KR910007694B1 - 타이머회로(Timer IC)의 측정장치 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

타이머회로(Timer IC)의 측정장치

제1도는 본 발명의 블록도.

제2a도 내지 b도는 본 발명의 상세 회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

A : 전원부 1 : 전원선택회로

2 : 키보드 스위치회로 4 : 시간완료 후 정전압 측정회로

3 : 전압강하 구동회로 5 : 전류계

6 : A/D 변환회로 7 : 마이크로 프로세스

8 : 디스플레이장치 9 : 키보드 디스플레이장치

10 : 스텝모터 구동회로 11 : 시간완료 전,후 선택스위치

12 : 타이머회로(IC) 13 : 시간완료 후 전압강하 측정회로

14 : 시간완료 전 출력 누설 전류 측정회로

RL₁-RL₅: 릴레이 SW₁-SW₈: 스위치

VR : 가변저항

본 발명은 타이머 집적회로(Timer IC)의 이상 유무를 판단할 수 있는 장치에 관한 것으로서, 특히 양질제품의 기준치를 설정하여 놓고 측정 대상의 타이머회로에서 출력되는 데이타를 읽으므로서 제품의 불량 여부를 판단할 수 있도록 한 타이머회로 측정 장치에 관한 것이다.

타이머 집적회로(IC)의 생산시 일반적으로 적용되는 품질 검사는 집적회로의 각 단자에 통전 시험을 하거나 오실로 스코프의 파형을 관측하여 이상 유무를 판단하여 왔으나 품질검사 자체의 정밀도가 저하됨은 물론 다fid의 제품을 시험할 때에는 효율성 면에서도 높은 효과를 기대하기에는 어려웠다.

더우기 고도의 정밀성을 요하는 타이머 집적회로(IC)는 정확하고 신속한 측정으로 양질의 부품만을 선별할 수 있도록 하여야 한다.

그러므로 본 발명은 정확하고 신속한 측정을 하기 위하여 타이머 집적회로에 셋팅된 시간완료 전의 출력전류, 출력 누설전류, 시간완료 후의 정전압, 출력전류와 시간완료 전 고온에서의 출력 누설전류 시간완료후 저온에서의 저온 강하 고온, 저온에서의 여러가지를 항목을 검사할 수 있는 회로를 구성하고 측정 대상의 부품을 패키지에 삽입시켜 검사하고자 하는 항목을 테스트한 후 결과를 관측하여 선별함으로서 양질의 부품과 신속하게 선별할 수 있도록 하는데 본 발명의 목적이 있는 것이다.

이하 참부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.

전원부(A)에 측정 대상에 따라 적절한 전원을 인가할 수 있는 전원선택회로(1)를 연결하고, 상기 전원선택회로(1)는 마이크로 프로세스(7)와 전류계(5)를 접속함과 동시에 마이크로 프로세스(7)에는 전압강하 구동회로(4) A/D 변환회로(6)와 키보드 스위치회로(2) 및 디스플레이 장치(8), 스텝모터 구동회로(10) 그리고 키보드디스플레이장치(9)를 각각 연결하는 한편 A/D 변환회로(6) 측에는 시간완료 후 전압강하 측정회로(13)와 시간완료 전 출력 누설전류 측정회로(14) 및 시간완료 후 정전압 측정회로(3)를 각각 연결되도록 한다.

또한 전류계(5)에는 측정 대상의 타이머회로(12)와 시간완료 후 전압강하 측정회로(13)를 접속하고 상기 타이머회로(12)는 시간완료 전후 선택 스위치(11)와 가변저항(VR)에 연결하며 스텝모터 구동회로(10)에는 가변저항(VR)을 접속하여 구성된 것으로 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.

제1도는 본 고안의 블록 구성도로서 주요 부분의 개요을 설명하면, 전원부(A)는 AC 110V 전원을 각 항목을 측정하기에 알맞는 전원(36V,23V,31.5V)을 출력하게 되며 전원선택회로(1)는 전원부(A)에서 출력되는 전원을 키보드 스위치회로(2)의 선택에 따라 마이크로 프로세스(7)의 제어 신호에 의해서만 릴레이(RL) 동작으로 선택된다.

전류계(5)는 타이머회로(12)에 인가되는 전류를 측정하고 시간완료 전후 선택스위치회로(11)는 타이머회로(12)의 저항과 캐패시티 값의 조절에 따라 출력 시간이 달라지게 되므로 각 항목 조건의 시간완료 전, 후를 저항 값의 선택 즉 마이크로 프로세스(7)의 제어 신호에 의해 선택 조절된다.

또 A/D 변환회로(6)는 각 측정단의 출력 신호가 입력으로 되고 이 신호를 2⁸으로 나누어 마이크로 프로세스(7)에 입력으로 전송하며 이것은 아날로그 신호를 디지탈 신호로 바꾸어 마이크로 프로세스(7)에서 그 데이타를 디지탈로 읽을 수 있게 한다.

또한 마이크로 프로세스(7)는 타이머회로, 테스트의 모든 조건을 제어하는 콘트롤러이다. 먼저 키보드 스위치회로(2)를 동작시키면 그 입력 신호를 읽어 요구하는 측정 조건으로 프로그램을 진행하며, 전원선택회로(1) 및 시간완료 전, 후 선택스위치회로(11)의 릴레이를 구동시키며 A/D 변환회로(6)에서 들어오는 데이타를 분석하여 디스플레이 장치(8)와 스텝모터 구동회로(10)을 동작시킬 수 있는 신호로 처리하여 전송한다.

스텝모터 구동회로(10)는 시간완료 후 출력 누설전류를 측정하기 위해서 타이머회로(12)에 일정하게 100mA의 전류를 인가되게 하여야 하므로 마이크로 프로세스(7) 신호에 의해 스텝모터가 구동되어 가변저항(VR)의 값을 조정하여 전류를 100mA가 되도록 한다.

또한 키보드 디스플레이장치(9)는 키보드 스위치회로(2)의 동작에 따라 램프의 점등 및 알람 신호의 발생으로 상황을 알 수 있도록 한다.

제2도의 (a) 내지 (b)도의 회로도에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.

측정대상의 타이머회로(12)를 패키지에 삽입시킨 후 측정하고자 하는 항목을 테스트 한다.

먼저 타이머회로(12)에 세팅된 시간완료 전 출력 전류를 테스트하기 위하여 키보드 선택스위치(2)의 수동스위치(SW₂)를 1회 접속시키면 마이크로 프로세스(7)에 신호가 인가되고, 상기 마이크로 프로세스(7)의 명령에 따라 전원선택회로(1)의 릴레이(RL₁)를 동작시키면서 릴레이 스위치(SW₄)가 온 상태로 접속됨과 동시에 시간완료 전, 후 선택스위치(SW₇)를 동작시켜 타이머회로(12)에 전원을 인가하여 가동 상태로 만들게 된다.

이때 타이머회로(12)의 타측에 연결된 전류계(5)에 의해 출력 전류를 지시하게 되며 이 지시계(5)에 따라 양품 기준 출력 전류와 비교하여 선별하게 된다.

또한 타이머회로(12)의 시간완료 전 출력 누설전류를 측정하기 위하여 키보드 선택스위치(2)의 수동스위치(SW₂)를 2회 접속시키면 마이크로 프로세스(7)에 신호가 인가되어 릴레이 스위치(SW₄)와 시간완료 전후 선택스위치(SW₇)를 가동시키게 되며(이때 키보드 디스플레이장치(9)에서 램프의 점등 알람 신호가 출력됨) 따라서 타이머회로(12)의 출력이 시간완료 전 출력 누설전류 측정회로(14)에 인가된다.

시간완료 전 출력 누설전류 측정회로(14)는 차동 증폭회로(14)로 구성되어 누설전류를 읽고 A/D 변환회로(6)에 인가되면서 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 다시 마이크로 프로세스(7)에 입력되어져 디스플레이 장치(8)를 구동함으로서 출력 누설전류가 수치로 나타나며 양품 기준치와 비교하여 선별하게 된다.

또한 시간완료 후 정전압을 측정하기 위해서는 키보드 선택스위치(2)의 수동스위치(SW₂)를 3회 접속시키면 마이크로 프로세스(7)에 신호가 인식되어 전원선택회로(1)의 릴레이(RL₃)를 동작시켜 스위치(SW₃)를 온(ON)상태로 하여 타이머회로(12)에 31.5V를 인가하고, 타이머회로(12)의 출력을 인가받아 시간완료 후 정전압 측정회로(4)에서 측정한 후 수치로 나타내기 위해서 A/D 변환회로(6)에 인가되어 디지탈 신호로 변환하여 마이크로 프로세스(7)를 통해 디스플레이 장치(8)를 작동시켜 시간완료 후의 정전압이 수치로 표시된다.

또한 타이머회로(12)에 세팅한 시간완료 후 출력전류를 측정하기 위해서는 키보드 선택스위치(2)의 수동스위치(SW₂)를 4회 접속시키면 상기와 동일한 작용으로 시간완료 후 출력 누설전류 측정회로(14)를 통하여 A/D 변환회로(6)에 입력되지만 상기 항목을 측정하기 위해서는 타이머회로(12)에 항상 100mA의 전류가 흐르도록 하는 조건을 맞추어야 한다.

