JPS6115373B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、保護継電器の自動試験方法に関し、
計算機を用いた保護継電器の自動試験方法に関す
る。

通常、誘導円板型の保護継電器を自動試験する
のに用いられる自動試験装置は、第１図に示すよ
うなものである。この試験装置は、試験される保
護継電器即ち供試品１に対して第２図に示すよう
な種々のレベルをもつた試験電流（以下、単に電
流という）を供給する電源装置２、電源装置２か
ら前記電流を出力させると共にその他の全般的な
制御を行う計算機３、計算機３に接続されて、例
えば印刷を行う出力装置４、供試品の型番を読み
込む入力装置５、メモリ６及び測定装置７から構
成される。

第２図を参照して従来の自動試験方法を段階順
に説明する。第１に、操作者により入力装置５に
供試品１の型番を入力する。この型番は計算機３
に送られ、これに応答して計算機３はメモリ６か
ら試験手順のプログラムを読み出す。このプログ
ラムに従い、計算機３は電源装置２に指令を与え
る。この指令により電源装置２は、レベルL₁₁の
電流を出力する。レベルL₁₁は供試品１の動作領
域のものであるので、供試品１は動作し、供試品
１の動作信号が直接計算機３に知らされ、計算機
３は供試品１が動作していることを知る。

第２に、計算機３はレベルL₁₁よりも５カウン
トだけ少ないレベルL₁₂の出力を電源装置２に指
令する。レベルL₁₂は、供試品１が復帰する値で
ある。これによる供試品１の復帰は、前述と同じ
ようにして計算機３に知らされる。

以下、同様の各段階によつて、レベルL₁₄〜L₁₈
が動作領域と復帰領域を分けるしきい値のレベル
Laに収束するような形で供試品１に入力され
る。

そして、しきい値のレベルLaに収束した時の
値を測定装置７により測定し、その結果は、計算
機３から出力装置４に出力され、出力装置４が印
字出力することで操作者に知らされる。ところ
で、保護継電器は、種々の電磁気部品を有し、そ
れらには一般に残留磁気が存在する。従つて、保
護継電気の特性を正しく測定するためには測定試
験に先行してそのような残留磁気を消磁する処理
が必要となる。電磁気部品における残留磁気を消
磁するためには、その残留磁気がどの程度のもの
か不明なので、その電磁部品を一旦交流磁気によ
り飽和させることにより、消磁する処理が必要と
なる。このような消磁の周知例として交流磁気バ
イアスを用いた磁気テープ録音機のテープやヘツ
ドの消磁がある。

通常の保護継電器では経済性の見地からその構
成部品である交流器等が公称動作値の２倍以上の
電流入力で完全に磁気的飽和をしてしう設計とな
つていることが多い。従つて、通常の保護継電器
の残留磁気を消磁するときは、公称動作値の少な
くとも２倍の電流入力を焼損をしない範囲の時間
で保護継電器に与えればよい。

従来の自動試験方法は、以上のような段階から
構成されており、保護継電器の一連のステツプか
らなる試験においてその保護対象の事故時に発生
し得る大電流を想定した試験が実施されず、また
試験の実施に際してまず実行されるべき初期化設
定、即ち残留磁気を消磁させる処理も実行してい
ないので、誘導円板形のように物理的エネルギー
（トルク）を用いる保護継電器等にあつては動作
のしきい値等のパラメータを精度良く測定するこ
とができない欠点があつた。

本発明は、このような従来の自動試験方法の欠
点を除去するためになされたもので、試験段階に
おいて、供試品に供給する電流の初期値を例えば
動作値として指定されているｎ倍（ｎ≧２）の値
として動作させ、次いで前記動作値を設定して動
作を確認し、更に前記動作値から５カウント離れ
た半微調整の設定をし、以後１カウントずつの微
調整を設定した電流により供試品を試験すること
により、物理的エネルギー（トルク）の影響を受
けない正しい動作値を得ることができるようにし
た保護継電器の自動試験方法を提供することを目
的としている。

以下、本発明の一実施例を図について説明す
る。第３図は、本発明による保護継電器の自動試
験方法を示すグラフであり、供試品１に供給され
る電流のレベルを示すものである。第１図に示し
た自動試験装置は、本発明においても用いられ、
次に説明するようにメモリ６に記録されている試
験手順のプログラムに従つて、第３図に示す電流
を発生するもので、その外部的な構成は既に説明
したとおりである。

