JPS6363194A - ダイナミツクramのセンスアンプのドライブ装置 - Google Patents

ダイナミツクramのセンスアンプのドライブ装置

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JPS6363194A
JPS6363194A JP61206646A JP20664686A JPS6363194A JP S6363194 A JPS6363194 A JP S6363194A JP 61206646 A JP61206646 A JP 61206646A JP 20664686 A JP20664686 A JP 20664686A JP S6363194 A JPS6363194 A JP S6363194A
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JP
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transistor
voltage
sense amplifier
power supply
supply terminal
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JP61206646A
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Yoichi Nishino
洋一 西野
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はIC化に好適なダイナミックRAMのセンスア
ンプのドライブ装置に関する。
〔発明の概要〕
本発明はダイナミックRAMのセンスアンプのドライブ
装置に関し、第1及び第2の電源端子間に順次接続され
た電圧安定化回路、センスアンプ及びドライブ回路とを
有し、電圧安定化回路は、第1の電源端子及び上記セン
スアンプ間に第1のトランジスタの両出力電極が接続さ
れ、比較器によって第1のトランジスタのセンスアンプ
側の出力電極の電圧が基準電圧と比1較され、比較器の
出力端及び第1のトランジスタの制御電極間に第2のト
ランジスタの両出力電極が接続され、第1の電源端子及
び第1のトランジスタの制御電極間に第3のトランジス
タの両出力電極が接続されて構成され、ドライブ回路は
センスアンプ及び第2の電源端子間に両出力電極が接続
された第4のトランジスタにて構成され、第4のトラン
ジスタの制御電極には第1のクロック信号が供給される
と共に、第2及び第3のトランジスタの制御電極には第
2のクロック信号が供給されるようにしたことにより、
IC化した場合のチップ面積を減少することができる。
〔従来の技術〕
以下に、第3図を参照して、従来のダイナミックRAM
のセンスアンプのドライブ装置について説明する。第3
図において、(1)は電圧安定化回路(ダウンコンバー
タ)、(2)はドライブ回路、(3)はセンスアンプ、
(4)はドライブ回路で、これらは順次第1及び第2の
電源端子T1、T2間に接続される。十Bはこれら電源
端子71、T2間に接続される電源を示す。
先ず、センスアンプ(3)の構成について説明するa 
Q a SQ l)は夫々PチャンネルMO3)ランジ
スタ、QCSQdは夫々NチャンネルMOSトランジス
タである。トランジスタQ a s Q bの各ソース
が点すに接続され、その各ドレインが夫夫トランジスタ
QcSQdの各ドレインに接続される。トランジスタQ
 c SQ dの各ソースは点Cに接続される。トラン
ジスタQb、Qdの各ゲートは、トランジスタQ a 
s Q cの接続中点に接続されると共に、これには一
方のビット線からの信号BLが供給される。トランジス
タQa、Q(の各ゲートは、トランジスタQb、Qdの
接続中点に接続されると共に、これには他方のビット線
からの信号証が供給される。
次に、ドライブ回路(2)の構成について説明する。こ
のドライブ回路(2)は、PチャンネルMO3)ランジ
スタQ2から構成され、トランジスタQ2のドレインが
点すに接続される。又、トランジスタQ2のゲートには
、入力端子(6)からクロック信号φ2が供給される。
・ 次に、ドライブ回路(4)の構成について説明する。こ
のドライブ回路(4)は、NチャンネルMO5)ランジ
スタQ3から構成され、トランジスタQ3のドレインが
点Cに接続され、そのソースは電源端子T2を通じて接
地される。又、トランジスタQ3のゲートには、入力端
子(7)からクロック信号φ1が供給される。。
次ぎに、ダウンコンバータ(1)について説明する。こ
のダウンコンバータ(1)は、PチャンネルMOSトラ
ンジスタQ1及び電圧比較器(10)から構成される。
トランジスタQ、のドレインが電源端子T、に接続され
る。電源子Bによって、この電源端子TIに与えられる
電圧をVOOとする。トランジスタQ、のソースが点a
に接続される。比較器(10)に点aの電圧が供給され
て、入力端子(5)からの基準電圧V ref〔例えば
3(v)である〕と比較され、その比較出力がトランジ
スタQ1 のゲートに供給される。
次ぎに、この従来例の動作を、第4図の特性曲線図を参
照して説明しよう。第4図では、上述品クロック信号φ
1、φ2、及び点a、b、cの特性曲線を示す。
■プリチャージ クロック信号φ1の電圧は0 (V) 、クロック信号
φ2の電圧は、Voo(V)(4〜5(V))である。
点aの電圧は、vcc (V)  (3(V) )であ
る、信号BLSBLの電圧及び点すの電圧は、(1/2
)Vcc (V)(1,5(V))である。
点Cの電圧は、(1/2)Vcc (V)である。そし
て、トランジスタQ2はオフ、トランジスタQ a N
Q dはオフ、トランジスタQ3はオフである。
■アクセス クロック信号φ1が0 (V)から立ち上がり始め、こ
のため点Cの電圧も(1/2)Vcc (V)から立ち
下がり始る。その他は、■のプリチャージの時と同様で
ある。
■センシング クロック信号φ1の電圧が上昇してVoo(V)に成る
。クロック信号φ2の電圧は、Voo(V)のままであ
る。信号証の電圧及び点Cの電圧は、0 (v)に向か
って立ち下がる。点aの電圧はVC(’ (V)のまま
であり、信号BLの電圧及び点すの電圧は(1/2)V
cc (V)のままである。そして、トランジスタQ3
はオン、トランジスタQdはオンに成る。トランジスタ
Q2、トランジスタQ a 、Q b % Q cはオ
フのままである。
■リストア クロック信号φ2の電圧が立ち下がって、0(V)に成
る。クロック信号φ1の電圧は、VOOのままである。
信号BLの電圧及び点すの電圧は立ち上がってVcc(
V)に成る。信号圧の電圧及び点Cの電圧は0 (V)
である。但し、信号圧の電圧は、トランジスタQbがオ
ンしたとき一時的にオンに成るが、それ以外は0(■)
である。点aの電圧はVcc (V)のままである。そ
して、トランジスタQ2はオン、トランジスタQ3はオ
ン、トランジスタQaはオン、トランジスタQbはオフ
、トランジスタQcはオフ、トランジスタQdはオンに
成る。かくして、トランジスタQaSQbは、ランチ動
作を開始する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
かかる従来のダイナミックRAMのセンスアンプのドラ
イブ装置では、トランジスタQB 、Q2、Q3は、2
00mA程度の比較的大きな電流を流し得るようになさ
れているので、ICにおいて大きな面積を占め、このた
めICのチップ面積が大となってしまう。
かかる点に鑑み、本発明はIC化された場合のチップ面
積を減少することのできるダイナミックRAMのセンス
アンプのドライブ装置を提案しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によるダイナミックRAMのセンスアンプのドラ
イブ装置は、第1及び第2の電源端子Tl 、72間に
順次接続された電圧安定化回路(1)、センスアンプ(
3)及びドライブ回路(4)とを有し、電圧安定化回路
(1)は、第1の電源端子T1及びセンスアンプ(3)
間に両出力電極が接続された第1のトランジスタQ1と
・このMlのトランジスタQ!のセンスアンプ(3)側
の出力電極の電圧を基準電圧と比較する比較器(10)
と、この比較器(10)の出力端及び第1のトランジス
タQ1の制御電極間に両出力電極が接続された第2のト
ランジスタQ4と、第1の電源端子T、及び第1のトラ
ンジスタQ1の制御電極間に両出力電極が接続された第
3のトランジスタQ5とから成り、ドライブ回路(4)
はセンスアンプ(3)及び第2の電源端子12間に両出
力電極が接続された第4のトランジスタQ3から成り、
第4のトランジスタQ3の制御電極には第1のクロック
信号φ1が供給されると共に、第2及び第3のトランジ
スタQ4、Q5の制御電極には第2のクロック信号φ2
が供給されるようにしたことを特徴とするものである。
〔作用〕
かかる本発明によれば、大電流用トランジスタの個数が
、QH、Q3と2個に成り、大電流用トランジスタの個
数が3 ivAの場合に比べて、この大電流用トランジ
スタの占有面積が、1/4に減少し、ダイナミックRA
Mのセンスアンプのドライブ装置をIC化した場合のチ
ップ面積が減少する。
〔実施例〕
以下に、第1図を参照して、本発明の一実施例を詳細に
説明するも、上述の第3図の従来例と対応する部分には
同一符号を付して、重複説明を省略する。(1)は電圧
安定化回路(ダウンコンバータ)、(3)はセンスアン
プ、(4)はドライブ回路で、これらは順次第1及び第
2の電源端子Tl 、T2間に接続される。十Bはこれ
ら電源端子Tl s Tz間に接続される電源を示す。
センスアンプ(3)及びドライブ回路(4)は、第3図
と同一構成を採っているので、その構成の説明は省略す
る。
次ぎに、ダウンコンバータ(1)の構成を説明する。Q
lはPチャンネルMO3)ランジスタ、Q4はNチャン
ネルMO3)ランジスタ、Q5はPチャンネルMO3I
−ランジスタ、(10)は電圧比較器である。電源端子
T1及び点す間に、トランジスタQ、のドレイン及びソ
ースが接続される。点すの電圧が比較器(10)に供給
されて、入力端子(5)からの基準電圧Vrefと電圧
比較される。比較器(10)の出力端及びトランジスタ
Q1 のゲート間にトランジスタQ4のソース及びドレ
インが接続される。電源端子T1及びトランジスタQ1
のゲート間に、トランジスタQ5のドレイン及びソース
が接続される。トランジスタQ4 、Q5の各ゲートに
、クロック信号φ2が供給される。
次ぎに、この実施例の動作を、第2図の特性曲線図を参
照して説明しよう。第2図では、上述のクロック信号φ
1、φ2、及び点す、c、dの特性曲線を示す。尚、ク
ロック信号φ2の特性は、第4図とは逆極性と成ってい
る。
■プリチャージ クロック信号φ1、φ2の電圧は、O(V)でアル。点
d(7)電圧は、Voo (V)(4〜5 (V))で
ある。信号BL、BLの電圧及び点すの電圧は、(1/
2)Vcc (V)(1,5(V))である。
点Cの電圧は、(1/ 2 ) V cc (V )で
ある。そして、トランジスタQ1 はオフ、トランジス
タQ5はオン、トランジスタQ4はオフである。トラン
ジスタQ a −Q dはオフ、トランジスタQ3はオ
フである。
■アクセス クロック信号φ1が0(v)から立ち上がり始め、この
