JPS6373180A - 磁気デイスクの突起検出方法 - Google Patents
磁気デイスクの突起検出方法Info
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- JPS6373180A JPS6373180A JP21719486A JP21719486A JPS6373180A JP S6373180 A JPS6373180 A JP S6373180A JP 21719486 A JP21719486 A JP 21719486A JP 21719486 A JP21719486 A JP 21719486A JP S6373180 A JPS6373180 A JP S6373180A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 208000003618 Intervertebral Disc Displacement Diseases 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気ディスク上の微少突起を高精度で検出す
るための方法に関する。
るための方法に関する。
磁気ディスク上の突起を検出するための従来技術として
、例えば、特開昭５５−２８５２６号公報等に記載され
た技術がある。この従来技術は、回転する磁気ディスク
上の微少突起部と磁気ヘッドとの接触により発生する超
音波を検出する超音波検出素子を磁気ヘッドに設け、こ
の検出素子の出力をアナログ比較器に入力し基準値を変
えて比較することにより、前記突起の数とその大きさを
検出するものであり、磁気ディスク装置の障害防止に役
立つものである。
、例えば、特開昭５５−２８５２６号公報等に記載され
た技術がある。この従来技術は、回転する磁気ディスク
上の微少突起部と磁気ヘッドとの接触により発生する超
音波を検出する超音波検出素子を磁気ヘッドに設け、こ
の検出素子の出力をアナログ比較器に入力し基準値を変
えて比較することにより、前記突起の数とその大きさを
検出するものであり、磁気ディスク装置の障害防止に役
立つものである。
１般に、圧電素子を設けたヘッドを浮上させて磁気ディ
スクの突起を検出する場合、圧電素子は、ヘッドが突起
に接触したときに発生する電圧出力以外に、ヘッドが突
起に接触していないときにも微少の電圧出力を発生する
。このヘッドが突起に接触していないときの圧電素子か
らの電圧出力（以下、ベース出力という）は、磁気ディ
スクの回転時のフラッタおよび微少なうねり等により、
ヘッドに振動が加えられることにより発生するものであ
り、ディスクの周速の相異により内周部に比較して外周
部で大きくなることが知られている。
スクの突起を検出する場合、圧電素子は、ヘッドが突起
に接触したときに発生する電圧出力以外に、ヘッドが突
起に接触していないときにも微少の電圧出力を発生する
。このヘッドが突起に接触していないときの圧電素子か
らの電圧出力（以下、ベース出力という）は、磁気ディ
スクの回転時のフラッタおよび微少なうねり等により、
ヘッドに振動が加えられることにより発生するものであ
り、ディスクの周速の相異により内周部に比較して外周
部で大きくなることが知られている。
前述の従来技術では、既知の大きさの突起をヘッドに接
触させ、このときの圧電素子のピーク電圧出力をもとに
、比較のための基準レベルを設定しており、前述したベ
ース出力が、ディスクの内周と外周とで異なる。すなわ
ち、ディスク上のヘッド位置に応じて変化する点に関す
る配慮が何らなされていない、このため、前述の従来技
術は、ベース出力の小さい部分において基準レベルを設
定すると、ベース出力が大きい部分では基準レベルがベ
ース出力より小さくなってしまい、また、ベース出力の
大きい部分で基準レベルを設定すると、ベース出力の小
さい部分では、ヘッドと突起が接触したときの検出出力
が基準レベルより小さくなってしまうという問題点があ
った。すなわち、前述の従来技術は、圧電素子のベース
出力に対する配慮がなされていなかったため、ベース出
力をディスクの突起として検出したり、突起を検出でき
ない場合が生じたりして、ディスクの突起を正確に検出
できないという問題点があった。
触させ、このときの圧電素子のピーク電圧出力をもとに
、比較のための基準レベルを設定しており、前述したベ
ース出力が、ディスクの内周と外周とで異なる。すなわ
ち、ディスク上のヘッド位置に応じて変化する点に関す
る配慮が何らなされていない、このため、前述の従来技
術は、ベース出力の小さい部分において基準レベルを設
定すると、ベース出力が大きい部分では基準レベルがベ
ース出力より小さくなってしまい、また、ベース出力の
大きい部分で基準レベルを設定すると、ベース出力の小
さい部分では、ヘッドと突起が接触したときの検出出力
が基準レベルより小さくなってしまうという問題点があ
った。すなわち、前述の従来技術は、圧電素子のベース
出力に対する配慮がなされていなかったため、ベース出
力をディスクの突起として検出したり、突起を検出でき
ない場合が生じたりして、ディスクの突起を正確に検出
できないという問題点があった。
本発明の目的は、前述のような従来技術の問題点を解決
し、ベース出力の大きさの変化にかかわらず、高精度に
ディスクの突起を検出することのできるディスクの突起
検出方法を提供することにある。
し、ベース出力の大きさの変化にかかわらず、高精度に
ディスクの突起を検出することのできるディスクの突起
検出方法を提供することにある。
本発明によれば、前記目的は、圧電素子のベース出力を
測定し、そのベース出力値に対して一定の関係にある基
準レベルを設定し、この基準レベルを超えた圧電素子の
出力があったとき、これをディスク上の突起として検出
することにより達成される。
測定し、そのベース出力値に対して一定の関係にある基
準レベルを設定し、この基準レベルを超えた圧電素子の
出力があったとき、これをディスク上の突起として検出
することにより達成される。
圧電素子を設けたヘッドをディスク面上に浮上させ、デ
ィスクが所定の回転数になった後、圧電素子からのベー
ス出力を測定し、このベース出力に対して一定の関係を
持った基準レベルを設定する。その後、この基準レベル
と圧電素子の出力とを比較し、基準レベルを越えた圧電
素子の出力を突起として判定する。次にヘッドを次のト
ラックにシークさせ、前述と同様にして基準レベルの設
定と突起の検出を行う。このような動作を繰返し行うこ
とにより、ディスクの全トラックについての突起検出を
、ベース出力の大きさが変化した場合にも高い精度で行
うことができる。
ィスクが所定の回転数になった後、圧電素子からのベー
ス出力を測定し、このベース出力に対して一定の関係を
持った基準レベルを設定する。その後、この基準レベル
と圧電素子の出力とを比較し、基準レベルを越えた圧電
素子の出力を突起として判定する。次にヘッドを次のト
ラックにシークさせ、前述と同様にして基準レベルの設
定と突起の検出を行う。このような動作を繰返し行うこ
とにより、ディスクの全トラックについての突起検出を
、ベース出力の大きさが変化した場合にも高い精度で行
うことができる。
以下、本発明による磁気ディスクの突起検出方法の一実
施例を図面により詳細に説明する。
施例を図面により詳細に説明する。
第１図は本発明の方法を実施するための突起検出装置の
構成例、第２図（Ａ）、 （Ｂ）は本発明により測定
した圧電素子の出力の例であり、夫々ディスクの内周部
および外周部の例である。第１図において、１はディス
ク、２はヘッド、３は圧電素子、４は信号処理部、５は
アンプ、６はフィルター、７はベース出力測定回路、８
は基準レベル設定回路、９は比較回路、１０はカウンタ
である。
構成例、第２図（Ａ）、 （Ｂ）は本発明により測定
した圧電素子の出力の例であり、夫々ディスクの内周部
および外周部の例である。第１図において、１はディス
ク、２はヘッド、３は圧電素子、４は信号処理部、５は
アンプ、６はフィルター、７はベース出力測定回路、８
は基準レベル設定回路、９は比較回路、１０はカウンタ
である。
本発明の方法を実施する突起検出装置は、第１図に示す
ように、圧電素子３を有し、ディスク１上に浮上するヘ
ッド２と、圧電素子３からの出力信号を処理する信号処
理部４により構成される。
ように、圧電素子３を有し、ディスク１上に浮上するヘ
ッド２と、圧電素子３からの出力信号を処理する信号処
理部４により構成される。
また、信号処理部４は、圧電素子３からの出力信号を増
幅するアンプ５、アンプ５の出力を受は所定の周波数帯
域の信号成分を取出すフィルター６、該フィルター６の
出力を受はベース出力を検出するベース出力測定回路７
、該測定回路からのベース出力に基いて基準レベルを設
定する基準レベル設定回路８、フィルター６の出力信号
と基準レベル設定回路８からの基準レベル信号とを比較
しディスク１の突起を判定する比較回路９および該比較
回路９の出力を計数することによりディスク１の突起の
数を計数するカウンタ１０により構成される。
幅するアンプ５、アンプ５の出力を受は所定の周波数帯
域の信号成分を取出すフィルター６、該フィルター６の
出力を受はベース出力を検出するベース出力測定回路７
、該測定回路からのベース出力に基いて基準レベルを設
定する基準レベル設定回路８、フィルター６の出力信号
と基準レベル設定回路８からの基準レベル信号とを比較
しディスク１の突起を判定する比較回路９および該比較
回路９の出力を計数することによりディスク１の突起の
数を計数するカウンタ１０により構成される。
前記ベース出力測定回路７は、アンプ５、フィルター６
を介して入力される圧電素子３の出力信号を処理し、ベ
ース出力信号の実効値、平均値またはピーク値を測定し
、その値を基準レベル設定回路８に与えるが、本発明の
実施例においては、ベース出力信号の平均値を測定する
こととした。
を介して入力される圧電素子３の出力信号を処理し、ベ
ース出力信号の実効値、平均値またはピーク値を測定し
、その値を基準レベル設定回路８に与えるが、本発明の
実施例においては、ベース出力信号の平均値を測定する
こととした。
また、基準レベル設定回路８は、ベース出力測定回路７
より与えられる測定値を一定の関係の係数で補正し、そ
の値を基準レベルとして設定するが、本発明の実施例に
おいては、基準レベル設定のための係数を２倍とし、ベ
ースレベル測定回路７から得られるベース出力信号の平
均値の２倍を基準レベルとした。
より与えられる測定値を一定の関係の係数で補正し、そ
の値を基準レベルとして設定するが、本発明の実施例に
おいては、基準レベル設定のための係数を２倍とし、ベ
ースレベル測定回路７から得られるベース出力信号の平
均値の２倍を基準レベルとした。
このような構成の本発明の方法を実施する第１図に示す
突起検出装置の動作を以下詳述する。
突起検出装置の動作を以下詳述する。
まず、圧電素子３を有するヘッド２をディスク１の面上
に浮上させ、ディスク１を所定の回転数で回転させ、ヘ
ッド２をディスク１の最内周トラックヘシークさせる。
に浮上させ、ディスク１を所定の回転数で回転させ、ヘ
ッド２をディスク１の最内周トラックヘシークさせる。
この状態で、ベース出力測定回路７は、アンプ５、フィ
ルター６を介してヘッド２に設けた圧電素子３の出力信
号を受け、そのベース出力信号の平均値を測定し、この
平均値を基準レベル設定回路８に印加する。基準レベル
設定回路８は、この平均値の２倍を基準レベルとして設
定し、比較回路９に与える。比較回路９は、基準レベル
設定回路８から与えられる基準レベルと、アンプ５、フ
ィルタ６を介して与えられる圧電素子３の出力信号とを
比較し、この圧電素子３の出力信号が基準レベルを越え
たとき出力信号を発する。この出力信号は、ヘッド２が
ディスクｌの突起と接触したことの検出信号となる。カ
ウンタ１０は、比較回路９の出力を計数することにより
、ディスク１の突起を計数する。トラック−周分の突起
の検出を終了すると、ヘッド２は、次のトラックにシー
クされ、信号処理部４は、前述と同様に、ベース出力信
号の平均値の測定、基準レベルの設定、ディスクｌの突
起の計数を行う。本発明の方法を実施する第１図に示す
装置は、このような動作を繰返すことにより、ディスク
１の全面にわたり突起の検出と計数を行う。
ルター６を介してヘッド２に設けた圧電素子３の出力信
号を受け、そのベース出力信号の平均値を測定し、この
平均値を基準レベル設定回路８に印加する。基準レベル
設定回路８は、この平均値の２倍を基準レベルとして設
定し、比較回路９に与える。比較回路９は、基準レベル
設定回路８から与えられる基準レベルと、アンプ５、フ
ィルタ６を介して与えられる圧電素子３の出力信号とを
比較し、この圧電素子３の出力信号が基準レベルを越え
たとき出力信号を発する。この出力信号は、ヘッド２が
ディスクｌの突起と接触したことの検出信号となる。カ
ウンタ１０は、比較回路９の出力を計数することにより
、ディスク１の突起を計数する。トラック−周分の突起
の検出を終了すると、ヘッド２は、次のトラックにシー
クされ、信号処理部４は、前述と同様に、ベース出力信
号の平均値の測定、基準レベルの設定、ディスクｌの突
起の計数を行う。本発明の方法を実施する第１図に示す
装置は、このような動作を繰返すことにより、ディスク
１の全面にわたり突起の検出と計数を行う。
第２図（Ａ）は、本発明による方法を実施する第１図の
装置を用いた場合、ディスクｌの最内周トラックにおい
て、アンプ５、フィルター６を介して得られた圧電素子
３の出力信号波形を示すものであり、そのベース出力信
号の平均値は、２０ｍＶであった。従って、この場合、
基準レベルは４０ｍＶに設定した。また、第２図（Ｂ）
は、ディスク１の最外周トラックにおいて、アンプ５、
フィルター６を介して得られた圧電素子３の出力信号波
形を示すものであり、そのベース出力信号の平均値は、
４０ｍＶであった。従って、この場合、基準レベルは８
０ｍＶに設定した。
装置を用いた場合、ディスクｌの最内周トラックにおい
て、アンプ５、フィルター６を介して得られた圧電素子
３の出力信号波形を示すものであり、そのベース出力信
号の平均値は、２０ｍＶであった。従って、この場合、
基準レベルは４０ｍＶに設定した。また、第２図（Ｂ）
は、ディスク１の最外周トラックにおいて、アンプ５、
フィルター６を介して得られた圧電素子３の出力信号波
形を示すものであり、そのベース出力信号の平均値は、
４０ｍＶであった。従って、この場合、基準レベルは８
０ｍＶに設定した。
前述した本発明の実施例は、ディスク１のトラックピッ
チをヘッドの浮上面のスライダ幅と同一寸法とした。ま
た、実施例の説明において、基準レベルの設定は、トラ
ック毎に行うこととしたが、ディスク１上のトラックを
複数群に分け、各群毎に行ってもよい。
チをヘッドの浮上面のスライダ幅と同一寸法とした。ま
た、実施例の説明において、基準レベルの設定は、トラ
ック毎に行うこととしたが、ディスク１上のトラックを
複数群に分け、各群毎に行ってもよい。
前述した本発明の実施例によれば、従来技術の欠点を除
去し、より正確にディスクの突起を検出し、計数するこ
とができる。例えば、従来技術においては、基準レベル
を８０ｍＶに設定すると、内周部において、ヘッドとデ
ィスクの突起とが接触した場合にも、内周部におけるデ
ィスクの周速が外周部より遅いため、圧電素子の出力が
低下し、突起として検出することができない場合を生じ
るが、本発明の実施例では、ベース出力信号の変化に対
応した基準レベルを設定しているので、常に安定的に正
確なディスクの突起を検出することが可能である。
去し、より正確にディスクの突起を検出し、計数するこ
とができる。例えば、従来技術においては、基準レベル
を８０ｍＶに設定すると、内周部において、ヘッドとデ
ィスクの突起とが接触した場合にも、内周部におけるデ
ィスクの周速が外周部より遅いため、圧電素子の出力が
低下し、突起として検出することができない場合を生じ
るが、本発明の実施例では、ベース出力信号の変化に対
応した基準レベルを設定しているので、常に安定的に正
確なディスクの突起を検出することが可能である。
以上説明したように、本発明によれば、圧電素子を設け
たヘッドを用いたディスクの突起検出方法において、圧
電素子のベース出力信号の変化に影響されることなく、
高精度にディスクの突起を検出することができる。
たヘッドを用いたディスクの突起検出方法において、圧
電素子のベース出力信号の変化に影響されることなく、
高精度にディスクの突起を検出することができる。
第１図は本発明の方法を実施するための突起検出装置の
構成例、第２図（Ａ）、 （Ｂ）は本発明の方法にお
ける圧電素子の出力信号波形である。 １・・・・・・磁気ディスク、２・・・・・・ヘッド、
３・・・・・・圧電素子、４・・・・・・信号処理部、
５・・・・・・アンプ、６・・・・・・フィルター、７
・・・・・・ベース出力測定回路、８・・・・・・基準
レベル設定回路、９・・・・・・比較回路、１０・・・
・・・カウンタ。 第１図 第２図
構成例、第２図（Ａ）、 （Ｂ）は本発明の方法にお
ける圧電素子の出力信号波形である。 １・・・・・・磁気ディスク、２・・・・・・ヘッド、
３・・・・・・圧電素子、４・・・・・・信号処理部、
５・・・・・・アンプ、６・・・・・・フィルター、７
・・・・・・ベース出力測定回路、８・・・・・・基準
レベル設定回路、９・・・・・・比較回路、１０・・・
・・・カウンタ。 第１図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、磁気ディスク面上に圧電素子を設けたヘッドを浮上
させ、該ヘッドと磁気ディスクの突起との接触により圧
電素子が発する出力信号によつて磁気ディスクの突起を
検出する方法において、前記ヘッドと磁気ディスクの突
起とが接触していないときの圧電素子の出力信号の大き
さに対応した基準レベルを設定し、この基準レベルと、
前記ヘッドと磁気ディスクの突起との接触時の圧電素子
の出力信号とを比較することにより、磁気ディスクの突
起を検出することを特徴とする磁気ディスクの突起検出
方法。 ２、前記基準レベルの設定は、磁気ディスクのトラック
毎に行うことを特徴とする前記特許請求の範囲第１項記
載の磁気ディスクの突起検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61217194A JPH0750173B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 磁気デイスクの突起検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61217194A JPH0750173B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 磁気デイスクの突起検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6373180A true JPS6373180A (ja) | 1988-04-02 |
| JPH0750173B2 JPH0750173B2 (ja) | 1995-05-31 |
Family
ID=16700330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61217194A Expired - Lifetime JPH0750173B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 磁気デイスクの突起検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0750173B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4942609A (en) * | 1989-03-15 | 1990-07-17 | Magnetic Peripherals Inc. | Electronic flying integrity tester for disk drives |
| USD921367S1 (en) | 2018-12-14 | 2021-06-08 | The Sherwin-Williams Company | Mini roller |
| USD935786S1 (en) | 2018-12-14 | 2021-11-16 | The Sherwin-Williams Company | Roller end cap |
| USD953749S1 (en) | 2020-03-20 | 2022-06-07 | Swimc Llc | Bent frame paint roller assembly |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5943446U (ja) * | 1982-09-14 | 1984-03-22 | 株式会社東芝 | ダブルフイ−ド検出装置 |
| JPS603576A (ja) * | 1983-06-07 | 1985-01-09 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 粒子検出システム |
-
1986
- 1986-09-17 JP JP61217194A patent/JPH0750173B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5943446U (ja) * | 1982-09-14 | 1984-03-22 | 株式会社東芝 | ダブルフイ−ド検出装置 |
| JPS603576A (ja) * | 1983-06-07 | 1985-01-09 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 粒子検出システム |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4942609A (en) * | 1989-03-15 | 1990-07-17 | Magnetic Peripherals Inc. | Electronic flying integrity tester for disk drives |
| USD921367S1 (en) | 2018-12-14 | 2021-06-08 | The Sherwin-Williams Company | Mini roller |
| USD935786S1 (en) | 2018-12-14 | 2021-11-16 | The Sherwin-Williams Company | Roller end cap |
| USD974047S1 (en) | 2018-12-14 | 2023-01-03 | The Sherwin-Williams Company | Mini roller |
| USD994349S1 (en) | 2018-12-14 | 2023-08-08 | The Sherwin-Williams Company | Roller end cap |
| USD953749S1 (en) | 2020-03-20 | 2022-06-07 | Swimc Llc | Bent frame paint roller assembly |
| USD985279S1 (en) | 2020-03-20 | 2023-05-09 | Swimc Llc | Roller shield device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0750173B2 (ja) | 1995-05-31 |
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