JPS6353589B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6353589B2 JPS6353589B2 JP56018209A JP1820981A JPS6353589B2 JP S6353589 B2 JPS6353589 B2 JP S6353589B2 JP 56018209 A JP56018209 A JP 56018209A JP 1820981 A JP1820981 A JP 1820981A JP S6353589 B2 JPS6353589 B2 JP S6353589B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- pattern
- level value
- scan
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 27
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 101000587820 Homo sapiens Selenide, water dikinase 1 Proteins 0.000 claims 1
- 101000701815 Homo sapiens Spermidine synthase Proteins 0.000 claims 1
- 102100030413 Spermidine synthase Human genes 0.000 claims 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000012567 pattern recognition method Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
- G06V30/18—Extraction of features or characteristics of the image
- G06V30/184—Extraction of features or characteristics of the image by analysing segments intersecting the pattern
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Character Input (AREA)
- Character Discrimination (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
本発明は、各パターンを線順次に走査する、光
感検出素子の列から形成される光電変換器を備
え、該光電変換器の出力信号を、走査されたパタ
ーンに相応する黒−白レベル値から成る像パター
ンマトリクスとして、後置接続されている像信号
記憶器に記憶するようにした自動パターン認識、
対象選別等の方法および装置に関する。 パターン認識の分野において種々の選別法が公
知とされている。この種の公知の方法の１つに所
謂マトリクス分析法がある。この方法において
は、走査されるパターンが記憶器において、黒と
白の画点から成るラスタ像としてマトリクスの形
で、以後の評価のために一時的に記憶される。こ
のことは次のようにして行なわれる、即ちこのマ
トリクスから、種々のパターンの形状およびそれ
らの間の相違をできるだけ良好に特徴づける所定
の画点および画点組み合わせを選択するのであ
る。 本発明の課題は、公知のパターン認識法と比較
して、その都度同数の区別すべきパターン選別に
関して、一層確実な読み出しを保証するパターン
認識法および装置を提供することである。 この課題は冒頭に述べた方法において次のよう
にして解決されている、即ち記憶されている像パ
ターンマトリクスを、複数個の異なる走査角で走
査されたパターンに相応するように、該走査角に
応じて走行する走査線群を用いて読み出すように
し、各走査角の場合の走査線毎に走査線とパター
ンとのその都度の交点の数を、黒レベル値から白
レベル値への変化または白レベル値から黒レベル
値への変化の形で求めるようにし、走査角毎に求
められる交点を評価するようにし、この場合、(a)
走査線群の走査領域を、各パターンを少くとも１
回交わる走査線の数として求めるようにし、(b)全
部の走査線の交点の和を求めるようにし、(c)走査
領域の重心を求めるようにし、(d)走査領域内で交
点の該重心からの偏りの分布を求めるようにし、
その結果を選別装置へ導びくようにしたのであ
る。 さらに前記方法を実施する回路装置において、
本発明によれば、光電変換器に、複数個の並列接
続の像信号記憶器が配属されており、該像信号記
憶器は種々の走査角のうちの各１つの走査角で読
み出されるようにし、該記憶器の出力信号が、パ
ターンと走査線群との間の交点として、それぞれ
所属の走査信号記憶器に記憶され別個に評価され
るようにしたのである。 さらに本発明によれば、パターンと走査線群と
の間の交点を求める回路装置を備え、この場合マ
トリクス回路としての唯１つの像信号記憶器に各
１つのＸ−軸アドレスレジスタおよびＹ−軸アド
レスレジスタが配属されており、該Ｘ−軸アドレ
スレジスタないしＹ−軸アドレスレジスタは、そ
れぞれマルチプレクサを介して、一方ではそれぞ
れアドレス記憶器と接続され他方ではアドレス加
算器と接続されており、該アドレス加算器の入力
側に増分記憶器とアドレスレジスタの出力側とが
接続されており、該アドレス記憶器および増分記
憶器が走査角計数器により制御されるようにし、
アドレス記憶器がさらに走査線計数器により制御
されるようにし、該走査線計数器は、走査角計数
器を制御するようにしたのである。 本発明の実施態様は特許請求の範囲の従属請求
項に示されている。 次に本発明の実施例につき図面を用いて説明す
る。 第１図〜第４図はパターンＺを示す。このパタ
ーンは例えば数字“１”を表わしており、0゜から
180゜までの種々の角度で、各走査線群Ｓにより走
査される。図示されている実施例の場合、全角度
範囲0゜〜180゜は等間隔に分けられている。そのた
め角度間隔が30゜に選定されている場合は、合計
６つの異なる走査角度が得られる。即ち0゜（第１
