JPH01112479U - - Google Patents

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JPH01112479U
JPH01112479U JP725488U JP725488U JPH01112479U JP H01112479 U JPH01112479 U JP H01112479U JP 725488 U JP725488 U JP 725488U JP 725488 U JP725488 U JP 725488U JP H01112479 U JPH01112479 U JP H01112479U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例を示す図、第2図はケ
ースの変形例を示す説明図、第3図は従来例を示
す説明図である。 第1図において、1はサーフエイスマウント半
導体素子、2はケース、3は端子、4は本体部、
5は測定用端子、6は測定用ボード、7はリード
である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 半導体素子1を被冠するケース2内に該半導体
    素子1の各リード11を受容する端子3を収納し
    た本体部4と、 この本体部4の外に位置し、その上面に上記端
    子3に接続される測定用端子5を基板グリツドG
    のピツチに対応して配列した測定用ボード6とか
    らなるサーフエイスマウント半導体素子の測定用
    アダプタ。
JP1988007254U 1988-01-22 1988-01-22 サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ Expired - Lifetime JPH0714922Y2 (ja)

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JP1988007254U JPH0714922Y2 (ja) 1988-01-22 1988-01-22 サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ

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JPH01112479U true JPH01112479U (ja) 1989-07-28
JPH0714922Y2 JPH0714922Y2 (ja) 1995-04-10

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5877051U (ja) * 1981-11-16 1983-05-24 富士通株式会社 Icアダプタ
JPS58138078U (ja) * 1982-03-12 1983-09-17 株式会社明電舎 Ic用試験端子装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5877051U (ja) * 1981-11-16 1983-05-24 富士通株式会社 Icアダプタ
JPS58138078U (ja) * 1982-03-12 1983-09-17 株式会社明電舎 Ic用試験端子装置

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JPH0714922Y2 (ja) 1995-04-10

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