JPS6355656B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、表面に継ぎ目のある紙コツプの如
き円筒物体において形状不良個所の有無を検査す
る円筒物体表面検査装置に関するものである。

缶、紙コツプ等の円筒容器においては、その開
放端側（飲料用のコツプのときは飲み口となる
側）は第１図ａに１２で示すように、カール部と
呼ばれる断面が薄肉円筒状の端部を形成するよう
に処理が行なわれ、容器円周上の何れかの場合に
おいて継ぎ目部が存在する。なお第１図ａは、例
えば紙コツプの断面図であり、第１図ｂは同側面
図である。そして１３が継ぎ目部、１４はカール
部１２の天頂部であり、１５は同じく首下部であ
る。１１は紙コツプのボデーである。このような
円筒容器のカール部に何んらかの要因により形状
異常や汚れが発生する。形状異常の代表例として
はカールの割れ、つぶれ、穴アキ、カール巻不全
（巻きが不充分な巻不良）等がある。これら不良
は外観的に不具合であるばかりでなく、自動販売
機等に多数直列に重ねて収納し円筒容器を１個ず
つ切り出して使用する場合に、容器の切出し不能
と云う重大な欠陥を引起す。このような不具合を
避けるため従来は円筒容器に対して人間による目
視検査を行つていた。目視検査では検査費用が高
価となるだけでなく、検査水準が目の疲労により
低下したり、個人差、検査する人のあき、むら気
などによつて大巾に変動する欠点があることは周
知の事実であり、自動検査装置の開発が望まれて
いた。

そこで、紙コツプ等のカール部検査装置として
第２図に示すような装置が本発明者等によりすで
に提案されている（同装置については特願昭56−
9638号（特開昭57−125305号公報）参照、その他
関連文献としては特開昭56−26247号公報参照）。
第２図を参照して同装置を説明する。図示せざる
円筒容器供給装置により円筒容器が１個ずつ整列
供給され、容器ホルダー２０にセツトされる。そ
して図示せざる手段（アクチユエータ）によりホ
ルダー２０が回転されるので、その中にセツトさ
れた円筒容器のカール部１２も回転する。一方、
円筒容器のカール部１２を主視野とする反射形光
フアイバセンサ２２が設けられている。該センサ
は、中央部に受光用光フアイバを配し、外周部に
投光用光フアイバを配して成り、フアイバ先端と
被検査物体との間の距離に依存して感度の変化す
る投受光同軸形の反射形光フアイバセンサであ
る。該センサ２２の他端では、投光用フアイバと
受光用フアイバは、それぞれ２３，２４として分
離されている。投光用フアイバ２３は、コネクタ
２７を介して、センサボツクス２９内の投光用ラ
ンプ２５に面しており、受光用フアイバ２４は、
同じくコネクタ２７′を介し、センサボツクス２
９内の光電変換素子２６に面している。該素子２
６からの電気出力信号はプリアンプ２８において
増幅された後、判定処理装置３０へ送られる。こ
こで光フアイバセンサの動作距離・感度特性は第
３図に示す如くである。すなわち、フアイバ先端
と被検査物体との間の距離を動作距離と称する
が、これが標準的な長さdsであるとき、フアイバ
センサの感度が最大強度の80〜90％になるよう
に、前記長さdsがセツトされる。

動作を説明する。センサボツクス２９内のラン
プ２５から発した光は、コネクタ２７、投光フア
イバ２３を介し、光フアイバセンサ２２から、回
転するカール部１２に投射される。カール部１２
からの反射光は、光フアイバセンサ２２内の受光
フアイバ２４からコネクタ２７′を介して光電変
換素子２６に投射され光電変換される。ここでカ
ール部１２に、凹凸などの変形個所があると、そ
の部分ではカール部と光フアイバセンサ２２の端
部との間の距離が変化する（凸ならば距離は減少
するし、凹ならば増す）。すると、該センサ２２
の感度が変化し（第３図参照）、出力信号のレベ
ルが変化する。このレベル変化を、判定処理装置
３０において吟味すれば、カール部１２における
変形有無を判定できる。またカール部１２におい
て、変形が生じていなくても、汚れがあると、そ
の部分では、投光フアイバから投射された光の反
射量が減少し、従つて受光フアイバへの入力光量
が減少するので、変形の場合と同様にして汚れを
も検出することができる。しかし、以下の説明
は、変形の場合を主に採り上げて説明する。