図）、30゜（第２図）、60゜（第３図）、90゜、120゜
（第４
図）および150゜となる。 走査ユニツトとして光電変換器が用いられる。
この光電変換器は、例えば等間隔に配置されてい
る光電検出素子の例から構成される。この光電検
出素子列はこのパターンを、走査線群Ｓの方向に
線順次に走査する。光電検出素子ないしこれらに
所属する走査線ｎには、−５，−４，−３………０，
１，………＋４，＋５が付されている。この場合
重要なのは、種々の角度で走査が行なわれる場合
の中央の走査線０である。この場合中央走査線は
任意に選定できるが、常に固定の仮想点Ｐを通過
するようにされる。 次にパターン評価の方法について説明する。ま
ず最初に走査角毎に各走査線毎に、走査線と記号
との間に形成される交点のその都度の個数が検出
される。次の表には、走査角がそれぞれαの場合
の交点の数が、第１図〜第４図の実施例の場合の
各走査線ｎに対して、示されている。
感検出素子の列から形成される光電変換器を備
え、該光電変換器の出力信号を、走査されたパタ
ーンに相応する黒−白レベル値から成る像パター
ンマトリクスとして、後置接続されている像信号
記憶器に記憶するようにした自動パターン認識、
対象選別等の方法および装置に関する。 パターン認識の分野において種々の選別法が公
知とされている。この種の公知の方法の１つに所
謂マトリクス分析法がある。この方法において
は、走査されるパターンが記憶器において、黒と
白の画点から成るラスタ像としてマトリクスの形
で、以後の評価のために一時的に記憶される。こ
のことは次のようにして行なわれる、即ちこのマ
トリクスから、種々のパターンの形状およびそれ
らの間の相違をできるだけ良好に特徴づける所定
の画点および画点組み合わせを選択するのであ
る。 本発明の課題は、公知のパターン認識法と比較
して、その都度同数の区別すべきパターン選別に
関して、一層確実な読み出しを保証するパターン
認識法および装置を提供することである。 この課題は冒頭に述べた方法において次のよう
にして解決されている、即ち記憶されている像パ
ターンマトリクスを、複数個の異なる走査角で走
査されたパターンに相応するように、該走査角に
応じて走行する走査線群を用いて読み出すように
し、各走査角の場合の走査線毎に走査線とパター
ンとのその都度の交点の数を、黒レベル値から白
レベル値への変化または白レベル値から黒レベル
値への変化の形で求めるようにし、走査角毎に求
められる交点を評価するようにし、この場合、(a)
走査線群の走査領域を、各パターンを少くとも１
回交わる走査線の数として求めるようにし、(b)全
部の走査線の交点の和を求めるようにし、(c)走査
領域の重心を求めるようにし、(d)走査領域内で交
点の該重心からの偏りの分布を求めるようにし、
その結果を選別装置へ導びくようにしたのであ
る。 さらに前記方法を実施する回路装置において、
本発明によれば、光電変換器に、複数個の並列接
続の像信号記憶器が配属されており、該像信号記
憶器は種々の走査角のうちの各１つの走査角で読
み出されるようにし、該記憶器の出力信号が、パ
ターンと走査線群との間の交点として、それぞれ
所属の走査信号記憶器に記憶され別個に評価され
るようにしたのである。 さらに本発明によれば、パターンと走査線群と
の間の交点を求める回路装置を備え、この場合マ
トリクス回路としての唯１つの像信号記憶器に各
１つのＸ−軸アドレスレジスタおよびＹ−軸アド
レスレジスタが配属されており、該Ｘ−軸アドレ
スレジスタないしＹ−軸アドレスレジスタは、そ
れぞれマルチプレクサを介して、一方ではそれぞ
れアドレス記憶器と接続され他方ではアドレス加
算器と接続されており、該アドレス加算器の入力
側に増分記憶器とアドレスレジスタの出力側とが
接続されており、該アドレス記憶器および増分記
憶器が走査角計数器により制御されるようにし、
アドレス記憶器がさらに走査線計数器により制御
されるようにし、該走査線計数器は、走査角計数
器を制御するようにしたのである。 本発明の実施態様は特許請求の範囲の従属請求
項に示されている。 次に本発明の実施例につき図面を用いて説明す
る。 第１図〜第４図はパターンＺを示す。このパタ
ーンは例えば数字“１”を表わしており、0゜から
180゜までの種々の角度で、各走査線群Ｓにより走
査される。図示されている実施例の場合、全角度
範囲0゜〜180゜は等間隔に分けられている。そのた
め角度間隔が30゜に選定されている場合は、合計
６つの異なる走査角度が得られる。即ち0゜（第１
図）、30゜（第２図）、60゜（第３図）、90゜、120゜
（第４
図）および150゜となる。 走査ユニツトとして光電変換器が用いられる。
この光電変換器は、例えば等間隔に配置されてい
る光電検出素子の例から構成される。この光電検
出素子列はこのパターンを、走査線群Ｓの方向に
線順次に走査する。光電検出素子ないしこれらに
所属する走査線ｎには、−５，−４，−３………０，
１，………＋４，＋５が付されている。この場合
重要なのは、種々の角度で走査が行なわれる場合
の中央の走査線０である。この場合中央走査線は
任意に選定できるが、常に固定の仮想点Ｐを通過
するようにされる。 次にパターン評価の方法について説明する。ま
ず最初に走査角毎に各走査線毎に、走査線と記号
との間に形成される交点のその都度の個数が検出
される。次の表には、走査角がそれぞれαの場合
の交点の数が、第１図〜第４図の実施例の場合の
各走査線ｎに対して、示されている。
【表】
次にこれらの交点データから、パターンの評価
のために必要とされる技術過程が形成される。 第１過程(a)は、走査されるパターンと共働して
少くとも１つの交点を形成する走査線の数から形
成される。これにより各走査線群の場合の走査領
域が形成される。表に示されているように走査領
域は、走査角0゜の場合は、走査線は−４から＋４
までとなる。即ち合計９本の走査線を有する。走
査角が30゜の場合は走査領域は走査線−２から＋
４までとなる、そのため７本の走査線を有する。
走査角60゜の場合は５本の走査線を有し、120゜の
場合は４本の走査線を有する。各走査角の場合に
検出されるこれらの走査線の和が、パターンＺの
輪郭を示す第１認識基準を形成する。 第２過程(b)は、走査角毎の全走査線による交点