動作について説明する。まず、予め定められて
いる供試品１の型番を選択して入力装置５に入力
する。次に、入力装置５に入力された型番は計算
機３に送られる。これにより、計算機３は、メモ
リ６からその型番に対応した試験手順のプログラ
ムを読み出し、これに基づく指令を電源装置２に
与える。この指令に従い、電源装置２は第３図に
示す各レベルの電流を供試品１に供給して試験を
行う。

以下各段階に従つて説明する。第１に、動作値
として指定されているレベルLaの３倍値に等し
いレベルL₂₁を初期値として供試品１に供給し、
以下特に言及しないが待ち時間これを継続する。

なお、このような大きな値をもつレベルL₂₁を
供試品１に印加する理由は、第１に保護継電器の
保護対象の事故時に十分発生し得る大きな値が供
試品１に印加されても、供試品１が機械的にも電
気的にも異常を生じることなく、十分に機能し得
ることを確認することにあり、第２に保護継電器
を構成する電磁部品、例えば入力側の変流器が残
留磁気により直流磁化されているので、これを入
力即ち交流電流により一旦飽和させて消磁させる
ことにある。

従つて、試験段階にあるレベルL₂₁はレベルLa
の３倍に限定される必要はなく、保護対象の事故
時の電流レベルを考慮し、少なくともレベルLa
の２倍以上あることが望ましい。

第２に、供試品１の動作を確認した後、動作値
として指定されているレベルLaを設定して動作
を確認する。

第３に、レベルLaより５カウントだけ少ない
レベルL₂₃を供給し、供試品１の状態、この場合
不動作を確認する。

第４に、レベルL₂₃より１カウントだけ多いレ
ベルL₂₄を供給し、供試品１の状態、この場合不
動作を確認する。

以下、同様に１カウントずつ増加させるように
して、レベルL₂₅〜L₂₇でそれぞれ供試品１の状
態、この場合不動作を確認する。この過程におい
て供試品１が不動作領域から動作領域へ遷移する
しきい値Lbを越えるので、レベルL₂₇で供試品１
は動作状態となり、計算機３はその電流値を測定
装置７により測定し、出力装置５から動作値とし
て出力、即ち印字させる。

以上の各段階は、全て自動的にメモリ６に記憶
されている試験手順のプログラムに従つて次々に
実行される。

なお、前記実施例では供試品１の動作値を測定
するものであつたが、これは供試品１の復帰値を
測定するものであつてもよい。また、初期値は、
レベルLaの３倍値に限定されず、２倍、４倍等
の任意のものであつてもよい。また、電圧、位相
等の電気量を変化させるものであつてもよい。

以上のように、本発明によれば供試品に対して
指定されている動作値のｎ倍（ｎ≧２）のレベル
にある初期値を供給してまずその動作を確認し、
その後半微調整又は微調整で供試品の動作値及び
復帰値を測定するようにしたので、物理的エネル
ギー（トルク）の影響を受けていない正規の動作
値を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は保護継電器の自動試験装置を示すブロ
ツク図、第２図は従来の自動試験方法による試験
電流のレベル図、第３図は本発明の一実施例によ
る試験電流のレベル図である。 １……供試品、２……電源装置、３……計算
機、４……出力装置、５……入力装置、６……メ
モリ、７……測定装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 供試品に各種レベルの試験電流を順次供給す
   るようにし、段階的に前記レベルを供試品の動作
   領域及び不動作領域のしきい値に収束させて前記
   供試品の動作値及び不動作値を測定する保護継電
   器の自動試験方法において、初期値のレベルを予
   めしきい値のｎ倍（ｎ≧２）のレベルを設定して
   試験し、以後前記ｎ倍のレベルから前記しきい値
   を設定して試験する第１の段階と、前記しきい値
   を離れた半微調整のレベルを設定して試験し、以
   後該レベルを微調整量ずつ変化させながらしきい
   値に到達するまで反復して試験する次の第２段階
   とを有し、前記第２段階の試験結果から前記供試
   品のしきい値を確定することを特徴とする保護継
   電器の自動試験方法。 ２ しきい値を動作値とするすることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の保護継電器の自動
   試験方法。 ３ しきい値を復帰値とすることを特徴とする特
   許請求の範囲第１項記載の保護継電器の自動試験
   方法。