JPS6367703A - 機能トリミング方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は抵抗体をトリミングすることで電子回路の特性
を所望の値に調整する機能トリミング方法に関するもの
である。

従来の技術 電子回路の実装手段の一つにハイブリッドＩＣがある。

一般にハイブリッドＩＣの製造においては、回路の特性
値が厚膜抵抗体の抵抗値ばらつき等で変＋ＪＪするため
、所望の特性値に調整するための機能トリミング工程が
不可欠である。

従来の機ｔ；ヒトリミングは、回路の特性（電圧とか周
波数）が所望の値になるまで、回路内の厚膜抵抗体のト
リミングを交互に繰り返すことで行われている。即ち、
特性計測値が所望値より小さい場合は抵抗体のトリミン
グを行うよう動作し、特性計測値が所望値より大きい場
合はトリミングを終了するよう動作する。トリミングは
、アルミナ砥粒やレーザ光を用いて抵抗体を削除してい
（方法がとられる。

発明が解決しようとする問題点 機能トリミングを行う際、回路の信号を検出するプロー
ブの接触不良や異なった部品の実装とか部品の欠落等で
、トリミング前の特性（以下、初期特性という）異常が
発生する場合がしばしば起こる。この場合従来の方法で
は、初期特性値が所望特性以下ならば機能トリミングを
行うため、特性値が所望の値にならないままトリミング
が終わってしまったり、トリミングの量が多くなりすぎ
てトリミング後の特性値が変動したりして、機能トリミ
ングにおける不良率が高かった。また、これら不良にな
った回路は、不良訂折で部品の実装不良と分かり不良部
品を正規の部品と交換しても、抵抗体をすでにトリミン
グしてしまっているため、再トリミングは不可能であり
捨ててしまうしかなかった。結局従来の機能トリミング
方法は、極めて信頼性が悪くまた不経済であり歩留りも
良くなかった。

本発明はこれら従来の問題点を排除した高信頬性で経済
的かつトリミング歩留りの高い機能トリミング方法を提
供することを目的としたものである。

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の機能トリミング方
法は、回路の初期特性が初期特性範囲内にある場合機能
トリミングを行う方法とした。

作用 本発明は上記した方法により、プローブの接触不良や部
品実装不良等による初期特性異常を判別することが可能
となる。

実施例 以下本発明の機能トリミング方法の一実施例について、
図面を参照しながら説明する。

第１図は、本発明の機能トリミング方法の一実施例であ
る機能トリミング装置を示すブロック図である。第１図
において、１は計測開始指令により回路の特性値を計測
し計測結果を出力する計測手段、２はトリミング指令に
より抵抗体を一定量トリミングするトリミング手段、３
は前記各手段を制御するコンピュータ等の制御手段であ
る。

以上のように構成された機能トリミング装置について、
第２図を用いてその動作を説明する。

第２図は前記制御手段３の動作を示すフロー図である。

ここで第２図中のＩはループ回数であり機能トリミング
開始時Ｉ＝１に初期セットされ抵抗体のトリミングが終
わった時点で１＝１＋１となる。

まず、３１で計測手段１に計測開始指令を与え３２でそ
の計測結果Ｆｘを計測手段１より読み取る。

次に、３３でループ回数Ｉの判定を行いＩ＝１の場合に
は３４で計測結果Ｆｘが初期特性下限値（Ｆ　Ｌ）以上
かつ初期特性上限値（ＦＨ）以下かどうかを判定する。

ここでＦｘ≦ＦＨかつＦｘ≧ＦＬの場合には、３５でト
リミング手段２にトリミング指令を出力し抵抗体に一定
量のトリミングを行う。逆に、３４におけるＦｘ＜ＦＬ
あるいはＦ　ｘ　＞　ｌ？　ＩＪの場合にはトリミング
しないように動作し初期特性異常として機能トリミング
を終了する。前記３５でトリミングが終わったならば、
３６でループ回数１を１だけ増加し再度３１に戻り、３
１．３２で前記と同様の動作を行い計測結果Ｆｘを得、
さらに３３でループ回数Ｉの判定を行う。ここで１＝１
が満たされなくなるので今度は３７で計測結果Ｆｘが所
望特性値（Ｆｔ）以上かどうか判定し、Ｆｘ＜Ｆｔの場
合には３５でトリミング手段２にトリミング指令を出力
し抵抗体に一定量のトリミングを行う。ここで、３７に
おけるＦｘ≧Ｆｔの条件が満たされるまで前記したよう
に特性の計測と抵抗体のトリミングが繰り返されること
になる。前記３７におけるＦｘ≧Ｆｔの条件の場合には
所望特性が得られたことになり機能トリミングを終了す
る。

前記初期特性上限（Ｉｉ！ＦＴ（は所望特性値Ｆｔとし
前記初期特性下限値ＦＬは初期特性バラツキの最小値に
設定する。

また、前記初期異常になった回路については、トリミン
グを行っていないので、回路の不良解析を行い修理して
再度機能トリミングを行うことができる。

発明の効果 以上のように、本発明は回路の初期特性が初期特性許容
範囲内にある場合、回路特性が所望の値になるまで回路
特性の計測と抵抗体のトリミングを交互に繰り返し行う
ようにしたことにより、プローブの接触不良とか部品実
装不良等による初期異常を検出することができると共に
、機能トリミング後の特性値変動も極めて少なくなり、
高信頼性で経済的かつ歩留りの高い機能トリミングを行
うことができ、その生産性に与える効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の機能トリミング装置のブロ
ック図、第２図は動作フロー図である。 １・・・・・・計測手段、２・・・・・・トリミング手
段、３・・・・・・制御１１手段。 代理人の氏名　弁理士　中尾敏男　は乃）１名萬　ｌ　
図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　トリミング前の特性値が初期特性許容範囲内にある場
   合、回路特性が所望の値になるまで回路特性の計測と抵
   抗体のトリミングを交互に繰り返し行うことを特徴とす
   る機能トリミング方法。