JPH01112479U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01112479U JPH01112479U JP725488U JP725488U JPH01112479U JP H01112479 U JPH01112479 U JP H01112479U JP 725488 U JP725488 U JP 725488U JP 725488 U JP725488 U JP 725488U JP H01112479 U JPH01112479 U JP H01112479U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- semiconductor device
- measuring
- semiconductor element
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は本考案の実施例を示す図、第2図はケ
ースの変形例を示す説明図、第3図は従来例を示
す説明図である。 第1図において、1はサーフエイスマウント半
導体素子、2はケース、3は端子、4は本体部、
5は測定用端子、6は測定用ボード、7はリード
である。
ースの変形例を示す説明図、第3図は従来例を示
す説明図である。 第1図において、1はサーフエイスマウント半
導体素子、2はケース、3は端子、4は本体部、
5は測定用端子、6は測定用ボード、7はリード
である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体素子1を被冠するケース2内に該半導体
素子1の各リード11を受容する端子3を収納し
た本体部4と、 この本体部4の外に位置し、その上面に上記端
子3に接続される測定用端子5を基板グリツドG
のピツチに対応して配列した測定用ボード6とか
らなるサーフエイスマウント半導体素子の測定用
アダプタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988007254U JPH0714922Y2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988007254U JPH0714922Y2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01112479U true JPH01112479U (ja) | 1989-07-28 |
JPH0714922Y2 JPH0714922Y2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=31212111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1988007254U Expired - Lifetime JPH0714922Y2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0714922Y2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5877051U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | Icアダプタ |
JPS58138078U (ja) * | 1982-03-12 | 1983-09-17 | 株式会社明電舎 | Ic用試験端子装置 |
-
1988
- 1988-01-22 JP JP1988007254U patent/JPH0714922Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5877051U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | Icアダプタ |
JPS58138078U (ja) * | 1982-03-12 | 1983-09-17 | 株式会社明電舎 | Ic用試験端子装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0714922Y2 (ja) | 1995-04-10 |