上述のような従来の検査装置において、光フア
イバセンサ２２よりの出力信号は、カール部にお
ける継ぎ目、カール部の形状不良（変形）等に依
存して種々な波形の信号となる。カール部は回転
しているので、センサ２２よりの出力信号も周期
的に変化する。

第４図ａは、カール部が変形のない良品である
場合に得られるセンサ出力波形図である。同図に
おいて、４１はカール部における継ぎ目１３に起
因する出力波形を表わし、４０で示す如き、大き
くうねつた波形は、カール部外径のマクロ的な歪
による波形を表わしており、欠陥を表わすもので
はない。

第４図ｂは、カール部に凹凸の欠陥がある場合
のセンサ出力波形図である。同図において、４
２，４３は凸部の欠陥を表わし、４４は凹部の欠
陥を表わしている。また４１′は、継ぎ目を表わ
す波形であるが、サンプル（被検査物体）の形
状、フアイバセンサのそのときの動作距離、その
他の要因により、必ずしも一定波形になるとは限
らず、欠陥を表わす波形と類似した波形になるこ
ともある。このような場合にも、検査装置として
は継ぎ目と欠陥を区別してサンプルの良否を正し
く判定する必要がある。

他方、単位時間当りに検査可能なサンプル数の
増大（検査速度の高速化）の要求、またサンプル
を回転駆動させるアクチエータ系の慣性の面よ
り、サンプルの回転数を最少にしたいという要
求、回転数が少ないほど、アクチエータ系の慣性
により、立上り回転むらが発生し易くなるので、
アクチエータ側において、回転むらに対する制約
を少なくしたいという要求、等が生じている。ま
たアクチエータがサンプルを供給したときに、セ
ンサとサンプルとの相対的回転方向の規正が不要
であること（つまりサンプルはどちらの方向に回
転駆動されても検査可能であること）が必須条件
として要求される。

この発明は、上述のような諸要求に応えるため
になされたものであり、従つてこの発明の目的
は、検査処理速度が大きく、またサンプルを回転
駆動させるアクチエータの動作に厳い制約を課す
必要もなく、それでいて検査精度を低下させるこ
となく、コストも低廉である如き、継ぎ目と欠陥
を区別してサンプルの良否を正しく判定すること
のできる円筒物体表面の自動検査装置を提供する
ことにある。

この発明は、次のような考え方を基礎にして構
成されている。まず、良品の外径のマクロ歪によ
る波形と不良信号波形との識別は、その波形の周
波数の差異を利用して識別する。また、不良信号
波形は、その不良（欠陥）の形態の大きさによつ
て種々の波形が得られるが、これに対しては継ぎ
目が不良個所を表す波形に含まれる特定の周波数
帯域成分を強調して抽出し、これら周波数帯域成
分の信号レベルが所定値より大きいか否かによつ
て二値化してＳ／Ｎ良く抽出する。またこのよう
にして得られた全ての二値化信号の論理和をとる
ことにより種々の不良信号波形が発生する場合で
も全ての不良個所を検出できる。この複数の周波
数帯域成分信号の二値化信号やその論理和信号
は、継ぎ目の波形が不良信号波形と類似している
場合には、「継ぎ目＋不良」を表わす信号波形と
なり、良品も不良品として検出してしまう。そこ
で、以下の考え方で良品と不良品と識別する。即
ち、継ぎ目が円筒容器の円周上に予め設定された
個数（例えば１ケ所）しか存在しないという性質
に着目し、「継ぎ目＋不良」を表わす信号の間隔
を測定する。信号間隔が継ぎ目の走査周期に等し
いか否かおよびパルス間隔の存在の有無により不
良信号が存在したか否かを識別し、検査サンプル
の良否を識別する方式である。とくに、「継ぎ目
＋不良」信号間隔を測定する際に、測定された間
隔の中の間隔最小値を識別評価基準値に採用す
る。本方式により、検査サンプルの回転数を最小
にでき、従つて検査速度が高速となり、検査サン
プルの回転角速度の許容範囲を大きくでき、サン
プルと位置センサの位置制御が不要となつてアク
チエータを安価に設計できるだけでなく、検査精
度も著るしく向上する。