따라서 수동스위치(SW₂)를 4회 누름과 동시에 마이크로 프로세스(7)에서 스텝모터 구동회로(10)에 전류을 인가하여 스텝모터 회전으로 가변저항(VR)을 값을 변화시켜 시간완료 후 누설전류를 측정할 때에는 항상 100mA를 가동으로 유지하여 타이머회로(12)에서 출력되는 전류를 차동 증폭회로로 구성된 시간완료 후 출력 누설전류 측정회로(14)에서 데이타를 읽고 A/D 변환회로(6)에 입력되어 디스플레이 장치(8)를 통해 누설전류가 표시된다.

또 다른 항목, 즉 시간완료 후 전압강하를 측정하기 위해서 키보드 선택스위치 회로(2)의 수동스위치(SW₂)를 5회 접속시키면 마이크로 프로세스(7)에 신호가 인가되어 전원선택회로(1)의 릴레이(RL₁)을 구동시켜 스위치(SW₄)를 온(ON)상태로 하여 타이머회로(12)에 36V를 인가함과 동시에 전압강하 구동회로(3)의 스위치(SW₈)를 접속시켜 차동 증폭회로로 이루어진 시간완료 후 전압강하 측정회로(13)의 전압 차이에 의해 타이머회로(12)에서 출력되는 데이타 신호를 읽어 A/D 변환회로(6)에 입력되어져 디지탈 신호로 변화시킨 후 마이크로 프로세스(7)에 인가됨에 따라, 디스플레이 장치(8)를 구동하여 전압강하 된 만큼의 수치가 표시된다.

한편 키보드 선택스위치(2)의 자동스위치(SW) 온(ON)상태로 접속시키면 마이크로 프로세스(7)의 명령에 따라 측정 항목 순서대로 자동 테스트 되어 순차적으로 디스플레이 장치(8)에 나타나도록 되어 있다.

또한 전술한 항목 측정 이외에 타이머회로(12)를 60℃의 고온에 4시간 동안 가열 후 패키지에 삽입하여 자동스위치(SW₃)와 수동스위치(SW₂)를 동시에 접속시키면 고온에서의 각 항목을 측정할 수 있으며 타이머회로(12)를 -40℃에서 4시간 동안 냉각시킨 후에 패키지에 삽입하여 자동스위치(SW₃)와 리세트스위치(SW₁)를 동시에 누르게 되면 저온에서 각 항목 변화를 측정함으로서 양질의 타이머회로(12)를 선별할 수 있능 것이다.

이상에서 상술한 바와 같이 타이머회로(12)를 양산하여 이상유무 판단하여 양질의 제품만을 선별할 경우 본 발명의 장치를 사용하여 여러가지 항목 측정과 고온 및 저온등 다양한 상황에서의 출력 데이타를 관측하여 양품의 기준치와 비교 판단함으로서 정확성은 물론 짧은 시간에 많은 량의 타이머회로(12)를 선별할 수 있어 생산성을 향상할 수 있는 것이다.

Claims (3)

1. 전원부(A)에 측정 대상에 따라 적절한 전원을 인가할 수 있는 전원선택회로(1)를 연결하고, 상기 전원선택회로(1)는 마이크로 프로세스(7)와 전류계(5)를 접속함과 동시에 마이크로 프로세스(7)에는 구동회로(4), A/D 변환회로(6)와 키보드 스위치회로(2) 및 디스플레이장치(8), 스텝모터 구동회로(10) 그리고 키보드 디스플레이장치(9)를 각각 연결하는 한편 A/D 변환회로(6)측에는 시간완료 후 전압강하 측정회로(13)와 시간완료 전 출력 누설전류 측정회로(14) 및 시간완료 후 정전압 측정회로(3)를 각각 연결되도록 하고, 전류계(5)에는 측정 대상의 타이머회로(12)와 시간완료 후 전압강하 측정회로(13)를 접속하고 상기 타이머회로(12)는 시간완료 전후 선택스위치(11)와 가변저항(VR)에 연결하며 스텝모터 구동회로(10)에는 가변저항(VR)을 접속하여 구성된 것을 특징으로하는 타이머회로(Timer IC)의 측정장치.
2. 제1항에 있어서, 전원선택회로(1)로 키보드 스위치회로(2)의 선택에 따라 마이크로 프로세스(7)의 제어 신호에 의해 서만 릴레이 동작으로 선택되는 것을 특징으로 한 타이머회로의 측정장치.
3. 제1항에 있어서, 시간완료 전, 후 선택스위치회로(11)는 각 항목 조건의 시간완료 전, 후를 마이크로 프로세스(7)의 제어 신호에 의해 선택 조절되는 것을 특징으로 하는 타이머회로의 측정장치.

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