JPS6362197A - X線シネ自動撮影装置 - Google Patents
X線シネ自動撮影装置Info
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- JPS6362197A JPS6362197A JP61204758A JP20475886A JPS6362197A JP S6362197 A JPS6362197 A JP S6362197A JP 61204758 A JP61204758 A JP 61204758A JP 20475886 A JP20475886 A JP 20475886A JP S6362197 A JPS6362197 A JP S6362197A
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- Japan
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 11
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、X線@撮影の分野で利用される。
本発明は、X線管と、これに管電圧を与えかつ管電圧の
調整可能な高電圧発生器と、X線イメージ管と、映画カ
メラと、X線イメージ管の出力輝度を検出する光電管と
、その検出値に基づくパルス幅信号を出力するホトタイ
マ装置と、こti段設定パルス幅設定器と、ホトタイマ
装置の出力とパルス幅設定器の出力とを比較する比較器
と、比較器の出力を取り込み高電圧発生器を制御するX
線制御装置とからなるX線シネ自動撮影装置に関し、と
くにシネフィルムに映る画質向上ないし改良に関する。
調整可能な高電圧発生器と、X線イメージ管と、映画カ
メラと、X線イメージ管の出力輝度を検出する光電管と
、その検出値に基づくパルス幅信号を出力するホトタイ
マ装置と、こti段設定パルス幅設定器と、ホトタイマ
装置の出力とパルス幅設定器の出力とを比較する比較器
と、比較器の出力を取り込み高電圧発生器を制御するX
線制御装置とからなるX線シネ自動撮影装置に関し、と
くにシネフィルムに映る画質向上ないし改良に関する。
(ロ)従来技術
特開昭56−73894号公報により、X線イメージ管
の出力輝度に基づいたパルス幅信号を発生させ、これを
設定パルス発生回路の出力と比較してシネ撮影管電圧を
定める管電圧制御回路が開示されている。
の出力輝度に基づいたパルス幅信号を発生させ、これを
設定パルス発生回路の出力と比較してシネ撮影管電圧を
定める管電圧制御回路が開示されている。
このようなX線シネ自動撮影において、被写体に応じて
フィルム濃度を一定にするために先ずシネパルス幅で濃
度をそろえ(ホトタイマ方式)、次にパルス幅を設定値
に戻すために、管電圧を変える。 同時に、管球負荷を
越えないように管電流を変化させる方式が採用されてい
る。
フィルム濃度を一定にするために先ずシネパルス幅で濃
度をそろえ(ホトタイマ方式)、次にパルス幅を設定値
に戻すために、管電圧を変える。 同時に、管球負荷を
越えないように管電流を変化させる方式が採用されてい
る。
このとき、X線管への頁rT率は、常に一定となるよう
管電流mAは変化させられる。
管電流mAは変化させられる。
(ハ)発明が解決しようとする間M点
このような従来方式では、シネフィルム濃度は一定とな
るが、次のような問題が存在する。
るが、次のような問題が存在する。
被写体が厚すぎると管電圧KVが上り、許容管掌:/N
mAが小さくなり、ざらにKVが上りすぎコントラスト
の悪い画像となる。
mAが小さくなり、ざらにKVが上りすぎコントラスト
の悪い画像となる。
一方、被写体が薄い時には、KVが下り、許容量Aが大
きくなり、さらにKVが下りすぎる。
きくなり、さらにKVが下りすぎる。
このときの画像はコントラストがつきすぎ、中間濃度の
ない診断に使えないものになったり、イメージ・インテ
ンシファイアの量子ノイズが目立ったフィルムとなる。
ない診断に使えないものになったり、イメージ・インテ
ンシファイアの量子ノイズが目立ったフィルムとなる。
この問題を解決するために、オートアイリス機構、すな
わちシネカメラのr絞りJの開度を、撮影管電圧に応じ
て変化させる方式が提案されているが、この方式では、
例えば薄い被写体のとき、「絞り1を閉じていくため、
実際の被検体への被曝線量は大きくなる。
わちシネカメラのr絞りJの開度を、撮影管電圧に応じ
て変化させる方式が提案されているが、この方式では、
例えば薄い被写体のとき、「絞り1を閉じていくため、
実際の被検体への被曝線量は大きくなる。
また、r絞り」を決定するためには、試曝を必要とし余
分な被曝線量を与えることになる。
分な被曝線量を与えることになる。
これらは、X線管の負荷も大きくなることも意味する。
またr絞りjを機械的に動かす機構が必要となり?J
!雑となる。
!雑となる。
本発明の目的は、従来の一定の負荷率のもとでKV、m
A値を変化させる方式を改めて、被写体厚に応じてX線
管の許容負荷率を変えることにより、撮影管電圧を上り
過ぎないように、また下り過ぎないように常に最適範囲
内にとどめることが可能なX線シネ自動撮影装置を提供
することである。
A値を変化させる方式を改めて、被写体厚に応じてX線
管の許容負荷率を変えることにより、撮影管電圧を上り
過ぎないように、また下り過ぎないように常に最適範囲
内にとどめることが可能なX線シネ自動撮影装置を提供
することである。
(ニ)問題点を解決するだめの手段
前記した目的は、雪面に記載した構成のX線制御装置に
おいて透視条件よりシネ撮影管電圧と1つの負荷率特性
データがそれぞれ初期設定され、シネ撮影時には比較器
出力と設定負荷率データに基づき管電圧及び管電流が可
変制御されるが、被写体の条件が変わって管電圧があら
かじめ記憶された適正範囲域を越えると他の負荷率デー
タを選択して同時に管電流も求まり設定されるようにし
た制御手段を具有することにより、速成できる。
おいて透視条件よりシネ撮影管電圧と1つの負荷率特性
データがそれぞれ初期設定され、シネ撮影時には比較器
出力と設定負荷率データに基づき管電圧及び管電流が可
変制御されるが、被写体の条件が変わって管電圧があら
かじめ記憶された適正範囲域を越えると他の負荷率デー
タを選択して同時に管電流も求まり設定されるようにし
た制御手段を具有することにより、速成できる。
(ホ)作用
薄い被写体では負荷率を下げKVの下りすぎを、厚い被
写体ではKVの上りすぎを防止し、常に管電圧を適正範
囲にとどめ、良好なコントラストと一定の濃度が併せて
得られるような制御手段を挿入する。
写体ではKVの上りすぎを防止し、常に管電圧を適正範
囲にとどめ、良好なコントラストと一定の濃度が併せて
得られるような制御手段を挿入する。
(へ)実施例
本発明の好適な実施例は、第1図から第3図について説
明される。
明される。
第1図はその1実施例を示している要部構成ブロック図
である。 ここで、1はX線管、2は被検体、3はX線
イメージ管、4はシネカメラ、5は光電管、6はホトタ
イマ装置、7は高電圧発生器、81はX線制御装置、8
2はパルス幅設定器、83はパルス幅比校器である。
である。 ここで、1はX線管、2は被検体、3はX線
イメージ管、4はシネカメラ、5は光電管、6はホトタ
イマ装置、7は高電圧発生器、81はX線制御装置、8
2はパルス幅設定器、83はパルス幅比校器である。
なお、第4図(a)は従来のシネ自動撮影時の被写体の
変化に対するKV、mA、パルス幅の動きを示す例のタ
イムチャートである。 また、第4図(b)は同図(a
)における成る設定パルス幅に対するX線管球定格例示
図である。
変化に対するKV、mA、パルス幅の動きを示す例のタ
イムチャートである。 また、第4図(b)は同図(a
)における成る設定パルス幅に対するX線管球定格例示
図である。
第4図(a)のKVとmAの変化は、同図(b)のカー
ブの上を動(ことにな葛。 なお、tRは光電管5とホ
トタイマ装置6により検出された実時間幅である。
ブの上を動(ことにな葛。 なお、tRは光電管5とホ
トタイマ装置6により検出された実時間幅である。
被写体が変化すると最初にパルス幅がtsよりtRに変
化し、ホトタイマで限時され、濃度を変化させない。
次にKVが上昇しtRよりtsのパルス幅に戻る。
化し、ホトタイマで限時され、濃度を変化させない。
次にKVが上昇しtRよりtsのパルス幅に戻る。
この動作により濃度は一定に保たれるがフィルムの画質
については先に述べた問題がある。
については先に述べた問題がある。
第2図は、被写体厚さと画質に影響する管電圧との関係
例を示す。
例を示す。
最適管電圧範囲外の点線部は、従来の方式におけるKV
の状態を示し、実線部は本発明によるものである。
の状態を示し、実線部は本発明によるものである。
第3図は成るパルス幅における許容XfJ1.管球定格
を示し、イ〜ハの順に負荷率が低下している。
を示し、イ〜ハの順に負荷率が低下している。
本発明では、被写体厚に応じて負荷率を変化させる。
つまり、被写体の薄いときには、ハのカーブすなわち負
荷率の小さなものがitbされるように制御する。
つまり、被写体の薄いときには、ハのカーブすなわち負
荷率の小さなものがitbされるように制御する。
このことにより、先の被写体厚に対応したKVが自l1
11設定されたときには、負荷率が小さいために許容量
Aも小さくなり、所望の濃度を得るために、必要以上の
KVの低下は起こらない。
11設定されたときには、負荷率が小さいために許容量
Aも小さくなり、所望の濃度を得るために、必要以上の
KVの低下は起こらない。
他方、被写体が厘いときには、イのカーブすなわち負荷
率が大きいものが選択されるように制御する。 すなわ
ち許容量Aが上りKVの過度な上昇を防ぐことができく
コントラスト向上)、これらの間の中間厚さの所では適
正な管電圧で、不必要なmAを流すことな(熱量の発生
抑制の効果が得られる。
率が大きいものが選択されるように制御する。 すなわ
ち許容量Aが上りKVの過度な上昇を防ぐことができく
コントラスト向上)、これらの間の中間厚さの所では適
正な管電圧で、不必要なmAを流すことな(熱量の発生
抑制の効果が得られる。
尚イ、口、ハの各々のカーブを選択する方法として、シ
ネ撮影前に実施される透視条件(FKV、mA)よりシ
ネ撮影時のKVが予め判るため、この透視条件より決定
する。 これは、試曝ではないので余計な被曝はない。
ネ撮影前に実施される透視条件(FKV、mA)よりシ
ネ撮影時のKVが予め判るため、この透視条件より決定
する。 これは、試曝ではないので余計な被曝はない。
また、シネ撮影中にも管電圧に応じて負荷率を変更する
のは言うまでもない。
のは言うまでもない。
本発明により、第2図に示すように広い範囲の被写体に
対して適正KV″7:!撮影でき、その範囲夕[・にお
いても、適正管電圧に近いKVで撮影可能となる。
対して適正KV″7:!撮影でき、その範囲夕[・にお
いても、適正管電圧に近いKVで撮影可能となる。
第1図の構成例について次のような動作が行なわれる。
X線制御装置81にてシネ撮影の条件KV、mA、秒聞
こま数(FPS)、シネの1力ツト時間、1こまのパル
レス中昌(パルレス巾晶設定器82より設定値が送られ
てくる)などこれらの条件によりシネ撮影がスタートす
ると、この条件に対応して常にシネフィルム濃度を一定
に保つように光電管5でその光■を検呂し、ホトタイマ
装置6にて実際のパルス幅を制御する。
こま数(FPS)、シネの1力ツト時間、1こまのパル
レス中昌(パルレス巾晶設定器82より設定値が送られ
てくる)などこれらの条件によりシネ撮影がスタートす
ると、この条件に対応して常にシネフィルム濃度を一定
に保つように光電管5でその光■を検呂し、ホトタイマ
装置6にて実際のパルス幅を制御する。
このホトタイマ装置6の制御によるパルス幅(実測パル
ス幅)は、パルス幅比較器83に送られ、パルス幅設定
器82の設定値と比較される。 比較器83より出力さ
れた実パルス幅と設定パルス幅の差の比例信号は、X線
制御器81に送られて、次のこまではシネ条件のKVを
変化させる。 この変化のさせ方は、実パルスが長いと
きには、KVを上げ、逆のときは下げる。
ス幅)は、パルス幅比較器83に送られ、パルス幅設定
器82の設定値と比較される。 比較器83より出力さ
れた実パルス幅と設定パルス幅の差の比例信号は、X線
制御器81に送られて、次のこまではシネ条件のKVを
変化させる。 この変化のさせ方は、実パルスが長いと
きには、KVを上げ、逆のときは下げる。
このKVの動きにmTIしてmAを変化させ、[KVX
mA]を一定にさせるようにX線制御器81のmA設定
値が変化する(iso−watt方式)。 この[KV
XmA]であるwattのイ直はX線管負荷率により決
定される。 この負荷率が小さくなればKVかmAのい
ずれかを小さくしなければならない。
mA]を一定にさせるようにX線制御器81のmA設定
値が変化する(iso−watt方式)。 この[KV
XmA]であるwattのイ直はX線管負荷率により決
定される。 この負荷率が小さくなればKVかmAのい
ずれかを小さくしなければならない。
本発明では、K Vが適当な範囲を逸脱したときに、こ
のX線管負荷率を変化させるものである。
のX線管負荷率を変化させるものである。
この方式では、被写体厚に応じて負荷率を変化させるこ
ととなり、薄いFi写体ではX線管への負担が軽くなる
利点もある。
ととなり、薄いFi写体ではX線管への負担が軽くなる
利点もある。
しかし濃度は所望の値に保たれ、KVが最適範囲内で撮
影できるため画質も改善される。
影できるため画質も改善される。
制御IIj]作の手順は次のように例示される。
まず、透視条件よりシネ撮影管電圧か予測される。 こ
のことにより、その管電圧が適正範囲に入っているかが
X線il+御装置81て判断される。
のことにより、その管電圧が適正範囲に入っているかが
X線il+御装置81て判断される。
同時にX線制御装置81内で第2図に示すイ、口、ハの
いずれかの負荷率が自動的に選択される。
いずれかの負荷率が自動的に選択される。
例えば負荷率口が選ばれたとする。 シネ擢影が始まり
適正濃度を得るべくシネ自動撮影機構が1き出す。 こ
のとき、口の負荷率カーブの上を動いてKV、mAが決
定される。
適正濃度を得るべくシネ自動撮影機構が1き出す。 こ
のとき、口の負荷率カーブの上を動いてKV、mAが決
定される。
シネ撮影中に被写体の条件が変わったり、スタート管電
圧が大きく実際必要なものからすれていて、管電圧が適
正範囲を超えると(菓2図の点線部)、負荷率を、管電
圧が高すぎるときは負荷率イヘ、逆のときは負荷率ハヘ
切替えるようにX線i制御装置81での撮影条件(実際
は負荷率とmA)が変化させられる。
圧が大きく実際必要なものからすれていて、管電圧が適
正範囲を超えると(菓2図の点線部)、負荷率を、管電
圧が高すぎるときは負荷率イヘ、逆のときは負荷率ハヘ
切替えるようにX線i制御装置81での撮影条件(実際
は負荷率とmA)が変化させられる。
X線制御装置81の中には、−例として、マイクロプロ
セッサが備えられており、第2図の適正範囲、第3図の
負荷率グラフ等は記憶されており、上記したような、判
断、決定ないし設定は、予めプログラムされている。
セッサが備えられており、第2図の適正範囲、第3図の
負荷率グラフ等は記憶されており、上記したような、判
断、決定ないし設定は、予めプログラムされている。
実施例では、負荷率を3つに段階的に分けたが、被写体
厚に応じて無段階に変化させてもよい。
厚に応じて無段階に変化させてもよい。
上述で、負荷率の値を透視管電圧により決めるとしたが
、実際の曝射スタート後のシネ管電圧により求めてもよ
い。
、実際の曝射スタート後のシネ管電圧により求めてもよ
い。
(ト)効 果
フィルム製置を一定にしつつ、コントラスト及び粒状性
の良いシネフィルム画が得られる。
の良いシネフィルム画が得られる。
また、絞り等の?!雑な橋↑スが不要で、このことット
からコスト安で目的が達成される。
からコスト安で目的が達成される。
第1図は本発明の1実施例を示した要部構成ブロック図
、第2図は被写体厚とKV関係例示図、第3図はX線管
負荷率をパラメータとしたKVとmA関係例示図、第4
図(a)は従来例によるタイムチャート例示図、第4図
(b)は一定負荷率におけるKVとmA関係例示図であ
る。 81はX線制御装置、82はパルス幅設定器、83はパ
ルス幅比較器である。 特許出願人 株式会社 島;±製作所 代理人 弁理士 池 1)足 天( 第4図 第2図 第3図
、第2図は被写体厚とKV関係例示図、第3図はX線管
負荷率をパラメータとしたKVとmA関係例示図、第4
図(a)は従来例によるタイムチャート例示図、第4図
(b)は一定負荷率におけるKVとmA関係例示図であ
る。 81はX線制御装置、82はパルス幅設定器、83はパ
ルス幅比較器である。 特許出願人 株式会社 島;±製作所 代理人 弁理士 池 1)足 天( 第4図 第2図 第3図
Claims (1)
- X線管と、これに管電圧を与えかつ管電圧の調整可能な
高電圧発生器と、X線イメージ管と、映画カメラと、X
線イメージ管の出力輝度を検出する光電管と、その検出
値に基づくパルス幅信号を出力するホトタイマ装置と、
こま数設定のパルス幅設定器と、ホトタイマ装置の出力
とパルス幅設定器の出力とを比較する比較器と、比較器
の出力を取り込み高電圧発生器を制御するX線制御装置
とからなり、X線制御装置において透視条件よりシネ撮
影管電圧と1つの負荷率特性データがそれぞれ初期設定
され、シネ撮影時には比較器出力と設定負荷率データに
基づき管電圧及び管電流が可変制御されるが、被写体の
条件が変わつて管電圧があらかじめ記憶された適正範囲
域を越えると他の負荷率データを選択して同時に管電流
も求まり設定されるようにした制御手段が含まれている
ことを特徴とする、X線シネ自動撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61204758A JPS6362197A (ja) | 1986-08-30 | 1986-08-30 | X線シネ自動撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61204758A JPS6362197A (ja) | 1986-08-30 | 1986-08-30 | X線シネ自動撮影装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6362197A true JPS6362197A (ja) | 1988-03-18 |
Family
ID=16495861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61204758A Pending JPS6362197A (ja) | 1986-08-30 | 1986-08-30 | X線シネ自動撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6362197A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01243398A (ja) * | 1988-03-25 | 1989-09-28 | Toshiba Corp | X線撮影装置 |
JP2008530750A (ja) * | 2005-02-11 | 2008-08-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線システムにおける線量率の制御 |
-
1986
- 1986-08-30 JP JP61204758A patent/JPS6362197A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01243398A (ja) * | 1988-03-25 | 1989-09-28 | Toshiba Corp | X線撮影装置 |
JP2008530750A (ja) * | 2005-02-11 | 2008-08-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線システムにおける線量率の制御 |
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