以下、図を参照してこの発明の実施例を説明す
る。

第２図において、光フアイバセンサ２２が、回
転している円筒容器のカール部１２をセンシング
することにより、該センサの出力として得られる
信号波形としては、カール部良品の場合は第４図
ａの如き、不良品の場合には第４図ｂの如きもの
が一例として得られることは先にも述べた。この
様な信号波形を処理して検査サンプル（カール
部）の良否を判別するには次の点を解決する必要
がある。

良品に於ても信号波形にゆつたりとした変化
（マクロ的歪によるもの、第４図ａの４０）が
発生するのでこれに対し問題のないこと。

不良を表わす信号波形には、周波数成分の高
いものや非常に低いもの又はその複合があるこ
と。

良品の継ぎ目信号が不良部を表わす信号と類
似している場合があること及び、第４図ａの４
１とｂの４１′に示すように、同じ継ぎ目信号
でも必らずしも同一の信号波形にはならないこ
と（これは継ぎ目の構造がサンプルにより変化
するなどの要因による）。

センサ出力であるアナログ信号の平均レベル
は、サンプルである円筒容器の寸法誤差等のた
め必らずしも一定値にはならない。

従つてこの様な信号条件ではセンサよりの電気
信号を固定的な比較レベルで二値化することは困
難である。

そこで本発明は、上述のような問題点のあるセ
ンサ出力信号から精度良く不良（欠陥）の有無を
検出するため、以下に説明するような構成をとつ
ている。

第６図は、この発明の一実施例を示すブロツク
図である。同図において、６０１は光フアイバセ
ンサ、６０２はアンプ、６０３〜６０５はそれぞ
れ遮断周波数の異なる帯域フイルタ（BPF）、６
０６〜６０８はそれぞれ極性判別回路、６０９〜
６１１はそれぞれ比較回路、６１２〜６１４はそ
れぞれ前処理回路、６１５は論理和回路、６１６
はパルス間隔測定回路、６１７は最小値検出回
路、６１８は判定回路、６１９は良否判定しきい
値設定回路、６２０はクロツク発生回路、６２１
は制御回路、である。すなわち、フアイバセンサ
６０１よりの信号をアンプ６０２で増幅し、その
信号を遮断周波数の異なる複数のBPF（帯域フイ
ルタ）６０３〜６０５に入力する。このBPFの
帯域は各種の不良信号波形に含まれる周波数成分
を検出しやすい周波数帯域に設定する。例えば
BPF60.3が最も高周波用でBPF６０４，６０５の
順に低周波用となる。従つて各BPFの出力信号
は、各種の不良信号を確実に抽出すると同時に、
外径歪に起因する大きなうねり信号を排除するこ
とができる。この信号を極性弁別回路（例えば整
流回路）６０６〜６０８に導き、片方の極性信号
だけを抽出する。この信号を比較回路６０９〜６
１１により、所定の直流比較レベルと比較して二
値化する。この結果、得られた二値化信号は、フ
アイバセンサの出力信号変化分のみを抽出し、そ
の大きさで変化の有無を弁別しているのでフアイ
バセンサの直流分の変動があつても全く影響され
ず安定な検出を行なう。フアイバセンサの出力信
号を第４図ｂに示す如きものとしたときの各帯域
フイルタ６０３〜６０５の出力を比較回路６０９
〜６１１で二値化して得られる信号は、第５図
ａ，ｂ，ｃに示す如きパルス列群となる。

