JPS6350813B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6350813B2 JPS6350813B2 JP19065582A JP19065582A JPS6350813B2 JP S6350813 B2 JPS6350813 B2 JP S6350813B2 JP 19065582 A JP19065582 A JP 19065582A JP 19065582 A JP19065582 A JP 19065582A JP S6350813 B2 JPS6350813 B2 JP S6350813B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- transformer
- disconnector
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- closing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 8
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims description 8
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- 238000010008 shearing Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
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Landscapes
- Arc-Extinguishing Devices That Are Switches (AREA)
- Driving Mechanisms And Operating Circuits Of Arc-Extinguishing High-Tension Switches (AREA)
- Keying Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、しや断器の合成等価試験に係り、特
にしや断器の投入性能としや断性能とを１シーケ
ンスにて検証出来る試験方法に関するものであ
る。大容量しや断器の投入性能及びしや断性能の
検証は、一般に合成試験により検証されている。
この試験は、夫々複雑なシーケンスを組む必要が
あるため、合成試験においては、投入性能は投入
等価試験により、また、しや断性能はワイル法等
により性能検証されている。すなわち、一搬には
夫々単独の試験によるりしや断器の性能を検証す
る方法、が行なわれていた。しかし、これでは投
入時の先行放電の影響がしや断性能にどう影響す
るかの検証が出来ない欠点を有していた。ここ
で、先行放電とはしや断器の電極が接触する前
（数ｍＳ）に絶縁破壊し、電極間にアーク電流が
流れることである。
にしや断器の投入性能としや断性能とを１シーケ
ンスにて検証出来る試験方法に関するものであ
る。大容量しや断器の投入性能及びしや断性能の
検証は、一般に合成試験により検証されている。
この試験は、夫々複雑なシーケンスを組む必要が
あるため、合成試験においては、投入性能は投入
等価試験により、また、しや断性能はワイル法等
により性能検証されている。すなわち、一搬には
夫々単独の試験によるりしや断器の性能を検証す
る方法、が行なわれていた。しかし、これでは投
入時の先行放電の影響がしや断性能にどう影響す
るかの検証が出来ない欠点を有していた。ここ
で、先行放電とはしや断器の電極が接触する前
（数ｍＳ）に絶縁破壊し、電極間にアーク電流が
流れることである。
本発明はかかる点に鑑み、しや断器の責務の中
の投入、しや断責務を１回の試験にて先行放電に
判うしや断性能の影響をも検証出来る試験方法の
提供を目的としてなされたもので、以下図に基い
て詳述する。
の投入、しや断責務を１回の試験にて先行放電に
判うしや断性能の影響をも検証出来る試験方法の
提供を目的としてなされたもので、以下図に基い
て詳述する。
第１図において１は交流発電機で、この発電機
１には保護しや断器２、限流リアクトル３、投入
器４を介して第１変圧器５、第２変圧器６の各一
次側が接続されている。
１には保護しや断器２、限流リアクトル３、投入
器４を介して第１変圧器５、第２変圧器６の各一
次側が接続されている。
変圧器５と６の昇圧比は１：1.5になる変圧比
のものが使用され、各変圧器５，６の二次側には
夫々コンデンサ７，８が並列に接続されている。
また、第１変圧器５の二次側には、第１の分離ス
イツチ９と供試しや断器１０が直列に接続され、
更にはこの分離スイツチ９と供試しや断器１０と
の橋絡点Ａと第２変圧器６の二次側一端間には、
第２分離スイツチ１１と抵抗１２との直列回路が
接続されている。１３は投入ギヤツプでこの投入
ギヤツプ１３には図示省略の始動電極が設けられ
ている。１４は補助しや断器で、投入ギヤツプ１
３と直列に接続されて前記投入器４と各変圧器
５，６との橋絡点Ｂと前記橋絡点Ａ間に挿入され
ている。１５は投入ギヤツプ１３と並列に接続さ
れたバイパススイツチ、１６は変流器である。な
お、ここで、バイパススイツチ１５は、このスイ
ツチ１５の先行放電が供試しや断器１０より早く
発生しないように耐圧のよいものが使用され、且
