JPS6362878A - 透明導電膜製造方法 - Google Patents
透明導電膜製造方法Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、可視光域で透明であり、なおかつ導電性を持
ち、各種ディスプレイや太陽電池等に用いられる透明導
電膜製造方法に関するものである。
ち、各種ディスプレイや太陽電池等に用いられる透明導
電膜製造方法に関するものである。
従来の技術
近年、透明導電膜は、各種ディスプレイの開発に伴い、
その需要は、増加の傾向にある。透明導電膜のII頚と
しては、酸化インジウム、酸化亜鉛。
その需要は、増加の傾向にある。透明導電膜のII頚と
しては、酸化インジウム、酸化亜鉛。
酸化錫等があるが、この中では、導電性の点より、錫を
不純物として含む酸化インジウム(1,T、O;)によ
るものが現在主流である。しかしながら、酸化錫は、低
価格、耐寿命性という点で、見直されてきている。
不純物として含む酸化インジウム(1,T、O;)によ
るものが現在主流である。しかしながら、酸化錫は、低
価格、耐寿命性という点で、見直されてきている。
従来、酸化錫膜の製法としては、基材自体を加熱するか
、あるいは、基材を収めた反応室全体を加熱し、基材周
辺の反応性ガスを熱分解して、熱分解生成物である酸化
錫を基材上に、形成する方法が、一般的であった。
、あるいは、基材を収めた反応室全体を加熱し、基材周
辺の反応性ガスを熱分解して、熱分解生成物である酸化
錫を基材上に、形成する方法が、一般的であった。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、従来の酸化錫膜製造方法では、基材周辺
の空間全体が高温になっているので、反応性ガスの熱分
解生成物が、さらに、二次的、三次的に、熱分解したり
、あるいは、熱分解生成物が、未分解の反応ガスと反応
して、形成した薄膜中に、大小様々なビットが生じる問
題点があった。
の空間全体が高温になっているので、反応性ガスの熱分
解生成物が、さらに、二次的、三次的に、熱分解したり
、あるいは、熱分解生成物が、未分解の反応ガスと反応
して、形成した薄膜中に、大小様々なビットが生じる問
題点があった。
また、基材が強く加熱されるので、基材の歪、そり、m
み等、加熱による寸法精度の狂いや、基材自体の組織の
変質や、すでに基材に形成された機能的構造の変化等、
形成薄膜と基材双方に、多くの損傷が発生するという問
題点があった。
み等、加熱による寸法精度の狂いや、基材自体の組織の
変質や、すでに基材に形成された機能的構造の変化等、
形成薄膜と基材双方に、多くの損傷が発生するという問
題点があった。
また、一方では、酸化錫膜は、一般的に、抵抗が高く、
十分な導電膜としての特性を得ることができないという
問題点もあった。
十分な導電膜としての特性を得ることができないという
問題点もあった。
本発明は、上記問題に鑑み、より導電性が高く、しかも
損傷のない均質な酸化錫膜よりなる透明導電膜を提供す
るものである。
損傷のない均質な酸化錫膜よりなる透明導電膜を提供す
るものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明の透明導電膜製造
方法は、大気中、または減圧中で、所用の基材の表面に
接して、気体状のアンチモン化合物を含む錫化合物ガス
と酸素ガスを主成分とするガス状気流を送り、レーザビ
ームで前記基材面を照射加熱することにより、前記ガス
状気流を熱分解し、基材面に、アンチモンを含有する酸
化錫膜を形成するという構成を備えたものである。
方法は、大気中、または減圧中で、所用の基材の表面に
接して、気体状のアンチモン化合物を含む錫化合物ガス
と酸素ガスを主成分とするガス状気流を送り、レーザビ
ームで前記基材面を照射加熱することにより、前記ガス
状気流を熱分解し、基材面に、アンチモンを含有する酸
化錫膜を形成するという構成を備えたものである。
作用
本発明は、上記した構成によって、レーザビームが照射
された基材表面のみが、瞬間的に、加熱され、その加熱
表面だけに限定して、アンチモン化合物を含む錫化合物
ガスと酸素ガスよりなる反応ガスの熱分解反応を誘発す
ることができる。すなわち、基材に近接する空間に存在
する反応性ガスの熱的過程を伴うことなく、基材表面の
みに、製膜反応を起すことができる。従って、実質的な
低温表面反応によって、高品質のアンチモンを含有した
酸化錫膜よりなる透明導電膜を得ることができる。
された基材表面のみが、瞬間的に、加熱され、その加熱
表面だけに限定して、アンチモン化合物を含む錫化合物
ガスと酸素ガスよりなる反応ガスの熱分解反応を誘発す
ることができる。すなわち、基材に近接する空間に存在
する反応性ガスの熱的過程を伴うことなく、基材表面の
みに、製膜反応を起すことができる。従って、実質的な
低温表面反応によって、高品質のアンチモンを含有した
酸化錫膜よりなる透明導電膜を得ることができる。
実施例
以下本発明の透明導電膜製造方法の一実施例について、
図面を参照しながら説明する。
図面を参照しながら説明する。
第1図は、本発明の一実施例において用いた大気中での
透明導電膜の製造装置の構成を示すものである。レーザ
発振器1より水平に発射されたCO□レーザビーム14
は反射ミラー2で、下方に方向転換され、次に、2枚の
回転ミラー3でXYY方向に掃引される。すなわち、試
料台8にのせられた基材であるガラス基板5の表面上を
XY二二部間掃引照射する。この時、瞬時に基板上のレ
ーザ照射部は加熱される。
透明導電膜の製造装置の構成を示すものである。レーザ
発振器1より水平に発射されたCO□レーザビーム14
は反射ミラー2で、下方に方向転換され、次に、2枚の
回転ミラー3でXYY方向に掃引される。すなわち、試
料台8にのせられた基材であるガラス基板5の表面上を
XY二二部間掃引照射する。この時、瞬時に基板上のレ
ーザ照射部は加熱される。
さて、酸化錫材料である反応ガス系は、それぞれ液化状
態の、錫化合物である塩化ジメチル錫((CH,) 2
SnCj!2 ’)10、およびアンチモン化合物であ
る五塩化アンチモン(SbCj!5)9、をArガス1
1.12でバブリングすることにより0213とともに
、反応ガス供給ノズル6より、錫および、アンチモンを
含有する反応性ガス4として、基板上に噴出している。
態の、錫化合物である塩化ジメチル錫((CH,) 2
SnCj!2 ’)10、およびアンチモン化合物であ
る五塩化アンチモン(SbCj!5)9、をArガス1
1.12でバブリングすることにより0213とともに
、反応ガス供給ノズル6より、錫および、アンチモンを
含有する反応性ガス4として、基板上に噴出している。
なお、噴出されたガスは反応性ガス排気ロアより、回収
される。
される。
第2図は、反応部分の機構を示したものであるが、反応
性ガス供給ノズル6には、噴射溝および溝底には、噴気
孔を一定間隔で設けている。Ar:3j!/sin
、o□ r31 /win 、(CH8)2 Sn
Cl 2ガスを含むAr : 0.3 A/+*in
、5bCj!5ガスを含むAr : 0. 01〜0.
317m1n 、の反応性ガス組成の時、反応性ガス
供給ノズル6より噴出される反応性ガス4の形状は、幅
100mm。
性ガス供給ノズル6には、噴射溝および溝底には、噴気
孔を一定間隔で設けている。Ar:3j!/sin
、o□ r31 /win 、(CH8)2 Sn
Cl 2ガスを含むAr : 0.3 A/+*in
、5bCj!5ガスを含むAr : 0. 01〜0.