さて、比較回路６０９〜６１１の出力は、常に
不良信号だけ又は継ぎ目信号けを抽出するわけで
はなく、第５図に示す例の如く、「継ぎ目＋不良」
信号としても得られる。依つてこの場合、継ぎ目
信号が不良信号かを識別する必要があるが、波形
が類似している場合には直接的な識別は困難とな
る。また、「継ぎ目＋不良」個所の信号が１つの
比較回路においてすべて検出されるとは限らず、
第４図に示すように、その特性に応じた二値化信
号となる。

この様な条件に於ても確実に良品か否かを識別
するために、本発明は比較回路の出力すなわち二
値化信号のパルス列から、パルス間隔存在の有無
およびパルス間隔を測定し、その最小値を求め
る。そこで、比較回路６０９〜６１１の出力信号
は、前処理回路６１２〜６１４を経由して一部は
直接パルス間隔測定回路６１６に入力される。ま
た、複数の比較回路出力の論理和を論理回路６１
５で行なつた後パルス間隔測定回路６１６に入力
させる。論理和信号を第５図ｄに示す。尚、前処
理回路を経由することにより、論理和をとつたと
きの回路の動作時間ずれのタイミング調整や、比
較回路の誤差に起因した微少時間々隔をもつ隣接
パルスの一括化等の波形の正規化を行なう。尚正
規化された波形をもつパルスの間隔を測定する場
合、全ての不良信号に対して対処するには論理和
信号を使用するのが必須条件である。しかし、論
理和信号をとつたときには、複数チヤンネル間正
規化に伴なうボケがどうしても入つてくるので、
更に精度を向上する為には論理和をとらない信号
のパルス休止間隔を測定することも重要となる。
従つてパルス間隔測定回路６１６には各比較回路
６０９〜６１１の出力及び論理和回路６１５の出
力の合計４チヤンネルのパル列が入力される。そ
こでパルス間隔測定回路６１６では各チヤンネル
のパルス列につきパルス間隔が存在したか否か、
および存在した場合にはそのパルス間隔を計数
し、かつ、その結果を回路のメモリに記憶する。

次にパルス間隔が１つのチヤンネルのパルス列
に複数個存在しうるので、各チヤンネル内でのパ
ルス間隔の最小値を最小値検出回路６１７で演算
する。このパルス間隔の最小値及びパルス間隔有
無の情報が判定回路６１８に入力される。判定回
路ではパルス間隔の最小値と良否判定しきい値と
の大小を比較し、パルス間隔最小値が該しきい値
より小さいときに不良品と判定する。この操作を
各チヤンネルのパルス列について行ない、全ての
チヤンネルで良品とされたとき検査サンプルは良
品と判定される。また、パルス間隔が存在しなか
つた場合には良品と判定される。

尚前記説明ではパルス間隔としたがパルス休止
間隔としても全く同じ効果が得られる。

また前記ではフイルタ回路の出力信号の内片方
の極性のみを採用したが勿論両極性の信号を使用
してもよい。

以上の実施例では主にハード的に説明したが、
比較回路の出力以降をマイクロコンピユータとそ
の周辺回路（Ｉ／Ｏ、PROM、RAM等）を利用
し、全く同じアルゴリズムをソフト的に実施する
こともできる。

