JPS591984B2 - 演算増幅器の検査装置 - Google Patents
演算増幅器の検査装置Info
- Publication number
- JPS591984B2 JPS591984B2 JP50010169A JP1016975A JPS591984B2 JP S591984 B2 JPS591984 B2 JP S591984B2 JP 50010169 A JP50010169 A JP 50010169A JP 1016975 A JP1016975 A JP 1016975A JP S591984 B2 JPS591984 B2 JP S591984B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- variable resistor
- operational amplifier
- output
- comparing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は差動入力を有するＩＣ化演算増幅器の温度に対
する入力オフセット電圧および入力オフセット電流の変
化（以下現度ドリフトと称す）の検査装置に係り、特に
多数の上記演算増幅器の偏度ドリフトを連続して測定で
き且つその測定値から該演算増幅器の良、不良を自動的
に判別するこ、とができる自動洞度ドリフト検査装置に
関するものである。
する入力オフセット電圧および入力オフセット電流の変
化（以下現度ドリフトと称す）の検査装置に係り、特に
多数の上記演算増幅器の偏度ドリフトを連続して測定で
き且つその測定値から該演算増幅器の良、不良を自動的
に判別するこ、とができる自動洞度ドリフト検査装置に
関するものである。
最近、ＩＣ化演算増幅器の発達によりその性能も一段と
向上し、稠度ドリフト特性も０．１μＶ／℃〜１μＶ／
℃のＩＣ化演算増幅器が多数製品化されている。
向上し、稠度ドリフト特性も０．１μＶ／℃〜１μＶ／
℃のＩＣ化演算増幅器が多数製品化されている。
一般に演算増幅器の洞度ドリフトは零点調整を行なつた
場合の値とそうでない場合の値とでは前者の方がはるか
に小さいので、実際装置等に演算増幅器を使用する際に
は零点調整を行なうのが通例である。従つて、演算増幅
器の検査工程に於いて、まず該演算増幅器の零点調整を
行なつてから温度ドリフトの測定を行なう必要がある。
第１図は従来から行なわれている温度ドリフト測定回路
の例を示す。
場合の値とそうでない場合の値とでは前者の方がはるか
に小さいので、実際装置等に演算増幅器を使用する際に
は零点調整を行なうのが通例である。従つて、演算増幅
器の検査工程に於いて、まず該演算増幅器の零点調整を
行なつてから温度ドリフトの測定を行なう必要がある。
第１図は従来から行なわれている温度ドリフト測定回路
の例を示す。
図に示すように、被測定演算増幅器（以下Ｄ、Ｕ、Ｔと
称す）５の反転入力端子Θ及び非反転入力端子１にそれ
ぞれオフセット電流検出用抵抗３、３’を接続し、さら
にこれら抵抗のそれぞれに直列に入力抵抗１、１’の一
端を接続するとともに他端を接地する。さらに抵抗１お
よび３の接続点より帰還抵抗２を介してＤ、Ｕ、Ｔ５の
出力端子に接続するとともに抵抗１’および３’の接続
点を抵抗２’を介して接地する。また、Ｄ、Ｕ、Ｔ５の
零点調整用端子に零点調整用可変抵抗４を接続し、測定
回路が形成される。欠に、この回路による温度ドリフト
測定の方法について以下説明する。
称す）５の反転入力端子Θ及び非反転入力端子１にそれ
ぞれオフセット電流検出用抵抗３、３’を接続し、さら
にこれら抵抗のそれぞれに直列に入力抵抗１、１’の一
端を接続するとともに他端を接地する。さらに抵抗１お
よび３の接続点より帰還抵抗２を介してＤ、Ｕ、Ｔ５の
出力端子に接続するとともに抵抗１’および３’の接続
点を抵抗２’を介して接地する。また、Ｄ、Ｕ、Ｔ５の
零点調整用端子に零点調整用可変抵抗４を接続し、測定
回路が形成される。欠に、この回路による温度ドリフト
測定の方法について以下説明する。
まず、スイッチ６を閉じるとその接点Ａ，ｂを通してｌ
）．Ｕ．Ｔ供給電源＋Ｖｃｃ及び−ＶＥＥからＤ．Ｕ．
Ｔ５の電源電圧が印加される。検査者はＤ．Ｕ．Ｔ５の
出力電圧が零になるようにＤ．Ｕ．Ｔ５の出力端子に接
続した電圧計７を見ながら素早く可変抵抗器４を調整す
る。次に、温度加熱装置８でＤ．Ｕ．Ｔ５を規定の温度
に保ち、再び前記電圧計７によりこの時のＤ．Ｕ．Ｔ５
の出力電圧ＶＯを測定し、その結果から検査者が良、不
良を判別している。すなわち渦度ドリフトΔＯＦＦ／Δ
ＴはΔＯＦＦ／ΔＴ二０／（Ｔ２−Ｔ１）Ｇ（ＶＣ）（
１）で表わされる。
）．Ｕ．Ｔ供給電源＋Ｖｃｃ及び−ＶＥＥからＤ．Ｕ．
Ｔ５の電源電圧が印加される。検査者はＤ．Ｕ．Ｔ５の
出力電圧が零になるようにＤ．Ｕ．Ｔ５の出力端子に接
続した電圧計７を見ながら素早く可変抵抗器４を調整す
る。次に、温度加熱装置８でＤ．Ｕ．Ｔ５を規定の温度
に保ち、再び前記電圧計７によりこの時のＤ．Ｕ．Ｔ５
の出力電圧ＶＯを測定し、その結果から検査者が良、不
良を判別している。すなわち渦度ドリフトΔＯＦＦ／Δ
ＴはΔＯＦＦ／ΔＴ二０／（Ｔ２−Ｔ１）Ｇ（ＶＣ）（
１）で表わされる。
ただしＴ１一零点調整時の温度（一般的には室輻）（℃
）Ｔ２−Ｄ．Ｕ．Ｔの加泥状態の泥度（゜Ｃ）Ｇ−Ｄ．
Ｕ．Ｔの利得（帰還抵抗／入力抵抗） しかしながら、この方法ではＤ．Ｕ．Ｔの零点調整を行
なう場合、一般にＤ．Ｕ．Ｔの電気的特性にバラツキが
あるため零点調整用可変抵抗４をその都度変化させなけ
ればならない。
）Ｔ２−Ｄ．Ｕ．Ｔの加泥状態の泥度（゜Ｃ）Ｇ−Ｄ．
Ｕ．Ｔの利得（帰還抵抗／入力抵抗） しかしながら、この方法ではＤ．Ｕ．Ｔの零点調整を行
なう場合、一般にＤ．Ｕ．Ｔの電気的特性にバラツキが
あるため零点調整用可変抵抗４をその都度変化させなけ
ればならない。
また次のＤ．Ｕ．Ｔを測定する際、その直前に測定した
Ｄ．Ｕ．Ｔの零点が極端にづれている場合等はその影響
によつてＤ．Ｕ．Ｔの出力に大きな電圧となつて現われ
、Ｄ．Ｕ．Ｔを飽和させ、熱的平衡がくずれるため正確
な温度ドリフトの測定ができない。従つて、Ｄ．Ｕ．Ｔ
ｌ個の測定が終了するたびに可変抵抗器の抵抗値を１／
２付近（以下機械械的中心と称す）に戻す必要があり、
極めて面倒である。また、検査者は前記電圧計の計測値
から良、不良を判別するので作業ミスを生じる危険性が
ある。以上の如く、係る方法は大量生産の検査工程中Ｄ
．Ｕ．Ｔ個々についてそれぞれ可変抵抗器を調整する必
要があり、従つて実用上の手間は繁雑となり、又検査者
も熟練を要す等の欠点がある。
Ｄ．Ｕ．Ｔの零点が極端にづれている場合等はその影響
によつてＤ．Ｕ．Ｔの出力に大きな電圧となつて現われ
、Ｄ．Ｕ．Ｔを飽和させ、熱的平衡がくずれるため正確
な温度ドリフトの測定ができない。従つて、Ｄ．Ｕ．Ｔ
ｌ個の測定が終了するたびに可変抵抗器の抵抗値を１／
２付近（以下機械械的中心と称す）に戻す必要があり、
極めて面倒である。また、検査者は前記電圧計の計測値
から良、不良を判別するので作業ミスを生じる危険性が
ある。以上の如く、係る方法は大量生産の検査工程中Ｄ
．Ｕ．Ｔ個々についてそれぞれ可変抵抗器を調整する必
要があり、従つて実用上の手間は繁雑となり、又検査者
も熟練を要す等の欠点がある。
本発明の目的は、これら従来の欠点を除去し迅速かつ精
度よく誰にでも簡単に演算増幅器の泥度ドリフトを測定
することができ且つその測定値から該演算増幅器の良、
不良を自動的に判別することができる自動温度ドリフト
検査装置を提供することにあり、以下本発明を実施例に
ついて説明する。第２図は本発明による自動淵度ドリフ
ト検査装置の１実施例を示すプロツタ図で、第１図と同
等部分は同一符号で示してある。
度よく誰にでも簡単に演算増幅器の泥度ドリフトを測定
することができ且つその測定値から該演算増幅器の良、
不良を自動的に判別することができる自動温度ドリフト
検査装置を提供することにあり、以下本発明を実施例に
ついて説明する。第２図は本発明による自動淵度ドリフ
ト検査装置の１実施例を示すプロツタ図で、第１図と同
等部分は同一符号で示してある。
パルスモータ９の回転軸上に二連の多回転可変抵抗器（
以下、単に可変抵抗器と称す）４および１０を設ける。
可変抵抗器４はＤ．Ｕ．Ｔの零点調整用の可変抵抗器で
、可変抵抗器１０は可変抵抗器４および１０を機械的中
心にセツトするための可変抵抗器である。まず、可変抵
抗器４および１０を機械的中心にセツトする場合の動作
について説明する。可変抵抗器１０の両端に直流電圧＋
Ｖｓ，−Ｖｓを印加しスイツチ１２を閉じることにより
、可変抵抗器１０のコモン端子に発生した電圧は、スイ
ツチ１２を経て電圧比較回路２０に入力され、予め基準
電圧発生回路３０で設定した基準軍圧（ＲＥＦｌ）と比
較される。電圧比較回路２０の出力はアンド（ＡｒＳ！
Ｄ）ゲート回路４０に入力されており、またクロツクパ
ルス発生器１３が常時発生しているクロツクパルスもア
ンドゲート回路４０に入力されている。今、ハイレベル
の測定開始信号が測定開始信号入力端子１４に加えられ
アンドゲート回路４０に印加されると、電圧比較回路２
０の出力がハイレベルの期間（可変抵抗器１０のコモン
端子の電圧が基準電圧より大きい期間）中はアンドゲー
ト回路４０の出力に前記クロツクパルスが出力され、そ
のクロツクパルスはパルスモータ駆動回路５０に入力さ
れ、この駆動回路５０はパルスモータ９を前記コモン端
子に発生した電圧を零にする方向に一定の角度だけ回転
する。すなわち、このパルスモータ９の回転軸上に取付
けられている可変抵抗器４および１０も当然同じ角度だ
け回転し、可変抵抗器１０のコモン端子の電圧が先に設
定した基準電圧（ＶＲＥＦｌ）以内になるとこの動作は
停止し可変抵抗器４および１０は機械的中心にセツトさ
れたことになる。ここでパルスモータ９は入力にクロツ
クパルスが１つ加えられる毎に一定の角度だけ回転する
ので、今、回転角度１．８定／パルスモータを使用すれ
ば２００パルスで１回転となり、１０回転可変抵抗器を
回転軸上に取り付ければ、この可変抵抗器の分解能は１
／２０００となる。また、クロツクパルスの周波数を１
