JPS6358169A - プリント基板試験用プロ−バ機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、プリント基板の耐環境試験に使用する、プ
リント基板試験用プローバ機構に関するものである。

［従来の技術］ 電子計算機に使用されるプリント基板は、サイズが大型
であるとともに、高性能のパッケージが多数搭載されて
いる。従って、プリント基板およびそのプリント配線は
、ショート、断線、絶縁低下などの不良箇所が絶対に存
在しないものでなければならない。このため、プリント
配線が完了した時点で、導通、絶縁試験が行われている
。

第４図（ａ）はその試験における被プリント基板とプロ
ーブピンの接触方法の概要を説明する図で、適当なベー
ス盤の上に、プローブピン１を植設したプローバボード
２を固定し、その」二面にプリント配線がプローブピン
１に対応するように位置決めしてプリント基板３を載置
する。さらに、プリント基板３を、絶縁板５を介して押
圧板４により下方に押圧し、プローブピン１をプリント
配線に接触させる。プローブピン１は引き出し線により
ケーブルに接続されて、導通試験装置に導かれ試験が行
われる。

第４図（ｂ）はプローブピン１の構造を示すもので、先
端部１ａは、シリンダｌｂ内のスプリング１ｃにより、
プリント配線と弾性接触するものであり、通常１個当た
り１００グラム程度の押圧力を要するものとされている
。

さて、プリント基板３の大型のものは、サイズとしては
一辺が３００〜５００ＩＩｌｌＷの方形であり、配線の
間隔ピッチが３ｍｍ程度であるため、試験点の数が多い
。さらに、種々の回路パターンのプリント配線に共通し
て使用する場合には、プローブピン１はプリント配線の
ピッチに合わせて、縦、横の格子点のすべてに配設され
ており、その数は約３万木となり極めて多数である。こ
のため、全部のプローブピン１を押圧するに要する力は
、３トンに達し、プローバボード２の支持機構をはじめ
、押圧板４の押圧機構などがすべて、大規模となり、さ
らに、試験時間が１枚当たり高々数秒以内に行われるの
で、試験装置に対する基板の着脱の時間が速やかなこと
が必要とされ、それ相当に機構が複雑となっている。

上記した従来のプローバボードの機構は、大型のプリン
ト基板を対象とし、プリント配線のすべての部分につい
て、短時間に行う試験の場合に適用するものであるが、
プリント配線は温度など環境状態の変化により、障害を
発生することがあり、別途環境試験が必要とされている
。環境試験は、上記と同様なプローブピンの接触方法に
より、主として温度についてやや長い時間行われる。し
かし、この場合に上記の大規模で複雑な機構を利用する
ことは、加温が困難であるなど不可能に近い。

むしろ、試験点を選択して数を減らして押圧力を小さく
シ、また着脱の時間を急ぐ必要がないなどの条件が許さ
れるので、これに適する簡易な機構を使用することが可
能で、望ましい。

［発明の目的コ この発明は、上記した点に鑑み、プリント基板の導通、
絶縁に対する環境試験に使用する、プリント基板試験用
プローバ機構を提供することを１」的とするものである
。

［問題点を解決するための手段］ この発明によるプリント基板試験用プローバ機構は、被
試験プリント基板に対応した大きさのプローバボードに
、プリント配線に接触するプローブピンを配設して構成
された、プリント配線導通試験装置に適用するもので、
上記プリント配線の全域の中より小数の試験点を選択し
て、それらに対するプローブピンをプローバボードに配
設する。

次に、このプローバボードを筐体内の一定の高さ位置に
固定し、固定されたプローバボードの上に、被試験プリ
ント基板を載置する。プリント配線をプローブピンに接
触させるため、押圧板によりプリント基板を押圧し、締
付はバックルにより押圧板を収容部に締付けて、必要と
する時間抑圧を継続できるものとする。また、この筐体
にはプローブピンの引き出し線用の引き出しコネクタを
取り付ける。さらに、ガイドレールにより該筐体を収納
するフレームを設け、複数の筐体を縦列の多段に一定の
間隔をおいて収納する。なお、フレームには、筐体の引
き出しコネクタに対する、受けコネクタを取り付けたも
のである。

［作用］ この発明による、プリント基板試験用プローバ機構にお
いては、プローバボードを簡易な筐体に入れてその上に
被試験プリント基板を置き、上から押圧板により押圧す
るもので、原理上は従来と同じであるが、被試験プリン
ト配線の試験点が選択された小数であり、例えば全数の
０．１％とすると、約３０箇所となり、必要な押圧力は
せいぜい数ｋｇであり、抑圧機構が著しく簡単になる。

ただし、必要な時間に亙って加圧を継続するために、締
付はバックルにより押圧板を筐体に締付ける方法をとる
。バックルの操作によりワークの着脱は容易に行うこと
ができる。

次に、収容箱は複数個収納できるフレームにガ６一 イドレールに沿って挿入されると同時に、プローブピン
の配線はコネクタ接続され、フレームを環境試験場所に
設置しておけば、直ちに試験が実行できるものである。

