JPS6364354A - 制御用入力回路 - Google Patents
制御用入力回路Info
- Publication number
- JPS6364354A JPS6364354A JP20853086A JP20853086A JPS6364354A JP S6364354 A JPS6364354 A JP S6364354A JP 20853086 A JP20853086 A JP 20853086A JP 20853086 A JP20853086 A JP 20853086A JP S6364354 A JPS6364354 A JP S6364354A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pad
- inverter
- bonding
- qcn
- clamping
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
- H01L27/0251—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices
- H01L27/0266—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices using field effect transistors as protective elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
集積回路内部の動作を特定のボンディングパッドと電源
電位に接続した外部端子との接続の「有り」、「無し」
で制御するための入力回路において、ボンディングパッ
ドをインバータを介して内部回路に接続するとともに、
該インバータ出力を制御入力とするクランプ用トランジ
スタを設け、フローテングノードをクランプする。
電位に接続した外部端子との接続の「有り」、「無し」
で制御するための入力回路において、ボンディングパッ
ドをインバータを介して内部回路に接続するとともに、
該インバータ出力を制御入力とするクランプ用トランジ
スタを設け、フローテングノードをクランプする。
本発明は半導体集積回路に係り、特にその内部動作をボ
ンディングの有無で切換える場合、フローテングバツド
をクランプする回路に関する。
ンディングの有無で切換える場合、フローテングバツド
をクランプする回路に関する。
ボンディングパッドに対するボンディングの有無で内部
回路動作を切換える場合、従来は第3図のようにボンデ
ィングパッドPADに低位の電源電位VSSにその一端
を接続した高抵抗Rを入れ、フローテングバフドをVs
sにクランプしていた(ボンディング無の場合)。とこ
ろが、この111合、このPADをVCCとするとくボ
ンディング有り)抵抗Rに電流が’7Jiれ、それだけ
電流消費を増大し不都合であった。
回路動作を切換える場合、従来は第3図のようにボンデ
ィングパッドPADに低位の電源電位VSSにその一端
を接続した高抵抗Rを入れ、フローテングバフドをVs
sにクランプしていた(ボンディング無の場合)。とこ
ろが、この111合、このPADをVCCとするとくボ
ンディング有り)抵抗Rに電流が’7Jiれ、それだけ
電流消費を増大し不都合であった。
本発明は上記した、ボンディングパッドに対するボンデ
ィングの有無で内部回路動作を切換える構成において、
このPADをVccとすると(ボンディング有り)電流
が流れ、電(A消費を増大するという欠点を改善しよう
とするものである。
ィングの有無で内部回路動作を切換える構成において、
このPADをVccとすると(ボンディング有り)電流
が流れ、電(A消費を増大するという欠点を改善しよう
とするものである。
本発明においては、上記問題点を(W決するために、築
積回路の内部回路動作を特定のボンディングパッドと電
源電位に接続した外部端子との接続の[有りJ 、
rjif%シJで制御するための入力回路において、該
ボンディングパッドにその入力点を接続し、出力点を前
記内部回路に接続したインハご夕と、該インバータの出
力点にその制御端子を接続し、第1および第2端子をそ
れぞれ該ボンディングパッドとインバータの入力点との
接υε点と電源線とに接続したクランプ用トランジスタ
と分有することを特徴とする制御用入力回路を(足供す
る。
積回路の内部回路動作を特定のボンディングパッドと電
源電位に接続した外部端子との接続の[有りJ 、
rjif%シJで制御するための入力回路において、該
ボンディングパッドにその入力点を接続し、出力点を前
記内部回路に接続したインハご夕と、該インバータの出
力点にその制御端子を接続し、第1および第2端子をそ
れぞれ該ボンディングパッドとインバータの入力点との
接υε点と電源線とに接続したクランプ用トランジスタ