317m1n 、の反応性ガス組成の時、反応性ガス
供給ノズル6より噴出される反応性ガス4の形状は、幅
100mm。
厚さ約Losmの板状で試料台上のガラス基板5の表面
を水平に、約3m/secの速度で通過する。
を水平に、約3m/secの速度で通過する。
レーザ発振器1より発振し、反射ミラー2にて方向転換
したレーザビーム14を回転ミラー3にて、ガラス基板
5上をY一方向に掃引すると、レーザビームの掃引に連
れて、基板面に酸化錫膜の堆積が起る。また、回転ミラ
ーにて、レーザを連続的に、基板上をXYY方向に、掃
引すれば、2次元の大面積に酸化錫膜の堆積が起る。
したレーザビーム14を回転ミラー3にて、ガラス基板
5上をY一方向に掃引すると、レーザビームの掃引に連
れて、基板面に酸化錫膜の堆積が起る。また、回転ミラ
ーにて、レーザを連続的に、基板上をXYY方向に、掃
引すれば、2次元の大面積に酸化錫膜の堆積が起る。
酸化錫膜の堆積速度は、レーザ出力、および、レーザの
走行速度に依存している。すなわち、レーザ出力の増加
にともない堆積速度は高くなるとともに、レーザ掃引速
度が高速になると急激に減少する。いずれもレーザ照射
部の基板表面温度に大きく依存しているためである。た
とえばレーザ出力50W、レーザビーム径6w、基板上
でのレーザ掃引速度3 m 75ecのとき、照射部は
、局部的に400〜600℃に加熱されている。これは
良質の酸化錫膜を形成するために必要な基板温度を十分
に満足するものであるが、高温加熱部は、基板の表面層
のみ、しかも、レーザビーム照射瞬間のみに限られてい
る。従って、基板自体の温度は上がることなく、実質的
に低温工程で、酸化錫膜が作製されたこととなる。よっ
て、従来の高温工程のために発生した形成薄膜および、
基板双方の多くの…傷が回避され、均質で信鯨性の高い
膜を作成することができる。
走行速度に依存している。すなわち、レーザ出力の増加
にともない堆積速度は高くなるとともに、レーザ掃引速
度が高速になると急激に減少する。いずれもレーザ照射
部の基板表面温度に大きく依存しているためである。た
とえばレーザ出力50W、レーザビーム径6w、基板上
でのレーザ掃引速度3 m 75ecのとき、照射部は
、局部的に400〜600℃に加熱されている。これは
良質の酸化錫膜を形成するために必要な基板温度を十分
に満足するものであるが、高温加熱部は、基板の表面層
のみ、しかも、レーザビーム照射瞬間のみに限られてい
る。従って、基板自体の温度は上がることなく、実質的
に低温工程で、酸化錫膜が作製されたこととなる。よっ
て、従来の高温工程のために発生した形成薄膜および、
基板双方の多くの…傷が回避され、均質で信鯨性の高い
膜を作成することができる。
また、本−実施例では、酸化錫膜の不純物としてのアン
チモン化合物ガスを独立に流量調整することが可能であ
る。アンチモンは、通常、酸化錫膜の不純物として抵抗
値制御の効果を持つ、第3図は、アンチモン化合物ガス
の流量と、膜の電気特性との関係をグラフにしたもので
あるが、酸化錫膜の比抵抗値は、A「ガスによる5bC
j15バブリング流量Q、 l 1/sinの時最小
であり、2〜3X10−3Ω・lを示す。すなわち、ア
ンチモンを酸化錫膜中に取り入れることにより、膜抵抗
を2桁程低くすることが可能である。また、この時製作
された酸化錫膜の透過率は、可視領域で80〜95%と
、良好である。
チモン化合物ガスを独立に流量調整することが可能であ
る。アンチモンは、通常、酸化錫膜の不純物として抵抗
値制御の効果を持つ、第3図は、アンチモン化合物ガス
の流量と、膜の電気特性との関係をグラフにしたもので
あるが、酸化錫膜の比抵抗値は、A「ガスによる5bC
j15バブリング流量Q、 l 1/sinの時最小
であり、2〜3X10−3Ω・lを示す。すなわち、ア
ンチモンを酸化錫膜中に取り入れることにより、膜抵抗
を2桁程低くすることが可能である。また、この時製作
された酸化錫膜の透過率は、可視領域で80〜95%と
、良好である。
なお、以上の一実施例では、レーザ源としてCO2レー
ザ、基材として、ガラス基板を用いているが、いずれも
これに限定するものではない、レーザは、基材に照射し
た時、発熱効果の大きいものであれば良い、いいかえれ
ば、基材がレーザを効率良く吸収することが望ましい、
従って、基材とレーザとの間には、最適の組合せという
ものが存在する。
ザ、基材として、ガラス基板を用いているが、いずれも
これに限定するものではない、レーザは、基材に照射し
た時、発熱効果の大きいものであれば良い、いいかえれ
ば、基材がレーザを効率良く吸収することが望ましい、
従って、基材とレーザとの間には、最適の組合せという
ものが存在する。
すなわち、実施例としての、CO2レーザとガラス基板
という組合せの他、St基板に対しては、Arレーザ、
Krレーザ、ルビーレーザが、セラミックやガラス基板
に対しては、CO2レーザのほか、YAGレーザ、HF
/DFケミカルレーザがある。
という組合せの他、St基板に対しては、Arレーザ、
Krレーザ、ルビーレーザが、セラミックやガラス基板
に対しては、CO2レーザのほか、YAGレーザ、HF
/DFケミカルレーザがある。
また、以上の一実施例において、錫化合物10としては
、(CH,)2SnC12を用いているが、これ以外に
も、常温、或いは、加熱時に、液体または気体であり、
反応域へ不活性ガス等によるキャリヤガスを用いること
で、錫化合物のガス状気流として、反応域に供給が可能
なものであればよく、実施例以外にも、5nC14+(
CH3)4Sn。
、(CH,)2SnC12を用いているが、これ以外に
も、常温、或いは、加熱時に、液体または気体であり、
反応域へ不活性ガス等によるキャリヤガスを用いること
で、錫化合物のガス状気流として、反応域に供給が可能
なものであればよく、実施例以外にも、5nC14+(
CH3)4Sn。
C,II、5nH8,c、II、SnC/!8.(C4
H0)2Sn(1!2.(C4Hg )2 SnO,(
C4H0)、Sn。
H0)2Sn(1!2.(C4Hg )2 SnO,(
C4H0)、Sn。
(C8Hy )25nCJ2 、 (CB H,>2
0゜(C8H,)、S n、(C,Ho)25n(OC
H3)。
0゜(C8H,)、S n、(C,Ho)25n(OC
H3)。
(C,H2O)、 S n、(C,Ho)2S n (
OCCH8)2等があげられる。また、アンチモン化合
物についても同様なことがいえ、実施例の5bcx5以
外に、SbC!13. (C0H5)、Sb、5bH
8゜Sb OSb OSb O・nHzo。
OCCH8)2等があげられる。また、アンチモン化合
物についても同様なことがいえ、実施例の5bcx5以
外に、SbC!13. (C0H5)、Sb、5bH
8゜Sb OSb OSb O・nHzo。
2 3’ 2 5’
2 5SbF 5bBra、5br8,5bo
cx。
2 5SbF 5bBra、5br8,5bo
cx。
Sb、05 C12,SbF5等があげられる。
なお、本−実施例では、酸化錫の製膜反応を大気中で行
っているが、これは、チャンバー等を用いて、密封大気
中、あるいは、減圧中で行うことを可能である。ただし
、この場合は、レーザビームはチャンバー外から入射す
るため、レーザビームの透過窓材が必要となるが、これ
は、C02゜ガラス、YAG、HF/DFケミカル等の
赤外光レーザに対しては、S i、Ge、KR3−5等
の結晶板を、また、A r、K rレーザ等の紫外、可
視光には、SiO□、L i F、MgF2結晶板を、
透過窓材とし、Zn5e、MgF2.LiF3CaF2
゜BaF2.NaC/!、KCI、KBr等は、可視。
っているが、これは、チャンバー等を用いて、密封大気
中、あるいは、減圧中で行うことを可能である。ただし
、この場合は、レーザビームはチャンバー外から入射す
るため、レーザビームの透過窓材が必要となるが、これ
は、C02゜ガラス、YAG、HF/DFケミカル等の
赤外光レーザに対しては、S i、Ge、KR3−5等
の結晶板を、また、A r、K rレーザ等の紫外、可
視光には、SiO□、L i F、MgF2結晶板を、
透過窓材とし、Zn5e、MgF2.LiF3CaF2
゜BaF2.NaC/!、KCI、KBr等は、可視。
赤外のいずれのレーザビームに対しても透過窓材として
使用できる。
使用できる。
以上のように本−実施例によれば、CO□レーザビーム
が照射された基板表面のみが、瞬間的に加熱され、その
加熱表面に限定した熱分解により、アンチモンを含有し
た酸化錫膜を作製することで、基板頃傷がなく、低抵抗
の透明導電膜を得ることができる。
が照射された基板表面のみが、瞬間的に加熱され、その
加熱表面に限定した熱分解により、アンチモンを含有し
た酸化錫膜を作製することで、基板頃傷がなく、低抵抗
の透明導電膜を得ることができる。
発明の効果
以上のように本発明は、大気中、または減圧中で、所用
の基材の表面に接して、気体状のアンチモン化合物を含
む錫化合物ガスと酸素ガスを主成分とするガス状気流を
送り、レーザビームで前記基材面を照射加熱することに
より、前記ガス状気流を熱分解し、基材面に、アンチモ
ンを含有する酸化錫膜を形成するため、低抵抗で、基板
1員傷のない、良質の透明導電膜を得ることができる。
の基材の表面に接して、気体状のアンチモン化合物を含
む錫化合物ガスと酸素ガスを主成分とするガス状気流を
送り、レーザビームで前記基材面を照射加熱することに
より、前記ガス状気流を熱分解し、基材面に、アンチモ
ンを含有する酸化錫膜を形成するため、低抵抗で、基板
1員傷のない、良質の透明導電膜を得ることができる。
第1図は本発明の一実施例における大気中での透明導電
膜の製造装置の構成図、第2図は第1図における透明導
電膜の製造装置の反応部分の機構図、第3図は本発明の
一実施例において作製した、透明導電膜の電気特性図で
ある。 1・・・・・・レーザ発振器、4・・・・・・反応性ガ
ス、5・・・・・・基板、6・・・・・・反応性ガス供
給ノズル、9・・・・・・アンチモン化合物、10・・
・・・・錫化合物。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名1−−−レ
ーで疋J長4、 ?−−−リ#ミラー 3−@:転 ・ 4−−一贋交七支トス 5−−1°°ラス暴不反、 1−−−冴7ら本t7スPka−ノス゛ルq−°アソナ
也ンイζ名・甥 10−−一錫化tトオ男 1f・12−−アルコ゛ンク”ス +3−°壜禾η”又 +4−−−L−デビー4 ィー−−レーT′定ル炙1( 2−7f釣でラー 5−一一プ゛ラズ基秋 f−−一反R:社刀・p大イイフノl゛ル14−−−b
−デ°ご−4 第3図
膜の製造装置の構成図、第2図は第1図における透明導
電膜の製造装置の反応部分の機構図、第3図は本発明の
一実施例において作製した、透明導電膜の電気特性図で
ある。 1・・・・・・レーザ発振器、4・・・・・・反応性ガ
ス、5・・・・・・基板、6・・・・・・反応性ガス供
給ノズル、9・・・・・・アンチモン化合物、10・・
・・・・錫化合物。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名1−−−レ
ーで疋J長4、 ?−−−リ#ミラー 3−@:転 ・ 4−−一贋交七支トス 5−−1°°ラス暴不反、 1−−−冴7ら本t7スPka−ノス゛ルq−°アソナ
也ンイζ名・甥 10−−一錫化tトオ男 1f・12−−アルコ゛ンク”ス +3−°壜禾η”又 +4−−−L−デビー4 ィー−−レーT′定ル炙1( 2−7f釣でラー 5−一一プ゛ラズ基秋 f−−一反R:社刀・p大イイフノl゛ル14−−−b
−デ°ご−4 第3図
Claims (1)
- 所定の基材の表面に接して、気体状のアンチモン化合物
を含む錫化合物ガスと酸素ガスを主成分とするガス状気
流を送り、レーザビームで前記基材面を照射加熱するこ
とを特徴とする透明導電膜製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61206357A JPS6362878A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | 透明導電膜製造方法 |
US07/091,971 US4859496A (en) | 1986-09-02 | 1987-08-31 | Method of producing an electrically-conductive transparent film |
KR1019870009702A KR900007054B1 (ko) | 1986-09-02 | 1987-09-02 | 투명도전막의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61206357A JPS6362878A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | 透明導電膜製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6362878A true JPS6362878A (ja) | 1988-03-19 |
Family
ID=16521978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61206357A Pending JPS6362878A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | 透明導電膜製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6362878A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4541462B2 (ja) * | 1998-06-19 | 2010-09-08 | サン−ゴバン グラス フランス | ガラス基材上に金属酸化物を主成分とする層を堆積させる方法及びそれによってコーティングされたガラス基材 |
CN113441305A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-09-28 | 郑州大学 | Tcf制备用一维导电填料喷涂装置 |
-
1986
- 1986-09-02 JP JP61206357A patent/JPS6362878A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4541462B2 (ja) * | 1998-06-19 | 2010-09-08 | サン−ゴバン グラス フランス | ガラス基材上に金属酸化物を主成分とする層を堆積させる方法及びそれによってコーティングされたガラス基材 |
CN113441305A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-09-28 | 郑州大学 | Tcf制备用一维导电填料喷涂装置 |
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