次に良否識別の評価基準値としてパルス間隔の
最小値及びパルス間隔存在の有無を採用すること
の利点について述べる。まず円筒容器の継ぎ目が
容器周囲に所定個所数（例えば１個所）しか存在
しないという性質がある。以下説明は継ぎ目が１
ケ所として説明する。従つてこの性質を利用する
と、良品の場合には「継ぎ目＋不良」信号のパル
ス間隔は継ぎ目の走査周期（１回転周期）に等し
くなる。しかし、不良品の場合には「継ぎ目＋不
良」信号は検査サンプル１回転につき２ケ所以上
発生し、そのパルス間隔は１回転周期とは異なつ
たものとなる。とくに、間隔の最小値を採用すれ
ば、不良発生個所がどこであろうとも、休止間隔
最小値の理論最大値が、１回転周期の1/2以上に
はなり得ない。このことは、良品の場合のパルス
間隔が１回転周期であり、不良品の場合のパルス
間隔が1/2回転周期以下とステツプ的に評価値が
変化することを意味する。従つて良否判別のしき
い値が本質的に明確でＳ／Ｎ良く検出しやすいこ
とを意味するほか実用的に非常に有利な効果をも
つ。すなわちその一つは、本来は検出しにくい継
ぎ目に近く発生した不良程パルス間隔（継ぎ目と
不良個所の間隔）は小さくなるので検出しやすく
なると云う大きな利点がある。その２は良否の評
価基準値がステツプ的に変化するので、検査サン
プルの回転速度変化を最大２倍まで許容しうる。
サンプルを静止状態から急速回転させるアクチエ
ータでは回転立上り時の速度変化が慣性の関係で
どうしても避けられないので速度変化に強いこと
は実用的に非常に大きな利点である。またパルス
間隔最小値とパルス間隔存在の有無を併用するこ
とにより、検査サンプルの回転量は１回転をわず
か上廻るだけでよく、従つて検査時間を最小とす
ることができ、単位時間当りの検査処理個数を最
大とすることができる。検査サンプルの継ぎ目と
センサとの相対的回転開始時における相対的位置
関係がサンプル供給時点でランダム（無制御）な
場合には、パルス間隔だけを評価基準値とする
と、良品でも必らずパルス間隔を作成する必要性
があるため検査サンプルの回転量を（２回転＋
α）にする必要がある。しかし、パルス間隔の存
在を併用することにより、良品では必らずしもパ
ルス間隔を作成する必要がなくなり、検査サンプ
ルの回転量を（１回転＋α）で良いことになる。

さらに第４の利点は、パルス休止間隔を採用す
ることにより、（回転が１回転をわずか上廻るだ
けですむ条件に於ても）アクチエータのサンプル
供給時点で、センサとサンプルの継ぎ目との相対
的回転方向の相対位置が全くランダムで良いと云
う利点がある。これらの利点はアクチエータの設
計上の問題点に対し、制約条件を実質的にとりは
らうものであり、アクチエータの製作コストをよ
り安価にしうる大きな利点となる。また、継ぎ目
と不良信号波形が類似していても良否の識別を容
易にできる。

また、複数の周波数帯を設定したフイルタの出
力を二値化することにより、継ぎ目や不良信号の
種々の形態について広範囲にＳ／Ｎ良く検出でき
る。また、二値化信号の複数チヤンネルの論理和
をとることにより全ての不良信号と継ぎ目信号と
を複合化し、検出もれをなくすと同時に、前述の
如きパルス休止間隔と云う簡易な識別手段で良否
の識別を可能とした。さらには二値化信号の単独
チヤンネルのパルス間隔法を採用し検出の精度を
向上させることができた。

次の実施例は以上に説明したものを更に発展さ
せたもので、フアイバセンサを２チヤンネル使用
したときの信号処理方法に係るものである。

前記説明ではフアイバセンサを１チヤンネル
（１組）使用した実施例について詳述したが、検
査サンプルの不良発生の性状によつてはフアイバ
センサを２チヤンネル（２組）必要なことがあ
る。すなわち、不良発生の性状として割れ、欠け
等がカールの首下部に多く、汚れや凹みはカール
の天頂部に多いことがある。この様なサンプルを
自動検査する場合にはフアイバセンサを首下部検
出用と天頂部検出用の２チヤンネル使用すること
になる。この場合、サンプルの形状からして首下
部検出センサ側から継ぎ目信号が明確に発生しや
すく、天頂部検出用センサからは継ぎ目信号が検
出しにくいことがある。とくに、継ぎ目の加工が
とくに良質になされているときには時により天頂
部側継ぎ目を検できないことがある（天頂部セン
サより常に継ぎ目信号が検出しにくいわけではな
い）。このようなサンプルに於て、首下部には不
良個所がなく、天頂部に不良個所が存在した場合
にも第２の実施例においては確実な不良品の識別
を行なわんとするものである。