〔実施例コ 第１図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）は、この発明による
プリント基板試験用プローバ機構の実施例における筐体
の構造図で、図（ａ）において、プローバボード２は、
被試験プリント基板の最大のサイズのものより、僅かに
大きい寸法のものとし、被試験プリント配線の環境試験
に必要な小数の試験点を選択して、それらの位置に対応
してプローブピン１を植設する。

第１図（ｂ）および（ｃ）は筐体６とその周辺を示すも
ので、ブローμボード２は同一内径の筐体６の内部に、
一定の高さの・・・置に固定される。筺体６の−に部に
は、被プリント基板３を押圧する押圧板４が、締付はバ
ックル７により、締付けられて固定される。ここで、締
付はバックル７は、押圧板４の周辺を平均して締付けら
れるように、均等な間隔で複数個使用する。なお、プロ
ーブピン１の引き出し線は、コネクタ８ａに接続される
。

第２図は、押圧板４の押圧により、被試験プリント基板
３がプローバボード２に接近し、プリント配線３ａおよ
びスルーホール３ｂにプローブピン１の先端１ａが正常
に接触している状態を示す断面図である。

図において、プローブピン１−１の場合は、先端１ａは
プリント配線３ａに接触して押し下げられ、スプリング
１ｃで弾性接触を保っている。また、プローブピン１−
２の場合は、先端１ａの一部がスルーホール３ｂに侵入
している。このように、先端１ａの高さ位置は、プリン
ト配線３ａとスルーホール３ｂとで異なるので、これら
の場合に良好に接触できるストロークのプローブピン１
を使用し、また、被試験プリント基板３の厚さを考慮し
て、筐体６の周辺の−１−而６ａに対する、ブローμボ
ード２の高さ位置を適切に設定する。ここで、被プリン
ト基板３の全域を均等に押圧するために、押圧板４の強
度を考慮することが勿論必蟹であるが、この場合におい
ては、従来の場合より著しく薄い板材を使用することが
できる。

なお、詳細な説明を省略するが、プリント配線３ａをプ
ローブピン１の先端１ａに正確に接触させるための位置
合わせは、ブローμボード２の４隅などの適当な位置に
設けられた位置合わせピン９に、被試験プリント基板３
の位置合わせマークを一致して行うものである。

第３図は、この発明によるプリント基板試験用ブローバ
機構の実施例における、フレームの外観を示す図で、フ
レーム１１には、ガイドレール１２が多段階に設けられ
て、これに筐体６が挿入され、ロックハンドル１３を操
作して、ロックされる。挿入により、筺体６の後部にあ
るコネクタ８ａは、フレーム１１に設けられている受け
コネクタ８ｂに嵌入され、ケーブル１０により試験装置
に接続される。筺体６は数個が挿入され、−括して環境
試験に供されるものである。

［発明の効果］ 以−１−の説明により明らかなように、この発明による
プリント基板試験用プローバ機構においては、軽量で取
り扱いが容易な筐体内に、ブローμを固定し、これに被
試験プリント基板を確実、簡？１１に装着できるもので
あり、またフレームにより、数個のプリント基板を同時
に試験に供すことができるなど効果の大きいものである
。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）は、この発明による
プリント基板試験用プローバ機構の実施例における筐体
の構造図、第２図は、第１図（ｃ）の一部詳細図、第３
図は、この発明によるプリント基板試験用プローバ機構
の実施例におけるフレームの構造と、挿入する筐体の関
係を示す外観図、第４図（ａ）および（ｂ）は、従来の
プリント基板の導通、絶縁試験装置に使用されているプ
ローブピンの断面図である。 １・・・プローブピン、　　　１ａ・・・先端、１ｂ・
・・シリンダ、　　　　ｌｃ・・・スプリング、２・・
・ブローμボード、　３・・・被試験プリント基板、３
ａ・・・プリント配線、　３ｂ・・・スルーホール、−
工〇− ４・・・押圧板、　　　　　５・・・絶縁板、６・・・
筐体、　　　　　　６ａ・・・筐体の」二面、７・・・
締付はバックル、　８・・・コネクタ、９・・・位置合
わせビン、１０・・・ケーブル、■・・・フレーム、１
２・・・ガイドレール、１３・・・ロックハンドル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被試験プリント基板に対応したプローバボードに、該基
   板のプリント配線に接触するプローブピンを配設して構
   成された、プリント配線導通試験装置において、上記プ
   リント配線の全域の中より選択した、小数の試験点に対
   応するプローブピンを配設したプローバボードと、内部
   の一定の高さ位置に該プローバボードを固定する筐体と
   、該固定されたプローバボードの上に載置された、上記
   被試験プリント基板を押圧して上記プローブピンをプリ
   ント配線に接触せしめ、上記筐体との間に締付けバック
   ルにより締付けることができる、押圧板、および上記プ
   ローブピンの引き出し配線に対する引き出しコネクタと
   よりなり、かつ該筐体に対するガイドレールを設け、複
   数の該筐体を縦列、多段に収納でき、さらに上記引き出
   しコネクタに対応する受けコネクタを有するフレームと
   により構成されたことを特徴とする、プリント基板試験
   用プローバ機構。