JPS6353790A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS6353790A
JPS6353790A JP61195321A JP19532186A JPS6353790A JP S6353790 A JPS6353790 A JP S6353790A JP 61195321 A JP61195321 A JP 61195321A JP 19532186 A JP19532186 A JP 19532186A JP S6353790 A JPS6353790 A JP S6353790A
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JP
Japan
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signal
timing
circuit
data
control signal
Prior art date
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Application number
JP61195321A
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English (en)
Inventor
Katsuyuki Sato
克之 佐藤
Kyoko Ishii
石井 京子
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6353790A publication Critical patent/JPS6353790A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
ニブルモード又はカラムスタティックモード機能を備え
たダイナミック型RAM (ランダム・アクセス・メモ
リ)に利用して有効な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
ダイナミック型RAMにおいては、1ビツトの単位でア
クセスする方式の他、例えば、1983年9月、■日立
製作所発行の「日立ICメモリデータブンクJの307
頁〜320頁に記載されるようなニブルモード等の連続
アクセス方式がある。
このニブルモードでは、カラムアドレスストローブ信号
CASの最初の立ち下がりによって複数のワード線が選
択され、さらに繰り返し変化されるカラムアドレススト
ローブ信号CASに従って、それらのワード線に結合さ
れる4個のメモリセルの記憶データが連続して出力され
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このようなニブルモード等のシリアル出力機能を持つダ
イナミック型RAMにおいても、書き込みモードである
か読み出しモード又はリードモディファイライトモード
であるかの判定は、ライトコマンドセントアップという
ダイナミック型RAMの規格を満足するために、以下の
ことを行っている。書き込み・読み出しモード判定タイ
ミング信号を、第4図に示すように、カラムアドレスス
トローブ信号CASの立ち下がりからやや経過した後ハ
イレベルとされるタイミング信号φc2によって形成し
ている。すなわち、第4図のタイミング図に示すように
、上記タイミング信号φc2は、カラムアドレスストロ
ーブ信号CASの立ち下がり直後に形成されるタイミン
グ信号φc1に遅れて形成され、さらに第3図の遷延回
路DLIによってその設定時間Tdだけ遅延したタイミ
ング信号φc2dが形成される。直列形態のPチャンネ
ルMOSFETQ3.Q4及びNチャンネルMO8FE
TQ7.Q8からなるクロックドインバータ回路CN2
とインバータ回路N3によって構成されるラッチには、
PチャンネルMOSFETQI。
Q2及びN チーp 7ネルMO3FETQ5.Q6か
らなるもう一つのクロックドインバータ回路CN1とイ
ンバータ回路N1を介して、ライトイネーブル信号五に
従って形成される内部制御信号φweが供給きれる。上
記ラッチは、タイミング信号φc2dがロウレベルであ
る間の内部制御信号φweの状態を取り込み、保持する
。言い換えると、内部制御信号φWeすなわちライトイ
ネーブル信号WEのレベルは、タイミング信号φc2d
のハイレベルへの立ち上がりを制限時間として判定され
、ラッチに保持される。このランチの出力信号とされる
内部制御信号φreのハイレベルによって、ダイナミッ
ク型RAMの読み出し動作モードが識別され、さらにア
ンドゲート回路AGIによって、読み出しデータを出力
するためのタイミング信号φrが形成される。
しかしながら、以上のようなタイミング制御には、さら
に次のような問題点が残されていることが本願発明者等
によって明らかになった。すなわち、ダイナミック型R
AMのニブルモード等の連続読み出しモードにおいては
、2回目以後のデータ出力に際してアドレス選択動作が
行われず、2回目以後のカラムアドレスストローブ信号
CASの立ち下がりタイミングですぐに残りのデータが
出力できる状態になっているにもかかわらず、データを
出力するためのタイミング信号φrが上述のような比較
的遅いタイミングで形成されるため、ニブルモード等の
シリアル出力の繰り返し速度が制限されてしまう。
この発明の目的は、シリアル読み出し動作の高速化を図
ったダイナミック型RAM等の半導体記憶装置を提供す
ることにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、1回のアドレス選択動作によって複数のワー
ド線を選択状態とし、これらの複数のワード線に結合さ
れる複数のメモリセルの記憶データを、ロウアドレス信
号又はロウアドレス信号及びカラムアドレス信号を変化
させることなく、断続的に供給される起動制御信号に従
ってシリアルに連続して出力するためのシリアルデータ
出力機能において、書き込み(アーリイライト)動作モ
ードであるか読み出し又はリードモディファイライト動
作モードであるかの判定を、カラムアドレスストローブ
信号CASの立ち下がりからやや経過した後ハイレベル
とされる第1のタイミング信号に従って行い、データの
出力タイミングを、上記起動制御信号が供給される直後
に比較的早いタイミンクで形成される第2のタイミング
信号に従って行うものである。
〔作  用〕
上記した手段によれば、データの出力タイミングは、カ
ラムアドレスストローブ信号CASの立ち下がりからや
や遅れて形成される第1のタイミング信号によってでは
なく、ライトイネーブル信号W下の立ち上がりからの遅
延タイミング信号によって発生され、シリアル出力機能
を高速化することができる。
〔実施例〕
第2図には、この発明が通用されたダイナミ7り型RA
Mの一実施例のブロック図が示されている。同図の各回
路ブロックを構成する回路素子は、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、特に制限されないが、単結晶シ
リコンのような半導体基板上において形成される。
この実施例のダイナミック型RAMは、特に制限されな
いが、二交点方式とされ、メモリアレイM−ARYは、
同図の水平方向に配置される4×n対の相補データ線と
同図の垂直方向に配置されるm本のワード線及びこれら
の相補データ線とワード線の交点に配置される4XnX
m個のメモリセルから構成される。相補データ線はその
4対ずつが一組とされ、カラムアドレスデコーダCDC
Rから供給されるデータ線選択信号Y1〜Ynによって
、同時に選択され、カラムスイッチC8Wの対応する4
対のスイッチMOSFETを介して、同図の垂直方向に
平行に配置される4対の相補共通データ線CDO・CD
0〜CD3・CD3に接続される。
カラムアドレスデコーダCDCRは、後述するカラムア
ドレスバッファCADBから供給される相補内部アドレ
ス信号ayo〜ayi−1(ここで、例えば外部から供
給されるアドレス信号AYOと同相の非反転内部アドレ
ス信号ayOと、逆相の反転内部アドレス信号ayQと
を合わせて相補内部アドレス信号ayQのように表す。
以下同じ。
)をデコードし、後述するタイミング制御回路TCから
供給されるデータ線選択タイミング信号φyに同期して
、上記4対の相補データ線を選択するためのデータ線選
択信号Y1〜Ynを形成し、カラムスイッチC3Wに供
給する。
カラムアドレスバッファCADBは、タイミング制御回
路TCから供給されるタイミング信号φaCに従って、
カラムアドレスストローブ信号CA1に同期して外部端
子AO〜Aiに供給されるYアドレス信号AYO−AY
iを受け、相補内部アドレス信号ayO−ayiを形成
する。これらの相補内部アドレス信号のうち、特定のビ
ット、例えば最上位ビン)ayiは、後述するシフトレ
ジスタSRに供給され、最上位ビットを除いた相補内部
アドレス信号ayo〜ayi−1は、上記カラムアドレ
スデコーダCDCRに供給される。
