JPS6350079U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6350079U JPS6350079U JP14306086U JP14306086U JPS6350079U JP S6350079 U JPS6350079 U JP S6350079U JP 14306086 U JP14306086 U JP 14306086U JP 14306086 U JP14306086 U JP 14306086U JP S6350079 U JPS6350079 U JP S6350079U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test board
- semiconductor
- semiconductor element
- constant temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の原理説明図、第２図は本考案
による一実施例の側面図、第３図は従来の説明図
で、ａは斜視図、ｂは要部側面図を示す。 図において、１はテストボード、２は測定器、
３は半導体素子、４はコンタクト、５は恒温槽、
６は媒体を示す。
による一実施例の側面図、第３図は従来の説明図
で、ａは斜視図、ｂは要部側面図を示す。 図において、１はテストボード、２は測定器、
３は半導体素子、４はコンタクト、５は恒温槽、
６は媒体を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 コンタクト４を介して半導体素子３が着脱され
るテストボード１と、該テストボード１に接続さ
れる測定器２とを備え、該測定器２によつて該半
導体素子３の試験を行う半導体素子用試験装置に
おいて、 前記テストボード１に装着された前記半導体素
子３を浸漬する媒体６が充填された恒温槽５が具
備されて成ることを特徴とする半導体素子用試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14306086U JPS6350079U (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14306086U JPS6350079U (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6350079U true JPS6350079U (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=31052386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14306086U Pending JPS6350079U (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6350079U (ja) |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP14306086U patent/JPS6350079U/ja active Pending