JPS6364107A - プログラム先解析方法 - Google Patents
プログラム先解析方法Info
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- JPS6364107A JPS6364107A JP20848486A JP20848486A JPS6364107A JP S6364107 A JPS6364107 A JP S6364107A JP 20848486 A JP20848486 A JP 20848486A JP 20848486 A JP20848486 A JP 20848486A JP S6364107 A JPS6364107 A JP S6364107A
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- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 45
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 31
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 13
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 9
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
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- Numerical Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
交点演算方式の工具径補正を実行する時に、ワークに工
具の切り込み過ぎが生じない様に工具径路を算出する方
法に係わり、特に自在なプログラミングに寄与するもの
である。
具の切り込み過ぎが生じない様に工具径路を算出する方
法に係わり、特に自在なプログラミングに寄与するもの
である。
(従来技術)
従来から交点演算方式の工具径補正においては第4図に
示すようにプログラム通路−幻−から工具オフセ・ット
通路42ヲ求めるために、指令ブロックと指令ブロック
の間のコーナオフセットベクトル43 ji−求める事
が必要になり、プログラムの先解析と行なっている。先
解析を行うに当っては工具のワークへの切り込み過ぎを
防ぐ為に3ブロツクの先解析を行いこれによりコーナオ
フセットベクトル間の干渉チェックを行なっている。第
5図はコーナオフセットベクトルAとBによって作られ
るNブロックの移動方向がプログラム本来の移動方向と
逆なのでコーナオフセットベクトルAとBが干渉してい
ると見なされる例を示す。ま之第6図に示すような指令
ブロックと指令ブロックの間に選択され素子面上の移動
指令がないブロックがある場合には先解析用第1バプフ
7と第3バプフアの内容により次に移動すべき場所を算
出している。第7図に従来の工具径補正中のブロックデ
ータの流れを示す。
示すようにプログラム通路−幻−から工具オフセ・ット
通路42ヲ求めるために、指令ブロックと指令ブロック
の間のコーナオフセットベクトル43 ji−求める事
が必要になり、プログラムの先解析と行なっている。先
解析を行うに当っては工具のワークへの切り込み過ぎを
防ぐ為に3ブロツクの先解析を行いこれによりコーナオ
フセットベクトル間の干渉チェックを行なっている。第
5図はコーナオフセットベクトルAとBによって作られ
るNブロックの移動方向がプログラム本来の移動方向と
逆なのでコーナオフセットベクトルAとBが干渉してい
ると見なされる例を示す。ま之第6図に示すような指令
ブロックと指令ブロックの間に選択され素子面上の移動
指令がないブロックがある場合には先解析用第1バプフ
7と第3バプフアの内容により次に移動すべき場所を算
出している。第7図に従来の工具径補正中のブロックデ
ータの流れを示す。
(従来技術の問題点)
従来の方法によると、選択された平面上の軸移動指令を
含むブロックと次の選択された平面上の軸移動指令を含
むブロックとの間に軸移動指令を含まないブロックが1
つだけ存在する場合には先沼析バ・ソファが3個あるの
でコーナオフセットベクトルを算出できワークへの切り
込み過ぎを防ぐ事が出来る。しかしながら第8図に示す
ように選択された平面上の軸移動指令を含まないブロッ
クが2個以上連続して存在する場合には正常なコーナオ
フセットベクトルを算出できずワークへの切り込み過ぎ
を起こす可能性が生じる0ま几第9図に示すように選択
され素子面上の軸移動指令を含むプロ・ツクと含まない
ブロックが交互にあられれる場合コーナオフセットベク
トル間の干渉チェ・ツクができずワークへの切り込み過
ぎを起こす可能性が生じる等の問題があった。
含むブロックと次の選択された平面上の軸移動指令を含