つしや断器１０の投入電流に対して、電流的にも
機械的にも充分に耐えるものが使用される。
のものが使用され、各変圧器５，６の二次側には
夫々コンデンサ７，８が並列に接続されている。
また、第１変圧器５の二次側には、第１の分離ス
イツチ９と供試しや断器１０が直列に接続され、
更にはこの分離スイツチ９と供試しや断器１０と
の橋絡点Ａと第２変圧器６の二次側一端間には、
第２分離スイツチ１１と抵抗１２との直列回路が
接続されている。１３は投入ギヤツプでこの投入
ギヤツプ１３には図示省略の始動電極が設けられ
ている。１４は補助しや断器で、投入ギヤツプ１
３と直列に接続されて前記投入器４と各変圧器
５，６との橋絡点Ｂと前記橋絡点Ａ間に挿入され
ている。１５は投入ギヤツプ１３と並列に接続さ
れたバイパススイツチ、１６は変流器である。な
お、ここで、バイパススイツチ１５は、このスイ
ツチ１５の先行放電が供試しや断器１０より早く
発生しないように耐圧のよいものが使用され、且
つしや断器１０の投入電流に対して、電流的にも
機械的にも充分に耐えるものが使用される。
以上の如き試験設備を用いた本発明の試験方法
を第２図で示したタイムチヤートを参照しながら
説明する。
を第２図で示したタイムチヤートを参照しながら
説明する。
初期状態として、保護しや断器２、補助しや断
器１４及び第１の分離スイツチ９を夫々閉路と
し、他は開路状態となつている。
器１４及び第１の分離スイツチ９を夫々閉路と
し、他は開路状態となつている。
先ず時刻t1に投入器４を投入することによつて
変圧器５に電力を供給する。変圧器５は、その二
次側に投入試験に必要な規格値（定格値／√３）
に電圧を昇圧してコンデンサ７を充電し、分離ス
イツチ９を介して供試しや断器１０の両端極間に
印加する。供試しや断器１０は投入命令により投
入動作を開始するが、投入直前（接触子が接触す
る前）に電極間に先行アークを発生する。この先
行アークを前述した先行放電と称して、この先行
アークによつてコンデンサ７に蓄えられた電荷が
分離スイツチ９、変流器１６、しや断器１０を通
して放電される。この放電を変流器１６が検出し
て電圧変換し、図示省略した電光変換器、光ケー
ブルを介して投入ギヤツプ１３に対し始動命令を
出す。したがつて供試しや断器１０がONになる
より早く、ギヤツプ１３はONになつてギヤツプ
１３は閃絡し、交流発電機１より規定の投入電流
（定格値電流×2.5倍）を供試しや断器１０に供給
する。これらの時間的タイミングにおいて、供試
しや断器１０の先行放電によつて投入ギヤツプ１
３が閃絡する時刻がt2であり、時刻t3が供試しや
断器１０とバイパススイツチ１５の電極が接触す
るときである。図中△ｔは先行放電時間である。
なお、第２図では、バイパススイツチ１５は時刻
t3にてしや断器１０と同時に投入しているぎが、
これはしや断器１０の投入完了後に投入するよう
にしてもよい。
変圧器５に電力を供給する。変圧器５は、その二
次側に投入試験に必要な規格値（定格値／√３）
に電圧を昇圧してコンデンサ７を充電し、分離ス
イツチ９を介して供試しや断器１０の両端極間に
印加する。供試しや断器１０は投入命令により投
入動作を開始するが、投入直前（接触子が接触す
る前）に電極間に先行アークを発生する。この先
行アークを前述した先行放電と称して、この先行
アークによつてコンデンサ７に蓄えられた電荷が
分離スイツチ９、変流器１６、しや断器１０を通
して放電される。この放電を変流器１６が検出し
て電圧変換し、図示省略した電光変換器、光ケー
ブルを介して投入ギヤツプ１３に対し始動命令を
出す。したがつて供試しや断器１０がONになる
より早く、ギヤツプ１３はONになつてギヤツプ
１３は閃絡し、交流発電機１より規定の投入電流
（定格値電流×2.5倍）を供試しや断器１０に供給
する。これらの時間的タイミングにおいて、供試
しや断器１０の先行放電によつて投入ギヤツプ１
３が閃絡する時刻がt2であり、時刻t3が供試しや
断器１０とバイパススイツチ１５の電極が接触す
るときである。図中△ｔは先行放電時間である。
なお、第２図では、バイパススイツチ１５は時刻
t3にてしや断器１０と同時に投入しているぎが、
これはしや断器１０の投入完了後に投入するよう
にしてもよい。
時刻t4となり、短絡電流が流れている間に分離
スイツチを開路し、時刻t5にて分離スイツチ１１
を投入する。第２の変圧器６の二次側は、前記投
入器４の投入時点にてしや断試験に必要な規格値
（定格値×1.5／√３に昇圧されてコンデンサ８を
充電している。したがつて分離スイツチ１１の投
入により昇圧された電圧を時刻t6において供試し
や断器１０、補助しや断器１４が共にしや断した
時点で印加してしや断試験を行う。
スイツチを開路し、時刻t5にて分離スイツチ１１
を投入する。第２の変圧器６の二次側は、前記投
入器４の投入時点にてしや断試験に必要な規格値
（定格値×1.5／√３に昇圧されてコンデンサ８を
充電している。したがつて分離スイツチ１１の投
入により昇圧された電圧を時刻t6において供試し
や断器１０、補助しや断器１４が共にしや断した
時点で印加してしや断試験を行う。
なお、しや断時の方式は、周知のスキーツ法と
称される合成試験と同一方法であり、またワイル
法を分離スイツチ１１の前後に行う方法もある。
称される合成試験と同一方法であり、またワイル
法を分離スイツチ１１の前後に行う方法もある。