０００ＰＰＳとすれば、コモン端子と他端の抵抗値が零
あるいは最大値になつている場合でも１秒以内に可変抵
抗器の機械的中心にセツトすることが可能である。また
、可変抵抗器の機械的中心からのずれＸＥはＸＥ＝ＶＲ
ＥＦｌ／１Ｖｓ１×１００（４） （２）で表わされ
る。
以下、単に可変抵抗器と称す）４および１０を設ける。
可変抵抗器４はＤ．Ｕ．Ｔの零点調整用の可変抵抗器で
、可変抵抗器１０は可変抵抗器４および１０を機械的中
心にセツトするための可変抵抗器である。まず、可変抵
抗器４および１０を機械的中心にセツトする場合の動作
について説明する。可変抵抗器１０の両端に直流電圧＋
Ｖｓ，−Ｖｓを印加しスイツチ１２を閉じることにより
、可変抵抗器１０のコモン端子に発生した電圧は、スイ
ツチ１２を経て電圧比較回路２０に入力され、予め基準
電圧発生回路３０で設定した基準軍圧（ＲＥＦｌ）と比
較される。電圧比較回路２０の出力はアンド（ＡｒＳ！
Ｄ）ゲート回路４０に入力されており、またクロツクパ
ルス発生器１３が常時発生しているクロツクパルスもア
ンドゲート回路４０に入力されている。今、ハイレベル
の測定開始信号が測定開始信号入力端子１４に加えられ
アンドゲート回路４０に印加されると、電圧比較回路２
０の出力がハイレベルの期間（可変抵抗器１０のコモン
端子の電圧が基準電圧より大きい期間）中はアンドゲー
ト回路４０の出力に前記クロツクパルスが出力され、そ
のクロツクパルスはパルスモータ駆動回路５０に入力さ
れ、この駆動回路５０はパルスモータ９を前記コモン端
子に発生した電圧を零にする方向に一定の角度だけ回転
する。すなわち、このパルスモータ９の回転軸上に取付
けられている可変抵抗器４および１０も当然同じ角度だ
け回転し、可変抵抗器１０のコモン端子の電圧が先に設
定した基準電圧（ＶＲＥＦｌ）以内になるとこの動作は
停止し可変抵抗器４および１０は機械的中心にセツトさ
れたことになる。ここでパルスモータ９は入力にクロツ
クパルスが１つ加えられる毎に一定の角度だけ回転する
ので、今、回転角度１．８定／パルスモータを使用すれ
ば２００パルスで１回転となり、１０回転可変抵抗器を
回転軸上に取り付ければ、この可変抵抗器の分解能は１
／２０００となる。また、クロツクパルスの周波数を１
０００ＰＰＳとすれば、コモン端子と他端の抵抗値が零
あるいは最大値になつている場合でも１秒以内に可変抵
抗器の機械的中心にセツトすることが可能である。また
、可変抵抗器の機械的中心からのずれＸＥはＸＥ＝ＶＲ
ＥＦｌ／１Ｖｓ１×１００（４） （２）で表わされ
る。
ただし、１Ｖｓ１＝可変抵抗器の両側に印加する電圧の
絶対値（７）ＶＲＥＦｌ＝基準電圧発生回路の基準電 圧Ｖ） 従つて、可変抵抗器の機械的中心からのずれ許容範囲は
、可変抵抗器の両側に印加する電圧Ｖｓｌ及び基準電圧
発生回路の基準電圧ＶＲＥＦｌを任意に選ぶことにより
決定される。
絶対値（７）ＶＲＥＦｌ＝基準電圧発生回路の基準電 圧Ｖ） 従つて、可変抵抗器の機械的中心からのずれ許容範囲は
、可変抵抗器の両側に印加する電圧Ｖｓｌ及び基準電圧
発生回路の基準電圧ＶＲＥＦｌを任意に選ぶことにより
決定される。
次に、Ｄ．Ｕ．Ｔ５の零点調整について説明する。前記
動作が終了後、Ｄ．Ｕ．Ｔ５の電源スイツチ６とスイツ
チ１１を閉じ、Ｄ．Ｕ．Ｔ５に規定の電源電圧＋ＶＣＣ
，−ＶＥＥを印加すると、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力端子には〔
｛入力オフセツト電圧＋（入力オフセツト電流×検出抵
抗）｝×（帰還抵抗／入力抵抗）〕の電圧が現われスイ
ツチ１１を経て電王比較回路２０に入力される。一方、
基準電圧発生回路３０でＤ．Ｕ．Ｔにより決められる零
点範囲の電王を基準電圧（ＶＲＥＦ２）として設定し、
この電圧に比較してＤ．Ｕ．Ｔ５の出力電圧が大なる場
合、前述の可変抵抗器の機械的中心セツトの動作と同じ
方法でＤ．Ｕ．Ｔ出力電圧を減少させる方向にパルスモ
ータ９を回転させ、零点調整用可変抵抗器４を変化させ
ることによりＤ．Ｕ．Ｔの零点調整を自動的に行なうこ
とができる。この零点調整用可変抵抗器４も機械的中心
セツト用抵抗器１０の場合と同様１／２０００の分解能
をもち、またセツト時間は最長２秒（可変抵抗器のコモ
ン端子と一端との抵抗が零から最大あるいは最大から零
に変化する場合）ででき、しかも高精度に零点調整が可
能である。 ７以上に本発明による零点調整用
回路の概略を述べたが、その回路プロツクの具体例を第
３図に示す。図において、第２図と対応する部分は同一
符号で示してある。まず二連の可変抵抗器４および１０
の機械的中心にセツトする動作について説明する。スイ
ツチ１２を閉じると、その接点Ａ２，ｂ２，Ｃ２が閉じ
、可変抵抗器１０の両端に直流電圧＋Ｖｓ及び−Ｖｓを
印加すると可変抵抗器１０のコモン端子に現われる電圧
（以下、セツト用入力電圧と称す）は接点Ａ２を通して
電圧比較器２１の非反転入力端子１と電圧比較器２２の
反転入力端子８に入力される。（Ｄ．Ｕ．Ｔ５の出力電
