JP2627531B2 - 制御基板などの検査装置 - Google Patents

制御基板などの検査装置

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JP2627531B2
JP2627531B2 JP63103447A JP10344788A JP2627531B2 JP 2627531 B2 JP2627531 B2 JP 2627531B2 JP 63103447 A JP63103447 A JP 63103447A JP 10344788 A JP10344788 A JP 10344788A JP 2627531 B2 JP2627531 B2 JP 2627531B2
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秀樹 川口
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東陶機器株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、基板に抵抗、コンデンサなどの素子を実装
した制御基板などを検査するための検査装置に関するも
のである。
従来の技術 近年、給湯機にも、その機能を制御するためにマイク
ロコンピュータを含む制御回路基板が搭載されている。
給湯機においては、そこから供給される湯は、風呂、シ
ャワー、洗面所、台所等に供給され、人の肌に直接触れ
るものである。従って、故障等によって給湯機から不意
に熱湯が噴出したりすると、火傷をするなどの危険があ
る。このため、給湯機に搭載されその機能を制御する制
御回路基板は、そのような故障が絶対ないように、製品
出荷前において厳重に検査されねばならない。このため
の検査としては、制御回路を構成する抵抗、コンデン
サ、マイコン等を構成するIC等の各電気回路素子の各々
の検査を行うインサーキットチェックの他に、制御回路
の種々な制御機能の検査を行うファンクションチェック
が必要である。従来、このような検査を行う検査装置と
しては、検査すべき制御基板を装着する検査治具を備え
ており、給湯機等の製造ラインにてオンラインにて検査
を行うものがあった。
発明が解決しようとする課題 従来のこの種の検査装置は、製造ラインにおけるオン
ラインモードにてのみ検査を行うものであり、被検査制
御基板の不良が検出されたとしても、その不良個所を分
析して修正するようなことはできなかった。すなわち、
従来の検査装置では、被検査制御基板に不良個所が検出
された場合には、その検査装置の検査治具からその被検
査基板を外して、別の計測装置等を使用してその不良個
所を分析して修正作業等を行わなければならなかった。
このような被検査基板の不良個所の分析や修正作業は、
非常に時間がかかり面倒なものとなっており、一方で
は、製造ラインにおける検査装置のあき時間を充分に活
用しうるものではなかった。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解消しう
るような制御基板などの検査装置を提供することであ
る。
課題を解決するための手段 本発明による検査装置は、基板に抵抗、コンデンサな
どの素子を実装した制御基板などの被検査基板を装着
し、該被検査基板の各チェックポイントの検査を行い、
その検査結果を検査信号として出力する検査治具と、該
検査治具の駆動を制御し且つその検査治具からの前記検
査信号を受けて出力する治具制御ユニットと、該治具制
御ユニットから出力される前記検査信号を受けてその検
査信号をチェックして、不良と判断したときは不良検出
信号を出力する不良検出ユニットと、オン・オフ信号を
受けてオンラインモード設定信号またはオフラインモー
ド設定信号を出力するオン・オフモード設定ユニット
と、該オン・オフモード設定ユニットからの前記オンラ
インモード設定信号を受けているときは、前記不良検出
ユニットから前記不良検出信号を受けると、前記治具制
御ユニットに検査治具停止信号を出力し、前記オン・オ
フモード設定ユニットから前記オフラインモード設定信
号を受けているときには、前記不良検出ユニットから前
記不良検出信号を受けても、前記治具制御ユニットが前
記検査治具を作動状態に維持するように制御する制御ユ
ニットとを備えることを特徴とする。
実施例 次に、添付図面に基づいて、本発明の実施例について
本発明をより詳細に説明する。
添付図面の第1図は、本発明の一実施例としての検査
装置の構成を示す概略ブロック図である。この第1図に
示されるように、この実施例の検査装置は、検査治具1
と、治具制御ユニット2と、不良検出ユニット3と、オ
ン・オフモード設定ユニット4と、制御ユニット5と、
オン・オフモード選択ボタン6と、ストップボタン7
と、シンクロスコープ8と、プリンタ9と、CRT表示装
置10とを備えている。検査治具1は、検査すべき制御基
板を装着し、その被検査基板の各チェックポイントの検
査を行い、その検査結果を検査信号として出力するもの
であり、これ自体は公知のものであるので、これ以上詳
述しない。治具制御ユニット2は、検査治具1の駆動を
制御して被検査基板の各検査項目についての検査動作を
行わせるとともに、その検査治具1からの検査信号を受
けて出力する。不良検出ユニット3は、治具制御ユニッ
ト2から出力される検査信号を受けてその検査信号をチ
ェックして、不良と判断したときは不良検出信号を出力
する。オン・オフモード設定ユニット4は、オン・オフ
モード選択ボタン6を介して検査作業を行うオペレータ
によって選択的に入力されるオン・オフ信号を受けてオ
ンラインモード設定信号またはオフラインモード設定信
号を出力する。制御ユニット5は、オン・オフモード設
定ユニット4からのオンラインモード設定信号を受けて
いるときは、不良検出ユニット2から不良検出信号を受
けると、治具制御ユニット2に検査治具停止信号を出力
し、オン・オフモード設定ユニット4からオフラインモ
ード設定信号を受けているときには、不良検出ユニット
