JPS6355030B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6355030B2 JPS6355030B2 JP54027071A JP2707179A JPS6355030B2 JP S6355030 B2 JPS6355030 B2 JP S6355030B2 JP 54027071 A JP54027071 A JP 54027071A JP 2707179 A JP2707179 A JP 2707179A JP S6355030 B2 JPS6355030 B2 JP S6355030B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- variable resistor
- voltage
- servo motor
- zero point
- temperature
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 101100117775 Arabidopsis thaliana DUT gene Proteins 0.000 description 7
- 101150091805 DUT1 gene Proteins 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 101100444142 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) dut-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は演算増幅器の温度ドリフト検査装置に
関する。
関する。
最近、IC化演算増幅器（以下、演算増幅器と
称す。）の性能は向上され、温度ドリフト特性も
0.1μV〜1μV／℃が一般的となつた。従つて、こ
の様な演算増幅器の温度ドリフトは上記演算増幅
器の零点調整を行なつた後の特性で規格化される
ことが多い。第１図は、従来から行なわれている
温度ドリフト測定回路の１例である。この構成で
被測定演算増幅器（以下D.U.Tと称す。）１の反
転入力端子及び非反転入力端子は、それぞれ
入力抵抗R1を介し接地しまた、反転入力端子
は、帰還抵抗R2を介しD.U.T１の出力端子OUT
に接続、非反転入力端子は、抵抗R2を介し接
地し零点調整端子には、D.U.T１により決定され
る零点調整抵抗VR1が接続された測定回路を形成
する。上記構成に於いて温度ドリフトの測定方法
について説明する。先ずD.U.T１に電源電圧＋
VCCおよび−VEEは双極のスイツチS1を閉じると
接点ａ，ｂを介し供給され、検査者は、D.U.T１
の出力に接続された電圧計VMを見ながら、D.U.
Tから出力された電圧が零になるように零点調整
抵抗VR1を調整する。次に温度加熱装置２でD.U.
T１を規定の温度に保ち再び上記電圧計VMによ
りD.U.T１から出力された電圧を計測し、その結
果から温度ドリフトを測定する方法である。この
方法は、D.U.T１の零点調整を行う場合、一般に
D.U.T１の電気的特性がバラツイているためその
都度零点調整抵抗を変化させ調整しなければなら
ない。従つてかかる方法は、大量生産の検査工程
に於いて測定するD.U.T個々について調整を行う
必要があり作業の繁雑をまねき作業能率の低下に
伴なう歩留まりの低下は否めない等の欠点があ
る。
称す。）の性能は向上され、温度ドリフト特性も
0.1μV〜1μV／℃が一般的となつた。従つて、こ
の様な演算増幅器の温度ドリフトは上記演算増幅
器の零点調整を行なつた後の特性で規格化される
ことが多い。第１図は、従来から行なわれている
温度ドリフト測定回路の１例である。この構成で
被測定演算増幅器（以下D.U.Tと称す。）１の反
転入力端子及び非反転入力端子は、それぞれ
入力抵抗R1を介し接地しまた、反転入力端子
は、帰還抵抗R2を介しD.U.T１の出力端子OUT
に接続、非反転入力端子は、抵抗R2を介し接
地し零点調整端子には、D.U.T１により決定され
る零点調整抵抗VR1が接続された測定回路を形成
する。上記構成に於いて温度ドリフトの測定方法
について説明する。先ずD.U.T１に電源電圧＋
VCCおよび−VEEは双極のスイツチS1を閉じると
接点ａ，ｂを介し供給され、検査者は、D.U.T１
の出力に接続された電圧計VMを見ながら、D.U.
Tから出力された電圧が零になるように零点調整
抵抗VR1を調整する。次に温度加熱装置２でD.U.
