JPS6376572A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は、光走査方法に関する。

（従来技術） 半導体レーザーからの変調光を、回転多面鏡やホログラ
ムスキャナー等の回転偏向器で偏向させる方式の光走査
方式は良く知られている。回転偏同盟は、一般に、光束
を、等角速度的に偏向させるので、被走査面上における
走査速度を一定にするために、一般にはｆθレンズが用
いられている。

しかし、ｆθレンズは特殊なレンズであシ、製造コスト
も高い。従って、できればｆθレンズを用いずにすませ
たいという要望もある。また、近時、光束の走査角速度
が一定でないような、特殊なポリゴンミラーも提案され
つつあり（特願昭５９−２７４３２４号）、このような
場合には、ｆθレンズを用いても、走査速度は一定とな
らないので、ｆθレンズの使用ができない。

このような事情に鑑みて、近来、ｆθレンズを用いずに
、光走査を行なう光走査方式が意図されつつある。例え
ば、第６図は、このような光走査方式の走査装置の１例
を示している。

光束は、レンズ８０を介して、回転偏向器たる回転多面
鏡８２に入射し、その反射面のひとつにより反射されて
、光導電性の感光体８４に入射し、レンズ８００作用で
感光体上に集束する。回転多面鏡８２を矢印方向へ等速
回転させれば、光束は、第６図で左方から右方へ向って
偏向し、感光体８４を、その母線方向へ、左方から右方
へと光走査する。なお、符号８６は、受光素子を示し、
この受光素子８６は、光走査の起点の同期をとるのに用
いられる。

回転多面鏡８２の回転により、光束を反射する反射面が
切換るにつれて、偏向すなわち、光走査が周期的に繰返
されることになる。

ところで、光走査の際、１画素の情報書込にわりあてら
れる時間なＴとして、１／Ｔで与えられる周波数ｆＫを
もつクロックを画像走査クロックという。

ｆθレンズを用いない光走査方式では、走査光による、
被走査面上の走査速度は一定とならないのであるから、
画像走査クロックの周波数ｆＫを一定にしておくと、書
き込まれた情報に歪みが生じてしまう。かかる情報の歪
みを除去するにシま、被走査面上における走査速度の変
化に応じて、上記周波数ｆＫを変化させる必要がある。

すなわち、走査速度が太きいところでは、それに応じて
、画１象走査クロンクの周波数ｆＫを高くし、走査速度
の小さいところでは、周波数ｆＫを低くしなげればなら
ない。

このように、画像走査クロックの周波数ｆＫを、走査速
度に応じて変化させることによって、書き込まれた情報
画像の歪みを有効に軽減させることができる。

ところで、先にのべたように、周波数ｆＫは、１画素の
情報書込みに側渦られた時間Ｔの逆数である。従って、
周波数ｆＫが変化することは、時間Ｔが変化することに
対応する。そうすると、光走査の際、走査光の強度が一
定であると、走査速度の大きいところ（時間Ｔが短かい
）と、小さいところ（時間Ｔが長い）で、１画素の書込
みに使用される光エネルギーに差異を生ずることにな）
、光走査による書込の際、走査速度の変化に従って、１
画素あたシの露光光量が変化し、得られる情報画像には
、走査速度の変化に応じた像濃度変化が生ずることにな
る。

発明者らは、上述した事情に鑑みて、上記の如き、ｆθ
レンズを用いない光走査方式において、走査速度の変化
に起因する、情報画像の歪み、像濃度変化を有効に軽減
しうる光走査方法を、先に提案した（特願昭６０−１７
２１５５号）。

しかし、光源として用いられる半導体レーザーは、その
微分効率に統計的なばらつきがあり、こρため、目的と
するところを正しく達成するためには、個々の光走査装
置ごとに光源たる半導体レーザーの微分効率に応じた調
整が必要となる。

（目　　的） 本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは、半導体レーザーにおける微
分効率のばらつきや経時変化に拘らず、走査速度の変化
にもとづく、像濃度の不均一を、自動的かつ有効に軽減
しつる、新規な光走査方法の提供にある。

（構　　成） 以下、本発明を説明する。

本発明の光走査方法は、半導体レーザーを光源とし、こ
の半導体レーザーからの変調光を回転偏向器、すなわち
回転多面鏡やホログラムスキャナ−等で偏向させ、被走
査面を、ｆθレンズを用いることなく、走査する光走査
方法であって、その特徴は、以下に述べるところにある
。

すなわち、光書込走査時における半導体レーザーの発光
強度を第１の基準値に設定するためのデジタルの基準値
信号を、第１の出力強度制御回路によって得る。また、
上記発光強度を第２の基準値に設定するためのデジタル
の補正幅制御信号を、第２の出力強度制御回路によって
得る。

画像走査クロック周波数制御回路により、被走査面上で
の主走査の走査速度に応じて周波数が連続的に変化する
画像走査クロックを発生させる。

そして、画像走査クロック周波数制御回路において発振
器からの基準クロックに対する発馬率が切換られるだび
に、アップ／ダウンカウンタ−を駆動して、デジタルの
補正信号を得る。

この補正信号は、第１のＤ／Ａ変換器によりアナログ信
号にアナログ変換される。補正幅制御信号は、第２のＤ
／Ａ変換器によりアナログ変換される。また、基準値信
号は第３のＤ／Ａ変換器によりアナログ変換される。

第１のＤ／Ａ変換器の利得が、アナログ変換された補正
幅制御信号により調整される。

アナログ変換された補正信号と、アナログ変換された基
準値信号とは、演算回路に入力され、基準値信号が、補
正信号により演算変調され、これによって、走査速度の
変化に比例的に対応して階段的に変化するアナログ信号
が得られる。

このアナログ信号を、変調信号によって変調しつつ、半
導体レーザーを駆動し、光書込走査を行う。

ここで、第５図を参照する。図において、光書込走査領
域は、主走査により１ラインが書き込まれる時間領域を
示す。回転偏向器で偏向された変調光で、光書込走査を
行う場合、ｆθレンズを用いないと、被走査面での走査
速度は、第５図の如きものとなシ、光書込を行うライン
上の両端部で高速であり、中央部で低速となる。従って
、このような走査速度の変化に拘らず、記録画像に歪み
を生じないようにするためには、１画素の情報書込みに
割当られた時間Ｔが、上記ライン両端部で小さく、中央
部では大きくなるようにしなげればならない。そして、
このような状況において、記録画像の像濃度を主走査方
向において、均一化するためには、半導体レーザーの、
発光強度を１図示の如く、上記ライン両端部で大きく、
中央部で小さくしなげればならない。図の如く、ライン
両端部での発光強度をＰ（ロ）、中央部でのそれをＰ　
（Ｂ）とする。

上記像濃度を、主走査方向において理想的に均一化する
には、上記時間Ｔと、発光強度Ｐとの積Ｐ−Ｔが、画素
位置に拘らず一定となるようにすればよい。

周知の如く、半導体レーザーの発光強度Ｐは、駆動電流
工とともに直線的に変化するから１．駆動電流■を制御
することで１発光強度Ｐを制御することができる。

ここで、第４図を参照すると、第４図（Ｉ）の直線Ｘ、
Ｙは、半導体レーザーの発光強度Ｐと駆動電流■との対
応関係を示している。直ｑ３Ｘ、Ｙの傾きを、微分効率
といい、ηであられす。この微分効率は、同一種の半導
体レーザーでも一定ではなく、第４図（ＩＩ）に示すよ
うに統計的にばらつく。

第４図（１）に、Ｘで示す如きＰ−Ｉ特性を有する半導
体レーザーの場合、主走査ライン中央部で、Ｐ（Ｂ）の
発光強度をうるためには、発光強度Ｐ（Ａ）のときの駆
動電流よシ△ＩＸだけ駆動電流を小さくすればよいが、
Ｐ−Ｉ特性が第４図（Ｉ）のＹの如きものだと、発光強
度Ｐ（８）のときの駆動電流よりも、△Ｉｙだけ駆動電
流を小さくしないと、発光強度ＰＱ３）を実現できない
。特願昭６０−１７２１５５号に提案された方法では、
主走査ラインの中央部で、所望の発ｖ：、強度Ｐ（Ｂ）
を実現するのに、光走査装置ごとに、半導体レーザーの
微分効率に応じて、調整を行う必要があった。

以下、具体的な実施例に即して説明する。

第１図は、本発明の光走査方法のための回路例を示して
いる。

まず、基準値信号の発生につき説明する。

基準値信号は、主走査ラインの両端部での光書込走査に
必要な、発光強度Ｐ囚を実現するのに必要な信号である
。

まず、半導体レーザーを駆動するためのＬＤ駆動回路１
２に、一定の駆動信号（図示されず）が印加される。す
ると半導体レーザー１０から、一定強度のレーザー光が
、前方及び後方へ射出される。

さて、半導体レーザー１０かも後方へ射出されたレーザ
ー光は、ホトセンサー１４に受光される。ホトセンサー
１４は、受光した光の強度に比例した電流を出力し、こ
の電流は増幅器１６により電圧に変換され、比較器１８
．１９に電圧値ＶＭとして印加され、基準電圧Ｖｒｅｆ
ｌ　、　Ｖｒｅｆ２と比較される。比較器１８の出力電
圧は、電圧ＶＭとＶｒ　ｅ　ｆ　１の大小関係に応じて
高レベルまたは低レベルとなシ、アップ／ダウンカウン
タ−２０（以下、単にカウンター２０と称する）のカウ
ントモードを制御する。例えば、Ｖ、、　＜Ｖｒｌｌ！
ｆｌのとき、すなわち、半導体レーザー１０の出力強度
が基準値Ｐ（Ａ）に達していないときは、比較器１８の
出力が低レベルとなり、カウンター２０はアンプカウン
ターとして作動するカウントモードすなわちアップモー
ドとなり、ＶＭ　＜　Ｖｒｅｆｌのときは逆にダウンカ
ウンタ−として動作するカウントモードすなわちダウン
モードとなる。

フリップフロップ２８は、スタンバイモードの始めに、
パワーセット信号によりセノトされて出力信号を生じ、
カウンター２０のディスエーブル状態を解除する。そし
て、カウンター２０は、クロックパルス発生器２４から
のクロックパルスを比較器１８からの人力に応じてアン
プまたはダウンカウントする。

カウンター２０のカウント出力は、第３のＤ／Ａ変換器
４１にて、アナログ信号に変換され、加算オＪ４２を介
して、ＬＤｉ駆動回路１２に印加され１．駆動信号を変
化させる。これによって半導体レーザー１０の発光強度
が変化する。

すなわち、カウンター２０の計′：１敏が徐々に増加（
または減少）するにともなって、十縛体レーザー１０か
らのレーザー光の強度は徐々に増加（または減少）し、
比較器１８に印加される電圧ＶＭは、徐々に増加（また
は減少）する。

電圧ｖＭが徐々に変化して、Ｖｒｅｆｌとの大小関係が
反転すると、比較器１８の出力も、低レベルかう高レベ
ル（マタハ高しヘルカラ低レベル）へと反転する。この
とき、エツジ検出回路２２が、比較器１８の出力の立上
り（または立下シ）のエツジを検出して、フリップフロ
ップ２８をリセットし、カウンター２０をディスエーブ
ル状態に復帰させる。

従って、カウンター２０は、上記比較？ｇ　１８の出力
反転の際の計数値を保持し、従って、半導体レーザー１
０の駆動電流の大きさが、そのまま保持される。このと
き実質的にＶＭ−Ｖｒ　ｅ　ｆ　１であシ、半導体レー
ザー１０の出力強度は、基準電圧ｖｒｅｆｌを通じて設
定された第１の基準値Ｐ（Ａ）に設定される。

このように、半導体レーザー１０の発光強度が第１の基
準値Ｐ囚に設定きれた状態で、カウンター２０から出力
されるデジタル信号が基準値信号である。

なお、エツジ検出回路２２は、比較器１８の出力が低レ
ベルから高レベルへ反転したときにのみ、カウンター２
０をディスエーブル状態にするように構成してもよい。

このようにすると、比較器１８の出力レベルが低レベル
から高レベルへ反転するときは、上記の場合と同じであ
るが、上記出力レベルが高レベルから低レベルへと反転
するときには、以下の如くになる。すなわち、高レベル
から低レベルに反転すると、カウンター２０は、ディス
エーブル状態が解除されたまま、アップカウンターとし
て動作することになる。そして、半導体レーザー１０の
駆動電流は増加し、比較器１８の出力が低レベルから高
レベルへと反転すると、エツジ検出回路２１がその立上
りエツジを検出して、カウンター２０ヲデイスエープル
状態にして、その計数ｆｉを保持させるのである。

また、カウンター２０は、比較器１８の出力が低レベル
でダウンカウンタ−として作動し、上記出力が高レベル
でアップカウンターとして作動するようＫし、その計数
値と半導体レーザー１０の、駆動電流が反比例するよう
にしてもよい。エツジ検出回路２２、カウンター２０に
関して、ここでのべたことは、エツジ検出回路２３、カ
ウンター２１についてもあてはまる。

なお、フリップフロップ２８がリセットされるとき、カ
ウンター２０がディスエーブル状態に復帰するとともに
、デジタル値設定回路４０には、モード設定信号が人力
して、モード設定を行う。

上述したところから明らかなように、ホトセンサー１４
、増＠器１６、比較器１８、カウンター２０、エツジ検
出回路２２、フリップフロップ２８．第３のＤ／Ａ変換
器４１、加算器４２、ＬＤ駆動回路１２は、第１の出力
強度制御回路を構成する。

さて、エツジ検出回路２２の出力は、前述の如く、７１
Ｊ　ツブフロップ２８をリセットするが、それと同時に
、フリップフロップ２９をセットする。これにより、フ
リップフロップ２１は出力を生じ、カウンター２１のデ
ィスエーブル状態を解除する。従って、半導体レーザー
１０の発光強度が、第１の基準値Ｐ囚を実現すると同時
に、カウンター２１は、比較器１９の出力が低レベルか
高レベルかに応じて、クロックパルス発生器２４からの
クロックパルスをアップもしくはダウンカウントする。

このカウンター２１のカウント出力は、第２のＤ／Ａ変
換器３３でアナログ信号にアナログ変換され、増幅器３
５、第１のＤ／Ａ変換器３１、加算器４２を介して、Ｌ
Ｄ駆動回路１２に印加される。これにより、カウンター
２１の計数値の増減にともない、半導体レーザー１０か
らのレーザー光の発光強度も増減する。そして、基準電
圧Ｖｒｅｆ２を通じて設定された、発光強度の第２の基
準値Ｐ（Ｂ）が実現されると、その事実が、比較器１９
の出力のレベル反転としてエツジ検出回路２３により検
出ちれ、エツジ検出回路２３は出力を発してフリップフ
ロップ２９をリセットする。これにより、カウンター２
１はディスエーブル状態に復帰し、その出力は、上記第
２の基準値Ｐ（９）が実現されたときの出力値を維持す
る。

このときの、カウンター２１の出力が、補正幅制御信号
である。従って、ホトセンサー１６．比較器１９、エツ
ジ検出回路２３、フリップフロップ２つ、カウンター２
１、Ｄ／Ａ変換器３３，３１、増幅器３５、加算器４２
、ＬＤ　、駆動回路１２は第２の出力強度制御回路を構
成する。

第１、第２の基準値Ｐ（２）、Ｐ（Ｂ）は、光走査装置
の設計条件として定まるが、Ｐ（Ａ）−Ｐ■）を与える
、駆動電流差△■は、半導体レーザーの微分効率により
異なる。従って、補正幅制御信号の大きさは、半導体レ
ーザー１０の微分効率ηと対応関係にある。

このようにして得られた補正幅制御信号は、第２のＤ／
Ａ変換器３３によりアナログ変換されてアナログ信号と
なり、増幅器３５を介して第１のＤ／Ａ変換器３１に印
加され、同変換器３１の利得を、補正幅制御信号の大き
さに比例して変化させる。

上記、基泡値信号、補正幅制御信号は、パワーセットの
行なわれるたびに変動することはありうるが、一旦パワ
ーセットが行なわれたのちの、次回のパワーセットまで
変化することはない。

次に、補正信号の発生につき説明する。

第２図は、第１図における画像走査クロック周波数制御
回路３８、デジタル値設定回路４０の具体的な回路の１
例を示している。

第２図において、アップ／ダウンカウンタ−６８とＤ／
Ａ変換器３１とを除いた部分は、画像走査クロック周波
数制御回路を構成し、この制御回路は、出願人が先に％
願昭６０−９２９６０号において提案したのと同じもの
である。この画像走査クロック周波数制御回路において
、位相検波回路５８とローパスフィルター６０、電圧制
御発振器６２、分周ａ′；６４は、フェイズ・ロックド
・ループ回路（以下ＰＬＬ回路と称する）を構成する。

画像走査クロック周波数制御回路から上記ＰＬＬ回路を
のぞいた部分と、アップ／ダウンカウンタ−６８とは、
第１図におけるデジタル値設定回路４０を構成している
。

まず、画像走査クロック周波数制御回路の働きにつき、
簡単に説明する。

発振器５４から発せられる周波数ｆＯの基準クコツクは
、分周器５６により分周されて、周波数ｆｏ／Ｎの位置
制御用クロックとなり、制御回路１６およびＰＬＬ回路
の位相検波回路５８に入力する。

位相検波回路５８は、上記位置制御用クロックと分周器
６４から人力するクロックとの位相を比較し、その位相
差をパルス信号としてロー・シスフィルタ−６０に出力
する。ローパスフィルター６０を介して、上記位相差の
情報が電圧制御発振器６２に入力すると同発振器６２は
、ローパスフィルター６０の出力電圧に応じた周波数の
クロックを出力する。

このクロックが画像走査クロックとなる。画像走査クロ
ックは分周器６４で分周され、クロックとして位相検波
回路５８へ印加され、位置制御用クロックと位相比較さ
れる。

分周器６４０分周率は、これをＭとすると固定値であり
、この分周器６４から位相検波回路５８に印加されるク
ロックと位置制御用クロック（周波数ｆ。

−）との位相差が変化しないとき、電圧制御発振器６２
から発せられる画像走査クロックの周波数ｆＫは、ｆＫ
二ｆｏ・−である。

この状態で、分周器５６の分周率をＮからＮ□に切換る
と、位置制御用クロックの周波数はｆＯ・−となり、画
像走査クロックの周波数ｆｘは、ｆＯ・従って分周器５
６の分周率を段階的に切換ることにより、周波数が連続
的に変化する画像走置クロックが得られる。

さて、制御回路５０は、分周器５６における分周率のプ
リセット値を、アップ／ダウンカウンタ−５２（以下、
単にカウンター５２という）から出力させるだめのクロ
ックＣＫ、ディスエーブル状態を解除する信号■、アッ
プ／ダウンのモードを設定する信号Ｕ／Ｄを発する。な
お、制御回路５０、分周器５６には、受光素子８６（第
６図）から得られる同期信号が印加される。

アップ／ダウンのモードは、走査速度の極値近傍でアッ
プモード（もしくはダウンモード）からダウンモード（
もしくはアップモード）に切かえるように信号Ｕ／Ｄの
発生が行なわれる。

クロックＣＫが人力するとカウンター５２は、プリセッ
ト値を更新して、分周器５６の分周率を切換る。切換幅
△Ｎは一定である。

さて、光走査が行なわれる走査領域は、予め、複数のブ
ロックＢＬＩ、ＢＬ２．・・・＋　ＢＬｉｔ・・・、　
ＢＬＫに分割されており、各ブロックＢＬｉ（ｉ＝１〜
Ｋ）ごとに、数値Ｍ１とｎｌ（ｉ＝１〜Ｋ）とが定めら
れている。

そして、１番目のブロックＢＬｌでは、位置制御用クロ
ックが、匍］御回路５０にＭｉパルス人力するごと番Ｃ
１制御回路は５０はクロックＣＫを発生させることによ
って、分周器５６の分周率がΔＮだけ切換る。ブロック
Ｂｌｉでは、クロックＣＫの発生はｎｉ回生ずる。従っ
てブロックＢＬｉは位置制御用クロックのＭｌ・胴側に
対応する。そしてブロックＢＬｉを光走査する間に、分
周率はｎｉ・ΔＮだけ変化する。

ブロック数にや、Ｍｉ、ｎｉの値は、電圧制御発振器６
２から発生する画像走査クロックの周波数ｆｐｃが走査
速度変化に伴う理想の周波数変化を良く近似するように
、光走査装置の設計条件に応じて実験的あるいは理論的
に定められる。

第７図に１例を示す。図において曲線は、理想上の画像
走査クロックｆＫ（、（回転偏向器としては、特願昭５
９−２７４３２４号で提案された特殊な回転多面鏡が想
定されている。この回転多面鏡では、回転角αに応じて
、光束の偏向角θは、　ｓｉｎθ＝（Ｉ−−ｓｉｎα）
なる関係を満足する。Ａ、Ｒは、回転多面鏡の形態上の
定数である。）を、また、階段状のグラフ線は、周波数
ｆＫ＋−”−・ｆＯを、それそれ示している。分周率Ｎ
を段階的に切換ることにより階段状に変化するのである
。この折１ｆＫ１の下の数字５，６，１０，１６は、図
の右端を定食開始側として、それぞれＭｌ　、　Ｍ２　
ｔ　、Ｍ３　、　Ｍ４に対応している。図から明らかな
ようにｎ１＝６．ｎ２＝９．ｎ３＝３．ｎ４＝５である
。この図は対称図形の半分のみを示しており、対称性か
ら明らかなように、ブロック数には７、Ｍ５＝　１０　
、　　ｎ５　＝３　。

Ｍ６　＝　６　ｒ　　ｎ６　＝　９　＋　Ｍ７　＝　５
　＋　　ｎ７　＝　６である。また、分周率Ｎの切換幅
ΔＮ＝１である。分周率が段階的に切換られるに従い、
画像走査りｏツクは連続的に変化して、理想上の周波数
変化ｆＫｏ良く近似する。ちなみに、分周率Ｎは、走査
領域の両端６９、中央部で８９である。

以上が、画像走査クロック周波数制御回路の説明である
。

ここで、再び第２図にもどって、補正信号の発生につき
説明する。

制御回路５０で発生する信号ＥＮ、ＣＫ、Ｕ／Ｄは、カ
ウンター５２に印加されると同時に、アップ／ダウンカ
ウンタ−６８（以下、単にカウンター６８ト称する。）
に印加される。従って、カウンター６８と、カウンター
５２とは、同時に、ディスエーブル状態を解除きれ、カ
ウントを行ない、アップモード、ダウンモードの切換を
行なう。従って、カウンター６８は、画像走査クロック
周波数制御回路にお４ける、発振器５４かもの基準クロ
ックに対する分周率Ｎが切換られるたびに駆動されてカ
ウントを行ない、カウント量に応じて階段的に変化する
デジタルの信号を出力する。この信号が補正信号である
。これまでの説明で明らかなように、カウンター６８は
第１図におけるデジタル値設定回路４０の実体的部分で
ある。

この補正信号は、上に説明した例では、カウンター５２
．６８のアップ／ダウンモードの切換が同じであるので
、第５図に示すように、走査速度の太きいところで大き
く、走査速度の小さいところで小さ込。

そこで、この補正信号によう、前述の基準値・信号を演
算変調する。

すなわち、補正信号は、第１のＤ／Ａ変換器３１でアナ
ログ信号に変換され、加算器４２において、基準値信号
を加算的に演算変調する。

かくして、走査速度の変ｆヒに比例的に対応して階段的
に変化するアナログ信号が得られ、ＬＤ駆動回路１２で
は、このアナログ信号が、画像信号である変調信号（Ｉ
、ＤＩ駆動回路１２に印加きれる。）で変調される。こ
のようにして、半導体レーザー１０を駆動することによ
り、光走査領域における、走査速度の太きいところでは
、半導体レーザーの発光強度が大きく、走査速度の小さ
いところでは、上記発光強度が小さくなる（ただし、発
光強度の変化は階段的である）ので、走査方向にわたる
露光量の不均一は有効に軽減されることになる。

上述の説明から明らかなように、基準値信号は、半導体
レーザー１０の発光強度の基準値Ｐ（イ）（主走査のラ
インの両端での発光強度）にもとづいて決定され、補正
信号は、光走査速度の変化に応じて決定されるから、こ
れら基準値信号、補正信号は、どちらも、半導体レーザ
ーの微分効率ηに対する情報を含んでいない。

従って、第１のＤ／Ａ変換器３１の利得が一定であると
、光書込走査において、主走査ラインの中央部を走査す
るときの、発光強度は、ηのばらつきや、経時的変動に
よって、所期の強度Ｐ（Ｂからずれてしまう。これによ
って、半導体レーザーの発光強度は、主走査ライン中央
部でのずれを最大として、光書込走査領域にわたってず
れること洗なる。

しかるに、本発明では、上記微分効率ηに関する情報を
含んでいる補正幅制御信号により、微分効率に応じて、
第１のＤ／Ａ変換器３１の利得を調整して、上記中央部
を走査するときの、発光強度Ｐ（Ｅ）を実現するので、
光書込走査領域にわたって、所望の発光強度を実現でき
るのである。

第３図には、補正信号を得るだめの別の回路例を示す。

この例では、画像走査クロック周波数制御回路において
、分局率の段階的な切換の際：価、駆動されるアップ／
ダウンカウンタ−５２の出力自体を演算回路７０に印加
し、所定値と組合せて必要な演算処理例えば加算あるい
は減算の処理を行なう　゛ことにより所望の補正信号を
得るようにしている。

第２図、第３図において、モード設定信号は、出力強度
設定時の、補正信号用のＤ／Ａ変換器３１が、半導体レ
ーザーの第１、第２の出力強度制御回路の働きに寄与し
ないようにデジタル値設定回路４０（第１図）を制御し
、まだ、光走査時には、基準値信号用のＤ　／　Ａ変換
器４１、補正幅制御信号用のＤ／Ａ変換器３３の出力を
保持するように、アップ／ダウンカウンタ−２０，２１
を制御する。

（効　果） 以上１本発明によれば、新規な光走査方法を提供できる
。本発明の光走査方法は上記の如くに構成されているの
で、ｆθレンズを用いないにもかかわらず、また、半導
体レーザーの微分効率のばらつきや変動にも拘らず記録
画像における歪みや濃度むらを有効に除去して、光走査
を行うことができる。

また、補正信号もデジタル的に発生させるので、その発
生回路をコストの低いＩＣで構成でき、信頼性も高い。

なお、基準値信号を補正信号によ）演算変調するための
演算回路は、実施例の加算回路に限らず、減算回路、乗
算回路、除算回路を利用することもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明を実施するための回路の１例を示すブ
ロック図、第２図は、補正信号を発生させるための回路
の１例を示すブロック図、第３図は、補正信号を発生さ
せるだめの回路の別個を示すブロック図、第４図（ま１
発明の解決しようとする問題点を説明するための図、第
５図は、走査遮塵と補正信号の対応を説明するための図
、第６図は１本発明を光走査方式を行うための光学配置
の１例を示す図、第７図は、画像走査クロック周波数制
御回路の働きを説明するための図である。 １０・・・半導体レーザー、１４・・・ホトセンサー、
３１・・・第１のＤ／Ａ変換器、３３・・・第２のＤ／
Ａ変換器、４１・・・第３のＤ／Ａ変換器。 ７０ツ／ う　５　因

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 半導体レーザーからの変調光を回転偏向器で偏向させ、
   被走査面を、ｆ＾θレンズを用いることなく走査する光
   走査方法であつて、 第１の出力強度制御回路により、光書込走査時における
   半導体レーザーの発光強度を第１の基準値に設定するた
   めのデジタルの基準値信号を得、第２の出力強度制御回
   路により、光書込走査時における半導体レーザーの発光
   強度を第２の基準値に設定するためのデジタルの補正幅
   制御信号を得、 画像走査クロック周波数制御回路により、被走査面上で
   の走査速度の変化に応じて周波数が連続的に変化する画
   像走査クロックを発生せしめ、上記画像走査クロック周
   波数制御回路において発振器からの基準クロックに対す
   る分周率が切換られるたびに、アップ／ダウンカウンタ
   ーを駆動して、デジタルの補正信号を得、 この補正信号をＤ／Ａ変換する第１のＤ／Ａ変換器の利
   得を、第２のＤ／Ａ変換器によりアナログ変換された上
   記補正幅制御信号により調整し、上記第１のＤ／Ａ変換
   器によりアナログ変換された補正信号と、第３のＤ／Ａ
   変換器によりアナログ変換された上記基準値信号とを、
   演算回路に入力し、上記基準値信号を上記補正信号で演
   算変調することにより、上記走査速度の変化に比例的に
   対応して階段的に変化するアナログ信号を得、このアナ
   ログ信号を変調信号で変調しつつ、半導体レーザーを駆
   動することを特徴とする、光走査方法。