圧として＋、の場合があるので２つの電圧比較器２１，
２２が設けられている。）一方、可変抵抗器３２の一端
に正の直流電圧＋Ｖ１を印加し、他端を接地するとその
コモン端子に正の基準電圧（＋ＶＲＥＦｌ）が発生し、
接点Ｂ２を経て電圧比較器２１の反転入力端子８へ入力
される。また、この正の基準電Ｏ田（＋ＲＥＦｌ）を、
演算増幅器３６、入力抵抗３３′、帰還抵抗３４７で構
成した周知の極性反転回路（入力抵抗３３′と帰還抵抗
３４／は同じ抵抗値）で極性を反転させて負の基準電圧
（−ＲＥＦｌ）とし、それは接点Ｃ２を経て電圧比較器
２２τの非反転入力端子ｅに入力される。これらは前記
セツト用入力電圧のそれぞれ基準電圧となる。今、セツ
ト用入力電圧が＋Ｖｓ側にずれ、その電圧が可変抵抗器
３２で設定した正の基準電圧（＋ＲＥＦｌ）より大きい
場合、電圧比較器２１ノの出力はハイレベル、奄圧比較
器２２の出力はロウレベルとなり、それぞれアンドゲ゛
一ト回路４２，４１の入力に加えられる。一方、クロツ
クパルス発生器１３は常時一定の周期のタロツクパルス
を発生し、前記アンドゲート回路４１，４２の一人力に
なつている。今、測定開始信号入力端子１４にハイレベ
ルの信号が印加されると、アンドゲ゛ート回路４１の出
力はロウレベル、アンドゲート回路４２の出力にはクロ
ツクパルスが加わつた時のみクロツクパルスが出力に現
われ、このクロツクパルスがパルスモータ１駆動回路５
１の正回路入力端子（可変抵抗器４を図の右方向にまた
１０を−Ｖｓ方向に回転させる入力端子）５３に入り、
パルスモータ駆動回路５１を通してパルスモータ９は正
回転し、その回転に伴い可変抵抗器１０は−Ｖｓ方向に
移動し、従つて上記セツト用入力電圧は減少し始める。
この動作は、この電圧が先に設定した正の基準電圧（＋
ＶＲＥＦｌ）以下になると電圧比較器２１の出力電圧は
ロウレベルに変化し、アンドゲート回路４２は禁止され
パルスモータの回転は停止し、この状態で可変抵抗器４
および１０は機械的中心にセツトされたことになる。ま
た、セツト用入力電圧が一ｓ側にずれて負の基準電圧（
−ＶＲＥＦｌ）より小さい場合、電圧比較器２１の出力
はロウレベル、電圧比較器２２の出力はハイレベルとな
り、今度はアンドゲート回路４２が禁止されアンドゲー
ト回路４１の出力にクロツクパルスが現われ、このクロ
ツクパルスがパルスモータ駆動回路５１の逆回転入力端
子（可変抵抗器４を図の左方向、また１０を＋Ｖｓ方向
に回転させる入力端子）５２に入りパルスモータ９は逆
回転し、その回転に伴ない可変抵抗器１０は＋ｓ方向に
移動し、従つてセツト用入力電圧は増加する。この動作
は、この電圧が先に設定した基準電圧（−ＶＲＥＦｌ）
以上になると電圧比較器２２の出力はロウレベルとなり
、アンドゲート回路４１は禁止されパルスモータの回転
は停止し、この状態で同じく可変抵抗器４および１０は
機械的中心にセツトされたことになる。次に、Ｉ）．Ｕ
．Ｔの零点調整を行なう場合について説明する。
動作が終了後、Ｄ．Ｕ．Ｔ５の電源スイツチ６とスイツ
チ１１を閉じ、Ｄ．Ｕ．Ｔ５に規定の電源電圧＋ＶＣＣ
，−ＶＥＥを印加すると、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力端子には〔
｛入力オフセツト電圧＋（入力オフセツト電流×検出抵
抗）｝×（帰還抵抗／入力抵抗）〕の電圧が現われスイ
ツチ１１を経て電王比較回路２０に入力される。一方、
基準電圧発生回路３０でＤ．Ｕ．Ｔにより決められる零
点範囲の電王を基準電圧（ＶＲＥＦ２）として設定し、
この電圧に比較してＤ．Ｕ．Ｔ５の出力電圧が大なる場
合、前述の可変抵抗器の機械的中心セツトの動作と同じ
方法でＤ．Ｕ．Ｔ出力電圧を減少させる方向にパルスモ
ータ９を回転させ、零点調整用可変抵抗器４を変化させ
ることによりＤ．Ｕ．Ｔの零点調整を自動的に行なうこ
とができる。この零点調整用可変抵抗器４も機械的中心
セツト用抵抗器１０の場合と同様１／２０００の分解能
をもち、またセツト時間は最長２秒（可変抵抗器のコモ
ン端子と一端との抵抗が零から最大あるいは最大から零
に変化する場合）ででき、しかも高精度に零点調整が可
能である。 ７以上に本発明による零点調整用
回路の概略を述べたが、その回路プロツクの具体例を第
３図に示す。図において、第２図と対応する部分は同一
符号で示してある。まず二連の可変抵抗器４および１０
の機械的中心にセツトする動作について説明する。スイ
ツチ１２を閉じると、その接点Ａ２，ｂ２，Ｃ２が閉じ
、可変抵抗器１０の両端に直流電圧＋Ｖｓ及び−Ｖｓを
印加すると可変抵抗器１０のコモン端子に現われる電圧
（以下、セツト用入力電圧と称す）は接点Ａ２を通して
電圧比較器２１の非反転入力端子１と電圧比較器２２の
反転入力端子８に入力される。（Ｄ．Ｕ．Ｔ５の出力電
圧として＋、の場合があるので２つの電圧比較器２１，
２２が設けられている。）一方、可変抵抗器３２の一端
に正の直流電圧＋Ｖ１を印加し、他端を接地するとその
コモン端子に正の基準電圧（＋ＶＲＥＦｌ）が発生し、
接点Ｂ２を経て電圧比較器２１の反転入力端子８へ入力