むブロックとの間に軸移動指令を含まないブロックが1
つだけ存在する場合には先沼析バ・ソファが3個あるの
でコーナオフセットベクトルを算出できワークへの切り
込み過ぎを防ぐ事が出来る。しかしながら第8図に示す
ように選択された平面上の軸移動指令を含まないブロッ
クが2個以上連続して存在する場合には正常なコーナオ
フセットベクトルを算出できずワークへの切り込み過ぎ
を起こす可能性が生じる0ま几第9図に示すように選択
され素子面上の軸移動指令を含むプロ・ツクと含まない
ブロックが交互にあられれる場合コーナオフセットベク
トル間の干渉チェ・ツクができずワークへの切り込み過
ぎを起こす可能性が生じる等の問題があった。
(発明の目的)
本発明は上述の事情からなされtものであり、本発明の
目的は工具径補正中、指令プログラム途中に選択された
平面上の軸移動指令を含まないブロックが2個以上連続
して指令される場合や、選択された平面上の軸移動指令
を含むブロックと含まないブロックが交互に指令される
場合においても正常にコーナオフセットベクトルを算出
しワークへの切り込み過ぎを防ぐ事にある○ (発明の概要) NCシステムにおいて工具径補正の為にパートプログラ
ムを解析するに際し、本発明のプログラム先解析方法は
選択されt平面上の軸移動指令を含むブロックを保持す
る第1先解析バッファ群と、前記第1先解析バッファ群
に保持し之選択され素子面りの軸移動を含むブロックの
間にある選択され素子面上の軸移動指令を含まないブロ
ックを保持する第2先解析バプフア群と金設け、前記第
1先解析バッファ群に保持された選択され素子面上の軸
移動指令を含むブロックからコーナオフセットベクトル
を算出しワークへの切り込み過ぎを防ぐ事を特徴とする
。
目的は工具径補正中、指令プログラム途中に選択された
平面上の軸移動指令を含まないブロックが2個以上連続
して指令される場合や、選択された平面上の軸移動指令
を含むブロックと含まないブロックが交互に指令される
場合においても正常にコーナオフセットベクトルを算出
しワークへの切り込み過ぎを防ぐ事にある○ (発明の概要) NCシステムにおいて工具径補正の為にパートプログラ
ムを解析するに際し、本発明のプログラム先解析方法は
選択されt平面上の軸移動指令を含むブロックを保持す
る第1先解析バッファ群と、前記第1先解析バッファ群
に保持し之選択され素子面りの軸移動を含むブロックの
間にある選択され素子面上の軸移動指令を含まないブロ
ックを保持する第2先解析バプフア群と金設け、前記第
1先解析バッファ群に保持された選択され素子面上の軸
移動指令を含むブロックからコーナオフセットベクトル
を算出しワークへの切り込み過ぎを防ぐ事を特徴とする
。
(発明の実施例)
以下第1図、第2図、第3図を使用して本発明の1実施
例について説明する。第1図は先解析用バッファ構成と
ブロックの流れを示す図である。
例について説明する。第1図は先解析用バッファ構成と
ブロックの流れを示す図である。
同図において工具径補正を行うために指令ブロックを保
持するバッファが2系統設けられている。
持するバッファが2系統設けられている。
すなわち選択された平面上の軸移動指令金倉んだブロッ
ク?保持するための先解析バプファA1.A2゜A3と
平面上の軸移動指令を含まないブロックを保持す己先解
析バッフ、 Bl、B2である。さらにB1.B2td
それぞれ平面上の軸移動指令を含まないブロックを複数
保持できる様に Blo(Bu、Bt2・−Bln)、B2=(B21.
B22°°°B2n)であられされるn個のバッファ
− から構成されている。nは平面上の軸移動
指令を含んだブロックと次の軸移動指令を含んだブロッ
クとの間に存在する平面上の軸移動指令を含まないブロ
ックの予想される最大数とする。選択された平面上の軸
移動指令を含むブロックのみヲ頭次取りだして保持する
場合コーナオフセットベクトルを求めるには2個のバッ
ファがあればよくコーナオフセットベクトルの干渉チェ
ック全行うには3個のバッファがあれば良い。従って選
択された平面上の軸移動指令を含んだブロックを保持す
る為の先解析バッファは3個あれば十分である。選択さ
れた平面上の軸移動指令を含むブロックを保持するバブ
フッと軸移動指令を含まないブロックを保持するバッフ
ァとを分けた理由は、コーナオフセットベクトルを計算
するためには選択された平面上の軸移動指令を含まない
指令ブロック−ζ必要がない事、ま念従来技術の拡張で
先解析バッファを3個以上にし几場合は常にバッファの
数だけの先解析を行う事が必要になり、解析時間とデー
タエリア内の転送時間が問題となるからである。
ク?保持するための先解析バプファA1.A2゜A3と
平面上の軸移動指令を含まないブロックを保持す己先解
析バッフ、 Bl、B2である。さらにB1.B2td
それぞれ平面上の軸移動指令を含まないブロックを複数
保持できる様に Blo(Bu、Bt2・−Bln)、B2=(B21.
