JPH0210271A - プリント基板のチェック装置 - Google Patents

プリント基板のチェック装置

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Publication number
JPH0210271A
JPH0210271A JP63162202A JP16220288A JPH0210271A JP H0210271 A JPH0210271 A JP H0210271A JP 63162202 A JP63162202 A JP 63162202A JP 16220288 A JP16220288 A JP 16220288A JP H0210271 A JPH0210271 A JP H0210271A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
checked
checking
light
inspected
projected
Prior art date
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Pending
Application number
JP63162202A
Other languages
English (en)
Inventor
Keisuke Fukushima
恵介 福島
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Fujitsu General Ltd
Original Assignee
Fujitsu General Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu General Ltd filed Critical Fujitsu General Ltd
Priority to JP63162202A priority Critical patent/JPH0210271A/ja
Publication of JPH0210271A publication Critical patent/JPH0210271A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は電子部品を実装したプリント基板のチエツク装
置に関するものである。
「従来の技術」 電子部品を実装したプリント基板は、不良部品点数が多
くなればなる程チエツクが面倒になる。
従来は、組立てマニュアルや修理マニュアルに従ってチ
エツク個所をおもい出しながら目視検査とか測定器によ
ってチエツクしていたが、チエツクすべき部品の実装位
置やどの信号線をチエツクすべきかをおぼえることが必
要で、相当な熟練を必要としていた。
「発明が解決しようとする課題」 マニュアルに従って行う目視検査や測定器による検査で
は数多い部品や・信号線のチエツク個所をおぼえるのが
極めて大変で、かつチエツクに多くの時間を要し、また
、マニュアルに記載された部品や信号線に関する説明を
理解したり、チエツク後記述したりするのに多くの労力
を要し素人にはできない作業であった。
本発明はチエツク点を実際のプリント基板上で順次光線
により指示するとともに、故障等の原因によって指示位
置を自動的に制御できるものを1:)ることを目的とす
るものである。
「課題を解決するための手段」 本発明は、被検査プリント基板を定位置にセットする固
定台と、この固定台にセットされた被検査プリント基板
上の被検査位置をスポット光で指示する指示装置と、こ
の指示装置に、指示位置データを送るデータ制御回路と
、このデータ制御回路に結合され作業指示データを表示
する表示装置と、前記データ制御回路に被検査データを
入力する入力部とを具備してなるものである。
「作用」 被検査プリント基板を固定台にセットする6人力部から
被検査プリント基板の番号、不良個所、不良症状等を入
力すると、データ制御回路を介して表示装置に作業指示
データが表示され、かつ指示装置により被検査プリント
基板上の被検査位置をスポット光で照射する。照射位置
のチエツクや測定を行った後、チエツク終了キーを押す
と、つぎにチエツクすべき作業指示データが表示され、
かつ基板のつぎの位置をスポット光で照射する。
このようにして順次チエツクをする。
「実施例」 以下、本発明の一実施例を図面に基づき説明する。
図において、(1)はチエツクすべき被検査プリント基
板である。この被検査プリント基板(1)は固定台(2
)上に、ガイドピン(3)等によって正確にセットされ
る。この固定台(2)の上方には、工ないし複数本のス
ポット光(4)を照射する照光部(5)と、この照光部
(5)の首振りをする駆動部(6)とからなる指示装置
(7)が設けられている。この指示装置(7)は、指示
位置データを送るデータ制御回路(8)に結合され、こ
のデータ制御回路(8)には被検査データの入力部(9
)、作業者への作業指示を表示する表示装置(10)が
結合され、さらに必要に応じて不良症状を自動的に検査
するインサーキットテスタ(11)が結合されている。
以上のような構成において、被検査プリント基板(1)
を、固定台(2)上にガイドピン(3)等で正確にセッ
トする。また、入力部(9)から被検査プリント基板(
1)の番号、不良個所、チエツクすべき作業番号、不良
症状等を入力する。すると、表示装置(10)に、作業
者がなすべき作業指示が表示され、同時に、指示装置(
7)の照光部(5)から1mφ程度のスポット光(4)
が照射する。このスポット光(4)は駆動部(6)によ
って被検査プリント基板(1)上の被検査位置をさがし
て照射する。このとき、例えば2点間の電圧測定位置を
照射するときには、1つのスポット光(4)を交互に振
って指示してもよいし、また、照光部(5)を2個以上
設置し、それぞれ異なる位置を同時に照射することもで
きる。
照射された位置のチエツクを指示装置(10)の作業指
示に従って行い、チエツク終了後、入力部(9)のキー
を押すと、つぎにチエツクすべき作業指示データが表示
装置 (10)に表示され、かつスポット光(4)でつ
ぎのチエツク点を照射し、同時にチエツク作業を行う。
このようにして順次チエツクを行う。
なお、インサーキットテスタ(11)で検査した場合に
は、不良症状等のデータがデータ制御回路(8)へ送ら
れ、作業指示データが表示装置(10)に表示され、か
つ指示装置(7)の照光部(5)からスポット光(4)
を出力して同様にチエツク作業がなされる。
「発明の効果」 本発明は上述のように構成したので、修理やチエツクす
べき個所が順次表示装置に表示され、物品名、部品の実
装位置、作業順序などをおぼえなくとも能率的にチエツ
ク作業ができる。また、最初だけ熟練者がチエツクを行
えば、その順序、作業内容等がデータ制御回路のメモリ
に記憶され、2回目以降は素人でも簡単にできる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明によるチエツク装置の一実施例を示すブロッ
クである。 (1)・・・被検′査プリント基板、(2)・・・固定
台、(3)・・・ガイドピン、(4)・・・スポット光
、(5)・・・照光部、(6)・・・駆動部、(7)・
・・指示装置、(8)・・・データ制御回路、(9)・
・・入力部、(10)・・・表示装置、(11)・・・
インサーキットテスタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査プリント基板を定位置にセットする固定台
    と、この固定台にセットされた被検査プリント基板上の
    被検査位置をスポット光で指示する指示装置と、この指
    示装置に、指示位置データを送るデータ制御回路と、こ
    のデータ制御回路に結合され作業指示データを表示する
    表示装置と、前記データ制御回路に被検査データを入力
    する入力部とを具備してなることを特徴とするプリント
    基板のチェック装置。
JP63162202A 1988-06-29 1988-06-29 プリント基板のチェック装置 Pending JPH0210271A (ja)

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JP63162202A JPH0210271A (ja) 1988-06-29 1988-06-29 プリント基板のチェック装置

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JPH0210271A true JPH0210271A (ja) 1990-01-16

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ID=15749917

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JP63162202A Pending JPH0210271A (ja) 1988-06-29 1988-06-29 プリント基板のチェック装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT412027B (de) * 2001-02-12 2004-08-26 Austria Tech & System Tech Verfahren und vorrichtung zum lokalisieren von möglicherweise fehlerhaften stiften in einem prüfadapter sowie stiftziehwerkzeug

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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