される。また、この正の基準電Ｏ田（＋ＲＥＦｌ）を、
演算増幅器３６、入力抵抗３３′、帰還抵抗３４７で構
成した周知の極性反転回路（入力抵抗３３′と帰還抵抗
３４／は同じ抵抗値）で極性を反転させて負の基準電圧
（−ＲＥＦｌ）とし、それは接点Ｃ２を経て電圧比較器
２２τの非反転入力端子ｅに入力される。これらは前記
セツト用入力電圧のそれぞれ基準電圧となる。今、セツ
ト用入力電圧が＋Ｖｓ側にずれ、その電圧が可変抵抗器
３２で設定した正の基準電圧（＋ＲＥＦｌ）より大きい
場合、電圧比較器２１ノの出力はハイレベル、奄圧比較
器２２の出力はロウレベルとなり、それぞれアンドゲ゛
一ト回路４２，４１の入力に加えられる。一方、クロツ
クパルス発生器１３は常時一定の周期のタロツクパルス
を発生し、前記アンドゲート回路４１，４２の一人力に
なつている。今、測定開始信号入力端子１４にハイレベ
ルの信号が印加されると、アンドゲ゛ート回路４１の出
力はロウレベル、アンドゲート回路４２の出力にはクロ
ツクパルスが加わつた時のみクロツクパルスが出力に現
われ、このクロツクパルスがパルスモータ１駆動回路５
１の正回路入力端子（可変抵抗器４を図の右方向にまた
１０を−Ｖｓ方向に回転させる入力端子）５３に入り、
パルスモータ駆動回路５１を通してパルスモータ９は正
回転し、その回転に伴い可変抵抗器１０は−Ｖｓ方向に
移動し、従つて上記セツト用入力電圧は減少し始める。
この動作は、この電圧が先に設定した正の基準電圧（＋
ＶＲＥＦｌ）以下になると電圧比較器２１の出力電圧は
ロウレベルに変化し、アンドゲート回路４２は禁止され
パルスモータの回転は停止し、この状態で可変抵抗器４
および１０は機械的中心にセツトされたことになる。ま
た、セツト用入力電圧が一ｓ側にずれて負の基準電圧（
−ＶＲＥＦｌ）より小さい場合、電圧比較器２１の出力
はロウレベル、電圧比較器２２の出力はハイレベルとな
り、今度はアンドゲート回路４２が禁止されアンドゲー
ト回路４１の出力にクロツクパルスが現われ、このクロ
ツクパルスがパルスモータ駆動回路５１の逆回転入力端
子（可変抵抗器４を図の左方向、また１０を＋Ｖｓ方向
に回転させる入力端子）５２に入りパルスモータ９は逆
回転し、その回転に伴ない可変抵抗器１０は＋ｓ方向に
移動し、従つてセツト用入力電圧は増加する。この動作
は、この電圧が先に設定した基準電圧（−ＶＲＥＦｌ）
以上になると電圧比較器２２の出力はロウレベルとなり
、アンドゲート回路４１は禁止されパルスモータの回転
は停止し、この状態で同じく可変抵抗器４および１０は
機械的中心にセツトされたことになる。次に、Ｉ）．Ｕ
．Ｔの零点調整を行なう場合について説明する。
Ｄ．Ｕ．Ｔ５の電源スイツチ６とスイツチ１１を閉じる
と、接点Ａ，，ｂｌ，ｃｌが閉じ、Ｄ．Ｕ．Ｔ５の出力
端子には、入力オフセツト電圧＋入力オフセツト電流Ｘ
検出抵抗）×（帰還抵抗／入力抵抗）の電圧が現われる
が、零点調整用可変抵抗４の抵抗のずれによる電圧は前
記動作により問題とならない。Ｄ．Ｕ．Ｔ５の出力電圧
は、接点ａ１を経て電圧比較器２１，２２に人力される
。一方、可変抵抗器３１の一端に正の直流電圧＋Ｖ２を
印加し他端を接地すると、コモン端子に正の基準電圧（
＋ＶＲＥＦ２）が発生し、接点ｂ１を経て電圧比較器２
１の反転入力端子８へ入力される。また、この正の基準
電圧（＋ＲＥＦ２）を、演算噌幅器３５、入力抵抗３３
、帰還抵抗３４で構成した極性反転回路で、極性を反転
させて負の基準電圧（−ＶＲＥＦ２）とし、それは接点
Ｃ１を経て電圧比較器２２の非反転入力端子４へ入力さ
れる。この基準電圧（±ＲＥＦ２）はＤ．Ｕ．Ｔが零点
範囲とみなされる領域の電圧でＤ．Ｕ．Ｔ（５Ｄ．Ｕ，
Ｔの利得によつて規定される。
と、接点Ａ，，ｂｌ，ｃｌが閉じ、Ｄ．Ｕ．Ｔ５の出力
端子には、入力オフセツト電圧＋入力オフセツト電流Ｘ
検出抵抗）×（帰還抵抗／入力抵抗）の電圧が現われる
が、零点調整用可変抵抗４の抵抗のずれによる電圧は前
記動作により問題とならない。Ｄ．Ｕ．Ｔ５の出力電圧
は、接点ａ１を経て電圧比較器２１，２２に人力される
。一方、可変抵抗器３１の一端に正の直流電圧＋Ｖ２を
印加し他端を接地すると、コモン端子に正の基準電圧（
＋ＶＲＥＦ２）が発生し、接点ｂ１を経て電圧比較器２
１の反転入力端子８へ入力される。また、この正の基準
電圧（＋ＲＥＦ２）を、演算噌幅器３５、入力抵抗３３
、帰還抵抗３４で構成した極性反転回路で、極性を反転
させて負の基準電圧（−ＶＲＥＦ２）とし、それは接点
Ｃ１を経て電圧比較器２２の非反転入力端子４へ入力さ
れる。この基準電圧（±ＲＥＦ２）はＤ．Ｕ．Ｔが零点
範囲とみなされる領域の電圧でＤ．Ｕ．Ｔ（５Ｄ．Ｕ，
Ｔの利得によつて規定される。
今、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力電圧が正の基準電圧（＋ＶＲＥＦ
２）より大きい場合、電圧比較器２１の出力はハイレベ
ル、電圧比較器２２の出力はロウレベルとなり、測定開
始信号（ハイレベノ（ハ）が端子１４に印加されるとア
ンドゲート回路４２の出力にクロツクパルスが出力され