以上のように本発明によりなる試験方法は、変
圧器５，６に夫々接続された分離スイツチ９，１
１のしや断、投入のタイミングを、供試しや断１
０に短絡電流が流れているうちに分離スイツチ９
をしや断し、その後に分離スイツチ１１を投入し
て開路状態となつたしや断器１０に電圧を印加す
ることにより投入試験としや断試験とを１つのシ
ーケンスで行うようにしたものである。したがつ
て本発明によれびば、高圧大容量のしや断器の投
入、しや断の両方を同時に等価試験により検証出
来、また、投入時の先行放電の影響が、しや断性
能にどのような影響を与えているかが一回の試験
で確認できて試験性能が向上され、且つ試験のた
めの工数が大巾に縮減されるものである。また、
変圧器５，６、コンデンサ７，８、及び投入ギヤ
ツプ１３等は単独試験時の既設のものが使用出来
るので、直接実負荷試験に比較して安価に実施出
来るものである。更には変流器１６を高圧側に設
けたことにより、短絡電流、励磁電流等のノイズ
を軽減出来る利点を有するものである。
圧器５，６に夫々接続された分離スイツチ９，１
１のしや断、投入のタイミングを、供試しや断１
０に短絡電流が流れているうちに分離スイツチ９
をしや断し、その後に分離スイツチ１１を投入し
て開路状態となつたしや断器１０に電圧を印加す
ることにより投入試験としや断試験とを１つのシ
ーケンスで行うようにしたものである。したがつ
て本発明によれびば、高圧大容量のしや断器の投
入、しや断の両方を同時に等価試験により検証出
来、また、投入時の先行放電の影響が、しや断性
能にどのような影響を与えているかが一回の試験
で確認できて試験性能が向上され、且つ試験のた
めの工数が大巾に縮減されるものである。また、
変圧器５，６、コンデンサ７，８、及び投入ギヤ
ツプ１３等は単独試験時の既設のものが使用出来
るので、直接実負荷試験に比較して安価に実施出
来るものである。更には変流器１６を高圧側に設
けたことにより、短絡電流、励磁電流等のノイズ
を軽減出来る利点を有するものである。
第１図は本発明の試験法に適用される試験設備
の構成図、第２図は説明のためのタイムチヤート
図である。 １……交流発電機、５，６……第１及び第２変
圧器、７，８……コンデンサ、１０……供試しや
断器、９，１１……第１及び第２の分離スイツ
チ、１３……投入ギヤツプ、１４……補助しや断
器。
の構成図、第２図は説明のためのタイムチヤート
図である。 １……交流発電機、５，６……第１及び第２変
圧器、７，８……コンデンサ、１０……供試しや
断器、９，１１……第１及び第２の分離スイツ
チ、１３……投入ギヤツプ、１４……補助しや断
器。
Claims (1)
- １ 交流発電機に投入ギヤツプ、補助しや断器を
介して供試しや断器を直列に接続すると共に、
夫々コンデンサを並設し交流発電機よりの電力を
投入及びしや断試験用電圧にまで昇圧する第１、
第２変圧器を備えたものに於て、前記補助しや断
器と供試しや断器の接続点Ａと、前記各変圧器の
一端間に夫々第１、第２の分離スイツチを各別に
接続し、更に前記接続点Ａと第１の変圧器に並設
されたコンデンサ間に変流器を設け、前記供試し
や断器が投入試験による先行放電後投入され、短
絡電流が流れているうちに第１の分離スイツチを
開放し、第２の分離スイツチを投入してしや断中
の供試しや断器に第２変圧器にて昇圧された電圧
を印加するようにしたことを特徴とするしや断器
の合成等価試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19065582A JPS5979920A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | しや断器の合成等価試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19065582A JPS5979920A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | しや断器の合成等価試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5979920A JPS5979920A (ja) | 1984-05-09 |
| JPS6350813B2 true JPS6350813B2 (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=16261697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19065582A Granted JPS5979920A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | しや断器の合成等価試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5979920A (ja) |
-
1982
- 1982-10-29 JP JP19065582A patent/JPS5979920A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5979920A (ja) | 1984-05-09 |
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