JPS6378221A - 座標入力装置 - Google Patents
座標入力装置Info
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- JPS6378221A JPS6378221A JP61222155A JP22215586A JPS6378221A JP S6378221 A JPS6378221 A JP S6378221A JP 61222155 A JP61222155 A JP 61222155A JP 22215586 A JP22215586 A JP 22215586A JP S6378221 A JPS6378221 A JP S6378221A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 43
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 7
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
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- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明はタレット上の座標位置が示されたときにその座
標位置を測定し、測定結果から座標を決定する座標入力
装置に関し、特に座標位置の測定機能部の改良に関する
。
標位置を測定し、測定結果から座標を決定する座標入力
装置に関し、特に座標位置の測定機能部の改良に関する
。
(従来の技術)
従来のこの秤の座標入力装置としては、静電誘導方式タ
ブレットが適用されたものがあり、この他に、電I、f
1誘導方式、圧力センサ方式及び光方式等のタブレット
が適用されたものが知られている。
ブレットが適用されたものがあり、この他に、電I、f
1誘導方式、圧力センサ方式及び光方式等のタブレット
が適用されたものが知られている。
代表例として静電誘導方式タブレットが適用された座標
入力装置の概略構成を第6図に基づいてd2明する。
入力装置の概略構成を第6図に基づいてd2明する。
この第6図に示す座標入力PiiP11にあっては、タ
ブレット1中には等門限で平行する複数本のX方向スキ
ャン用電極2とY方向スキャン用電極3とがηいに直交
するように設けられている。
ブレット1中には等門限で平行する複数本のX方向スキ
ャン用電極2とY方向スキャン用電極3とがηいに直交
するように設けられている。
このX方向スキャン用電極2とY方向スキャン用電極3
とは、それぞれX方向シフトレジスタ4とY方向シフト
レジスタ5とに接続され、このシフトレジスタ4及び同
5によってドライブされる。
とは、それぞれX方向シフトレジスタ4とY方向シフト
レジスタ5とに接続され、このシフトレジスタ4及び同
5によってドライブされる。
こうして、スキャン用霧穫2及び同3がドライブされる
タブレット1上で移動させるスタイラス6は、スキャン
用電極2及び同3によって生じる電界による電位を検出
するためのものである。このスタイラス6によって検出
された電位はアンプ7によって増幅され、ローパスフィ
ルタ8を通って、タブレットコントローラ9に送り込ま
れる。
タブレット1上で移動させるスタイラス6は、スキャン
用電極2及び同3によって生じる電界による電位を検出
するためのものである。このスタイラス6によって検出
された電位はアンプ7によって増幅され、ローパスフィ
ルタ8を通って、タブレットコントローラ9に送り込ま
れる。
タブレットコントローラ9は、シフトレジスタ4及び同
5を駆動するシフトクロックを発生し、またローパスフ
ィルタ8の出力信号を受けてスタイラス6のタブレット
1上の位置を計口し、計算されたその位置情報を外部イ
ンターフェースから出力する機能と、スキャニング開始
などの各種コマンドを外部インターフェースから受けと
ってそれを実行する機能を持っている。
5を駆動するシフトクロックを発生し、またローパスフ
ィルタ8の出力信号を受けてスタイラス6のタブレット
1上の位置を計口し、計算されたその位置情報を外部イ
ンターフェースから出力する機能と、スキャニング開始
などの各種コマンドを外部インターフェースから受けと
ってそれを実行する機能を持っている。
このような静電誘導方式タブレットが適用された座標入
力装置にあっては、X方向のスタイラス位置測定とY方
向のスタイラス位置測定とがそれぞれ独立して次のよう
に行なわれる。