カラムスイッチC8Wは、上記カラムアドレスデコーダ
CDCRによって形成されるデータ線選択信号Y1〜Y
nを受け、メモリアレイM−ARYの一組とされる4対
の相補データ線を選択し、対応する4対の相補共通デー
タ線CD0−CD0〜CD3・CD3にそれぞれ接続す
る。
メモリアレイM−ARYの各相補データ線は、さらにそ
の他方において、対応するセンスアンプ回路SAの単位
回路に結合される。これらのセンスアンプSAは、タイ
ミング制御回路TCから供給されるタイミング信号φp
aにより動作状態とされ、ワード線の選択動作によって
選択されたメモリセルからの微少読み出し信号を増幅し
、ハイレベル又はロウレベルの2値信号とする。
一方、メモリアレイM−ARYを構成する各ワード線は
、ロウアドレスデコーダRDCRによってその一本が選
択、指定される。ロウアドレスデコーダRDCRは、ロ
ウアドレスバッファRADBから供給される相補内部ア
ドレス信号axQ〜axi−1をデコードし、タイミン
グ制御回路TCから供給されるワード線選択タイミング
信号φXに同期して、1本のワード線を選択するための
ワード線選択信号を形成する。
ロウアドレスバッファRADBは、タイミング制御回路
TCから供給されるタイミング信号φarに従って、ロ
ウアドレスストローブ信号RASに同期して外部端子A
(1−Aiに供給されるXアドレス信号AXO−AXi
を受け、相補内部アドレス信号axoxaxiを形成す
る。これらの相補内部アドレス信号のうち、特定のビッ
ト、例えば最上位ビットaxiはシフトレジスタSRに
供給され、この最上位ピントを除いた相補内部アドレス
信号axO−axi−1は、上記ロウアドレスデコーダ
RDCRに供給される。
シフトレジスタSRは、4ビツトからなるシフトレジス
タであり、特に制限されないが、外部端子から供給され
る最上位の相補内部アドレス信号土xi及びaytによ
りその初期値が設定され、カラムアドレスストローブ信
号CASに基づいて形成されるタイミング信号φCを受
けて、シフト動作を行う。上記シフトレジスタSRは、
その終段のビット出力が、初段回路に帰還される。これ
により、上記相補内部アドレス信号axiと1yiに従
って形成された論理“1”の初期値がリング状にシフト
される。このシフトレジスタSRによってシフトされる
論理“1”のデータ出力バッファDOB及びデータ入カ
バンファDIBに含まれるデータ用マルチプレクサの選
択信号として送出される。
4対の相補共通データ線CD0−CD0〜CD3・6百
〕は、それぞれ対応するメインアンプMA O−MA 
3の入力端子に結合され、さらにデータ人カバソファD
IBの図示されないマルチプレクサを介して入力回路に
結合される。これらのメインアンプMAO〜M A 3
は、相補共通データ線CDO・CD0〜CD3・CD3
を介して伝達される誘み出し信号を増幅し、さらに保持
するためのラッチ回路を含んでいる。これらのメインア
ンプMAO〜MA3の出力信号は、データ出力バッファ
DOBに含まれる図示されないマルチプレクサを介して
出力回路に伝達される。このデータ出力バッファDOB
のマルチプレクサは、上記シフトレジスタSRによって
形成される選択信号により制御され、メインアンプMA
 O−MA 3の出力信号を時系列的にデータ出力回路
DOBの出力回路に伝える。データ出力回路DOBの出
力回路は、ライトイネーブル信号WEがハイレベルのま
まとされる読み出し動作モードにおいて、タイミング制
御回路TCの後述する動作モード判定回路によって形成
されるタイミング信号φrにより動作状態にされ、各メ
インアンプからマルチプレクサを介して伝達される読み
出しデータを増幅して出力端子Doutへ送出させる。
一方、データ入力回路DIRの入力回路は、ライトイネ
ーブル信号WEがロウレベルとされる書き込み動作にお
いて、タイミング制御回路TCから供給されるタイミン
グ信号φWによって動作状態とされ、入力端子Dinに
供給される書き込みデータを相補書き込み信号とし、そ
のマルチプレクサを介して対応する相補共通データ線に
伝える。
データ人カバソファDIBのマルチプレクサは、上記シ
フトレジスタSRによって形成される選択信号により制
御され、上記データ入力回路DIBの入力回路の相補書
き込み信号を時系列的に対応する相補共通データ線CD
O・CD0−CD3・CD3に伝達する。
タイミング制御回路TCは、外部から制御信号として供
給されるロウアドレスストローブ信号罰AS、カラムア