、そのクロツクパルスはパルスモータ駆動回路５１の正
回転入力端子５３に入力され、パルスモータ９は正回転
し可変抵抗器４を図における右方ノ向に移動させること
により、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力電圧を減少させる。
２）より大きい場合、電圧比較器２１の出力はハイレベ
ル、電圧比較器２２の出力はロウレベルとなり、測定開
始信号（ハイレベノ（ハ）が端子１４に印加されるとア
ンドゲート回路４２の出力にクロツクパルスが出力され
、そのクロツクパルスはパルスモータ駆動回路５１の正
回転入力端子５３に入力され、パルスモータ９は正回転
し可変抵抗器４を図における右方ノ向に移動させること
により、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力電圧を減少させる。
そしてその電圧が正の基準電圧（＋ＶＲＥＦ２）以下に
なると、電圧比較器２１の出力は、ロウレベルとなり、
アンドゲ゛一ト回路２２は禁止され、パルスモータ９の
回転は停止し、従つて可変抵抗器４および１０もその状
態位置で停止する。この状態でＤ．Ｕ．Ｔ５の零点調整
が行なわれたことになる。又、Ｄ．Ｕ．Ｔ３の出力が負
の基準電圧（−ＶＲＥＦ２）より小さい場合、電圧比較
器２１の出力はロウレベル、電圧比較器２２の出力はハ
イレベルとなり、アンドゲ゛一ト回路４１の出力にクロ
ツクパルスが出力され、そのクロツクパルスはパルスモ
ータ駆動回路５１の逆回転入力端子５２に入り、パルス
モータ９は逆回転し可変抵抗器４を図における左方向に
移動させることにより、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力電圧を上昇さ
せる。そしてその電圧が負の基準電圧（−ＶＲＥＦ２）
以上になると、電田比較器２２の出力はロウレベルとな
りアンドゲート回路４１は禁止され、パルスモータ９の
回転は停止し、従つて、可変抵抗器４および１０も、そ
の状態位置で停止する。以上の動作でＤ．Ｕ．Ｔの零点
調整が完全に行われた状態になる。再び第２図を参照す
れば、上述の動作終了後、淵度加熱装置８でＤ．Ｕ．Ｔ
５を別の温度状態に保つた後、スイツチ１１および１５
を閉じ、デイジタル電圧計６０でＤ．Ｕ．Ｔ５の出力電
圧を計測すれば（１）式から温度ドリフトの値を知るこ
とができる。
なると、電圧比較器２１の出力は、ロウレベルとなり、
アンドゲ゛一ト回路２２は禁止され、パルスモータ９の
回転は停止し、従つて可変抵抗器４および１０もその状
態位置で停止する。この状態でＤ．Ｕ．Ｔ５の零点調整
が行なわれたことになる。又、Ｄ．Ｕ．Ｔ３の出力が負
の基準電圧（−ＶＲＥＦ２）より小さい場合、電圧比較
器２１の出力はロウレベル、電圧比較器２２の出力はハ
イレベルとなり、アンドゲ゛一ト回路４１の出力にクロ
ツクパルスが出力され、そのクロツクパルスはパルスモ
ータ駆動回路５１の逆回転入力端子５２に入り、パルス
モータ９は逆回転し可変抵抗器４を図における左方向に
移動させることにより、Ｄ．Ｕ．Ｔの出力電圧を上昇さ
せる。そしてその電圧が負の基準電圧（−ＶＲＥＦ２）
以上になると、電田比較器２２の出力はロウレベルとな
りアンドゲート回路４１は禁止され、パルスモータ９の
回転は停止し、従つて、可変抵抗器４および１０も、そ
の状態位置で停止する。以上の動作でＤ．Ｕ．Ｔの零点
調整が完全に行われた状態になる。再び第２図を参照す
れば、上述の動作終了後、淵度加熱装置８でＤ．Ｕ．Ｔ
５を別の温度状態に保つた後、スイツチ１１および１５
を閉じ、デイジタル電圧計６０でＤ．Ｕ．Ｔ５の出力電
圧を計測すれば（１）式から温度ドリフトの値を知るこ
とができる。
さらに（１）式から求めた検査規格に相当する電圧を基
準電圧設定回路８０で設定した基準電圧（ＲＥＦ３）と
デイジタル電圧計６０の出力信号をデイジタル電圧比較
器７０で比較し、その出力信号からＤ．Ｕ．Ｔの良、不
良を判定しランプ、ブザー等の表示回路９０を動作させ
る。
準電圧設定回路８０で設定した基準電圧（ＲＥＦ３）と
デイジタル電圧計６０の出力信号をデイジタル電圧比較
器７０で比較し、その出力信号からＤ．Ｕ．Ｔの良、不
良を判定しランプ、ブザー等の表示回路９０を動作させ
る。
また、Ｄ．Ｕ．Ｔの零点調整の動作が終了した時点で信
号を発生する回路を設け、その信号により周知のスポツ
ト式温度加熱装置をモータ等で動作させ、Ｄ．Ｕ．Ｔを
加温できるようにすれば堀度ドリフトの測定がすべて自
動でできることは勿論である。このように本発明によれ
ば、従来、大量生産の検査工程中に於いて、検査者がＤ
．Ｕ．Ｔ−つ一つ検査するたびに可変抵抗器を可変して
零点調整を行なつた操作と電圧計で電圧を計測し、その
結果から良、不良を判別する操作が不必要になり、検査
開始の指示信号（測定開始信号）を印加する操作（例え
ば押ボタンスイツチを１回押す）のみでよく検査者は全
く熟練を要さない。従つて誰でも簡単に操作でき極めて
高い作業性と信頼度を得ることが可能である。
号を発生する回路を設け、その信号により周知のスポツ