と分有することを特徴とする制御用入力回路を(足供す
る。
〔作用〕
」−記構成によれば、クランプ用トランジスタでボンデ
ィング無しの場合のフローテング/″−ドを強力にクラ
ンプすることができ、しかも、ボンディング有りの場合
に、流れる無用な電流を、嘆くずことが可能になる。
ィング無しの場合のフローテング/″−ドを強力にクラ
ンプすることができ、しかも、ボンディング有りの場合
に、流れる無用な電流を、嘆くずことが可能になる。
第1図に本発明の実施例のクランプ回路を示してあり、
ホンディングバッドPADに対するボンデ・イングの有
無で内部回路J’lj作を切換えるために、PADにク
ランプ用l・ランジスタのn−ch形電界効果形MOS
トランジスタ(以下クランプF E 1−と称する)口
Cnのドレインを接続し、そのソースを低位の電源Vs
sに接続している。また、このPADと(ICnとの接
続点(◎にp−ch形(またはディプレッション形n−
ch) M OS トランジスタQ1とn−ch形トラ
ンジスタQ2でなるCMOSインバータの入力点を接ビ
こし、該インバータの出力点を内部回路に接続している
。 以上の実施例の構成によれば、動作は次の如くなる
。
ホンディングバッドPADに対するボンデ・イングの有
無で内部回路J’lj作を切換えるために、PADにク
ランプ用l・ランジスタのn−ch形電界効果形MOS
トランジスタ(以下クランプF E 1−と称する)口
Cnのドレインを接続し、そのソースを低位の電源Vs
sに接続している。また、このPADと(ICnとの接
続点(◎にp−ch形(またはディプレッション形n−
ch) M OS トランジスタQ1とn−ch形トラ
ンジスタQ2でなるCMOSインバータの入力点を接ビ
こし、該インバータの出力点を内部回路に接続している
。 以上の実施例の構成によれば、動作は次の如くなる
。
■ PADがフローテングの場合(ボンディング無し)
インハークの出力(則ノード・厄)はp−ch形FET
01により高位の電源電圧Vccに接続しているが、人
力(j、lJノード@)はVCCに接続していない。従
っ上昇する。なお、インパークの入力側ノードOはボン
ディングハツトの面積の関係でその持つl′?−遊容量
Ciはインバータの出力側ノードtQの浮遊容i’lc
oより大きいこともこれを助長する。そのため、インバ
ータのp−ch形FB”l”[11ばON、Q2ばOF
Fとなり、そのゲートがインバータの出力ノート°@に
接続したクランプFETQCnはONとなり、ノード(
◎、したがってボンディングパッドPADをVssにク
ランプする。
01により高位の電源電圧Vccに接続しているが、人
力(j、lJノード@)はVCCに接続していない。従
っ上昇する。なお、インパークの入力側ノードOはボン
ディングハツトの面積の関係でその持つl′?−遊容量
Ciはインバータの出力側ノードtQの浮遊容i’lc
oより大きいこともこれを助長する。そのため、インバ
ータのp−ch形FB”l”[11ばON、Q2ばOF
Fとなり、そのゲートがインバータの出力ノート°@に
接続したクランプFETQCnはONとなり、ノード(
◎、したがってボンディングパッドPADをVssにク
ランプする。
■ PADをVccに接続した場合(ボンディング有り
) ]で、その「Lレヘル」がQCnのゲートに印加される
掃占果、クランプFETQCnはOF Fとなる。
) ]で、その「Lレヘル」がQCnのゲートに印加される
掃占果、クランプFETQCnはOF Fとなる。
以上のように、本実施例によれば、■のボンディング「
無し」の場合、クランプFETQCnで・インハークの
入力ノード○をVssに確実にクランプし、内部回路に
インバータ出力のr Hレヘル」を供給することができ
る。一方、■のボンディング「有り」の場合、クランプ
FETQCnはOF Fするから、PADのVccから
電流が151.Hれ込むことがない。このため、クラン
プFETに十分大型のトランジスタを用い、■のクラン
プ動作をより確実に行なうようにすることができる。
無し」の場合、クランプFETQCnで・インハークの
入力ノード○をVssに確実にクランプし、内部回路に
インバータ出力のr Hレヘル」を供給することができ
る。一方、■のボンディング「有り」の場合、クランプ
FETQCnはOF Fするから、PADのVccから
電流が151.Hれ込むことがない。このため、クラン
プFETに十分大型のトランジスタを用い、■のクラン
プ動作をより確実に行なうようにすることができる。
次に第2図に本発明の他の実施例の回路図を示している
。この実施例は、ボンディングパッドPA DをVss
ヘボンデイングするか、しないかを検出して、内部回路
を制1ffllするものであり、第1図と異なるのは、
クランプFETをp−ch形FETQCρとし、そのソ