ドレスストローブ信号CAS及びライトイネーブル信号
WEを受けて、メモリ動作に必要な上記各種のタイミン
グ信号を形成し、各回路に供給する。
第1図には、この実施例のダイナミック型RAMのタイ
ミング制御回路TCの動作モード判定回路の一実施例の
回路図が示されている。同図において、そのチャンネル
(バックゲート)部に矢印が付加されたMOS F E
TはPチャンネル型であり、矢印の付加されないNチャ
ンネルMOSFETと区別される。
第1図において、ライトイネーブル信号WEに従って形
成される内部制御信号φ―eは、インバータ回路Nlに
よって反転され、PチャンネルMO3FETQI及びN
チャyネルMOsFETQ6の共通接続されたゲートに
供給される。この内部制御信号φ賛eは、外部から制御
信号として供給されるライトイネーブル信号WEがハイ
レベルであるとロウレベルとされ、ライトイネーブル信
号W百がロウレベルであるとハイレベルとされる。
電源電圧Vccと回路の接地電位との間に直列形態で設
けられるPチャンネルMOSFETQI。
C2及びNチャンネルMO3FETQ5.C6はクロッ
クドインバータ回路CNIを構成する。MOSFETQ
I及びC6の共通接続されたゲートは、このクロックド
インバータ回路CN1の入力端子とされ、上記のように
内部制御信号φweの反転信号が供給される。MOSF
ETC2及びC5の共通接続されたドレインは、このク
ロックドインバータ回路CNIの出力端子とされ、ノー
ドn1すなわちインバータ回路N3の入力端子に結合さ
れる。
一方、電源電圧Vccと回路の接地電位との間には、P
チャンネルMOSFETQ3.C4及びNチャンネルM
O3FETQ7.C8からなるもう一つのクロックドイ
ンバータ回路CN2が設けられる。MOSFETC4及
びC7の共通接続されたドレインは、同様にインバータ
回路N3の入力端子に結合される。また、M OS F
 E T Q 3及びC8の共通接続されたゲートは、
このクロックドインバータ回路CN2の入力端子とされ
、インバータ回路N3の出力端子に結合されるとともに
、アンドゲート回路AGIの一方の入力端子に結合され
る。これらのクロックドインバータ回路CN2とインバ
ータ回路N3は、その入力端子と出力端子が交差接続さ
れることによって、ランチ形態とされる。
MOSFETC2及びC7のゲートは共通接続され、カ
ラムアドレスストローブ信号mの立ち下がりからやや遅
れて形成されるタイミング信号φc2が遅延回路DL1
によってさらにその設定時間Tdだけ遅延されたタイミ
ング信号φc2dが供給される。このタイミング信号φ
c2dは、このダイナミック型RAMが書き込み動作モ
ード(アーリイライトモード)であるか、読み出し動作
モード又はリードモディファイライトモードであるかの
判定を行うためのダイナミック型RAMの規格をも満足
するように、遅延回路DLIの遅延時間Tdが設定され
る。
タイミング信号φc2dは、インバータ回路N2により
反転され、MOSFETC4及びC5の共通接続された
ゲートに供給される。
以上のことから、クロックドインバータ回路CN1はタ
イミング信号φc2dのロウレベルとその反転信号Tご
了のハイレベルによってMOSFETC2及びC5がと
もにオン状態となることで、動作状態とされ、内部制御
信号φ−eのレベルをノードn1に伝達する。また、タ
イミング信号φC2dがハ・イレベルとなると、そのハ
イレベルと反転(Ni号$ C2aのロウレベルにより
、MOSFETC2及びC5はオフ状態となり、クロッ
クドインバータ回路CNIは内部制御信号φweのレベ
ルをノードn1に伝達しない。
一方、クロックドインバータ回路CN2は、り・イミン
グ信号φc2dのハイレベルとその反転信号e C2d
のロウレベルによってM OS F E T Q 4 
及びC7がともにオン状態となることによって動作状態
とされ、インバータ回路N3とともにランチ形態とされ
る。これにより、タイミング信号φC2dのロウレベル
の期間においてクロックドインバータ回路CNIを介し
て伝達された内部制御信号φHeのレベルを保持する。
すなわち、内部制御信号φweのレベルは、タイミング
信号φc2dのロウレベル期間においてクロックドイン
バータ回路CN2及びインバータ回路N3からなるラン
チに伝達され、タイミング信号φc2dがハイレベルに
変化すると、以後そのハイレベルに変化する直前の内部
制御信号φ−eのレベルが保持される。言い換えると、
内部制御信号φtyeすなわちライトイネーブル信号W
