JPH0297684U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0297684U JPH0297684U JP576989U JP576989U JPH0297684U JP H0297684 U JPH0297684 U JP H0297684U JP 576989 U JP576989 U JP 576989U JP 576989 U JP576989 U JP 576989U JP H0297684 U JPH0297684 U JP H0297684U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- printed board
- semi
- vicinity
- replaced
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例１を示す斜視図、第２
図は本考案の実施例２を示す縦断面図、第３図は
同平面図、第４図は従来の半導体素子測定治具を
示す斜視図である。 １……プリントボード、２……ケース固定部、
３……電極パターン、４……測定台、５……接続
端子、６……押圧部、７……セミリジツドケーブ
ル。
図は本考案の実施例２を示す縦断面図、第３図は
同平面図、第４図は従来の半導体素子測定治具を
示す斜視図である。 １……プリントボード、２……ケース固定部、
３……電極パターン、４……測定台、５……接続
端子、６……押圧部、７……セミリジツドケーブ
ル。
Claims (1)
- 被測定用半導体素子近辺のみを取換え可能なプ
リントボードを使用し、該プリントボードの電極
端子から測定系の接続端子までをセミリジツドケ
ーブルにより接続したことを特徴とする半導体素
子測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP576989U JPH0297684U (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP576989U JPH0297684U (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0297684U true JPH0297684U (ja) | 1990-08-03 |
Family
ID=31209427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP576989U Pending JPH0297684U (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0297684U (ja) |
-
1989
- 1989-01-20 JP JP576989U patent/JPH0297684U/ja active Pending