T１を規定の温度に保ち再び上記電圧計VMによ
りD.U.T１から出力された電圧を計測し、その結
果から温度ドリフトを測定する方法である。この
方法は、D.U.T１の零点調整を行う場合、一般に
D.U.T１の電気的特性がバラツイているためその
都度零点調整抵抗を変化させ調整しなければなら
ない。従つてかかる方法は、大量生産の検査工程
に於いて測定するD.U.T個々について調整を行う
必要があり作業の繁雑をまねき作業能率の低下に
伴なう歩留まりの低下は否めない等の欠点があ
る。
本発明の目的は、これらの欠点を鑑み大量生産
に於いても簡単かつ精度よく迅速に測定しうる方
法を提供することにある。
に於いても簡単かつ精度よく迅速に測定しうる方
法を提供することにある。
本発明は、差動入力を有する演算増幅器の温度
等に対する入力オフセツト電圧の変化（以下温度
ドリフトと称す。）等の測定をまず、零点調整
（ヌル調整）を行ない、その調整終了時点の状態
を保持し、温度を印加後前記保持した状態を再び
構成し、これらの特性を簡単かつ精度よく自動的
に行う測定装置である。
等に対する入力オフセツト電圧の変化（以下温度
ドリフトと称す。）等の測定をまず、零点調整
（ヌル調整）を行ない、その調整終了時点の状態
を保持し、温度を印加後前記保持した状態を再び
構成し、これらの特性を簡単かつ精度よく自動的
に行う測定装置である。
本発明によればサーボモータの同一回転軸上に
零点調整用可変抵抗器と第２の可変抵抗器を設け
第２の可変抵抗器の中間端子を除く少なくとも一
端に直流電圧を印加し、コントロール部からの回
転開始信号をサーボモータに入力し、第１の可変
抵抗器を動作せしめ、第１の温度状態での演算増
幅器の出力電圧をリミツト設定回路の第１の基準
電圧と判定部で比較し、予じめ定めた条件に合致
したならば回転停止信号を上記サーボモータに入
力し動作を停止させ、その直後に第２の可変抵抗
器の中間端子の電圧を第１の計測器で計測しその
値をメモリ回路に保持させ、さらに上記メモリ回
路に保持した値を上記リミツト回路に入力し第２
の基準電圧として判定部に入力し、一方判定部と
演算増幅器の出力を切り離し、第２の可変抵抗器
の中間端子を判定部と接続しその出力電圧を判定
部に入力した状態で演算増幅器を第２の温度状態
にならしめ上記同様にサーボモータの動作から停
止まで実行し、上記第１の可変抵抗器の場合と同
様測定回路を構成して、その状態で出力される演
算増幅器の出力電圧を第２の計測器で計測しその
値より温度ドリフト特性を得るようにした温度ド
リフト検査方式が得られる。
零点調整用可変抵抗器と第２の可変抵抗器を設け
第２の可変抵抗器の中間端子を除く少なくとも一
端に直流電圧を印加し、コントロール部からの回
転開始信号をサーボモータに入力し、第１の可変
抵抗器を動作せしめ、第１の温度状態での演算増
幅器の出力電圧をリミツト設定回路の第１の基準
電圧と判定部で比較し、予じめ定めた条件に合致
したならば回転停止信号を上記サーボモータに入
力し動作を停止させ、その直後に第２の可変抵抗
器の中間端子の電圧を第１の計測器で計測しその
値をメモリ回路に保持させ、さらに上記メモリ回
路に保持した値を上記リミツト回路に入力し第２
の基準電圧として判定部に入力し、一方判定部と
演算増幅器の出力を切り離し、第２の可変抵抗器
の中間端子を判定部と接続しその出力電圧を判定
部に入力した状態で演算増幅器を第２の温度状態
にならしめ上記同様にサーボモータの動作から停
止まで実行し、上記第１の可変抵抗器の場合と同
様測定回路を構成して、その状態で出力される演
算増幅器の出力電圧を第２の計測器で計測しその
値より温度ドリフト特性を得るようにした温度ド
リフト検査方式が得られる。
以下本発明の実施例を第２図のブロツク図を用
い説明する。尚第１図と同じ部分は同一等号で示
す。
い説明する。尚第１図と同じ部分は同一等号で示
す。
サーボモータ３の回転軸上に二連の多回転可変
抵抗器（以下可変抵抗器と称す。）４，５（可変
抵抗器４は、D.U.Tの零点調整用及び可変抵抗器
５は可変抵抗器４の機械的な位置を検出する為に
用いる。）を設け、可変抵抗器５の一端に電圧VR
を印加し、もう一端をアースに接続する。まずス
イツチS2をスタート回路のT0側に接続するとD.