IEの反転レベルは、タイミング信号φc2dがロウレ
ベルからハイレベルに変化するタイミングで判定され、
上記ラッチに保持される。
上述のように、インバータ回路N3の出力信号は、上記
ランチの出力信号φreとしてアンドゲート回路AGI
の一方の入力端子に供給される。アンドゲート回路AG
Iの他方の入力端子には、カラムアドレスストローブ信
号CASの立ち下がり直後に形成されるタイミング信号
φC1が供給される。また、アンドゲート回路AGIの
出力信号は、この動作モード判定回路の出力信号すなわ
ち読み出しデータの出力タイミング信号φrとして、上
述のデータ出力バッファDOBの出力回路に供給される
第4図には、この実施例のダイナミック型RAMのニブ
ルモード読み出し動作の一実施例のタイミング図が示さ
れている。同図により、この実施例のダイナミック型R
AMにおけるニブルモード読み出し動作の概要を説明す
る。
第4図において、ダイナミック型RAMはロウアドレス
ストローブ信号RASがハイレベルからロウレベルに変
化されることによって、起動される。外部端子AO〜A
iには、このロウアドレスストローブ信号RASの立ち
下がりに同期して、Xアドレス信号AXO〜AXiが供
給される。また、ライトイネーブル信号WEは、読み出
し動作モードを指定するために、ハイレベルのままとさ
れる。
ダイナミック型RAMでは、ロウアドレスストローブ信
号RASの立ち下がりによってまず図示されないタイミ
ング信号φarが形成され、外部端子AO〜Aiに供給
されたXアドレス信号AXO〜AXiがロウアドレスバ
ッフ7RADBに取り込まれ、ロウアドレスデコーダR
DCHによってデコードされる0次にワード線選択タイ
ミング信号φXが形成され、ワード線の選択動作が開始
される。ワード線の選択動作が終了するタイミングで、
タイミング信号φpaが形成され、センスアンプ回路S
Aが動作状態とされ、選択されたワード線に結合される
4xH個のメモリセルから出力される微小読み出し信号
が、対応するセンスアンプ回路SAの単位回路によって
増幅される。
次に、カラムアドレスストローブ信号CASがハイレベ
ルからロウレベルに変化され、外部端子AO〜Aiには
、Yアドレス信号AYO〜AYiが供給される。
ダイナミック型RAMでは、カラムアドレスストローブ
信号CASの立ち下がりによって図示されないタイミン
グ信号φacが形成され、外部端子AO〜Aiに供給さ
れるYアドレス信号AYO〜AYiがカラムアドレスバ
ッファCADBに取す込まれ、カラムアドレスデコーダ
CDCRによってデコードされる。また、データ線選択
タイミング信号φyが形成され、−組とされる4対の相
補データ線が選択されて相補共通データ線CDO・CD
O〜CD3・CD3に接続されるとともにタイミング信
号φc1が形成される。このデータ線選択タイミング信
号φyは、カラムアドレスストローブ信号[曾の最初の
立ち下がりにおいてのみ形成され、タイミング信号φc
1は、カラムアドレスストローブ信号στ1がハイレベ
ルからロウレベルに変化されるたびに形成される。
タイミング信号φc1にやや遅れて、タイミング信号φ
c2か形成され、さらに上記遅延回路DLIによってタ
イミング信号φc2dが形成される。
第1図に示したタイミング制御回路TCの動作モードや
1定回路では、このタイミング信号ψc2dによって内
部制御信号φ−eのレベルすなわちライトイネーブル信
号Wπの反転レベルが判定され、読み出し動作モードで
あることが識別される。また、第1回目の読み出しデー
タを出力するためのタイミング信号φdsが、メインア
ンプを駆動するための信号発生後、データが増幅可能で
ある程度の遅延時間を経て形成される。これにより、選
択されたワード線に結合される4つのメモリセルのうち
、Yアドレス信号AYO〜AYiに指定される最初のメ
モリセルの読み出しデータDOが、出力端子Doutか
ら外部の装置に出力される。
カラムアドレスストローブ信号CASがハイレベルにも
どり、再度ロウレベルに変化されると、上記の場合と同
様に、タイミング信号φc1、φc2及びφc2dが形
成される。
第2サイクル目では、アドレスを決定する必要がないた
め、データ出力タイミングは第1図に示したタイミング
制御回路TCの動作モード判定回路の出力信号φrによ
って決定する。リード・ライト判定信号とφr駆動信号
をわけ、信号φrの駆動をカラムアドレスストローブ信
号CASの立ち下がり直後比較的早いタイミングで形成