第７図はフアイバセンサを２チヤンネル使用す
る場合の検査装置の構成を示す概要図である。同
図において、２２Ａはカール部の天頂側フアイバ
センサであり、２２Ｂは首下側フアイバセンサで
ある。

第８図はこの発明の第２の実施例を示すブロツ
ク図である。同図において、２２Ｂは首下部フア
イバセンサ、２２Ａは天頂側フアイバセンサ、８
０３と８０４はそれぞれ第１段階判定回路、８０
５と８０６はそれぞれパルス立上り座標記憶回
路、８０７はセンサ間複合化回路、８０８は第２
段階判定回路、８０９は総合判定回路、８１０は
クロツク回路、８１１は制御回路、を示す。

第７図、第８図を参照する。まず首下側センサ
２２Ｂ及び天頂側センサ２２Ａの信号をそれぞれ
独立系として前記詳述した第１の実施例の方法で
「継ぎ目＋不良」信号のパルス列を得、そのパル
ス列のパルス間隔の有無と、パルス間隔最小値を
求め、評価基準値と良否判定のしきい値との大小
関係で検査サンプルの良否を識別する第１段階判
定を行なう。第１段階判定処理装置としては首下
側のフアイバセンサ２２Ｂとこの信号を処理する
第１段階判定回路８０３があり、天頂側のフアイ
バセンサ２２Ａとこの信号を処理する第１段階判
別回路８０４があり、８０３，８０４の各回路で
は第１段階判定を行なう。従つて、第１段階判定
回路８０３，８０４の内部回路は、第６図の実施
例で示した回路６０２〜６１９で構成されたもの
である。第１段階判定回路８０３，８０４内で
は、第６図の実施例と同じ方法で良否についての
第１段階判定が行なわれ、その結果が線路８１
２，８１３を介して総合判定回路８０９に出力さ
れる。一方、第１段階判定回路内では、複数の
「継ぎ目＋不良」信号のパルス列を解析している
が、そのパルス列の内１系列（例えば第６図にお
ける論理和回路６１５）出力のパルス立上り座標
を検出し、かつ、記憶する機能をパルス立上り座
標記憶回路８０５，８０６で行なう。このパルス
立上り座標データがセンサ間複合化回路８０７に
入力される。センサ間複合化回路８０７は、両セ
ンサの取付位置がサンプル回転に対して同位相と
なている場合は単に複合化するが、両センサ間の
位相ずれがあれば、ずれに相当する量を加算又は
減算補正し、両センサのパルス立上り座標の位相
を正規化する。正規化後両センサのパルス立上り
座標を複合する。この複合によりパルス列につい
て両センサの論理和をとつたものと等価になる。
これらセンサ間の複合化パルス列の座標情報をも
とに、座標間の相対差を求め、かつ判定でいずれ
かのセンサ信号でも不良と判定されれば、それが
最終判定となる。ところが、継ぎ目信号の検出し
やすい首下側センサ２２Ｂの側に不良個所がな
く、継ぎ目の検出しにくいことがある天頂側セン
サ２２Ａに不良個所があつて、かつ、継ぎ目が検
出できなかつたときは、比較的確率は少ないが不
良を見逃すことになる。そのようなケースでは首
下側センサ２２Ｂで得た「継ぎ目＋不良」信号
と、天頂側センサ２２Ａで得た「継ぎ目＋不良」
信号とを複合化し、この複合化パルス列について
パルス間隔の有無とパルス間隔の最小値を求め、
良否判定しきい値との比較をして良否判定を行な
う第２段階判定を回路８０８で行なう。依つて第
１段階判定で合格したものについてはさらにこの
第２段階判定を行ない、第１及び第２段階で共に
良品と判定されたものだけを良品と判定する。こ
の方法により不良の見逃し確率を実質的に皆無に
できた。