力装置にあっては、X方向のスタイラス位置測定とY方
向のスタイラス位置測定とがそれぞれ独立して次のよう
に行なわれる。
今、X方向のスキX・ニングが開始されると、スキ17
ン用電に!2は、シフトレジスタ4によって、順次スキ
ャン方向に一本づつONされて電源電圧VCCの大きさ
になっていく。なお、この際にシフトレジスタはタブレ
ットコントローラ9からのシフトクロックによってシフ
ト動作される。
ン用電に!2は、シフトレジスタ4によって、順次スキ
ャン方向に一本づつONされて電源電圧VCCの大きさ
になっていく。なお、この際にシフトレジスタはタブレ
ットコントローラ9からのシフトクロックによってシフ
ト動作される。
このX方向のスキャニングの様子を図示すると、第7図
に示す通りとなり、シフトレジスタ4において、選択さ
れた接点が電1IPi電圧VCCとなり、曲の接地電圧
GNDであるから、タブレット1においてその選択され
た接点に接続されているスキャン用電極2がONするこ
とになる。
に示す通りとなり、シフトレジスタ4において、選択さ
れた接点が電1IPi電圧VCCとなり、曲の接地電圧
GNDであるから、タブレット1においてその選択され
た接点に接続されているスキャン用電極2がONするこ
とになる。
こうしてスキャン用電極2がONされたときに生じる電
界によってスタイラス6に電位が発生する。このスタイ
ラス6の電位の大きさは、○凶されたスキャン用電極2
とスタイラス6との間の距離ΩXが小さいほど大きくな
る。
界によってスタイラス6に電位が発生する。このスタイ
ラス6の電位の大きさは、○凶されたスキャン用電極2
とスタイラス6との間の距離ΩXが小さいほど大きくな
る。
また、タブレット1上のY方向スキャン用電極3及びY
方向シフトレジスタ5も第7図と同様に接続構成されて
いるから、Y方向スキャニングが開始されると、スキャ
ン用電極3はシフトレジスタ5によって、順次スキャン
方向に一本づつONされて電源電圧VCCの大きくなる
。このスキャン川霧4fA3がONされたときに生じる
電界によってスタイラス6に電位が発生し、スタイラス
6の電位の大きさが定まる。
方向シフトレジスタ5も第7図と同様に接続構成されて
いるから、Y方向スキャニングが開始されると、スキャ
ン用電極3はシフトレジスタ5によって、順次スキャン
方向に一本づつONされて電源電圧VCCの大きくなる
。このスキャン川霧4fA3がONされたときに生じる
電界によってスタイラス6に電位が発生し、スタイラス
6の電位の大きさが定まる。
従って、スタイラス6において検出される電位は、X方
向のスキャニング又はY方向のスキャニングに際して、
第8図に示ずように、タブレットコントローラ9から発
せられるシフトクロックのパルスタイミング(A)に従
って時間とともに波形(B)で示されるように変化され
る。
向のスキャニング又はY方向のスキャニングに際して、
第8図に示ずように、タブレットコントローラ9から発
せられるシフトクロックのパルスタイミング(A)に従
って時間とともに波形(B)で示されるように変化され
る。
この波形(B)のスタイラス検出電位をアンプ7で増幅
し、ローパスフィルタ8を通すと、ローパスフィルタ出
ノjは波形(C)のようになる。
し、ローパスフィルタ8を通すと、ローパスフィルタ出
ノjは波形(C)のようになる。
そこで、ローパスフィルタ出力を受けるタブレットコン
トローラ9において、所定の閾値を設定しておけば、ス
キャン開始点から、ローパスフィルタ出力が、ぞの閾値
を越えるまでの時間幅txをカウント後、その時間幅t
×とシフトクロック周期tCkとによって、X方向また
はY方向のスキャン間始位胃からスタイラス位置までの
距離り×を計nすることができる。
トローラ9において、所定の閾値を設定しておけば、ス
キャン開始点から、ローパスフィルタ出力が、ぞの閾値
を越えるまでの時間幅txをカウント後、その時間幅t
×とシフトクロック周期tCkとによって、X方向また
はY方向のスキャン間始位胃からスタイラス位置までの
距離り×を計nすることができる。
しかしながら、従来にあっては、ローパスフィルタ8の
出力電圧がスキャニング開始から最初に@値を越えた時
点で最後のスキャン用電極までのスキャンが終了してい
なくても、タブレットコントローラ9はスキャニングを
中止して座標測定を終了したく第9図参照)。
出力電圧がスキャニング開始から最初に@値を越えた時
点で最後のスキャン用電極までのスキャンが終了してい
なくても、タブレットコントローラ9はスキャニングを
中止して座標測定を終了したく第9図参照)。
そして、タブレットコントローラ9はそのときの時間幅
txから求めたX方向またはY Zj向の座標値を、常
に正常値として外部インターフェースから出力していた
。
txから求めたX方向またはY Zj向の座標値を、常
に正常値として外部インターフェースから出力していた
。
従って、従来によると、タブレット1表面の異常帯電や
、スタイラス9.アンプ7及びローパスフィルタ8の機
械1辰動などによって、ローパスフィルタ8の出力にノ
イズが含まれる場合に、これら異常によって発生される
タブレットコントロ−ラ9に設定された同値を越えるピ
ーク値が、スキャニング開始時点とスキャン電極からの
電界による本来の出力電圧が現われる時点との間に現わ
れると、その異常ピーク値の発生のために、タブレット
コントローラ9がスキャニング中止となるという不具合
があった。
、スタイラス9.アンプ7及びローパスフィルタ8の機
械1辰動などによって、ローパスフィルタ8の出力にノ
イズが含まれる場合に、これら異常によって発生される
タブレットコントロ−ラ9に設定された同値を越えるピ
ーク値が、スキャニング開始時点とスキャン電極からの
電界による本来の出力電圧が現われる時点との間に現わ
れると、その異常ピーク値の発生のために、タブレット
コントローラ9がスキャニング中止となるという不具合
があった。
(発明が解決しようとする問題点)
上述したように従来の座標入力装置で採用していた座標
測定の橢能構成では、タブレット1表面の異常帯電や、
スタイラス6、アンプ7及びローパスフィルタ8の様械
的撮勤により異常ピーク値が、スキャン電極からの電界
による本来の出力電圧のピーク値が発生する前に発生す
ると、タブレットコントローラ9によるスキャニングを
中止する。そのため、従来にあっては、第10図に実線
で示す波形の如く異常ピーク値に基づく異常データを正
確な座標値として外部出力インターフェースから出力し
、点線で示す波形の如く後に発生することが想定される
本来の出力電圧ピーク値に基づく正常データから座標値
を17にとができないというケースがしばしば生じた。
測定の橢能構成では、タブレット1表面の異常帯電や、
スタイラス6、アンプ7及びローパスフィルタ8の様械
的撮勤により異常ピーク値が、スキャン電極からの電界
による本来の出力電圧のピーク値が発生する前に発生す
ると、タブレットコントローラ9によるスキャニングを
中止する。そのため、従来にあっては、第10図に実線
で示す波形の如く異常ピーク値に基づく異常データを正
確な座標値として外部出力インターフェースから出力し
、点線で示す波形の如く後に発生することが想定される
本来の出力電圧ピーク値に基づく正常データから座標値
を17にとができないというケースがしばしば生じた。
本発明は−に記聞照点に鑑みなされたものであり、その
目的(よ誤測定データを座標測定データとして出力する
のを防止することができる座標入力装置を(jL供する
ことにある。
目的(よ誤測定データを座標測定データとして出力する
のを防止することができる座標入力装置を(jL供する
ことにある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手¥2)
上記の目的を達成するため、本発明の座標入力装置は、
タブレット上で移動させるスタイラスからX方向スキャ
ン用信号とY方向の座標を走査づるY方向スキャン用信
号とを受けて、その各スキャン用信号が所定の閾値以上
のピーク値であるかを判定する閾値判定手段と、前記8
1直Tす定手段で判定された閾値以上のピーク値の個数
を計数する閾値検出カウンタと、前記閾値検出カウンタ
の閾値検出タイミングによって座標を決定し、外部に決
定座標を出力する座標決定手段と、前記XY両方向のス
キャン用信号の何れかによってスキャン中に前記閾値検
出カウンタのカウント値が2以上になったとき、誤測定
のステータスを外部に出力する誤測定検出手段とを有す
ることを特徴とする。
タブレット上で移動させるスタイラスからX方向スキャ
ン用信号とY方向の座標を走査づるY方向スキャン用信
号とを受けて、その各スキャン用信号が所定の閾値以上
のピーク値であるかを判定する閾値判定手段と、前記8
1直Tす定手段で判定された閾値以上のピーク値の個数
を計数する閾値検出カウンタと、前記閾値検出カウンタ
の閾値検出タイミングによって座標を決定し、外部に決
定座標を出力する座標決定手段と、前記XY両方向のス
キャン用信号の何れかによってスキャン中に前記閾値検
出カウンタのカウント値が2以上になったとき、誤測定
のステータスを外部に出力する誤測定検出手段とを有す
ることを特徴とする。
(作用)
第1図は本発明の座標入力装置の要部置方を示すi能ブ
ロック図である。
ロック図である。
本発明の座標入力装置にあっては、タブレットa上で移
動させるスタイラスbからX方向スキャン用信号とY方
向のスキトン用信号とを閾値判定手段Cへ送出する。
動させるスタイラスbからX方向スキャン用信号とY方
向のスキトン用信号とを閾値判定手段Cへ送出する。
すると、閾値判定手段Cでスタイラスペンbから受けた
各スキャン用信号が所定の閾値以上のピーク値であるか
を判定し、この判定出力を閾値検出カウンタdに送出す
る。
各スキャン用信号が所定の閾値以上のピーク値であるか
を判定し、この判定出力を閾値検出カウンタdに送出す
る。
これにより、GJI llf′i)1出カウンタdは閾
値判定手段Cから受けた所定の閾値以上のピーク値の周
数を計数することになり、計数出力を座標決定手段0と
誤測定検出手段rとに送出する。
値判定手段Cから受けた所定の閾値以上のピーク値の周
数を計数することになり、計数出力を座標決定手段0と
誤測定検出手段rとに送出する。
こうして座標決定手段eが閾値検出カウンタdの計数出
力を受けると、この座標決定手段eは閾値カウンタdの
閾値検出タイミングによってスタイラスペンわが示す座
標を決定し、外部に決定座標を出力する。
力を受けると、この座標決定手段eは閾値カウンタdの
閾値検出タイミングによってスタイラスペンわが示す座
標を決定し、外部に決定座標を出力する。
一方、誤測定検出手段fがIHjT検出力ウンクつの計
数出力を受けると、この誤測定検出手段fはXY方向の
スキャン用信号の何れか一走査中に両値検出カウンタd
のカラン1〜値が2以上になったときに、誤測定のステ
ータスを外部に出力する5従って、誤測定検出手段rか
ら誤測定のデスータスが外部に出力されたときには、座
標決定手段Cから決定座標が外部に出力されても、座標
決定手段Cの決定座標が無効とされる。
数出力を受けると、この誤測定検出手段fはXY方向の
スキャン用信号の何れか一走査中に両値検出カウンタd
のカラン1〜値が2以上になったときに、誤測定のステ
ータスを外部に出力する5従って、誤測定検出手段rか
ら誤測定のデスータスが外部に出力されたときには、座
標決定手段Cから決定座標が外部に出力されても、座標
決定手段Cの決定座標が無効とされる。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳■lに説明す
る。
る。
′;52図は本発明が適用された一実施例の座標入力装
置の要部構成を示すブロック図である。
置の要部構成を示すブロック図である。
この一実施例の座標入力装置にあっては、タブレットコ
ントローラは第2図に示すように、コントローラ11を
制御中枢として、コンパレータ12、カウンタ13.レ
ジスタ14及びシフトドライバ15を設けた構成であり
、その仙は第6図に示す構成と同様である。従って、こ
の一実施例の説明ではタブレット、スキャン用電極、ス
タイラス、アンプ及びローパスフィルタ等の各部品を第
6図の符号を用い述べる。
ントローラは第2図に示すように、コントローラ11を
制御中枢として、コンパレータ12、カウンタ13.レ
ジスタ14及びシフトドライバ15を設けた構成であり
、その仙は第6図に示す構成と同様である。従って、こ
の一実施例の説明ではタブレット、スキャン用電極、ス
タイラス、アンプ及びローパスフィルタ等の各部品を第
6図の符号を用い述べる。
そして、コンパレータ12はローパスフィルタ8の出力
の閾値を越えたピーク値を示すか否かを判定する。カウ
ンタ13はコンパレータ12で判定された閾値以上のピ
ーク値の個数を計数する。
の閾値を越えたピーク値を示すか否かを判定する。カウ
ンタ13はコンパレータ12で判定された閾値以上のピ
ーク値の個数を計数する。
レジスタ14はスキャニング開始時点から、ローパスフ
ィルタ8の出力が閾値を越えたピーク値を示すときまで
の時間を保持する。シフトドライバ15はX方向シフト
レジスタ4及びY方向シフトレジスタ5をコントロール
するもので、シフトクロック及び各シフトレジスタ4,
5のコントロール信号を出力する。
ィルタ8の出力が閾値を越えたピーク値を示すときまで
の時間を保持する。シフトドライバ15はX方向シフト
レジスタ4及びY方向シフトレジスタ5をコントロール
するもので、シフトクロック及び各シフトレジスタ4,
5のコントロール信号を出力する。
このような第2図に示す各部の制御中枢となるコントロ
ーラ11は、カウンタ13及びレジスタの内容から座標
データ及びステータスくノイズによる誤測定発生のステ
ータスを含む)を外部に出力する。
ーラ11は、カウンタ13及びレジスタの内容から座標
データ及びステータスくノイズによる誤測定発生のステ
ータスを含む)を外部に出力する。
上述したようにタブレットコントローラが適用された本
発明の一実施例のが種入力装置は、第3図に示すフロー
チャートに従って動作される。
発明の一実施例のが種入力装置は、第3図に示すフロー
チャートに従って動作される。
スキャニング開始となるときにカウンタ13が零にクリ
アされており、このスキャニング開始によってローパス
フィルタ8の出力がコンパレータ12に加わると、コン
パレータ12において、ローパスフィルタ8の出力が所
定の閾値以上のピーク値であるか否かの判断が行なわれ
る(ステップ301)。
アされており、このスキャニング開始によってローパス
フィルタ8の出力がコンパレータ12に加わると、コン
パレータ12において、ローパスフィルタ8の出力が所
定の閾値以上のピーク値であるか否かの判断が行なわれ
る(ステップ301)。
ローパスフィルタ8の出力が所定の閾値以上のピーク値
を示すと(ステップ301肖定)、カウンタ13がイン
クリメントされ(ステップ302)、インクリメント後
のカウンタ13が“2″になっていれば(スン7S03
肖定)、ノイズ誤測定が発生したとみなしてスキャニン
グを中止し、ノイズによる誤測定のステータスを出力す
る。
を示すと(ステップ301肖定)、カウンタ13がイン
クリメントされ(ステップ302)、インクリメント後
のカウンタ13が“2″になっていれば(スン7S03
肖定)、ノイズ誤測定が発生したとみなしてスキャニン
グを中止し、ノイズによる誤測定のステータスを出力す
る。
また、インクリメント後のカウンタ13が771 IT
ならば(ステップ303否定)、スキャン開始時点から
ローパスフィルタ8の出力が所定の閾値以上のピーク値
を示したときまでの時間をレジスタ14に入れる。
ならば(ステップ303否定)、スキャン開始時点から
ローパスフィルタ8の出力が所定の閾値以上のピーク値
を示したときまでの時間をレジスタ14に入れる。
続くステップ305でスキャニング終了でなければ〈ス
テップ305否定)、スキャニング継続となり(ステッ
プ306) 、ステップ301に戻る。
テップ305否定)、スキャニング継続となり(ステッ
プ306) 、ステップ301に戻る。
従って、ローパスフィルタ8の出力が所定の閾値以上の
ピーク値を示すときに(ステップ301肖定)、インク
リメント後のカウンタ13が′2′にならなければスキ
ャニングが終了となるまでステップ301〜306が繰
返される。
ピーク値を示すときに(ステップ301肖定)、インク
リメント後のカウンタ13が′2′にならなければスキ
ャニングが終了となるまでステップ301〜306が繰
返される。
また、ローパスフィルタ8の出力が所定の閾値よりも小
さい場合にtよ(ステップ301否定)、スキャニング
終了となるまでステップ301→ステップ305−→ス
テップ306が繰返される。
さい場合にtよ(ステップ301否定)、スキャニング
終了となるまでステップ301→ステップ305−→ス
テップ306が繰返される。
スキャニング終了後(ステップ30!M4定)、カウタ
13が1゛°ならば(ステップ30643m定)、座標
測定が正常に終了したとみなして、レジスタ14の内容
をX方向又はY方向の座標データとして出力する。
13が1゛°ならば(ステップ30643m定)、座標
測定が正常に終了したとみなして、レジスタ14の内容
をX方向又はY方向の座標データとして出力する。
また、スキャン終了後にカウンタ13が°0゛′ならば
(ステップ306否定)、スタイラス6がタブレット1
から離れ過ぎているために測定不可能であったとみなし
て測定不可能のステータスを出力する。
(ステップ306否定)、スタイラス6がタブレット1
から離れ過ぎているために測定不可能であったとみなし
て測定不可能のステータスを出力する。
なお、この一実施例において、座標測定が正常に終了ザ
るカウンタ13が1″のとき、スキャン電極からの電界
による本来の出力電圧に基づくローパスフィルタ8の出
力を模式的に図示すると、第4図に示すような波形とな
る。
るカウンタ13が1″のとき、スキャン電極からの電界
による本来の出力電圧に基づくローパスフィルタ8の出
力を模式的に図示すると、第4図に示すような波形とな
る。
また、座標測定に際して、ノイズによる誤測定発生とな
ると、カウンタ13が2゛′となり、このとき、ノイズ