3から不良検出信号を受けても、治具制御ユニット2へ
検査治具停止信号を出力することなく、治具制御ユニッ
ト2が検査治具1を作動状態に維持するように制御す
る。なお、この実施例では、制御ユニット5は、オン・
オフモード設定ユニット4からオフラインモード設定信
号を受けているときには、不良検出ユニット3から不良
検出信号を受けても、治具制御ユニット2へ検査治具停
止信号を出力しないようにしたのであるが、本発明は、
これに限らず、治具制御ユニット2が、制御ユニット5
からの検査治具停止信号を無視して、検査治具1を作動
状態に維持するように構成することもできる。制御ユニ
ット5は、ストップボタン7を介してオペレータによっ
て作動・停止制御されるようになっている。さらに、こ
の実施例では、制御ユニット5には、シンクロスコープ
8、プリンタ9およびCRT表示装置10が接続されてお
り、被検査基板の各検査項目についての検査結果を表示
できるようにしている。
次に、このような検査装置において、制御基板の検査
を行う一例について、第2図のフローチャートを参照し
て説明する。
先ず、オペレータは、検査すべき制御基板を検査治具
1に装着し、ステップ11にて、オン・オフ選択ボタン6
を操作して、オン・オフモード設定ユニット4をして、
制御ユニット5へ、オンラインモード設定信号を出力す
るようにする。制御ユニット5は、このオンラインモー
ド設定信号を受けると、治具制御ユニット2をして、検
査治具1が製造ラインとのオンラインモードにて、その
被検査基板の各検査項目についての検査を行うように制
御せしめる。このようなオンラインモードにおいて、被
検査制御基板の各検査項目について検査が行われていく
中で、ステップ12に示すように、不良検出ユニット3
が、不良検出信号を制御ユニット5へ出力すると、制御
ユニット5は、治具制御ユニット2へ検査治具停止信号
を出力して、検査治具1の検査のための駆動を停止させ
る。一方、オペレータがオン・オフ選択ボタン6を操作
してオフラインモードを選択する場合には、制御ユニッ
ト5は、オン・オフモード設定ユニット4からオフライ
ンモード設定信号を受けているときには、すなわち、ス
テップ13に示すオフラインモードにおいては、不良検出
ユニット3から不良検出信号を受けても、治具制御ユニ
ット2へ検査治具停止信号を出力することなく、治具制
御ユニット2が検査治具1を作動状態に維持するように
制御する。このようなオフラインモードにおいては、作
動状態に維持された検査治具1を介して、ステップ14お
よび15にてくりかえしテストおよび不良個所のメンテナ
ンスが行われる。くりかえしテストにおいては、それら
の検査結果は、シンクロスコープ8やプリンタ9やCRT
表示装置10に表示されて、それら検査結果に従って不良
個所の分析がなされ、且つ、不良個所の修正が作業がな
される。このようにして、手直しされた被検査制御基板
が、ステップ16の如く、最終的に良品と判断されるま
で、ステップ14および15は繰り返される。
発明の効果 本発明の検査装置は、次のような効果を有している。
(1)製造工程において制御基板などの不良を検出する
オンラインモードと製造ラインより摘出した不良部分を
有する制御基板などを手直しするオフラインモードの設
定信号を出力するオン・オフモード設定ユニットを備え
ているので、一台の検査装置で二種類の検査ができる。
(2)オンラインモード検査の空き時間を利用して、同
検査装置により、不良制御基板などの手直しをすること
ができる。
(3)オフラインモードにおいて、オンラインモードで
検出した不良ステップに容易に到達することができ、且
つ検査治具を作動状態に維持させておくことができるの
で、制御基板などの不良個所を極めて容易且つ迅速に検
出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例としての検査装置の構成を
示す概略ブロック図、第2図は、第1図の検査装置にお
ける検査動作を説明するためのフローチャートを示す図
である。 1……検査治具、2……治具制御ユニット、3……不良
検出ユニット、4……オン・オフモード設定ユニット、
5……制御ユニット、6……オン・オフ選択ボタン、7
……ストップボタン、8……シンクロスコープ、9……
プリンタ、10……CRT表示装置。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板に抵抗、コンデンサなどの素子を実装
    した制御基板などの被検査基板を装着し、該被検査基板
    の各チェックポイントの検査を行い、その検査結果を検
    査信号として出力する検査治具と、該検査治具の駆動を
    制御し且つその検査治具からの前記検査信号を受けて出
    力する治具制御ユニットと、該治具制御ユニットから出
    力される前記検査信号を受けてその検査信号をチェック
    して、不良と判断したときは不良検出信号を出力する不
    良検出ユニットと、オン・オフ信号を受けてオンライン
    モード設定信号またはオフラインモード設定信号を出力
    するオン・オフモード設定ユニットと、該オン・オフモ
    ード設定ユニットからの前記オンラインモード設定信号
    を受けているときは、前記不良検出ユニットから前記不
    良検出信号を受けると、前記治具制御ユニットに検査治
    具停止信号を出力し、前記オン・オフモード設定ユニッ
    トから前記オフラインモード設定信号を受けているとき
    には、前記不良検出ユニットから前記不良検出信号を受
    けても、前記治具制御ユニットが前記検査治具を作動状
    態に維持するように制御する制御ユニットとを備えるこ
    とを特徴とする制御基板などの検査装置。
JP63103447A 1988-04-26 1988-04-26 制御基板などの検査装置 Expired - Lifetime JP2627531B2 (ja)

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