以上説明した通りであるから、この発明によれ
ば、継ぎ目と欠陥を区別してサンプルの良否を正
しく判定するという検査処理の高速化を、サンプ
ルを回転駆動させるアクチエータの動作に厳しい
制約を課す必要もなく、また検査精度を低下させ
ることもなく、しかもコスト低廉な手段で実現で
きるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図ａは紙コツプの如き円筒容器の断面図、
第１図ｂは同側面図、第２図は紙コツプ等のカー
ル部検査装置の構成を示す概要図、第３図は光フ
アイバセンサの動作距離・相対感度の特性図、第
４図はセンサ出力波形の例を示す波形図、第５図
は第４図ｂに示す波形を二値化して得られるパル
ス列の波形図、第６図はこの発明の一実施例を示
すブロツク図、第７図はフアイバセンサを２チヤ
ンネル使用する場合の検査装置の構成を示す概要
図、第８図はこの発明の第２の実施例を示すブロ
ツク図、である。 符号説明 １１……ボデー、１２……カール
部、１３……継ぎ目、１４……天頂部、１５……
首下部、２０……容器ホルダー、２２……光フア
イバセンサ、２３……投光フアイバ、２４……受
光フアイバ、２５……投光用ランプ、２６……光
電変換素子、２７，２７′……光コネクタ、２８
……プリアンプ、２９……センサボツクス、３０
……判定処理装置、６０１……フアイバセンサ、
６０２……アンプ、６０３〜６０５……帯域フイ
ルタ、６０６〜６０８……極性判別回路、６０９
〜６１１……比較回路、６１２〜６１４……前処
理回路、６１５……論理和回路、６１６……パル
ス間隔測定回路、６１７……最小値検出回路、６
１８……判定回路、６１９……良否判定しきい値
設定回路、６２０……クロツク回路、６２１……
制御回路、８０３，８０４……第１段階判定回
路、８０５，８０６……パルス立上り座標記憶回
路、８０７……センサ間複合化回路、８０８……
第２段階判定回路、８０９……総合判定回路、８
１０……クロツク回路、８１１……制御回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 表面に継ぎ目をもつ円筒物体を回転させてそ
   の１回転毎に必ず１回、継ぎ目が現れる如き、か
   かる回転円筒物体の表面を被検査面として、該被
   検査面に、その端面が対向し、それら両面間の距
   離の関数として感度の変化する反射形光フアイバ
   センサと、前記被検査面の凹凸状況に応じて前記
   センサから強度が変調されて出力される光信号を
   入力され振幅変調された電気信号として出力する
   光電変換装置と、前記光電変換装置からの電気信
   号を処理してその結果から前記回転円筒物体の表
   面における前記継ぎ目とは別の位置における形状
   不良の有無を判定する判定処理回路と、から成る
   円筒物体表面検査装置において、 前記判定処理回路を、 前記光電変換装置からの電気信号をそれぞれ入
   力され、その信号波形に含まれる高周波成分、中
   間周波成分および低周波成分をそれぞれ強調して
   出力する第１、第２および第３の周波数強調回路
   ６０３，６０４，６０５と、前記第１、第２およ
   び第３の周波数強調回路からの各強調出力をそれ
   ぞれ入力され２値化してパルスとして出力する第
   １、第２および第３の２値化回路６０９，６１
   ０，６１１と、前記第１、第２および第３の２値
   化回路からの各パルス出力及び該各パルス出力の
   論理和出力を入力され、各パルス相互間のパルス
   間隔を求めるパルス間隔測定回路６１６と、該パ
   ルス間隔測定回路により求めた各パルス相互間の
   パルス間隔の中から最小値を検出する最小値検出
   回路６１７と、検出された該最小値と前記回転円
   筒物体の被検査面における継ぎ目の回転周期に関
   連したしきい値とを比較し、その結果から前記継
   ぎ目とは別の位置における形状不良の有無を判定
   する判定回路６１８と、により構成したことを特
   徴とする円筒物体表面検査装置。