されるタイミング信号φc1で行ったことで、タイミン
グ信号φc1がハイレベルとされることによって、ただ
ちにアンドゲート回路AGIの出力信号すなわち出力タ
イミング信号φrがハイレベルとなり、2番目のメモリ
セルの読み出しデータD1が出力端子Doutに出力さ
れる。以下カラムアドレスス1−1:2−7’(i号C
ASがハイレベルからロウレベルに変化されるたびに、
同様な動作が繰り返され、3番目及び4番目のメモリセ
ルの読み出しデータD2及びD3が次々に出力端子Do
utから出力される。
以上のように、この実施例のダイナミック型RAMのニ
ブルモード読み出しモードにおいては、リード・ライト
判定は、カラムアドレスストローブ信号CASの立ち下
がりから遅れて発生する第1のタイミング信号で行え、
ダイナミック型RAMの規格ライトコマンドセットアン
プマージンを確保したまま、2回目以後のデータ出力は
、カラムアドレスストローブ信号CASの立ち下がり直
後に形成されるタイミング信号φc1によって制御され
る。このため、第2回目以後の読み出しデータの出力サ
イクルは短縮され、シリアル読み出し動作が高速化され
るものである。
以上の本実施例に示されるように、この発明をニブルモ
ード等のシリアル出力機能を有するダイナミック型RA
Mに通用した場合、次のような効果が得られる。すなわ
ち、 (1)1回のアドレス選択動作によって複数のワード線
を選択状態とし、上記複数のワード線に結合される複数
のメモリセルの記憶データを、ロウアドレス信号又はロ
ウアドレス信号及びカラムアドレス信号を変化させるこ
となく、断続的に供給される起動制御信号に従ってシリ
アルに連続して出力するためのシリアルデータ出力機能
において、リード・ライト判定タイミングとデータ出力
タイミング決定信号(φr)の駆動タイミングとをわけ
、リード・ライト判定はカラムアドレスストローブ信号
CASの立ち下がりから遅れて発生する第1のタイミン
グ信号で行うことで、ダイナミック型RA Mの規格ラ
イトコマンドセントアップマージンを確保し、2回目以
後のデータ出力を上記起動制御信号が供給される直後に
比較的早いタイミングで形成される第2のタイミング信
号(φcl)に従って行うことで、2回目以後のデータ
の出力サイクルを起動制御信号に従って高速に行うこと
ができるという効果が得られる。
(2)上記(11項により、ダイナミック型RAMのニ
ブルモード等のシリアル出力機能を高速化することがで
きるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、第2図におい
て、メモリアレイM−ARYは複数のメモリマットによ
り構成されるものとし、それらのメモリマットがカラム
アドレスデコーダ又はロウアドレスデコーダをを中心と
して左右に配置されるようにしたものであってもよい。
また、シフトレジスタSRに代えて、バイナリ−カウン
タとデコーダによって、データ出カバソファDOB及び
データ入カバソファDIBのマルチプレクサを制御する
・選択信号を形成するものであってもよい、さらに、上
記4ビツトのデータをパラレルに出力する機能を持つよ
うにしてもよいし、第1図の動作モード判定回路の具体
的な回路構成や制御信号の組み合わせ等、種々の実施形
態を採りうるちのである。
以上の説明では、主として本発明者によってなされた発
明をその背景となった利用分野であるニブルモード機能
を有するダイナミック型RAMに適用した場合について
説明したが、それに限定されるものではなく、例えば、
カラムスタティックモード機能を持つようなダイナミッ
ク型RAMやこのようなシリアル出力機能を持つ各種の
半導体記憶装置にも適用できる。本発明は、少なくとも
ロウアドレス信号又はロウアドレス信号とカラムアドレ
ス信号を変化させずにシリアルな連続読み出し動作を行
う機能を持つ半導体記憶装置及びそのような半導体記憶
装置を内蔵する装置には通用できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、1回のアドレス選択動作によって複数の
ワード線を選択状態とし、上記複数のワード線に結合さ
れる複数のメモリセルの記憶データを、ロウアドレス信
号又はロウアドレス信号及びカラムアドレス信号を変化
させることな(、断続的に供給される起動制御信号に従
ってシリアルに連続して出力するためのシリアルデータ
出力機能において、リード・ライト判定タイミングとデ
ータ出力タイミング決定信号(φr)の駆動タイミング