によるローパスフィルタ8の出力と、スキャン電極から
の電界による本来の出力電圧に阜づくローパスフィルタ
8の出力とを模式的に図示すると、第5図に示すように
波形となる。
ると、カウンタ13が2゛′となり、このとき、ノイズ
によるローパスフィルタ8の出力と、スキャン電極から
の電界による本来の出力電圧に阜づくローパスフィルタ
8の出力とを模式的に図示すると、第5図に示すように
波形となる。
この場合には、上述したように、ノイズによる誤測定の
ステータスを出力することなる。
ステータスを出力することなる。
このようなことから、本発明が適用された−実旋削の座
標入力装置であれば、座標測定に際してノイズによる誤
測定が発生したときは、誤測定のステータスが外部に出
力することになるので、測定された座標を示すデータを
取扱う本体側では、誤った座標データを正常な座標値と
して取込むことが無くなる。
標入力装置であれば、座標測定に際してノイズによる誤
測定が発生したときは、誤測定のステータスが外部に出
力することになるので、測定された座標を示すデータを
取扱う本体側では、誤った座標データを正常な座標値と
して取込むことが無くなる。
また、測定開始(スキャン開始〉から測定終了までの時
間が均一化するので、本体側がタイミングをとりやすく
なる。
間が均一化するので、本体側がタイミングをとりやすく
なる。
また、上Jした一実施例では静電誘導方式のタブレット
が適用された座標入力装置の場合であるが、電磁誘導方
式、圧力センサ方式及び光方式等の他の方式のタブレッ
トで適用されたものの中で、スギャニングによって座標
測定しているものにも本発明を適用することができる。
が適用された座標入力装置の場合であるが、電磁誘導方
式、圧力センサ方式及び光方式等の他の方式のタブレッ
トで適用されたものの中で、スギャニングによって座標
測定しているものにも本発明を適用することができる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の座標入力装置であれば、ノ
イズによる座標の誤測定が発生したときに、タブレット
コントローラが誤測定データを正しい座標測定データと
して出力することを防止し、ノイズによる工S1測定発
生の情報を外部に出力することができる。
イズによる座標の誤測定が発生したときに、タブレット
コントローラが誤測定データを正しい座標測定データと
して出力することを防止し、ノイズによる工S1測定発
生の情報を外部に出力することができる。
第1図は本発明の座標入力装置の要部概要を示す機能ブ
ロック図、第2図は本発明が適用された一実施例の座標
入力装置の要部構成を示すブロック図、第3図はその一
実施例の作用を示すフローチャート、第4図はその一実
施例の測定正常時のローパスフィルタ出力の波形を模式
的に示す図、第5図はその一実施例の誤測定発生時の【
コーパスフィルタ出力の波形を模式的に示づ図、第6図
は座標入力装置の全体の概要を示す図、第7図はスキャ
ン用電極とシフトレジスタとの接続構成を示す図、第8
図は座標入力装置の動作原理を示す図、第9図及び第1
0図は従来の座標入力装置の説明図である。 a・・・タブレット b・・・スタイラス C・・・閾値判定手段 d・・・閾値検出力1クンタ e・・・座標決定手段 f・・・誤測定検出手段 1・・・タブレット 2.3・・・スキャン用電極 4.5・・・シフトレジスタ 6・・・スタイラス 7・・・アンプ 8・・・ローパスフィルタ 9・・・タブレットコントローラ 11・・・コントローラ 12・・・コンパレータ 13・・・カウンタ 14・・・レジスフ 15・・・シフトドライバ 代/l臥fF埋上三好保男 b(スタイラス) 第 1[1
ロック図、第2図は本発明が適用された一実施例の座標
入力装置の要部構成を示すブロック図、第3図はその一
実施例の作用を示すフローチャート、第4図はその一実
施例の測定正常時のローパスフィルタ出力の波形を模式
的に示す図、第5図はその一実施例の誤測定発生時の【
コーパスフィルタ出力の波形を模式的に示づ図、第6図
は座標入力装置の全体の概要を示す図、第7図はスキャ
ン用電極とシフトレジスタとの接続構成を示す図、第8
図は座標入力装置の動作原理を示す図、第9図及び第1
0図は従来の座標入力装置の説明図である。 a・・・タブレット b・・・スタイラス C・・・閾値判定手段 d・・・閾値検出力1クンタ e・・・座標決定手段 f・・・誤測定検出手段 1・・・タブレット 2.3・・・スキャン用電極 4.5・・・シフトレジスタ 6・・・スタイラス 7・・・アンプ 8・・・ローパスフィルタ 9・・・タブレットコントローラ 11・・・コントローラ 12・・・コンパレータ 13・・・カウンタ 14・・・レジスフ 15・・・シフトドライバ 代/l臥fF埋上三好保男 b(スタイラス) 第 1[1
