、第3のレジ
スタ3.4のピークホールド回路40.42は、エミッ
タフロア回路57.58、MO3FET59.60及び
ホールド用コンデンサ41.43からなる。また、差動
増幅器26等各回路もMOSFETにより構成されてい
る。
(H,発明の効果) 以上に述べたように、本発明電荷結合装置は、半導体基
板中に形成されかつ信号電荷が転送される第1のレジス
タと、上記半導体基板中に1−記第1のレジスタに対し
て並列的に配置されかつこの第1のレジスタと実質的に
同一の入力構造を有する第2のレジスタと、上記半導体
基板中に上記第1及び第2のレジスタに対して並列的に
形成されかつこの第2のレジスタと実質的に同一の出力
構造及び上記第2のレジスタの最大取り扱い電荷量に対
する所定比率の最大取り扱い電荷量を有する第3のレジ
スタと、上記第2及び第3のレジスタから出力される外
電荷量を検出する2つの電荷量検出手段と、該電荷量検
出手段の検出結果に基づき上記の第2及び第3のレジス
タ中を転送される電荷量を〃いに実質的に等しく保つた
めの調節をする調節手段と、を有する電荷結合装置にお
いて、上記電荷−1検出手段がピークホールド回路から
なることを特徴とするものである。
従って、本発明電荷結合装置によれば、電荷量検出手段
をピークホールド回路により構成したので、サンプルホ
ールドパルスを電荷量検出手段にIj−える必要がなく
、回路構成を簡単にすることができる。しかも、サンプ
ルホールドパルスが不要なのでサンプルホールドパルス
が信号ラインに飛び込む虞れも回避することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明電荷結合装置の一つの実施例を示す回路
ブロック図、第2図は第1図に示した電荷結合装置をフ
ローティングゲートアンブリファイアタイプのものに具
体化した電荷結合装置の構成図、第3図乃至第6図は従
来技術を説明するだめのもので、第3図は従来の電荷結
合装置の名レジスタの断面図、第4図は平面図、第5図
及び第6図は第1のレジスタに対する各別の人力直流バ
イアス例を示すCCD遅延線の人出力特性図である。 符号の説明 2・・・第1のレジスタ、 3・・・第2のレジスタ、 4・・・第3のレジスタ、 26・・・調節手段、 40  (41)、42  (43) ・・・電荷量検出手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板中に形成されかつ信号電荷が転送され
    る第1のレジスタと、 上記半導体基板中に上記第1のレジスタに対して並列的
    に配置されかつこの第1のレジスタと実質的に同一の入
    力構造を有する第2のレジスタと、 上記半導体基板中に上記第1及び第2のレジスタに対し
    て並列的に形成されかつこの第2のレジスタと実質的に
    同一の出力構造及び上記第2のレジスタの最大取り扱い
    電荷量に対する所定比率の最大取り扱い電荷量を有する
    第3のレジスタと、上記第2及び第3のレジスタから出
    力される各電荷量を検出する2つの電荷量検出手段と、
    上記電荷量検出手段による電荷量の各検出結果に基づい
    て上記の第2及び第3のレジスタ中を転送される各電荷
    量を互いに実質的に等しく保つための調節をする調節手
    段と、 を有する電荷結合装置において、 上記電荷量検出手段がピークホールド回路からなる ことを特徴とする電荷結合装置。
JP61233998A 1983-12-09 1986-10-01 電荷結合装置 Expired - Fee Related JP2569501B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61233998A JP2569501B2 (ja) 1986-10-01 1986-10-01 電荷結合装置
US07/102,432 US5029189A (en) 1983-12-09 1987-09-29 Input structure for charge coupled devices with controllable input bias
GB8722929A GB2197556B (en) 1986-10-01 1987-09-30 Charge coupled devices
DE19873733250 DE3733250A1 (de) 1986-10-01 1987-10-01 Ccd-schaltung
FR8713601A FR2604820B1 (fr) 1986-10-01 1987-10-01 Dispositif a couplage de charge comportant un moyen particulier de detection de charge

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61233998A JP2569501B2 (ja) 1986-10-01 1986-10-01 電荷結合装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6388864A true JPS6388864A (ja) 1988-04-19
JP2569501B2 JP2569501B2 (ja) 1997-01-08

Family

ID=16963949

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61233998A Expired - Fee Related JP2569501B2 (ja) 1983-12-09 1986-10-01 電荷結合装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2569501B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5086440A (en) * 1989-04-18 1992-02-04 Sony Corporation Charge coupled device with enhanced input structure
US5210777A (en) * 1989-04-17 1993-05-11 Sony Corporation Charge coupled device having switched inverting and non-inverting input signal paths, input biassing circuit and temperature compensation

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5210777A (en) * 1989-04-17 1993-05-11 Sony Corporation Charge coupled device having switched inverting and non-inverting input signal paths, input biassing circuit and temperature compensation
US5086440A (en) * 1989-04-18 1992-02-04 Sony Corporation Charge coupled device with enhanced input structure

Also Published As

Publication number Publication date
JP2569501B2 (ja) 1997-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0020160B1 (en) A sample and hold circuit
JPS6215960B2 (ja)
JPH01166561A (ja) 電荷転送装置
US20040174209A1 (en) Switched-capacitor low-pass filter and semiconductor pressure sensor apparatus incorporating the filter
US4616249A (en) Solid state image pick-up element of static induction transistor type
US4633101A (en) Semiconductor sample and hold switching circuit
JPS6388864A (ja) 電荷結合装置
US5029189A (en) Input structure for charge coupled devices with controllable input bias
US4144526A (en) Circuit arrangement and operating process for converting an analogue signal into a digital signal
JP2513190B2 (ja) 電荷結合装置
GB1589320A (en) Charge transfer apparatus
US4700085A (en) Circuit for detecting signal charges transferred in a charge transfer device
Sequin et al. Self-contained charge-coupled split-electrode filters using a novel sensing technique
JPS6358968A (ja) 電荷結合素子
JP2864553B2 (ja) Ccd遅延装置
JPS60124097A (ja) 電荷結合装置
US5086440A (en) Charge coupled device with enhanced input structure
US4245199A (en) Semiconductor CCD transversal filter with controllable threshold level
JP2965568B2 (ja) 電荷検出装置
JP4536234B2 (ja) 電荷結合素子
JP2797382B2 (ja) 多チャンネルサンプルホールド回路
JPH01103872A (ja) 固体撮像装置
Kubo et al. A wideband low-noise analog delay line
JPH1021696A (ja) サンプルホールド回路
JP2540060B2 (ja) Ccd遅延線

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees