JPS6388427A - 測定出力記録装置 - Google Patents

測定出力記録装置

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JPS6388427A
JPS6388427A JP23406186A JP23406186A JPS6388427A JP S6388427 A JPS6388427 A JP S6388427A JP 23406186 A JP23406186 A JP 23406186A JP 23406186 A JP23406186 A JP 23406186A JP S6388427 A JPS6388427 A JP S6388427A
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JP23406186A
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Toshiaki Fukuma
福間 俊明
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/272Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野 本発明は分′#S尼度計による時間送り記録のような長
時間にわたる測定器出力のデータ収集方式に関する。 口 従来の技術 長時間にbたる測定値の記録には通常記嵌計が用いられ
るが、大量の記録紙を消費し、記録の保管場所にも困る
ので、XYレコーグとかCRTディスプレイのような記
録範囲の限定された装置によって記録したい場合が多い
が、この場合測定出力は一旦メモリに格納し、事後的に
メモリ内容を読出して記録する。このため大容量のメモ
リを要し、測定出力の時間的変化を精密に記録しようと
すると、測定出力のサンプリング間隔を細かくしなけれ
ばならないからメモリの必要容量はますます太き(なる
。所が測定対象によっては、測定出力の時間的変化が通
常は小さくてゆっくりしており、時々大きなピークが現
われると云うものがある。例えは分光光度計を用いて流
通している試料の吸光度の時間変化を測定するような場
【ここのような事例が多く、クロマトグラフの出力記
録とか原子吸光分光分析においてもこのような出力状態
を呈する。このような出力状態を呈する場合の測定記録
ではピークが現れていない期間が長くて、その期間に対
してメモリ容量を大量に消費するのは無駄であるから、
測定出力のサンプリング間隔を大にすると、ピークの記
録精度が低下し、ピークの記録精度を高めようとすると
、メモリの利用率が低下し、コスト高の装置となる。 ハ 発明が解決しようとする問題点 本発明は上述したような状況に鑑み通常時間的変化が少
く、時々ピークが現われる型の測定出力の記録において
、比較的小容量のメモリで精度の良いピーク時の測定記
録を可能にしようとするものである。 二 問題点解決のための手段 測定出力の時間的変化率を検出し、時間的変化率の小さ
な間は測定出力のサンプリング間隔を広くし、変化率の
大きな間はサンプリング間隔を狭くするような自動制御
を行うようにした。 ホ 作用 上述したように測定出力の時間的変化率の小さな間はサ
ンプリング間隔が大きいからメモリの容量消費が少く、
時間変化率の大きな間は測定上重要な期間で、その間は
サンプリング間隔がせまく測定記録の精度低下を来さな
いから、メモリ容量の有効利用ができ、小容量のメモリ
で長時間の測定記録を精度を落さずにすることができる
。 ヘ 実施例 第1図は本発明の一実施例の測定出力サンプリング間隔
設定ルーチンのフローチャートである。 この実施例では測定出力サンプリング間隔はP。 とPO/10の2種類を用い、前回と今回のサンプリン
グデータの差を基準値と比較して、差が基準値以下なら
サンプリング間隔をPoとし、基準値以上ならサンプリ
ング間隔をPoの1/10にする。第1図のフローチャ
ートに従って動作を説明すると、サンプリング間隔がP
o(広い)か否かに応じて(イ)、サンプリング間隔が
Poのときは動作は0口)のステップに進み、今回サン
プリングデータと前回サンプリングデータとの差が第1
基準ΔA1より大きか否か判別し、差がΔA1より小(
No)のとき、動作は(ハ)のステップに進〜で次回の
サンプリングピッチをPoに設定し、−回のサンプリン
グ動作を終って次回は再び〔イ)のステップから始まる
。動作がステップ〔イ)から0口)に来てCロンの判定
がYESつまり変化率が大のとき、動作は(二〕のステ
ップに行き、次回サンプリング間隔をP=Po/10に
セットし、次回動作がスタートする。このとき(イ〕の
ステップはサンプリング間隔がPoでない(NO)から
動作は(ホ)のステップに行き、測定出力のピークが過
ぎたか否か判定する。測定出力のピークの検出は別のプ
ログラムで行われており、ピークが未だ過ぎていない(
No)ときは動作は(ニ)に行き、引続きサンプリング
間隔Pがセットされる。(ホ)のステップがYES即ち
測定出力のピークが過ぎたと判定されたときは、動作は
ステップ(へ)に進み、測定値変化量が第2基準ΔA2
より小さいか否か判定し、小さいCYES )のとき動
作は(ハ〕のステップに進んでサンプリング間隔はPo
に戻される。〔へ〕のスステラがNoのとき動作は(ニ
)のステップへ行き、引続きサンプリングピッチはせま
いPのま\となる。 以上の動作でステップ(ホ)〔へ〕について説明する。 測定出力の時間変化が小さい通常時は前回今回のサンプ
リングデータの差をモニタして次回のサンプリング間隔
を決定しているが、測定出力のピークが現われている間
は前回今回のサンプリングデータの差のモニタはしてい
ない。これはサンプリング間隔がせまいので、ノイズの
影響が大きく、差の直の変動が大きいからであり、この
ため別途測定出力のピークを過ぎたことを確認(ホのス
テップ〕して、測定値変化量を調べる。こ\で測定値変
化量は何点が醸(例へは10点前)のサンプリングデー
タと今回のサンプリングデータとの差が第2基準ΔA2
より小さくなっているか否かチェックする。このように
して差データのノイズの影響は小さくできるが、このや
り方をピークの立上りから用いると、ピーク頂上付近で
は差データが小さくなって基準以下になる可能性がある
ので、と−り頂点をサンプリング点で何点かC例えば1
0点)過ぎたことを確認するのである。 第2図は以上の動作によるサンプリング点の並び状態を
例示するものである。サンプリング点aと次のbとの間
で測定出力の差がΔA1を超えており、従ってbから後
はサンプリング間隔がせま(なり、ピーク頂点を何点が
過ぎた7点で所定点数曲のU点との測定出力の差をΔA
2と比較し、この動作をV点以後の各サンプリング点で
行ってy点に来たとき、y点から所定点数前のX点の測
定出力との差がΔA2以下となって、以後サンプリング
間隔は平常のPaに戻る。 上述実権例ではサンプリング間隔は2種類であるが、測
定出力の変化率に応じて何段階か用いるようにすること
もできる。また上側でサンプリングされたデータを一定
ピッチでCRTとかXYプロッタに表示すれば時間軸が
著るしく圧縮され、しかもピークの所は時間軸を伸張し
た形の表示になってせまい範囲に長時r−分のデータが
表示でき、しかも重要なピーク部分は正確に表示されて
いる。 XYプロッタで記録するとき、サンプリング間隔に応じ
てドツトの色を変えるようにすると、時間圧縮された部
分とそうでない部分が一目で分って便利であり、またサ
ンプリング間隔が変った位置Q二目印のドツトを打つよ
うにすれば、表示全体の時間計算が容易になる。 更に測定出力は常時短い時間間隔でサンプリングし、測
定出力のスムージング処理等を行いっ\、サンプリング
データから適当間隔でデータを抜取ってメモリに転送す
るようにし、スムージング等の処理を施されたデータに
ついて時間微分を行い、その微分値の大きさで上記デー
タ抜取り間隔を大小切換えるようにしてもよい。 ト 効果 上述した所から明かなように本発明によれば、測定上重
要な測定出力の変・化の大きな所は細かいサンプリング
間隔でデータがメモリされ、その他の所は粗いサンプリ
ング間隔でメモリされるので、測定記録の精度を損うこ
となく、小金】のメモリで長時間の測定データを収容で
き、時間軸を圧縮した表示が容易かつ大事な部分が見易
い形で行われる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例をこおけるサンプリング間隔
設定のルーチンのフローチャー1−1第2図は上記実施
例による測定出力サンプリング状態を示すグラフである
。 代理人 弁理士  縣     浩  介第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測定出力の時間的変化をモニタする手段と、上記モニタ
    手段のモニタ結果により、測定出力の時間的変化率に応
    じて複数段階のサンプリング間隔の一つを選定する手段
    と、選定されたサンプリング間隔で測定出力をサンプリ
    ングしメモリに格納する手段とよりなることを特徴とす
    る測定出力記録装置。
JP61234061A 1986-09-30 1986-09-30 測定出力記録装置 Expired - Lifetime JP2653044B2 (ja)

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JP61234061A JP2653044B2 (ja) 1986-09-30 1986-09-30 測定出力記録装置

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JPS6388427A true JPS6388427A (ja) 1988-04-19
JP2653044B2 JP2653044B2 (ja) 1997-09-10

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11185413A (ja) * 1997-12-22 1999-07-09 Fujitsu Ltd トラッキング制御装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57149061A (en) * 1981-03-12 1982-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Consumable electrode type pulse arc welding machine
JPS58167924A (ja) * 1982-03-29 1983-10-04 Shimadzu Corp 走査型分光装置
JPS61128130A (ja) * 1984-11-27 1986-06-16 Shimadzu Corp 経時的変化の分光的測定装置
JPS61138119A (ja) * 1984-12-11 1986-06-25 Horiba Ltd 車載型運行記録装置におけるデ−タ記録方法

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