Claims (1)
- (1)タブレット上で移動させるスタイラスからX方向
の座標を走査するX方向スキャン用信号とY方向の座標
を走査するY方向スキャン用信号とを受けて、その各ス
キャン用信号が所定の閾値以上のピーク値であるかを判
定する閾値判定手段と、前記閾値判定手段で判定された
閾値以上のピーク値の個数を計数する閾値検出カウンタ
と、前記閾値検出カウンタの閾値検出タイミングによっ
て前記スタイラスペンが示す座標を決定し、外部に決定
座標を出力する座標決定手段と、前記XY両方向のスキ
ャン用信号の何れかによってスキャン中に前記閾値検出
カウンタのカウント値が2以上になったとき、誤測定の
ステータスを外部に出力する誤測定検出手段とを有する
ことを特徴とする座標入力装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61222155A JPS6378221A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 座標入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61222155A JPS6378221A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 座標入力装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6378221A true JPS6378221A (ja) | 1988-04-08 |
JPH0519168B2 JPH0519168B2 (ja) | 1993-03-16 |
Family
ID=16778042
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61222155A Granted JPS6378221A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 座標入力装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6378221A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0271249A (ja) * | 1988-09-06 | 1990-03-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線照射野判定方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5525115A (en) * | 1978-08-11 | 1980-02-22 | Hitachi Ltd | Character code generator |
JPS5556230A (en) * | 1978-10-20 | 1980-04-24 | Hitachi Seiko Ltd | Coordinate detector |
-
1986
- 1986-09-22 JP JP61222155A patent/JPS6378221A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5525115A (en) * | 1978-08-11 | 1980-02-22 | Hitachi Ltd | Character code generator |
JPS5556230A (en) * | 1978-10-20 | 1980-04-24 | Hitachi Seiko Ltd | Coordinate detector |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0271249A (ja) * | 1988-09-06 | 1990-03-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線照射野判定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0519168B2 (ja) | 1993-03-16 |
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