ため点Cの電圧も(1/2)Vcc (V)から立ち下
がり始る。その他は、■のプリチャージの時と同様であ
る。
■センシング クロック信号φ、の電圧が上昇してVoo(V)に成る
。クロック信号φ2の電圧は、0(V)のままである。
信号証の電圧及び点Cの電圧は、0(V)に向かって立
ち下がる。点dの電圧はvoD(V)のままであり、信
号BLの電圧及び点すの電圧は(1/2)Vcc(V)
のままである。そして、トランジスタQ3はオン、トラ
ンジスタQdはオンに成る。トランジスタQ、はオフ、
トランジスタQ5はオン、トランジスタQ4はオフ、ト
ランジスタQa、Qb、Qcはオフのままである。
■リストア クロック信号φ2の電圧が立ち上がって、VOO(V)
に成る。クロック信号φ、の電圧は、vanのままであ
る。信号BLの電圧及び点すの電圧は立ち上がってVc
c (V)に成る。信号症の電圧及び点Cの電圧は0(
V)である。但し、信号症の電圧は、トランジスタQb
がオンしたとき一時的にオンに成るが、それ以外は0(
■)である。点dの電圧は立ち下がって、(1/4)V
cc (V)に成る。そして、トランジスタQ1 はオ
ン、トランジスタQ5がオフ、トランジスタQ4がオン
、トランジスタQ3がオンである。トランジスタQaは
オン、トランジスタQbはオフ、トランジスタQcはオ
フ、トランジスタQdはオンに成る。かくして、トラン
ジスタQ a s Q bは、ラッチ動作を開始する。
かかるダイナミックRAMのセンスアンプのドライブ装
置によれば、従来必要であった3個の大電流用トランジ
スタが、トランジスタQ2 、Q3と2個に減り、この
ため、大電流用トランジスタの占有面積が従来の1/2
に減少した。このためこの装置をIC化したときのチッ
プ面積がそれだけ狭(成る。
〔発明の効果〕
上述せる本発明によれば、IC化した場合のチップ面積
を減少することのできるダイナミックRAMのセンスア
ンプのドライブ装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図はその
説明に供する特性曲線図、第3図は従来例を示す回路図
、第4図はその説明に供する特性曲線図である。 (1)は電圧安定化回路(ダウンコンバータ)、(3)
はセンスアンプ、(4)はドライブ回路・(I O)は
比較器、Q a−Q d 、Q 1 s Q 3□Q4
 、Q5はMOS)ランジスタである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 第1及び第2の電源端子間に順次接続された電圧安定化
    回路、センスアンプ及びドライブ回路とを有し、 上記電圧安定化回路は、上記第1の電源端子及び上記セ
    ンスアンプ間に両出力電極が接続された第1のトランジ
    スタと、該第1のトランジスタの上記センスアンプ側の
    出力電極の電圧を基準電圧と比較する比較器と、該比較
    器の出力端及び上記第1のトランジスタの制御電極間に
    両出力電極が接続された第2のトランジスタと、上記第
    1の電源端子及び上記第1のトランジスタの制御電極間
    に両出力電極が接続された第3のトランジスタとから成
    り、 上記ドライブ回路は上記センスアンプ及び上記第2の電
    源端子間に両出力電極が接続された第4のトランジスタ
    から成り、 上記第4のトランジスタの制御電極には第1のクロック
    信号が供給されると共に、上記第2及び第3のトランジ
    スタの制御電極には第2のクロック信号が供給されるよ
    うにしたことを特徴とするダイナミックRAMのセンス
    アンプのドライブ装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6125075A (en) * 1985-07-22 2000-09-26 Hitachi, Ltd. Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions
JP2006326387A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Waki Sangyo:Kk 曝気タンク構造

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6125075A (en) * 1985-07-22 2000-09-26 Hitachi, Ltd. Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions
US6363029B1 (en) 1985-07-22 2002-03-26 Hitachi, Ltd. Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions
US6970391B2 (en) 1985-07-22 2005-11-29 Renesas Technology Corporation Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions
US7002856B2 (en) 1986-07-18 2006-02-21 Renesas Technology Corporation Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions
JP2006326387A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Waki Sangyo:Kk 曝気タンク構造

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