ト式温度加熱装置をモータ等で動作させ、Ｄ．Ｕ．Ｔを
加温できるようにすれば堀度ドリフトの測定がすべて自
動でできることは勿論である。このように本発明によれ
ば、従来、大量生産の検査工程中に於いて、検査者がＤ
．Ｕ．Ｔ−つ一つ検査するたびに可変抵抗器を可変して
零点調整を行なつた操作と電圧計で電圧を計測し、その
結果から良、不良を判別する操作が不必要になり、検査
開始の指示信号（測定開始信号）を印加する操作（例え
ば押ボタンスイツチを１回押す）のみでよく検査者は全
く熟練を要さない。従つて誰でも簡単に操作でき極めて
高い作業性と信頼度を得ることが可能である。
第１図は従来の淵度ドリフト測定を説明するための回路
図、第２図は本発明による自動温度ドリフト検査装置の
一実梅例を示すブ叱ンク図で、第３図は第２図における
零点調整用回路の一具体例を示す回路図である。 １，１７：入力抵抗、２，２′：抵抗、３，３１：オフ
セツト電流検出用抵抗、４：可変抵抗器、５：被試験演
算増幅器（Ｄ．Ｕ．Ｔ）、６：スイツチ、Ａ，ｂ：スイ
ツチ６の接点、＋Ｖｃｃ，一ＶＥＥ：Ｄ．Ｕ．Ｔ供給電
源、７：電圧計、８：温度加熱装置、９：パルスモータ
、１０：可変抵抗器、１１，１２：スイツチ、１３：ク
ロツクパルス発生器、１４：測定開始信号入力端子、１
５：スイツチ、２０：電圧比較回路、３０：基準電圧発
生回路、４０：アンドゲート回路、５０：パルスモータ
，駆動回路、６０：デイジタル電圧計、７０：デイジタ
ル電圧比較器、８０：基準電圧設定回路、９０：表示回
路。
図、第２図は本発明による自動温度ドリフト検査装置の
一実梅例を示すブ叱ンク図で、第３図は第２図における
零点調整用回路の一具体例を示す回路図である。 １，１７：入力抵抗、２，２′：抵抗、３，３１：オフ
セツト電流検出用抵抗、４：可変抵抗器、５：被試験演
算増幅器（Ｄ．Ｕ．Ｔ）、６：スイツチ、Ａ，ｂ：スイ
ツチ６の接点、＋Ｖｃｃ，一ＶＥＥ：Ｄ．Ｕ．Ｔ供給電
源、７：電圧計、８：温度加熱装置、９：パルスモータ
、１０：可変抵抗器、１１，１２：スイツチ、１３：ク
ロツクパルス発生器、１４：測定開始信号入力端子、１
５：スイツチ、２０：電圧比較回路、３０：基準電圧発
生回路、４０：アンドゲート回路、５０：パルスモータ
，駆動回路、６０：デイジタル電圧計、７０：デイジタ
ル電圧比較器、８０：基準電圧設定回路、９０：表示回
路。
Claims (1)
- １ パルスモータの回転軸上に取付けられた、演算増幅
器の零点調整用の第１の可変抵抗器と、前記回転軸上に
取付けられ、少なくとも一端に直流電圧を印加された第
２の可変抵抗器と、該第２の可変抵抗器のコモン端子に
発生する電圧と予め設定した第１の基準電圧との大小を
比較する第１の比較手段と、該第１の比較手段からの比
較結果信号と別に設けたクロックパルス発生器からのク
ロックパルスと測定開始信号とを受けるゲート手段と、
該ゲート手段の出力信号によつて前記パルスモータを回
転せしめ、前記第２の可変抵抗器の抵抗を上記比較結果
が小さくなるように変化させる手段と、前記演算増幅器
の出力電圧と予め設定した第２の基準電圧を比較する第
２の比較手段と、該第２の比較手段の比較結果信号と前
記クロックパルスと測定開始信号とを前記ゲート手段に
入力し、その出力信号により前記パルスモータを回転せ
しめて前記第１の可変抵抗器を変化させて前記演算増幅
器の出力電圧を減少せしめる手段と、前記演算増幅器を
ある温度の状態に保つた後前記演算増幅器の出力電圧を
計測する手段と、該出力電圧と第３の基準電圧とを比較
する第３の比較手段とを有し、該第３の比較手段の比較
結果を基に前記演算増幅器の温度ドリフト検査を行なう
演算増幅器の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50010169A JPS591984B2 (ja) | 1975-01-25 | 1975-01-25 | 演算増幅器の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50010169A JPS591984B2 (ja) | 1975-01-25 | 1975-01-25 | 演算増幅器の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5185767A JPS5185767A (ja) | 1976-07-27 |
| JPS591984B2 true JPS591984B2 (ja) | 1984-01-14 |
Family
ID=11742768
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50010169A Expired JPS591984B2 (ja) | 1975-01-25 | 1975-01-25 | 演算増幅器の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS591984B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS629782U (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-21 | ||
| JPH038861Y2 (ja) * | 1984-10-19 | 1991-03-05 |
-
1975
- 1975-01-25 JP JP50010169A patent/JPS591984B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH038861Y2 (ja) * | 1984-10-19 | 1991-03-05 | ||
| JPS629782U (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-21 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5185767A (ja) | 1976-07-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US1460530A (en) | Method of and apparatus for measuring electrical resistances | |
| Lee et al. | From AC quantum voltmeter to quantum calibrator | |
| US2842740A (en) | Electronic voltmeters | |
| US3321391A (en) | Method for studying effects of polymerization in d.c. electric field | |
| JPS591984B2 (ja) | 演算増幅器の検査装置 | |
| US3350635A (en) | Solar cell and test circuit | |
| JPH05133997A (ja) | Ｉｃ試験装置の較正方法 | |
| CN110375858B (zh) | 火花探测器探头性能测试方法 | |
| JPS62123367A (ja) | 容量素子の充電電流測定方法 | |
| JPS5817377A (ja) | フラットケ−ブルの導通検査装置 | |
| US3150315A (en) | Method and apparatus for testing impedance elements utilizing a modified wheatstone bridge | |
| SU586390A1 (ru) | Способ поверки потенциометров и устройство дл его реализации | |
| US3324390A (en) | Apparatus for determining the voltage ratio of a voltage divider that is energized by pulsed signals | |
| US5410245A (en) | Method and apparatus for calibrating electronic scales for the horizontal axis | |
| US1854901A (en) | Tube tester | |
| JPS6355030B2 (ja) | ||
| US880074A (en) | Electrical system of measuring temperatures. | |
| JPS5856803B2 (ja) | ユウデンタイブツピン オ ケンサスル ホウホウ オヨビ ソウチ | |
| US2857531A (en) | Method of and apparatus for noise measurement or indication in an electric circuit | |
| US2688726A (en) | Phase-amplitude-frequency measuring system | |
| JPS63225173A (ja) | 検相器 | |
| KR910009372Y1 (ko) | 스텝모터(Step motor)구동에 의한 정전류 공급회로 | |
| US2778994A (en) | Method of and apparatus for noise measurement or indication in an electric circuit | |
| SU1620810A1 (ru) | Способ измерени рассто ни между ос ми взаимно перпендикул рных валов | |
| SU1365002A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров линейных интегральных стабилизаторов напр жени |