JPS599570A - 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 - Google Patents
開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法Info
- Publication number
- JPS599570A JPS599570A JP57119339A JP11933982A JPS599570A JP S599570 A JPS599570 A JP S599570A JP 57119339 A JP57119339 A JP 57119339A JP 11933982 A JP11933982 A JP 11933982A JP S599570 A JPS599570 A JP S599570A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- test
- closed
- closing
- opened
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
- G01R31/3272—Apparatus, systems or circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は開閉装置aのコンデンサ開閉寿命試験方法に関
し、その目的は試験実施所要日数を短縮することにある
。
し、その目的は試験実施所要日数を短縮することにある
。
周知の通り開閉装置は製作時開閉寿命試験が行なわれる
。この試験方法として遮断責務とコンデンサ負荷投入責
務を別々の回路で行なわせる等価試験方法が知られてい
る。
。この試験方法として遮断責務とコンデンサ負荷投入責
務を別々の回路で行なわせる等価試験方法が知られてい
る。
これを第1図に示す。即ち、この方法は、第1図に示す
如く遮断電流■1を短絡発電機Gから限流リアクトルL
1を介して供試遮断器TPに供給し遮断試験のみを実施
し、こわが終了すると結線がえを行ない、第1図(b)
に示す如く、充電されtココンデンサCから限流リアク
トルL2を介して投入突流電流を供給し投入試験を実施
するものである。なお、Tは昇任用変圧器、孔は整流器
である。
如く遮断電流■1を短絡発電機Gから限流リアクトルL
1を介して供試遮断器TPに供給し遮断試験のみを実施
し、こわが終了すると結線がえを行ない、第1図(b)
に示す如く、充電されtココンデンサCから限流リアク
トルL2を介して投入突流電流を供給し投入試験を実施
するものである。なお、Tは昇任用変圧器、孔は整流器
である。
とCろが開閉装置の寿命試験では、閉−開路動作で1回
の試験と計数されるので、上述の如く遮断試験と投入試
験を別々に実施する場合には、5000回とか1000
0回とかの寿命試験に対して2倍の日数を要することと
なる。例えば10000回の開閉試験に対して供試器T
Pは、投入で10000回、遮断で1oooo回、合計
20000回の動作が必要であり、試験日数は500回
/日として40日もかかることとなる。又、供試器の機
構部も保障回数以上に動くこととなる。
の試験と計数されるので、上述の如く遮断試験と投入試
験を別々に実施する場合には、5000回とか1000
0回とかの寿命試験に対して2倍の日数を要することと
なる。例えば10000回の開閉試験に対して供試器T
Pは、投入で10000回、遮断で1oooo回、合計
20000回の動作が必要であり、試験日数は500回
/日として40日もかかることとなる。又、供試器の機
構部も保障回数以上に動くこととなる。
これを改善するTコめ、第2図に示す等価試験方法が案
出された。即ち、2台の遮断器(!B1 、OR3を用
い、遮断器CB1開路状態で遮断器OB2を投入し、投
入後供試器’I’ Pを投入して投入電流■2を流す。
出された。即ち、2台の遮断器(!B1 、OR3を用
い、遮断器CB1開路状態で遮断器OB2を投入し、投
入後供試器’I’ Pを投入して投入電流■2を流す。
その後遮断器OB2を開略し、遮断器OJh を投入
して遮断電流■1を通電し、供試器1’Pを開略して電
流■1の遮断を行なう。
して遮断電流■1を通電し、供試器1’Pを開略して電
流■1の遮断を行なう。
しかし、この試験方法によるときは、2台の遮断器CB
1、OR3が6曽となり、又シーケンス的にも複雑にな
るという欠点がある。
1、OR3が6曽となり、又シーケンス的にも複雑にな
るという欠点がある。
本発明は双投断路器を使用することにより上述の欠点を
一掃しTこものである。以下第6図、第4図に基づき本
発明を説明する。
一掃しTこものである。以下第6図、第4図に基づき本
発明を説明する。
第6図において、DSは双投断路器で第1接点81と第
2接点S2を有し一方が閉路すれば他方は開略し両接点
が同時に閉路しない構造となっている。そして、供試器
TPO補助常閉接点(b接点)で双投断路器DSの第2
接点82を閉路させ、供試器TPの補助常開接点(a接
点)で第1接点81を閉路させ、ま1こ双投断路器D8
の第1接点81側補助常開接点(a接点)により供試器
’rPに引外し制御信号を付勢して開略させる様にシー
ケンスが組ま:1″1ている。その他用2図と同一符号
は同−若しくは相当符号を示す。
2接点S2を有し一方が閉路すれば他方は開略し両接点
が同時に閉路しない構造となっている。そして、供試器
TPO補助常閉接点(b接点)で双投断路器DSの第2
接点82を閉路させ、供試器TPの補助常開接点(a接
点)で第1接点81を閉路させ、ま1こ双投断路器D8
の第1接点81側補助常開接点(a接点)により供試器