ースをVccに接続した点である。
。この実施例は、ボンディングパッドPA DをVss
ヘボンデイングするか、しないかを検出して、内部回路
を制1ffllするものであり、第1図と異なるのは、
クランプFETをp−ch形FETQCρとし、そのソ
ースをVccに接続した点である。
その他は第1図と同様であるので、同一部分に同一符号
で指示している。01作は次の如くである。
で指示している。01作は次の如くである。
■ PADがフローテングの場合(ボンディング無し)
インバータの出力側ノードOはn−ch形FET02に
より低位の電源電圧VSSに接続しているが、側ノード
タ)より速く電位が上昇し、インバータのp −c、h
形FETQIはOFF、02はONとなり、イたがって
ボンディングバ・ンドPへりをVccにクランプする。
より低位の電源電圧VSSに接続しているが、側ノード
タ)より速く電位が上昇し、インバータのp −c、h
形FETQIはOFF、02はONとなり、イたがって
ボンディングバ・ンドPへりをVccにクランプする。
■ PADをVSSに接続した場合(ボンディング有り
) インバータの入力側ノート○がVssrLレヘル」レベ
るから、出力(yリノートQはr Hレベル」で、その
「Hレベル」がクランプF E T QCpのゲートに
印加される結果、クランプF E T QCnはOFF
となる。
) インバータの入力側ノート○がVssrLレヘル」レベ
るから、出力(yリノートQはr Hレベル」で、その
「Hレベル」がクランプF E T QCpのゲートに
印加される結果、クランプF E T QCnはOFF
となる。
以上のように、本実施例によれば、■のボンディング「
無し」の場合クランプF E T QCpでインバータ
の入力ノードタ)をVccに確実にクランプし、内部回
路にインバータ出力の「Lレベル」を供給することがで
きる。一方、■のボンディング「有り」の場合、クラン
プF E T QCpはOFFするから、PADのVS
Sに電流が流れ込むことがない。このため、クランプF
ETに十分大型のトランジスタを用い、■のクランプ動
作をより確実に行なうようにすることができる。
無し」の場合クランプF E T QCpでインバータ
の入力ノードタ)をVccに確実にクランプし、内部回
路にインバータ出力の「Lレベル」を供給することがで
きる。一方、■のボンディング「有り」の場合、クラン
プF E T QCpはOFFするから、PADのVS
Sに電流が流れ込むことがない。このため、クランプF
ETに十分大型のトランジスタを用い、■のクランプ動
作をより確実に行なうようにすることができる。
〔発明の効果]
上述のことから明らかなように、本実施例によれば、ボ
ンディングパッドがフローテング状態の時、ボンディン
グパットの接続ノートを高位または低位の電源電位にク
ランプFETで強力にクランプすることができ、また、
ボンデインゲイ1りの場合に無用な電流が流れることが
防止できる。・とれにより、ボンディングパッドに対す
るボンデCフグの有無で内部回路動作を切換える動作を
flfl:実に行なうことができるとともに、消費電力
を低減することができる。
ンディングパッドがフローテング状態の時、ボンディン
グパットの接続ノートを高位または低位の電源電位にク
ランプFETで強力にクランプすることができ、また、
ボンデインゲイ1りの場合に無用な電流が流れることが
防止できる。・とれにより、ボンディングパッドに対す
るボンデCフグの有無で内部回路動作を切換える動作を
flfl:実に行なうことができるとともに、消費電力
を低減することができる。
第1図は本発明の実施例のクランプ回路の回路図、第2
図は本発明の他の実施例のクランプ回路の回路図、第3
図は従来例の回路図である。 P A D −ボンディングパッド QCn 、 QCp −クランプ用トランジスタ(クラ
ンプFET) 旧、Q2−・インバータ用トランジスタCFET)特許
出願人 富士通株式会社(夕1−1力9代理人 弁理士
玉蟲久五部(外1名)本発明の実施例の回路図 第 1 図 本発明の他の実杷例の回路図 第2図
図は本発明の他の実施例のクランプ回路の回路図、第3
図は従来例の回路図である。 P A D −ボンディングパッド QCn 、 QCp −クランプ用トランジスタ(クラ
ンプFET) 旧、Q2−・インバータ用トランジスタCFET)特許
出願人 富士通株式会社(夕1−1力9代理人 弁理士
玉蟲久五部(外1名)本発明の実施例の回路図 第 1 図 本発明の他の実杷例の回路図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 集積回路の内部回路動作を特定のボンディングパッドと
電源電位に接続した外部端子との接続の「有り」、「無
し」で制御するための入力回路において、 該ボンディングパッドにその入力点を接続し、出力点を