B22°°°B2n)であられされるn個のバッファ
− から構成されている。nは平面上の軸移動
指令を含んだブロックと次の軸移動指令を含んだブロッ
クとの間に存在する平面上の軸移動指令を含まないブロ
ックの予想される最大数とする。選択された平面上の軸
移動指令を含むブロックのみヲ頭次取りだして保持する
場合コーナオフセットベクトルを求めるには2個のバッ
ファがあればよくコーナオフセットベクトルの干渉チェ
ック全行うには3個のバッファがあれば良い。従って選
択された平面上の軸移動指令を含んだブロックを保持す
る為の先解析バッファは3個あれば十分である。選択さ
れた平面上の軸移動指令を含むブロックを保持するバブ
フッと軸移動指令を含まないブロックを保持するバッフ
ァとを分けた理由は、コーナオフセットベクトルを計算
するためには選択された平面上の軸移動指令を含まない
指令ブロック−ζ必要がない事、ま念従来技術の拡張で
先解析バッファを3個以上にし几場合は常にバッファの
数だけの先解析を行う事が必要になり、解析時間とデー
タエリア内の転送時間が問題となるからである。
以下第1図に示す工具径補正金倉んだパートプログラム
である指令プログラムP′f:処理する手順を説明する
。
である指令プログラムP′f:処理する手順を説明する
。
まず指令プログラムPiパートプログラム記憶域11
(他にプログラム入力媒体なら、テープリーグなどでも
かまわない]から1ブロツクずつ読み出してそのブロッ
ク内に選択された平面上の軸移動指令があるかどうかを
調べあれば先解析バッファA1へ入れ、工具径補正を行
なう為の解析処理を行ない、なければ先解析バッファB
1へ入れ工具径補正以外の解析処理を行なう。1ブロツ
クのデータi?A1へ入ったならバッファA1からバッ
ファA2にデータを移し、ブロックデータがB1へ入っ
たならばB1の中のバッファの間で、例工ばバッファB
lnからバッファB 1n+1へデータを移す。このよ
うにしてA系統のバッファへ入ったブロックデータはA
n 4 An+1のように先のバッファヘデータを移し
、B系統のバッファへ入ったブロックのデータはBin
−Bl n+1のように同レベルのバッファ内でデー
タを移す0ま次A系統のバッファ間でデータ?転送する
時にはB系統のバッファ間Bl、B2でもB11→B2
1.B12→B22゜・・B1n→B2nのようにデー
タを転送する。このように各先解析バッファヘプ0−7
クデータ?蓄え、A系統のバッファ内のデータにより、
コーナオフセットベクトルの算出ならびにコーナオフセ
ットベクトル間の干渉チェックを行いワークへの切り込
み過ぎを監視しながらプログラムを実行してゆく。なお
プログラムの実行バッファ12で[A。
(他にプログラム入力媒体なら、テープリーグなどでも
かまわない]から1ブロツクずつ読み出してそのブロッ
ク内に選択された平面上の軸移動指令があるかどうかを
調べあれば先解析バッファA1へ入れ、工具径補正を行
なう為の解析処理を行ない、なければ先解析バッファB
1へ入れ工具径補正以外の解析処理を行なう。1ブロツ
クのデータi?A1へ入ったならバッファA1からバッ
ファA2にデータを移し、ブロックデータがB1へ入っ
たならばB1の中のバッファの間で、例工ばバッファB
lnからバッファB 1n+1へデータを移す。このよ
うにしてA系統のバッファへ入ったブロックデータはA
n 4 An+1のように先のバッファヘデータを移し
、B系統のバッファへ入ったブロックのデータはBin
−Bl n+1のように同レベルのバッファ内でデー
タを移す0ま次A系統のバッファ間でデータ?転送する
時にはB系統のバッファ間Bl、B2でもB11→B2
1.B12→B22゜・・B1n→B2nのようにデー
タを転送する。このように各先解析バッファヘプ0−7
クデータ?蓄え、A系統のバッファ内のデータにより、
コーナオフセットベクトルの算出ならびにコーナオフセ
ットベクトル間の干渉チェックを行いワークへの切り込
み過ぎを監視しながらプログラムを実行してゆく。なお
プログラムの実行バッファ12で[A。
8両系統のバッファに入っ之ブロックは、プログラムで
指令された順序で実行されるようにコントロールされて
いる。第2図に第1図に示す指令プログラムPi本発明
のプログラム先解析法を使用して実行する場合のプログ
ラム通路と工具万フセブト通路を示し、第3図に従来の
解析法で指令プログラムPを実行する場合のプログラム
通路と工具オフセット通路?示す。
指令された順序で実行されるようにコントロールされて
いる。第2図に第1図に示す指令プログラムPi本発明
のプログラム先解析法を使用して実行する場合のプログ
ラム通路と工具万フセブト通路を示し、第3図に従来の
解析法で指令プログラムPを実行する場合のプログラム
通路と工具オフセット通路?示す。
(発明の効果)
以上で述べたように本発明のプログラム先解析法による
とパートプログラムにおいて選択され素子面上の軸移動
指令を含むブロックと次の軸移動指令を含むブロックの
間にある選択された平面上の軸移動指令を含まないブロ
ックの数が変化してもコーナオフセットベクトルの算出
並びにコーナオフセットベクトルの干渉チェックを正常
に行う事が出来るので工具の切り込み過ぎを生じない目
的とする加工を正しく行う事が可能になる。
とパートプログラムにおいて選択され素子面上の軸移動
指令を含むブロックと次の軸移動指令を含むブロックの
間にある選択された平面上の軸移動指令を含まないブロ
ックの数が変化してもコーナオフセットベクトルの算出
並びにコーナオフセットベクトルの干渉チェックを正常
に行う事が出来るので工具の切り込み過ぎを生じない目
的とする加工を正しく行う事が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明での先解析用バッファ構成と指令プログ
ラムを先解析する時の指令ブロックの流れを示す図であ
る。 第2図は本発明の方法により第1図に示す指令! プログラムの処理する状態を示す。 第3図は従来の方法で第1図に示す指令プログラムを処