U.T１の出力はリレーRL1のノーマルクローズ接
点ａを介し判定部６にに入力され、一方上記判定
部６にはメモリ回路８の初期値零がリミツト設定
回路９に入力されて比較電圧零ボルトが設定され
る。同時にコントロール部７の回転開始信号によ
りサーボモータ３は回転し、回転軸上の可変抵抗
器４，５も回転を始じめD.U.T１の出力は変化す
る。この電圧が上記比較電圧零ボルトを横切る点
で判定部６よりコントロール部７に信号が出力さ
れこの信号によりコントロール部７からサーボモ
ータへ回転停止信号が入力され零点調整が完了す
る。そこで零点調整が完了された可変抵抗器の位
置を記録する為に可変抵抗器５の中間端子に発生
する電圧値を電圧計VM1で測定しコントロール回
路７からの保持信号によりメモリ回路８に保持す
る。
抵抗器（以下可変抵抗器と称す。）４，５（可変
抵抗器４は、D.U.Tの零点調整用及び可変抵抗器
５は可変抵抗器４の機械的な位置を検出する為に
用いる。）を設け、可変抵抗器５の一端に電圧VR
を印加し、もう一端をアースに接続する。まずス
イツチS2をスタート回路のT0側に接続するとD.
U.T１の出力はリレーRL1のノーマルクローズ接
点ａを介し判定部６にに入力され、一方上記判定
部６にはメモリ回路８の初期値零がリミツト設定
回路９に入力されて比較電圧零ボルトが設定され
る。同時にコントロール部７の回転開始信号によ
りサーボモータ３は回転し、回転軸上の可変抵抗
器４，５も回転を始じめD.U.T１の出力は変化す
る。この電圧が上記比較電圧零ボルトを横切る点
で判定部６よりコントロール部７に信号が出力さ
れこの信号によりコントロール部７からサーボモ
ータへ回転停止信号が入力され零点調整が完了す
る。そこで零点調整が完了された可変抵抗器の位
置を記録する為に可変抵抗器５の中間端子に発生
する電圧値を電圧計VM1で測定しコントロール回
路７からの保持信号によりメモリ回路８に保持す
る。
上記操作を、測定するD.U.T個々に順次繰り返
し行う。次に温度加熱装置２でD.U.Tを規定の温
度に保ち前回測定したD.U.Tの順番に従いまず、
スイツチS2をスタート回路のT1側に接続すると
コントロール部７から読み出し信号がメモリ回路
８に入力されメモリ回路に保持された値が読み出
されたリミツト設定回路９に入力され比較電圧と
して判定部に設定される。
し行う。次に温度加熱装置２でD.U.Tを規定の温
度に保ち前回測定したD.U.Tの順番に従いまず、
スイツチS2をスタート回路のT1側に接続すると
コントロール部７から読み出し信号がメモリ回路
８に入力されメモリ回路に保持された値が読み出
されたリミツト設定回路９に入力され比較電圧と
して判定部に設定される。
次に、コントロール部７の回転開始信号により
サーボモータ３が動作し、一方リレー動作信号に
よりリレーRL1が動作し接点が切り換わり、その
接点ｂを介して可変抵抗器５の中間端子の変化す
る電圧が判定部に入力され、上記比較電圧を横切
ると前回と同様に判定部よりコントロール部７に
信号が入力されコントロール部７より回転停止信
号がサーボモータに入力されサーボモータが停止
する。この操作で上記零点調整と同状態が構成さ
れ、零点調整を行なつた状態で規定温度加温後の
D.U.T出力が得られる。そこでD.U.T１の出力電
圧を電圧計VM2で計測し、この操作を測定するD.