’rPに引外し制御信号を付勢して開略させる様にシー
ケンスが組ま:1″1ている。その他用2図と同一符号
は同−若しくは相当符号を示す。
而して、第6図のものによる寄合試験は次の手ny4に
よる。
よる。
供試器TPが開路状態ではその補助常閉接点が閉略し双
投断路器1)8の第2接点82が閉略している。
投断路器1)8の第2接点82が閉略している。
先づ供試器TPに図示しない制御装置から投入制御信号
を与えてこれを閉略せしめる。するとコンデンサCの蓄
積電荷に基づき供試器TPには投入突流電流■2が供給
される。
を与えてこれを閉略せしめる。するとコンデンサCの蓄
積電荷に基づき供試器TPには投入突流電流■2が供給
される。
供試器TPが閉略されると、その補助常閉接点(b接点
)が開略し補助常開接点(a接点)が閉略するので双投
断路器DSが第2接点82を開略し第1接点81を閉路
する。従って、発電機Gから供試器TPに遮断電流■1
が供給されると共に、双投断路器])Sの第1接点81
側補助常開接点(a接点)が閉略するtコめ供試器TP
に引外制御信号が与えられ、供試器TPが開略せしめら
れてこの電流■1を遮断する。
)が開略し補助常開接点(a接点)が閉略するので双投
断路器DSが第2接点82を開略し第1接点81を閉路
する。従って、発電機Gから供試器TPに遮断電流■1
が供給されると共に、双投断路器])Sの第1接点81
側補助常開接点(a接点)が閉略するtコめ供試器TP
に引外制御信号が与えられ、供試器TPが開略せしめら
れてこの電流■1を遮断する。
供試器TPO開略によりその補助常開接点(a接点)が
開略し補助常閉接点(b接点)が閉路して双投断路器D
8の第1接点81を開略し第2接点82を閉略する。(
第6図の実線状態に戻る。)これで1回の閉−開路試験
が終了した訳であり、図示しない上記制御装置からある
一定周期で供試器TPに投入制御信号mを連続的に与え
ることによってこれが自動的に繰り返されることとなる
。
開略し補助常閉接点(b接点)が閉路して双投断路器D
8の第1接点81を開略し第2接点82を閉略する。(
第6図の実線状態に戻る。)これで1回の閉−開路試験
が終了した訳であり、図示しない上記制御装置からある
一定周期で供試器TPに投入制御信号mを連続的に与え
ることによってこれが自動的に繰り返されることとなる
。
以上の動作をタイツ、チャートで示すと大略第4図の如
くなる。同図において、tl&びt2は供試器TPの投
入及び開極時間、t8は双投断路器D8の第1接点81
側開極時間、t4は同第2接点82側開極時間を示す。
くなる。同図において、tl&びt2は供試器TPの投
入及び開極時間、t8は双投断路器D8の第1接点81
側開極時間、t4は同第2接点82側開極時間を示す。
なお、コンデンサCは常時整流型孔から充電が行なわれ
ており、次回の第2接点82閉路時刻には定格電圧に達
するよう各回路定数が選ばれている。
ており、次回の第2接点82閉路時刻には定格電圧に達
するよう各回路定数が選ばれている。
而して、本発明によるときは、供試器の開動作と閉動作
過程で、前記供試器の電流遮断試験と電流投入試験をそ
れぞれ実施することができ、第1図のものに比べ試験日
数が1/2に短縮される。しかも供試器は余分な動作を
しなくてよいので機械的ダメージが少なくなる。又、第
2図のものに比5− ベると、2台の遮断器にかえて双投断路器が用いられて
いるので、設備を安価ならしめることができる。更に双
投断路器を切換えて行なうためシーケンスが第2図のも
のに比べ単純になるといつ1こ効果を奏する。
過程で、前記供試器の電流遮断試験と電流投入試験をそ
れぞれ実施することができ、第1図のものに比べ試験日
数が1/2に短縮される。しかも供試器は余分な動作を
しなくてよいので機械的ダメージが少なくなる。又、第
2図のものに比5− ベると、2台の遮断器にかえて双投断路器が用いられて
いるので、設備を安価ならしめることができる。更に双
投断路器を切換えて行なうためシーケンスが第2図のも
のに比べ単純になるといつ1こ効果を奏する。
第1図は従来方法を説明するtこめのものにして、(a
)は遮断責務を、(b)はコンデンサ負荷投入責務をそ
れぞれ実施するtこめの同略図、第2図は他の従来方法
を説明する回路図、第6図は本発明の詳細な説明するた
めの回路図、第4図は第6図のもののタイムチャートで
ある。 TP:供試器 DS:双投断路器 特許出願人 日新電機株式会社 6−
)は遮断責務を、(b)はコンデンサ負荷投入責務をそ
れぞれ実施するtこめの同略図、第2図は他の従来方法
を説明する回路図、第6図は本発明の詳細な説明するた
めの回路図、第4図は第6図のもののタイムチャートで
ある。 TP:供試器 DS:双投断路器 特許出願人 日新電機株式会社 6−
Claims (1)
- 供試器のコンデンサ負荷投入責務と遮断責務とを別々の
回路で実施するものにおいて、前記供試器の閉開略動作
の間で前記両回路を双投断路器によって自動的に切替え
連続して試験を行なう様にしたことを特徴とする開閉装
置のコンデンサ開閉寿命試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57119339A JPS599570A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57119339A JPS599570A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS599570A true JPS599570A (ja) | 1984-01-18 |
Family