前記内部回路に接続したインバータと、該インバータの
出力点にその制御端子を接続し、第1および第2端子を
それぞれ該ボンディングパッドとインバータの入力点と
の接続点と電源線とに接続したクランプ用トランジスタ
とを有することを特徴とする制御用入力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20853086A JPS6364354A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 制御用入力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20853086A JPS6364354A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 制御用入力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6364354A true JPS6364354A (ja) | 1988-03-22 |
Family
ID=16557710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20853086A Pending JPS6364354A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 制御用入力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6364354A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0955468A (ja) * | 1995-08-16 | 1997-02-25 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
-
1986
- 1986-09-04 JP JP20853086A patent/JPS6364354A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0955468A (ja) * | 1995-08-16 | 1997-02-25 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2733796B2 (ja) | スイッチ回路 | |
JP2616142B2 (ja) | 出力回路 | |
US6348831B1 (en) | Semiconductor device with back gate voltage controllers for analog switches | |
US20010054914A1 (en) | Integrated circuit device including CMOS tri-state drivers suitable for powerdown | |
EP0055601A2 (en) | Buffer circuit | |
JP3580823B2 (ja) | 改良されたデータ出力バッファ | |
JPH0527285B2 (ja) | ||
US5432462A (en) | Input buffer circuit having sleep mode and bus hold function | |
JPH07105706B2 (ja) | 電流切換え式ドライバ回路 | |
US4488067A (en) | Tristate driver circuit with low standby power consumption | |
JPS6333734B2 (ja) | ||
JPS6364354A (ja) | 制御用入力回路 | |
JPH0955470A (ja) | 半導体回路及び半導体回路装置 | |
KR970031312A (ko) | 3-상태회로의 출력 안정화회로 | |
JP2003188696A (ja) | 双安定回路 | |
JP2000341848A (ja) | 逆極性入力保護装置 | |
JPH0669141B2 (ja) | 入力回路 | |
EP0124535A1 (en) | Buffer circuit | |
JPH03175730A (ja) | 出力バツフア | |
JPH1051296A (ja) | 論理回路 | |
JP2000209083A (ja) | 集積回路 | |
JPS61254078A (ja) | コツクロフト型昇圧回路 | |
JPS60174519A (ja) | デイジタルスイツチング回路 | |
JPS59208941A (ja) | Mos集積回路装置 | |
JP2690788B2 (ja) | 半導体装置 |