の和から、形成される。選定されている実施例に
おいては、走査角α＝0゜の場合は交点の和は12で
あり、走査角30゜、60゜ないし120゜の場合は各和の
他は８、５、および再び８である。この第２過程
(b)が既に、各パターンを形成している曲線を特徴
づける。 第３過程(c)として、交点のデータから即ち交点
データの量的な分布から、それぞれ検出された走
査線領域内で、所謂記号の重心が形成される。そ
のためこの過程(c)により、数字“６”を、その上
下逆の数字からすなわち“９”から区別すること
もできる。 最後に第４過程(d)として、過程(c)で求められた
重心からの所謂偏差が検出される。この偏差によ
り、比較的高い交点数を有る走査線がパターンの
縁部に一層多くあるかまたはパターンの中心領域
にすなわち中央走査線０の近傍に一層多くあるか
の情報が得られる。 さらに認識の基準が次のように形成される、即
ち走査角毎の走査領域を、走査線群の中央走査線
０を基準として正領域および負領域へ分割して、
これら両領域の各々を前述の過程(a)および(b)に関
係づけて別個に評価する。 最後に、認識の精度を次のようにして向上させ
ることができる、即ち走査角毎に走査線毎に、像
パターンマトリクスにおいて、これらの走査線に
応じて発生される黒レベル値のマトリクス点の和
を求めて、全走査線のこれらの黒レベル値を用い
て走査角毎に走査領域内の重心とこの重心からの
偏りの分布を求める。この場合も偏りの分布は走
査線群の正領域および負領域に対して別個に求め
ることができる。 第１図〜第４図を用いて示されたパターン認識
法を実施する回路装置が、第５図に示されてい
る。図には光学的走査装置Ｌが示されている。こ
の光学的走査装置により、走査されるべきパター
ンＺが線順次に光電変換器Ｗのホトダイオード列
上へ写像される。次に光電変換器の出力信号は、
後置接続されている像信号記憶器BSにおいて、
走査されたパターンに相応する、黒レベル−白レ
ベル値から形成される像パターンマトリクスとし
て記憶される。この像信号記憶器は、図示されて
いる実施例においては、並列に接続されている複
数個の記憶ユニツトBS1………ｎから構成されて
おり、これらのユニツトにおいてその都度同一の
像のターンが記憶される。相応のアドレス制御に
より各記憶ユニツトのマトリツクスを、任意に選
定可能な種々の角度の線で読み出せるようにな
る。これにより有利に、異なる走査角の下でのパ
ターンの同時走査を、模擬的に行なえるようにな
る。図において、個々の記憶ユニツトBS１……
…ｎは、異なる傾斜角を有する走査線群を用い
て、相応に示されている。この読み出し過程の場
合、各走査線群に対して、走査線とパターンとの
間に形成される交点のその都度の数が、黒から白
または白から黒への移行の形で検出され、相応の
計数値として、それぞれ後置接続されている交点
−記憶器SPSにおいて記憶される。次にこれらの
交点−計数値から、既に第１図〜第４図を用いて
説明された過程(a)、(b)、(c)、(d)の特徴量が求めら
れる。最後にこれらの特徴量は、その都度走査さ
れたパターンの最終的な選別のために、共通の選
別装置Ｋへ導びかれる。 第６図には、パターンと走査線群との間に形成
される交点を検出する装置のもう１つの回路実施
例が示されている。図には唯１つの像信号記憶器
BS−RAMが示されている。この記憶器には、Ｘ
軸−アドレスレジスタAX−REGないしＹ軸−ア
ドレスレジスタAY−REGが、それぞれ配属され
ている。両アドレスレジスタAX−REG，AY−
REGはそれぞれマルチプレクサＸ−MUX，Ｙ−
MUXを介して、相応の座標のアドレス記憶器
AXM，AYMおよびアドレス加算器AX−ADD，
AY−ADDと接続されている。両アドレス加算器
AX−ADD，AY−ADDの入力側には、それぞれ
増分記憶器JXM，JYMと、各所属のアドレスレ
ジスタAX−REG，AY−REGの出力側とが接続
されている。例えば12ビツト個所を512個有する
両アドレス記憶器AXM，AYMと、例えば12ビ
ツト個所を12個有する両増分記憶器IXM，IYM
とは、走査角選定器AWZにより制御できるよう
にし、両アドレス記憶器AXM，AYMは走査線
計数器SGZにより制御することができる。走査線
計数器SGZは、さらに走査角選定器AWZも制御
する。 次に第６図に示されている回路の動作について
説明する。各パターンに所属する像信号BSは、
その都度書き込みアドレスレジスタEADRに制
御されて、走査されたパターンに相応する、黒−
白レベル値から成る像パターンマトリクスとして
像信号記憶器BS−RAMに記憶される。さらに、
マイクロプロセツサ制御器MPCを介して前もつ
て零にセツトされている走査角計数器ないし記憶
器AWZおよび走査線計数器ないし記憶器SGZが、
その都度第１走査角αに対してないしこの走査角
の場合のその都度の第１走査線に対してセツトさ
れる。そのため各走査線は、走査角が固定される
と、正確に固定される始点を有するようになる。
この始点のＸ−始点アドレスないしＹ−始点アド
レスは、Ｘ−アドレス記憶器AXMないしＹ−ア
ドレス記憶器AYMに記憶される。これらの始点
アドレスはＸ−マルチプレクサＸ−MUXないし
Ｙ−マルチプレクサＹ−MUXならびにＸ−アド
レスレジスタAX−REGないしＹ−アドレスレジ
スタAY−REGを介して、像信号記憶器BS−
RAMへ導びかれる。次にこの像信号記憶器BS−
RAMから、第１像点が読み出される。その都度
セツトされる走査角にもとづいて、走査方向ない
し次の交点の位置に関する一義的な情報が、形成
される。この場合位置変化が、所定の増加分によ
り、Ｘ−方向にもＹ方向にも固定される。この角
度に特徴づけられる増加分はそれぞれＸ−増分記
憶器JXMないしＹ−増分記憶器JYMから読み出
されて、Ｘ−アドレス加算器AX−ADDないしＹ
−アドレス加算器AY−ADDにおいて、その都度
の実際のアドレスへ加算される。このようにして
加算されたアドレスが、両アドレス加算器AX−
ADDおよびAY−ADDの出力信号を形成する。
この出力信号はマルチプレクサＸ−MUXないし
Ｙ−MUXと両アドレスレジスタAX−REGない
しAY−REGとを介して、同じく像信号記憶器