ID=14759030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57119339A Pending JPS599570A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS599570A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103344909A (zh) * | 2013-06-25 | 2013-10-09 | 国家电网公司 | 断路器使用寿命的检测方法 |
CN104076277A (zh) * | 2014-07-17 | 2014-10-01 | 国家电网公司 | 断路器防跳回路测试仪 |
CN104215531A (zh) * | 2013-05-30 | 2014-12-17 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 按键开关寿命测试电路 |
-
1982
- 1982-07-08 JP JP57119339A patent/JPS599570A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104215531A (zh) * | 2013-05-30 | 2014-12-17 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 按键开关寿命测试电路 |
CN103344909A (zh) * | 2013-06-25 | 2013-10-09 | 国家电网公司 | 断路器使用寿命的检测方法 |
CN104076277A (zh) * | 2014-07-17 | 2014-10-01 | 国家电网公司 | 断路器防跳回路测试仪 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7242110B2 (en) | Control system for canceling load unbalance of three-phase circuit | |
US6075684A (en) | Method and arrangement for direct current circuit interruption | |
JPS599570A (ja) | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 | |
SU1379855A1 (ru) | Способ автоматического повторного включени распределительной сети с односторонним питанием с секционированием ее на участки | |
JP3099438B2 (ja) | 遮断器の短絡試験法 | |
US4577253A (en) | Method for limiting the fault-generated currents of circuit breakers in a high-voltage switching system and application of the method | |
CA1088625A (en) | Arrangement for the synthetic testing of tripolar high-voltage circuit breakers | |
JP2845279B2 (ja) | 異なるバンクの配電変圧器の低圧側負荷切替方法 | |
US2657354A (en) | Testing arrangement for circuit interrupting devices | |
US4148085A (en) | Interconnection circuit-breaker and electric power installation employing same | |
JPH07248362A (ja) | 開閉器の合成遮断試験回路 | |
SU117122A1 (ru) | Способ испытани высоковольтных выключателей в режиме автоматического повторного включени | |
JP3035897B2 (ja) | 高圧遮断器の三相合成試験におけるアーク延長方法 | |
KR820000790B1 (ko) | 고전압회로 차단기의 합성시험장치 | |
SU752541A1 (ru) | Способ испытани выключателей на коммутационную способность | |
JPS6350813B2 (ja) | ||
JP2745268B2 (ja) | 蓄勢トリップ機能付き継電器の電源切替装置 | |
JP2781416B2 (ja) | 配電変圧器の低圧側負荷切戻し方法 | |
JPS6021799Y2 (ja) | 三相一括しや断器の合成試験装置 | |
JPH0782080B2 (ja) | 遮断器の試験装置 | |
SU881884A1 (ru) | Устройство переключени ответвлений обмоток трансформатора под нагрузкой | |
JPS63177083A (ja) | 遮断器の脱調合成試験装置 | |
SU1408489A1 (ru) | Устройство максимальной токовой защиты | |
JPH05288815A (ja) | 抵抗付き遮断器の合成短絡試験装置 | |
JPS61225675A (ja) | 開閉装置の試験方法及びその装置 |