とをわけ、リード・ライト判定はカラムアドレスストロ
ーブ信号στrの立ち下がりから遅れて発生する第1の
タイミング信号で行うことで、ダイナミック型RAMの
規格ライトコマンドセットアツプマージンを確保し、2
回目以後のデータ出力を上記起動制御信号が供給される
直後に比較的早いタイミングで形成される第2のタイミ
ング信号に従って行うことで、2回目以後のデータの出
力サイクルを起動制御信号に従って高速に行うことがで
き、ダイナミック型RAM等の半導体記憶装置のニブル
モード等のシリアル出力機能を高速化することができる
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明が適用されたダイナミック型RAM
のタイミング制御回路の動作モード判定回路の一部の一
実施例を示す回路図、 第2図は、第1図のタイミング制御回路を含むダイナミ
ック型RAMの一実施例を示すブロック図、 第3図は、この発明に先立って本願発明者等が開発した
ダイナミック型RAMのタイミング制御回路の動作モー
ド判定回路の一部を示す回路図、第4図は、第2図のダ
イナミック型RAMのニブルモード読み出し動作の一例
を示すタイミング図である。 Q1〜Q4・・・Pチャンネ/I/MO3FET。 Q5〜Q8−−・Nチャンネ)IiMO8FET、N1
〜N3・・・インバータ回路、AGI・・・アンドゲー
ト回路、DLI・・・遅延回路、CL 1゜CL2・・
・クロックドインバータ回路。 M−ARY・・・メモリアレイ、SA・・・センス°?
ンプ、C8W・・・カラムスイッチ回路、RADB・・
・ロウアドレスバッファ、RDCR・・・ロウアドレス
デコーダ、CADB・・・カラムアドレスバッファ、C
DCR・・・カラムアドレスデコーダ、SR・・・シフ
トレジスタ、MAO〜MA3・・・メインアンプ、DO
B・・・データ出カバソファ、DIB・・・データ人カ
バソファ、TC・・・タイミング制御回路。 ヒ  、I 叉 第1図 第3図 rr 第2図 第t+図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、1回のアドレス選択動作によって複数のワード線を
    選択状態とし、上記複数のワード線に結合される複数の
    メモリセルの記憶データを、ロウアドレス信号又はロウ
    アドレス信号及びカラムアドレス信号を変化させること
    なく、断続的に供給される起動制御信号に従ってシリア
    ルに連続して出力するためのシリアルデータ出力機能を
    有し、上記シリアルデータ出力動作において、その1回
    目のデータ出力を上記起動制御信号が供給されてからア
    ドレス選択動作及び動作モード判定が終了するまでの比
    較的遅いタイミングで形成される第1のタイミング信号
    に従って行い、2回目以後のデータ出力を上記起動制御
    信号が供給される直後に比較的早いタイミングで形成さ
    れる第2のタイミング信号に従って行うものであること
    を特徴とする半導体記憶装置。 2、上記半導体記憶装置はダイナミック型RAMであり
    、上記シリアルデータ出力動作はダイナミック型RAM
    のニブルモード及びカラムスタティックモードにおいて
    行われ、上記起動制御信号はカラムアドレスストローブ
    信号であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の半導体記憶装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63148488A (ja) * 1986-12-11 1988-06-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6385097B1 (en) * 2001-03-14 2002-05-07 Macronix International Co., Ltd. Method for tracking metal bit line coupling effect

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63148488A (ja) * 1986-12-11 1988-06-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
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