U.T個々に順次繰り返し行う。従つて、このよう
に計測された結果から温度ドリフトを検査する方
法である。
サーボモータ３が動作し、一方リレー動作信号に
よりリレーRL1が動作し接点が切り換わり、その
接点ｂを介して可変抵抗器５の中間端子の変化す
る電圧が判定部に入力され、上記比較電圧を横切
ると前回と同様に判定部よりコントロール部７に
信号が入力されコントロール部７より回転停止信
号がサーボモータに入力されサーボモータが停止
する。この操作で上記零点調整と同状態が構成さ
れ、零点調整を行なつた状態で規定温度加温後の
D.U.T出力が得られる。そこでD.U.T１の出力電
圧を電圧計VM2で計測し、この操作を測定するD.
U.T個々に順次繰り返し行う。従つて、このよう
に計測された結果から温度ドリフトを検査する方
法である。
従来の方法では、検査するD.U.T個々に規定の
温度になるまで待ちその後計測しなければならず
大量の検査工程においては、多大に不必要な時間
を必要とし作業の繁雑に加え作業能率の低下に伴
なう歩留まりの低下はまつたく望めない。
温度になるまで待ちその後計測しなければならず
大量の検査工程においては、多大に不必要な時間
を必要とし作業の繁雑に加え作業能率の低下に伴
なう歩留まりの低下はまつたく望めない。
しかし、本発明では、検査するD.U.Tを高温槽
下に置く事により一度に規定の温度に保ち、順次
計測可能となり、従来の様に多大に不必要な時間
が除かれ、大量生産に於いても作業の簡略、測定
時間の短縮に加え精度よく測定が可能であり非常
にメリツトが得られる。
下に置く事により一度に規定の温度に保ち、順次
計測可能となり、従来の様に多大に不必要な時間
が除かれ、大量生産に於いても作業の簡略、測定
時間の短縮に加え精度よく測定が可能であり非常
にメリツトが得られる。
第１図は従来の検査装置を示すブロツク図、第
２図は本発明の一実施による検査装置を示すブロ
ツク図である。 １……D.U.T、２……加熱装置、３……サーボ
モータ、４，５……可変抵抗器、６……判定部。
２図は本発明の一実施による検査装置を示すブロ
ツク図である。 １……D.U.T、２……加熱装置、３……サーボ
モータ、４，５……可変抵抗器、６……判定部。
Claims (1)
- １ サーボモータの同一回転軸上に設けられた零
点調整用の第１の可変抵抗器と第２の可変抵抗器
と第２の可変抵抗器の中間端子を除く少なくとも
一端に直流電圧を印加する手段と、コントロール
部と、上記コントロール部からの回転開始信号を
サーボモータに入力し、第１の可変抵抗器を動作
せしめて演算増幅器の出力電圧を第１の基準電圧
と比較し予じめ定めた条件に合致したならば回転
停止信号を上記サーボモータに供給して動作を停
止させその直後に第２の可変抵抗器の中間端子の
電圧値を保持する手段とを含むことを特徴とする
温度ドリフト検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2707179A JPS55119073A (en) | 1979-03-08 | 1979-03-08 | Temperature drift inspecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2707179A JPS55119073A (en) | 1979-03-08 | 1979-03-08 | Temperature drift inspecting apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55119073A JPS55119073A (en) | 1980-09-12 |
| JPS6355030B2 true JPS6355030B2 (ja) | 1988-11-01 |
Family
ID=12210826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2707179A Granted JPS55119073A (en) | 1979-03-08 | 1979-03-08 | Temperature drift inspecting apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55119073A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100344965B1 (ko) * | 1999-10-12 | 2002-07-19 | 서통테크놀로지주식회사 | 리튬이온 전지의 개방전압 및 내부저항 측정장치 |
-
1979
- 1979-03-08 JP JP2707179A patent/JPS55119073A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55119073A (en) | 1980-09-12 |
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