BS−RAMに導びかれる。次にここからその都度
の次の画点が読み出される。このことは、アドレ
ス−レジスタAX−REG，AY−REGにおいて、
像信号記憶器BS−RAMのアドレス領域にはもは
や存在しないアドレスが発生されるまで、継続さ
れる。この場合走査線計数器SGZは、マイクロプ
ロセツサ制御器MPCにより作動され、値が“１”
だけ増加される。 その都度の次の走査線に対するその都度の新し
い始点アドレスにもとづいて、上述の方法が、最
後の走査線が終了する迄くり返される。続いて走
査角計数器AWZが次の走査角へセツトされる。
その結果この方法の全過程は、その都度の第１走
査線から始められて再び最初から開始できるよう
になる。このことは、最後の走査角の最後の走査
線により像パターン全体が走査終了するまで、継
続される。続いて次の新しい像パターンが記憶さ
れる。この像パターンは同様の方法で次に読み出
すことができる。 次に像信号記憶器BS−RAMから読み出される
像信号は、黒レベル点の数と交点の数とに関し
て、別個に評価される。この目的のために第1D
−フリツプフロツプFF１が設けられており、そ
の出力側は黒レベル点計数器SWZと接続されて
いる。走査点の評価の目的で第2D−フリツプフ
ロツプFF２が、第1D−フリツプフロツプと直列
に設けられている。第2D−フリツプフロツプの
出力側は、AND素子UGを介して第1D−フリツ
プフロツプFF１の反転出力側と接続されている。
このAND素子UGは、交点計数器SPZにより記録
される出力信号を供給する。この出力信号の供給
が行なわれるのは、像信号記憶器BS−RAMの出
力信号において黒レベル値から白レベル値へまた
はその逆の変化が行なわれる時である。
のために必要とされる技術過程が形成される。 第１過程(a)は、走査されるパターンと共働して
少くとも１つの交点を形成する走査線の数から形
成される。これにより各走査線群の場合の走査領
域が形成される。表に示されているように走査領
域は、走査角0゜の場合は、走査線は−４から＋４
までとなる。即ち合計９本の走査線を有する。走
査角が30゜の場合は走査領域は走査線−２から＋
４までとなる、そのため７本の走査線を有する。
走査角60゜の場合は５本の走査線を有し、120゜の
場合は４本の走査線を有する。各走査角の場合に
検出されるこれらの走査線の和が、パターンＺの
輪郭を示す第１認識基準を形成する。 第２過程(b)は、走査角毎の全走査線による交点
の和から、形成される。選定されている実施例に
おいては、走査角α＝0゜の場合は交点の和は12で
あり、走査角30゜、60゜ないし120゜の場合は各和の
他は８、５、および再び８である。この第２過程
(b)が既に、各パターンを形成している曲線を特徴
づける。 第３過程(c)として、交点のデータから即ち交点
データの量的な分布から、それぞれ検出された走
査線領域内で、所謂記号の重心が形成される。そ
のためこの過程(c)により、数字“６”を、その上
下逆の数字からすなわち“９”から区別すること
もできる。 最後に第４過程(d)として、過程(c)で求められた
重心からの所謂偏差が検出される。この偏差によ
り、比較的高い交点数を有る走査線がパターンの
縁部に一層多くあるかまたはパターンの中心領域
にすなわち中央走査線０の近傍に一層多くあるか
の情報が得られる。 さらに認識の基準が次のように形成される、即
ち走査角毎の走査領域を、走査線群の中央走査線
０を基準として正領域および負領域へ分割して、
これら両領域の各々を前述の過程(a)および(b)に関
係づけて別個に評価する。 最後に、認識の精度を次のようにして向上させ
ることができる、即ち走査角毎に走査線毎に、像
パターンマトリクスにおいて、これらの走査線に
応じて発生される黒レベル値のマトリクス点の和
を求めて、全走査線のこれらの黒レベル値を用い
て走査角毎に走査領域内の重心とこの重心からの
偏りの分布を求める。この場合も偏りの分布は走
査線群の正領域および負領域に対して別個に求め
ることができる。 第１図〜第４図を用いて示されたパターン認識
法を実施する回路装置が、第５図に示されてい
る。図には光学的走査装置Ｌが示されている。こ
の光学的走査装置により、走査されるべきパター
ンＺが線順次に光電変換器Ｗのホトダイオード列
上へ写像される。次に光電変換器の出力信号は、
後置接続されている像信号記憶器BSにおいて、
走査されたパターンに相応する、黒レベル−白レ
ベル値から形成される像パターンマトリクスとし
て記憶される。この像信号記憶器は、図示されて
いる実施例においては、並列に接続されている複
数個の記憶ユニツトBS1………ｎから構成されて
おり、これらのユニツトにおいてその都度同一の
像のターンが記憶される。相応のアドレス制御に
より各記憶ユニツトのマトリツクスを、任意に選
定可能な種々の角度の線で読み出せるようにな
る。これにより有利に、異なる走査角の下でのパ
ターンの同時走査を、模擬的に行なえるようにな
る。図において、個々の記憶ユニツトBS１……
…ｎは、異なる傾斜角を有する走査線群を用い
て、相応に示されている。この読み出し過程の場
合、各走査線群に対して、走査線とパターンとの
間に形成される交点のその都度の数が、黒から白
または白から黒への移行の形で検出され、相応の
計数値として、それぞれ後置接続されている交点
−記憶器SPSにおいて記憶される。次にこれらの
交点−計数値から、既に第１図〜第４図を用いて
説明された過程(a)、(b)、(c)、(d)の特徴量が求めら
れる。最後にこれらの特徴量は、その都度走査さ
れたパターンの最終的な選別のために、共通の選
別装置Ｋへ導びかれる。 第６図には、パターンと走査線群との間に形成
される交点を検出する装置のもう１つの回路実施
例が示されている。図には唯１つの像信号記憶器
BS−RAMが示されている。この記憶器には、Ｘ
軸−アドレスレジスタAX−REGないしＹ軸−ア
ドレスレジスタAY−REGが、それぞれ配属され
ている。両アドレスレジスタAX−REG，AY−
REGはそれぞれマルチプレクサＸ−MUX，Ｙ−
MUXを介して、相応の座標のアドレス記憶器
AXM，AYMおよびアドレス加算器AX−ADD，
AY−ADDと接続されている。両アドレス加算器
AX−ADD，AY−ADDの入力側には、それぞれ
増分記憶器JXM，JYMと、各所属のアドレスレ
ジスタAX−REG，AY−REGの出力側とが接続
されている。例えば12ビツト個所を512個有する
両アドレス記憶器AXM，AYMと、例えば12ビ
ツト個所を12個有する両増分記憶器IXM，IYM
とは、走査角選定器AWZにより制御できるよう
にし、両アドレス記憶器AXM，AYMは走査線
計数器SGZにより制御することができる。走査線
計数器SGZは、さらに走査角選定器AWZも制御
する。 次に第６図に示されている回路の動作について
説明する。各パターンに所属する像信号BSは、
その都度書き込みアドレスレジスタEADRに制
御されて、走査されたパターンに相応する、黒−
白レベル値から成る像パターンマトリクスとして
像信号記憶器BS−RAMに記憶される。さらに、
マイクロプロセツサ制御器MPCを介して前もつ
て零にセツトされている走査角計数器ないし記憶
器AWZおよび走査線計数器ないし記憶器SGZが、
その都度第１走査角αに対してないしこの走査角
の場合のその都度の第１走査線に対してセツトさ
れる。そのため各走査線は、走査角が固定される
と、正確に固定される始点を有するようになる。
この始点のＸ−始点アドレスないしＹ−始点アド
レスは、Ｘ−アドレス記憶器AXMないしＹ−ア
ドレス記憶器AYMに記憶される。これらの始点
アドレスはＸ−マルチプレクサＸ−MUXないし
Ｙ−マルチプレクサＹ−MUXならびにＸ−アド
レスレジスタAX−REGないしＹ−アドレスレジ
スタAY−REGを介して、像信号記憶器BS−
RAMへ導びかれる。次にこの像信号記憶器BS−
RAMから、第１像点が読み出される。その都度
セツトされる走査角にもとづいて、走査方向ない
し次の交点の位置に関する一義的な情報が、形成
される。この場合位置変化が、所定の増加分によ
り、Ｘ−方向にもＹ方向にも固定される。この角
度に特徴づけられる増加分はそれぞれＸ−増分記
憶器JXMないしＹ−増分記憶器JYMから読み出
されて、Ｘ−アドレス加算器AX−ADDないしＹ
−アドレス加算器AY−ADDにおいて、その都度
の実際のアドレスへ加算される。このようにして
加算されたアドレスが、両アドレス加算器AX−
ADDおよびAY−ADDの出力信号を形成する。
この出力信号はマルチプレクサＸ−MUXないし
Ｙ−MUXと両アドレスレジスタAX−REGない
しAY−REGとを介して、同じく像信号記憶器
BS−RAMに導びかれる。次にここからその都度
の次の画点が読み出される。このことは、アドレ
ス−レジスタAX−REG，AY−REGにおいて、
像信号記憶器BS−RAMのアドレス領域にはもは
や存在しないアドレスが発生されるまで、継続さ
れる。この場合走査線計数器SGZは、マイクロプ
ロセツサ制御器MPCにより作動され、値が“１”
だけ増加される。 その都度の次の走査線に対するその都度の新し
い始点アドレスにもとづいて、上述の方法が、最
後の走査線が終了する迄くり返される。続いて走
査角計数器AWZが次の走査角へセツトされる。
その結果この方法の全過程は、その都度の第１走
査線から始められて再び最初から開始できるよう
になる。このことは、最後の走査角の最後の走査
線により像パターン全体が走査終了するまで、継
続される。続いて次の新しい像パターンが記憶さ
れる。この像パターンは同様の方法で次に読み出
すことができる。 次に像信号記憶器BS−RAMから読み出される
像信号は、黒レベル点の数と交点の数とに関し
て、別個に評価される。この目的のために第1D
−フリツプフロツプFF１が設けられており、そ
の出力側は黒レベル点計数器SWZと接続されて
いる。走査点の評価の目的で第2D−フリツプフ
ロツプFF２が、第1D−フリツプフロツプと直列
に設けられている。第2D−フリツプフロツプの
出力側は、AND素子UGを介して第1D−フリツ
プフロツプFF１の反転出力側と接続されている。
このAND素子UGは、交点計数器SPZにより記録
される出力信号を供給する。この出力信号の供給
が行なわれるのは、像信号記憶器BS−RAMの出
力信号において黒レベル値から白レベル値へまた
はその逆の変化が行なわれる時である。
第１図〜第４図は異なる走査角の下でのパター
ンの走査、第５図は本発明の方法を実施する回路
装置、第６図はパターンと走査線群との間に形成
される交点を検出する回路の実施例を示す。 Ｓ……走査線群、Ｐ……固定の仮想点、Ｌ……
光学的走査装置、Ｗ……光電変換器、BS１，BS
２，BS３，BSn……像記憶ユニツト、SPS……
交点−記憶器、BS−RAM……像信号記憶器、
AX−REG……Ｘ−軸アドレスレジスタ、AY−
REG……Ｙ−軸アドレスレジスタ、Ｘ−MUX，
Ｙ−MUX……マルチプレクサ、AXM，AYM…
…アドレス記憶器、AX−ADD，AY−ADD……
アドレス加算器、JXM，JYM……増加分記憶
器、AWZ……走査角計数器、SGZ……走査線計
数器、EADR……書き込み−アドレスレジスタ、
MPC……マイクロプロセツサ−制御装置、UG…
…AND素子。
ンの走査、第５図は本発明の方法を実施する回路
装置、第６図はパターンと走査線群との間に形成
される交点を検出する回路の実施例を示す。 Ｓ……走査線群、Ｐ……固定の仮想点、Ｌ……
光学的走査装置、Ｗ……光電変換器、BS１，BS
２，BS３，BSn……像記憶ユニツト、SPS……
交点−記憶器、BS−RAM……像信号記憶器、
AX−REG……Ｘ−軸アドレスレジスタ、AY−
REG……Ｙ−軸アドレスレジスタ、Ｘ−MUX，
Ｙ−MUX……マルチプレクサ、AXM，AYM…
…アドレス記憶器、AX−ADD，AY−ADD……
アドレス加算器、JXM，JYM……増加分記憶
器、AWZ……走査角計数器、SGZ……走査線計
数器、EADR……書き込み−アドレスレジスタ、
MPC……マイクロプロセツサ−制御装置、UG…
…AND素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 各パターンを線順次に走査する、光感検出素
子の列から形成される光電変換器を備え、該光電
変換器の出力信号を走査されたパターンに相応す
る黒−白レベル値から成る像パターンマトリクス
として、後置接続されている像信号記憶器に記憶
するようにした自動パターン認識、対象選別等の
方法において、記憶されている像パターンマトリ
クスを、複数個の異なる走査角で走査された記号
に相応するように、該走査角に応じて走行する走
査線群を用いて読み出すようにし、各走査角の場
合の走査線毎に走査線とパターンとのその都度の
交点の数を、黒レベル値から白レベル値への変化
または白レベル値から黒レベル値への変化の形で
求めるようにし、走査角毎に求められる交点を評
価するようにし、この場合、 (a) 走査線群の走査領域を、各パターンと少くと
も１回交わる走査線の数として求めるように
し、 (b) 全部の走査線の交点の和を求めるようにし、 (c) 走査領域の重心を求めるようにし、 (d) 走査領域内で交点の該重心からの偏りの分布
を求めるようにし、 その結果を選別装置へ導びくようにしたことを
特徴とする自動パターン認識、対象選別等の方
法。 ２ 走査角毎の走査領域を走査線群の中心走査線
を基準として正領域と負領域とへ分割し、その各
領域の走査線数と偏り分布とを別個に評価するよ
うにした特許請求の範囲第１項記載の方法。 ３ 走査角毎に走査線毎に、像パターンマトリク
スにおいて該走査線により発生される黒レベル値
マトリクス点の和を求めて、走査角毎の全走査線
の黒レベル値を用いて、走査領域における重心と
該重心からの偏り分布とを求めるようにした特許
請求の範囲第１項記載の方法。 ４ 走査角毎の走査領域を、走査線群の中心走査
線を基準として、正の領域と負の領域とに分割
し、その各領域の黒レベル値−マトリクス点の偏
り分布を別個に評価するようにした特許請求の範
囲第３項記載の方法。 ５ 光電変換器Ｗに、複数個の並列接続の像信号
記憶器BS１………BSnが配属されており、該像
信号記憶器は種々の走査角αのうちの各１つの走
査角で読み出されるようにし、該記憶器の出力信
号が、パターンと走査線群との間の交点として、
それぞれ所属の走査信号記憶器SPS１………
SPSnに記憶され別個に評価されるようにしたこ
とを特徴とする、各パターンを線順次に走査す
る、光感検出素子の列から形成される光電変換器
を備え、該光電変換器の出力信号を走査されたパ
ターンに相応する黒−白レベル値から成る像パタ
ーンマトリクスとして、後置接続されている像信
号記憶器に記憶するようにした自動パターン認
識、対象選別等の方法において、記憶されている
像パターンマトリクスを、複数個の異なる走査角
で走査された記号に相応するように、該走査角に
応じて走行する走査線群を用いて読み出すように
し、各走査角の場合の走査線毎に走査線とパター
ンとのその都度の交点の数を、黒レベル値から白
レベル値への変化または白レベル値から黒レベル
値への変化の形で求めるようにし、走査角毎に求
められる交点を評価するようにし、この場合、(a)
走査線群の走査領域を、各パターンを少くとも１
回交わる走査線の数として求めるようにし、(b)全
部の走査線の交点の和を求めるようにし、(c)走査
領域の重心を求めるようにし、(d)走査領域内で交
点の該重心からの偏りの分布を求めるようにし、
その結果を選別装置へ導びくようにした自動パタ
ーン認識、対象選別等の方法を実施する回路装
置。 ６ パターンと走査線群との間の交点を求める回
路装置を備え、この場合マトリクス回路としての
唯１つの像信号記憶器BS−RAMに各１つのＸ−
軸アドレスレジスタおよびＹ−軸アドレスレジス
タAX−REG，AY−REGが配属されており、該
Ｘ−軸アドレスレジスタないしＹ−軸アドレスレ
ジスタはそれぞれマルチプレクサＸ−MUX，Ｙ
−MUXを介して、一方ではそれぞれアドレス記
憶器AXM，AYMと接続され他方ではアドレス
加算器AX−ADD，AY−ADDと接続されてお
り、該アドレス加算器の入力側に増分記憶器
JXM，JYMとアドレスレジスタAX−REG，
AY−REGの出力側とが接続されており、該アド
レス記憶器および増分記憶器が走査角計数器
AWZにより制御されるようにし、アドレス記憶
器がさらに走査線計数器SGZにより制御されるよ
うにし、該走査線計数器は、走査角計数器AWZ
を制御するようにしたことを特徴とする、各パタ
ーンを線順次に走査する、光感検出素子の列から
形成される光電変換器を備え、該光電変換器の出
力信号を、走査されたパターンに相応する黒−白
レベル値から成る像パターンマトリクスとして、
後置接続されている像信号記憶器に記憶するよう
にした自動パターン認識、対象選別等の方法にお
いて、記憶されている像パターンマトリクスを、
複数個の異なる走査角で走査された記号に相応す
るように、該走査角に応じて走行する走査線群を
用いて読み出すようにし、各走査角の場合の走査
線毎に走査線とパターンとのその都度の交点の数
を、黒レベル値から白レベル値への変化または白
レベル値から黒レベル値への変化の形で求めるよ
うにし、走査角毎に求められる交点を評価するよ
うにし、この場合、(a)走査線群の走査領域を、各
パターンを少くとも１回交わる走査線の数として
求めるようにし、(b)全部の走査線の交点の和を求
めるようにし、(c)走査領域の重心を求めるように
し、(d)走査領域内で交点の該重心からの偏りの分
布を求めるようにし、その結果を選別装置へ導び
くようにした自動パターン認識、対象選別等の方
法を実施する回路装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3005206A DE3005206C2 (de) | 1980-02-12 | 1980-02-12 | Verfahren zur automatischen Zeichenerkennung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56155478A JPS56155478A (en) | 1981-12-01 |
| JPS6353589B2 true JPS6353589B2 (ja) | 1988-10-24 |
Family
ID=6094412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1820981A Granted JPS56155478A (en) | 1980-02-12 | 1981-02-12 | Method and device for automatically recognizing pattern and identifying object |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4398177A (ja) |
| EP (1) | EP0033978B1 (ja) |
| JP (1) | JPS56155478A (ja) |
| AT (1) | ATE11705T1 (ja) |
| DE (2) | DE3005206C2 (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4516264A (en) * | 1982-01-29 | 1985-05-07 | United States Of America Postal Service | Apparatus and process for scanning and analyzing mail information |
| DE3236336A1 (de) * | 1982-09-30 | 1984-04-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur darstellung von druckvorlagen in form von groessen- und drehlagenunabhaengigen bogenstrukturen zum zwecke einer dokumentenanalyse, insbesondere zur schriftzeichenerkennung |
| JPS59123085A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-16 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 文字認識方法 |
| US4827531A (en) * | 1983-04-11 | 1989-05-02 | Magnetic Peripherals Inc. | Method and device for reading a document character |
| JP2603215B2 (ja) * | 1985-07-04 | 1997-04-23 | キヤノン株式会社 | 画像認識方法及び装置 |
| ATE48710T1 (de) * | 1985-09-30 | 1989-12-15 | Siemens Ag | Verfahren zur einheitlichen symbolischen beschreibung von dokumentmustern in einem automat. |
| DE3607163A1 (de) * | 1986-03-05 | 1987-09-10 | Grundig Emv | Verfahren zur erkennung der lage von gegenstaenden |
| US4745633A (en) * | 1986-08-18 | 1988-05-17 | Peter Waksman | Optical image encoding and comparing using scan autocorrelation |
| DE3630739C1 (en) * | 1986-09-10 | 1988-04-07 | Zeiss Carl Fa | Method for data pick-up by means of detector arrays and devices for carrying out the methods |
| US4941189A (en) * | 1987-02-25 | 1990-07-10 | Lundy Electronics & Systems, Inc. | Optical character reader with skew recognition |
| EP0483391B1 (en) * | 1990-10-27 | 1998-08-05 | International Business Machines Corporation | Automatic signature verification |
| JPH0628525A (ja) * | 1992-05-27 | 1994-02-04 | Ezel Inc | 文字認識方法 |
| JP3013618B2 (ja) * | 1992-08-07 | 2000-02-28 | 株式会社デンソー | サイン認識装置 |
| EP0606780B1 (en) * | 1993-01-11 | 2001-07-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing method and apparatus |
| FR2797335B1 (fr) * | 1999-08-05 | 2001-10-26 | Roland Tomasi | Procede, support d'enregistrement et systeme informatique pour la reconnaissance de formes numerisees |
| US6603873B1 (en) * | 1999-11-12 | 2003-08-05 | Applied Materials, Inc. | Defect detection using gray level signatures |
| WO2005104014A1 (de) * | 2004-04-26 | 2005-11-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur erkennung eines einfachen objekts vor einem homogenen hintergrund |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL268306A (ja) * | 1957-05-17 | |||
| US3381274A (en) * | 1959-12-18 | 1968-04-30 | Ibm | Recognition systems |
| US3165718A (en) * | 1961-12-04 | 1965-01-12 | Ibm | Speciment identification apparatus |
| US3845466A (en) * | 1970-11-18 | 1974-10-29 | California Inst Of Techn | System and method for character recognition |
| JPS5911152B2 (ja) * | 1976-10-19 | 1984-03-13 | 肇産業株式会社 | パタ−ンマツチング方法及びその実施装置 |
| GB1587613A (en) * | 1976-11-04 | 1981-04-08 | Norprint Ltd | Character identification |
| GB1590950A (en) * | 1976-12-11 | 1981-06-10 | Emi Ltd | System for comparing representations of a scene |
| JPS596421B2 (ja) * | 1978-08-28 | 1984-02-10 | 肇産業株式会社 | パタ−ン情報処理方法 |
-
1980
- 1980-02-12 DE DE3005206A patent/DE3005206C2/de not_active Expired
-
1981
- 1981-02-11 US US06/233,386 patent/US4398177A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-02-11 AT AT81100966T patent/ATE11705T1/de not_active IP Right Cessation
- 1981-02-11 EP EP81100966A patent/EP0033978B1/de not_active Expired
- 1981-02-11 DE DE8181100966T patent/DE3168709D1/de not_active Expired
- 1981-02-12 JP JP1820981A patent/JPS56155478A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0033978B1 (de) | 1985-02-06 |
| JPS56155478A (en) | 1981-12-01 |
| DE3168709D1 (en) | 1985-03-21 |
| ATE11705T1 (de) | 1985-02-15 |
| DE3005206C2 (de) | 1983-01-05 |
| DE3005206A1 (de) | 1981-08-20 |
| US4398177A (en) | 1983-08-09 |
| EP0033978A1 (de) | 1981-08-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6353589B2 (ja) | ||
| US4300123A (en) | Optical reading system | |
| US5616905A (en) | Two-dimensional code recognition method | |
| US5146779A (en) | Indentation hardness tester | |
| US4300122A (en) | Apparatus for processing digital data representative of a two-dimensional image | |
| JPS5923467B2 (ja) | 位置検出方法 | |
| JPS6259350B2 (ja) | ||
| JPS61190675A (ja) | グレイスケ−ルにおける画素フイ−ルドにより表現される画像を２値スケ−ルにおける画素フイ−ルドに変換する方法および装置 | |
| US5255331A (en) | Production of an image model and inspection of a pixel representation of an image | |
| JPS5942356B2 (ja) | 光学的文字読取装置 | |
| US3831146A (en) | Optimum scan angle determining means | |
| US5058181A (en) | Hardware and software image processing system | |
| US5872871A (en) | Method and device for measuring the position of a pattern | |
| JP2623367B2 (ja) | 三次元形状測定装置の校正方法 | |
| KR20010052136A (ko) | 이미지 정합 방법 및 장치 | |
| US4788578A (en) | Apparatus for preparing mounting sheet of originals to be scanned | |
| US6671422B1 (en) | Apparatus and method for detecting rough position of two-dimensional code | |
| JP2983344B2 (ja) | 色判別装置 | |
| JPH05314298A (ja) | データ読取装置 | |
| JPS5911153B2 (ja) | 光学的文字読取方式 | |
| JP2757446B2 (ja) | 細線化装置 | |
| JP2002509316A (ja) | 画像マッチング方法及び装置 | |
| JP2763363B2 (ja) | 画像変換装置 | |
| EP0013276A2 (en) | Optical mark reading system | |
| JP2737755B2 (ja) | データ読取装置 |