理する状態を示す。 第4図は交点演算方式の工具径補正におけるプログラム
通路と工具オフセブト通路の関係を示す。 第5図はコーナオフセットベクトルの干渉チェックの状
態を示す。 第6図は工具径正中選択された平面上の軸移動指令を含
む指令プログラムの間に選択され素子面上の軸移動指令
?含まないブロックが1ブロツクある場合の従来の方法
による処理例?示す。 第7図は従来の方法による先解析バブファ構成と先解析
する時の指令ブロックの流れ?示す。 第8図は工具径補正中に選択された平面上の軸移動指令
を含まないブロックが2プ0ツク連続した場合の従来の
方法による処理例を示す。 第9図は工具径補正中に選択された平面上の軸移動指令
があるブロックとないブロックが交互に指令された場合
の従来の方法による処理例を示す。
ラムを先解析する時の指令ブロックの流れを示す図であ
る。 第2図は本発明の方法により第1図に示す指令! プログラムの処理する状態を示す。 第3図は従来の方法で第1図に示す指令プログラムを処
理する状態を示す。 第4図は交点演算方式の工具径補正におけるプログラム
通路と工具オフセブト通路の関係を示す。 第5図はコーナオフセットベクトルの干渉チェックの状
態を示す。 第6図は工具径正中選択された平面上の軸移動指令を含
む指令プログラムの間に選択され素子面上の軸移動指令
?含まないブロックが1ブロツクある場合の従来の方法
による処理例?示す。 第7図は従来の方法による先解析バブファ構成と先解析
する時の指令ブロックの流れ?示す。 第8図は工具径補正中に選択された平面上の軸移動指令
を含まないブロックが2プ0ツク連続した場合の従来の
方法による処理例を示す。 第9図は工具径補正中に選択された平面上の軸移動指令
があるブロックとないブロックが交互に指令された場合
の従来の方法による処理例を示す。
Claims (2)
- (1)NCシステムにおいて工具径補正の為にパートプ
ログラムを解析するに際し、選択された平面上の軸移動
指令を含むブロックを保持する第1先解析バッファ群と
、前記第1先解析バッファ群に保持した選択された平面
上の軸移動指令を含むブロックの間にある選択された平
面上の軸移動指令を含まないブロックを保持する第2先
解析バッファ群とを設け、 前記第1先解析バッファ群に保持された選択された平面
上の軸移動指令を含むブロックからコーナオフセットベ
クトルを算出し、ワークへの切り込み過ぎを防ぐ事を特
徴とするプログラム先解析方法。 - (2)第1先解析バッファ群が3個のバッファから成る
事を特徴とする特許請求範囲第1項記載のプログラム先
解析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20848486A JP2777711B2 (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | プログラム先解析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20848486A JP2777711B2 (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | プログラム先解析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6364107A true JPS6364107A (ja) | 1988-03-22 |
JP2777711B2 JP2777711B2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=16556925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20848486A Expired - Fee Related JP2777711B2 (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | プログラム先解析方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2777711B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993015450A1 (en) * | 1992-02-03 | 1993-08-05 | Fanuc, Ltd | Graphic interference check apparatus |
JP2008129994A (ja) * | 2006-11-24 | 2008-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | 数値制御システム |
-
1986
- 1986-09-04 JP JP20848486A patent/JP2777711B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993015450A1 (en) * | 1992-02-03 | 1993-08-05 | Fanuc, Ltd | Graphic interference check apparatus |
US5416715A (en) * | 1992-02-03 | 1995-05-16 | Fanuc Ltd. | Apparatus for graphically checking for interference between a workpiece and a tool |
JP2008129994A (ja) * | 2006-11-24 | 2008-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | 数値制御システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2777711B2 (ja) | 1998-07-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |