JPS6358996A - ハイブリツドicの導体パタ−ン形成方法 - Google Patents

ハイブリツドicの導体パタ−ン形成方法

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JPS6358996A
JPS6358996A JP20459486A JP20459486A JPS6358996A JP S6358996 A JPS6358996 A JP S6358996A JP 20459486 A JP20459486 A JP 20459486A JP 20459486 A JP20459486 A JP 20459486A JP S6358996 A JPS6358996 A JP S6358996A
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JP
Japan
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conductor
insulating glass
lower layer
conductors
layer conductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP20459486A
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English (en)
Inventor
渡辺 元一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPS6358996A publication Critical patent/JPS6358996A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、ハイブリッドICの導体パターンの印刷形
成方法に関する。
(ロ)従来の技術 第3図は、従来の印刷形成方法により形成されたハイブ
リッドIC回路における2層パターンの斜視図であり、
第4図は、その断面図である。
従来の印刷形成方法は、アルミナ基板8上に直交状の下
層導体71.72を印刷し、交叉部を分断(セパレート
)シた一方のセパレート下層導体71の分断空隙、つま
り下層導体71と下層導体72との空隙及び下層導体7
2の上面に絶縁剤であるガラスペースト(絶縁ガラス)
73を所謂アーチ状に印刷する。そして、この絶縁ガラ
ス73上面にセパレート下層導体71.71間を結ぶ上
層導体74を印刷し、焼成時、上層導体74の両端部を
それぞれ一方のセパレート下Is体71.71に融合さ
せ電気的に接続する方式である。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 上記従来の方式では、絶縁ガラスを、直交する下層導体
の他方の下層導体の上面及びセパレート下層導体の空隙
に対し、一連にアーチ状に印刷被覆する方法である。こ
のため、第4図の断面図で示すように、絶縁ガラスの上
部が一方のセパレート下層導体上面より上方へ大きく膨
出する。従って、この絶縁ガラス上面に跨がって印刷さ
れる上層導体の両端部、つまり一方のセパレート下層導
体との接続部に大きく落ち込む段差部(第4図で示す符
号r76J )が生じる。この段差部により上層導体と
下層導体間に、絶縁ガラス膨出に起因する空隙(第4図
で示す符号r75」)が発生し、導体が経時的に不安定
(例えば腐蝕の虞れ)となる不利がある許かりてな(、
上層導体の膜厚が不均一となり電気抵抗が大きくなる欠
点がある。
更に、第5図で示すように、上層導体の両側接続部分、
つまり絶縁ガラス両端部付近の段差部で導体ペーストが
所謂だれ現象を起こし、導体幅の広がり(第5図で示す
符号r77J )が生じる。
このため、仮に、下層導体に対し多数の上層導体を掛は
渡す場合には、パターン間にショートが発生する虞れが
あり、高密度パターンの実装に不利となる等の欠点があ
った。
この発明は、従来のものが持つ、以上のような問題点を
解消させ、上層m体に段差部が生じず、且つ高密度パタ
ーンの形成が可能なハイブリッドICの導体パターン形
成方法を提供することを目的とする。
(ニ)問題点を解決するための手段及び作用この目的を
達成させるために、この発明のハイプリントICの導体
パターンの形成方法は、次のような方式としている。
ハイブリッドICの導体パターン形成方法は、絶縁基板
上に、他方の下層導体に対し一方の下層導体をセパレー
トした状態で交叉させた下層温体作成工程と、両下層導
体の交叉部に位置するセパレート空隙に第1の絶縁ガラ
スを印刷する工程と、この第1の絶縁ガラス及び前記他
方の下層導体上面に第2の絶縁ガラスを印刷する工程と
、前記−方のセパレート下層導体の上面にそれぞれ上記
第2の絶縁ガラスと厚さの等しい中間4体を印刷する工
程と、前記第2の絶縁ガラス上面に両側の中間導体を結
ぶ上層導体を印刷し、この上層導体と中間導体及び前記
一方のセパレート下層導体を電気的に接続する工程とか
ら成る。
このような方式の導体パターン形成方法では、第1の絶
縁ガラスが、下層導体交叉部のセパレート下層導体空隙
に対し、埋め込み状に下層導体厚みに揃えて印刷される
。ここで、第1の絶縁ガラスと下層導体の上面が面一に
揃えられる。そして、他方の下層導体を挟む第1の絶縁
ガラスの上面に第2の絶縁ガラスが印刷された後、前記
セパレート下層感体の上面にそれぞれ第2の絶縁ガラス
と厚みの等しい中間導体が印刷される。ここにおいて、
中間導体と第2の絶縁ガラスの上面は面一に揃い、基板
に対し平行した水平面となっている。
この後、この第2の絶縁ガラス上面に、両側の中間導体
を結ぶ上層導体を印刷する。ここで、上層導体は中間導
体に対し平行状で完全に接面している。そして、上層導
体と中間4体及び下層導体が物理的に溶着して、電気的
に接続される。かくして、上N導体は水平状の中間導体
上面に形成され、段差部は全く生じない。しかも、下層
導体及び中間導体は、それぞれ第1の絶縁ガラス及び第
2の絶縁ガラスと上面が面一で、且つ端面が緊密に接着
している。従って、絶縁ガラスに対し上層導体と中間導
体及び下層導体のいずれの接続部にも、空隙発生の虞れ
がない。また、上層導体は水平状の第2の絶縁ガラス及
び中間導体上面に形成されるから、膜厚みが均一となり
、電気的抵抗が安定する。
(ホ)実施例 第1図は、この発明に係る印刷形成方法にて形成された
ハイブリッドICの導体パターンの拡大斜視図である。
実施例の印刷形成方法は、例えばアルミナ基板8上にス
クリーン作成された写真製版を用い、導体用(厚)模)
ペーストにて直交状の下TmN1体1.2を印刷する。
一方の下層導体2は他方の下p B体1と直交する部分
を切欠き分断したセパレート状の下層導体2a、2bと
し、このセパレート下層導体2a、2bと他方の下層導
体1との交叉空隙に第1の絶縁ガラス3.3を埋め込み
状に印刷する。この第1の絶縁ガラス3は、他方の下層
導体1と厚さを揃えて形成される。
次に、第1の絶縁ガラス3と他方の下層導体1との面一
な上面に、第2の絶縁ガラス4を印刷する。更に、この
第2の絶縁ガラス4の両側、つまりセパレート下層導体
2a、2bの上面に、導体用ペーストにて第2の絶縁ガ
ラス4の厚さと等しい厚さを存する中間導体5.5を印
刷形成する。
ついで、この第2の絶縁ガラス4上面に、導体用ペース
トにて両側の中間導体5.5を結ぶ上層導体6を印刷す
る。そして、焼成炉で加熱焼成することで上層3体6の
両端部と、この両端部に接面する中間導体5.5及びこ
の中間導体5.5とそれぞれ接面する下M導体2a、2
bとを物理的に溶着して電気的に接続する。
このような形成方法にて形成されたハイブリッドICパ
ターンは、第2図の断面図で示すように、他方の下層導
体1、一方のセパレート下層導体2a、2b及びその間
に介在する第1の絶縁ガラス3.3の上面が面一となり
、各下層導体の端面が第1の絶縁ガラス3と緊密に接面
している。更に、この第1の絶縁ガラス3を含む下層導
体l上面に形成される第2の絶縁ガラス4は、下層導体
2a、2b上面の中間導体5.5と高さが揃い、基板8
に対し水平状となっている。しかも、第2の絶縁ガラス
4と中間4体5の端面ば緊密に接面している。この水平
状の第2の絶縁ガラス4を含む中間導体5.5上面に水
平状の上層導体6が形成されることで、段差郡部の生じ
ない導体パターンを形成し得る。かくして、形成される
上層導体6の膜厚は全く均一であり、電気抵抗が安定す
る。また、各導体6.5.2と第2及び第1の絶縁ガラ
ス3.4との端面間は密着しており、空隙が生じず導体
の化学的安定が保持され、経時的な導体腐蝕の虞れが解
消される。
更に、上層4体6と下層導体2a、2bとの間に中間導
体5を介在させたから、上層導体6の接続部に落込み状
の段差部が生じず、上層導体6両端部の導体幅がペース
トのだれ現象により広がる等の不利が解消され、高密度
パターン実装が実現できる。
(へ)発明の効果 この発明では、以上のように、下層導体交叉部のセパレ
ート下層導体の空隙に第1の絶縁ガラスを埋め込み状に
印刷し、この第1の絶縁ガラスを含む他方の下層温体上
面に第2の絶縁ガラスを印刷した後、一方のセパレート
下層導体の上面にそれぞれ第2の絶縁ガラスと厚さが等
しい中間導体を印刷し、更にこの第2の絶縁ガラスを含
む中間導体の上面に上層導体を印刷して、上層導体、中
間導体及び一方のセパレート下層導体を電気的に接続す
ることとした。
この発明によれば、上層導体と下層導体との接続間に落
込み状の段差部が生じず、且つ導体と絶縁ガラスとの接
合間に空隙も生じない。従って、従来のように、導体腐
蝕の虞れが解消されるばかりでなく、上層導体のだれ現
象による広がりが防止でき、高密度パターンが実現でき
る。しかも、導体接続部に段差部が生じないから、電気
抵抗の安定した均一な膜厚の上N導体が得られる結果、
信顛性の高いハイブリッドICを提供し得る等、発明目
的を達成した優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、実施例形成方法により形成されたハイブリッ
ドICパターンの拡大斜視図、第2図は、第1図の断面
図、第3図は、従来の形成方法により形成されたハイブ
リッドICパターンを示す斜視図、第4図は、第3図の
断面図、第5図は、従来の形成方法による上層導体のだ
れ現象を示す平面図である。 1:下層導体、    2:下層導体、3:第1の絶縁
ガラス、4:第2の絶縁ガラス、5:中間導体、   
  6:上層導体。 特許出願人       株式会社島津製作所代理人 
   弁理士  中 村 茂 信第 2図 2:T1“導イ杢 第 4 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁基板上に、他方の下層導体に対し一方の下層
    導体をセパレートした状態で交叉させた下層導体作成工
    程と、両下層導体の交叉部に位置するセパレート空隙に
    第1の絶縁ガラスを印刷する工程と、この第1の絶縁ガ
    ラス及び前記他方の下層導体上面に第2の絶縁ガラスを
    印刷する工程と、前記一方のセパレート下層導体の上面
    にそれぞれ上記第2の絶縁ガラスと厚さの等しい中間導
    体を印刷する工程と、前記第2の絶縁ガラス上面に両側
    の中間導体を結ぶ上層導体を印刷し、この上層導体と中
    間導体及び前記一方のセパレート下層導体を電気的に接
    続する工程とから成るハイブリッドICの導体パターン
    形成方法。
JP20459486A 1986-08-29 1986-08-29 ハイブリツドicの導体パタ−ン形成方法 Pending JPS6358996A (ja)

Priority Applications (1)

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JP20459486A JPS6358996A (ja) 1986-08-29 1986-08-29 ハイブリツドicの導体パタ−ン形成方法

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JPS6358996A true JPS6358996A (ja) 1988-03-14

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ID=16493052

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JP20459486A Pending JPS6358996A (ja) 1986-08-29 1986-08-29 ハイブリツドicの導体パタ−ン形成方法

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JP (1) JPS6358996A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0239597A (ja) * 1988-07-29 1990-02-08 Juki Corp 厚膜回路の形成方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0239597A (ja) * 1988-07-29 1990-02-08 Juki Corp 厚膜回路の形成方法

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