JPS6345827A - テストヘツド部 - Google Patents
テストヘツド部Info
- Publication number
- JPS6345827A JPS6345827A JP61190114A JP19011486A JPS6345827A JP S6345827 A JPS6345827 A JP S6345827A JP 61190114 A JP61190114 A JP 61190114A JP 19011486 A JP19011486 A JP 19011486A JP S6345827 A JPS6345827 A JP S6345827A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rail
- arm
- air
- robot
- fixed rail
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 3
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 10
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(発明の技術分野)
本発明はテストヘッド部に関し、特にIC−・ンドリン
グ装置に用いられる。
グ装置に用いられる。
(従来の技術)
従来、ICの搬送としては、自重落下による搬送メカ的
に行なう強制搬送、その他高圧エアーでの搬送とがある
が、全て決められたレール上で搬送を行なうものである
。
に行なう強制搬送、その他高圧エアーでの搬送とがある
が、全て決められたレール上で搬送を行なうものである
。
しかしながら、従来技術によれば、外囲器別に固定レー
ルを使用する他、異形形状ICの搬送が出来ない。また
、エアー、自重、メカニックの3種のいずれかで搬送を
行なうが、この場合搬送速度が通常0.7〜1.0se
c/p必要となる。
ルを使用する他、異形形状ICの搬送が出来ない。また
、エアー、自重、メカニックの3種のいずれかで搬送を
行なうが、この場合搬送速度が通常0.7〜1.0se
c/p必要となる。
そこで、これらの問題点を解消するためにロボット等を
利用した異形形状ICの搬送方法が考えられる。しかし
、この方法では、搬送インデックス(M/C能力)が低
下する事が考えられる。また、コストが5〜6倍/台と
為額になるという問頂点を有する。
利用した異形形状ICの搬送方法が考えられる。しかし
、この方法では、搬送インデックス(M/C能力)が低
下する事が考えられる。また、コストが5〜6倍/台と
為額になるという問頂点を有する。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、異形形状I
Cの搬送が可能となるとともに、reを高速で搬送でき
る低コストなテストヘッド部を提供することを目的とす
る。
Cの搬送が可能となるとともに、reを高速で搬送でき
る低コストなテストヘッド部を提供することを目的とす
る。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、未測定のICをエアー搬送する第1固定レー
ルと、このレールと離間しかつ該レールと一直線上に配
置され、測定後のICをエアー搬送する第2固定レール
と、前記第1・第2固定レール間にこれらレールと一直
線上に設けられ、前記ICが挿着されるソケット部と、
前記第1固定レール上の未測定のICをソケット部へ空
中搬送するとともに、該ソケットgから測定後のICを
第2固定レールへ空中搬送するロボットと、前記第1−
第2固定レールと平行して設けられ測定後のICをエア
ー搬送する第3固定レールとを具備し、前記ロボットが
C1dξット本体と該本体に連結したアームとからなり
、ロボットが前記ロ&7ト本体の前後運動及びアームの
円運動により前記ICを直線的に空中搬送することを特
徴とし、異形形状ICの搬送の達成、IC搬送の高速化
、低コスト化を図り九ものである。
ルと、このレールと離間しかつ該レールと一直線上に配
置され、測定後のICをエアー搬送する第2固定レール
と、前記第1・第2固定レール間にこれらレールと一直
線上に設けられ、前記ICが挿着されるソケット部と、
前記第1固定レール上の未測定のICをソケット部へ空
中搬送するとともに、該ソケットgから測定後のICを
第2固定レールへ空中搬送するロボットと、前記第1−
第2固定レールと平行して設けられ測定後のICをエア
ー搬送する第3固定レールとを具備し、前記ロボットが
C1dξット本体と該本体に連結したアームとからなり
、ロボットが前記ロ&7ト本体の前後運動及びアームの
円運動により前記ICを直線的に空中搬送することを特
徴とし、異形形状ICの搬送の達成、IC搬送の高速化
、低コスト化を図り九ものである。
(作用)
本発明によれば、搬送デバイスの使用により異形形状I
Cに対応でさる。また、ICのテストヘッドソケットへ
の挿入、引抜き以外は固定レールによるエアー搬送とす
るため、搬送速度を向上できる。更に、異形形状に対応
するときの改造コストが非常に低コストで済む。
Cに対応でさる。また、ICのテストヘッドソケットへ
の挿入、引抜き以外は固定レールによるエアー搬送とす
るため、搬送速度を向上できる。更に、異形形状に対応
するときの改造コストが非常に低コストで済む。
(実施例)
以下1本発明の一実施例を図を参照して説明する。
図中の1は、テストヘッド載置台である。この載置台1
上には、供給側から未測定のICが挿着されるソケット
部2が配置されている。このソケット部2の両側(矢印
入方向)には、未測定のICをエアー搬送する第1固定
レール3m、測定後のICをエアー搬送する第2固定レ
ール3bが配置されている。ここで、前記第1・第2固
定レール3a、3b及びソケット部2は、−直線上にな
っている2、また、前記載置台1上には、第3固定レー
ル3Cが前記固定レール、?a、、、?bK対して平行
に配置されている。この第3固定レール3cの両端には
、第3図に示す如く夫々測定後のICを供給側へエアー
搬送する搬送機構4、及び開口部5が設けられている。
上には、供給側から未測定のICが挿着されるソケット
部2が配置されている。このソケット部2の両側(矢印
入方向)には、未測定のICをエアー搬送する第1固定
レール3m、測定後のICをエアー搬送する第2固定レ
ール3bが配置されている。ここで、前記第1・第2固
定レール3a、3b及びソケット部2は、−直線上にな
っている2、また、前記載置台1上には、第3固定レー
ル3Cが前記固定レール、?a、、、?bK対して平行
に配置されている。この第3固定レール3cの両端には
、第3図に示す如く夫々測定後のICを供給側へエアー
搬送する搬送機構4、及び開口部5が設けられている。
ここで、第3固定レールEcFi次ステーションから供
給部への戻りレールであり、搬送機構4から噴出するエ
アーにより高速で九送される。なお、前記開口g5がな
いと第6図に示す如くIC6が搬送機構40手前で止ま
るおそれがあるが、開口s5があると第7図に示す如く
開口部5よりエアーがまき込まれ、IC6が順当に搬送
される。但し、開口部5をあまり大きくしたり多数設け
ると、音が大きくなるため、必要最小限にとどめる。
給部への戻りレールであり、搬送機構4から噴出するエ
アーにより高速で九送される。なお、前記開口g5がな
いと第6図に示す如くIC6が搬送機構40手前で止ま
るおそれがあるが、開口s5があると第7図に示す如く
開口部5よりエアーがまき込まれ、IC6が順当に搬送
される。但し、開口部5をあまり大きくしたり多数設け
ると、音が大きくなるため、必要最小限にとどめる。
前記ソケット部2の近傍には、前後運動(矢印B方向)
するロボット本体7aと、この本体7aに連結して第2
図の如く円運動(矢印C方向)するワークチャックアー
ム7bとからなるロボット7が配置されて込る。これに
より、ICが直線的(矢印り方向)に空中搬送される。
するロボット本体7aと、この本体7aに連結して第2
図の如く円運動(矢印C方向)するワークチャックアー
ム7bとからなるロボット7が配置されて込る。これに
より、ICが直線的(矢印り方向)に空中搬送される。
前記アーム7bの先端には、第4図及び第5図に示す如
くIC6を把持するツメ部8が設けられている。このツ
メ部8は、主としてIC6をその正面、裏面から係止す
る把持部91e9mと、これら把持部91692の夫々
の底部に設けられてIC6の底部を支持するツメ101
,10.と、上記把持部91.9.の夫々の上部に設け
られてIC6の上端面に係止する固定具111,112
とから構成される。但し、前記把持部9K a92の対
向する内壁面には、IC6の正面及び裏面に形成される
突起部12を触れぬよう長溝13..13.が夫夫設け
られている。
くIC6を把持するツメ部8が設けられている。このツ
メ部8は、主としてIC6をその正面、裏面から係止す
る把持部91e9mと、これら把持部91692の夫々
の底部に設けられてIC6の底部を支持するツメ101
,10.と、上記把持部91.9.の夫々の上部に設け
られてIC6の上端面に係止する固定具111,112
とから構成される。但し、前記把持部9K a92の対
向する内壁面には、IC6の正面及び裏面に形成される
突起部12を触れぬよう長溝13..13.が夫夫設け
られている。
次に、こうした(簿造のテストヘッド部の動作について
説明する。
説明する。
まず、ICが供給部から411足レール3aヘエアーに
て高速で搬送される。搬送されたICが第1固定レール
3aの出口部に達すると、ワークチャックアーム7bの
ツメ部8により未測定のICがチャッキングされる。そ
して、未測定のICが、前記アーム7bの円運動とロボ
ット本体7&の前後運動により、ソケット部2へ空中搬
送して挿着される。ここで、未測定のICの試験が行な
われる。試験終了後、ICは再び前記アーム7bのツメ
部8によりソケット部2から引抜かれ、チャッキングさ
れてアーム7bの円運動とロボット本体2aの前後運動
により第2固定レール3bの入口部に空中搬送される。
て高速で搬送される。搬送されたICが第1固定レール
3aの出口部に達すると、ワークチャックアーム7bの
ツメ部8により未測定のICがチャッキングされる。そ
して、未測定のICが、前記アーム7bの円運動とロボ
ット本体7&の前後運動により、ソケット部2へ空中搬
送して挿着される。ここで、未測定のICの試験が行な
われる。試験終了後、ICは再び前記アーム7bのツメ
部8によりソケット部2から引抜かれ、チャッキングさ
れてアーム7bの円運動とロボット本体2aの前後運動
により第2固定レール3bの入口部に空中搬送される。
この後、ICtfiiステージ、ンヘ搬送される。
上記実施例によれば、下記に述べる効果を有する。
0前後運動をするロボット本体7aと円運動をするワー
クチャックアーム2bから構成されるロボット7を用い
ることにより、ワークチャックアーム2bの先端のツメ
部8及び異形形状ICに対応した固定レール31〜3C
を変更するだけで異形形状ICに対応できる。しかるに
、固定レール31〜3Cそのものは非常に低コストの装
置を提供できる。
クチャックアーム2bから構成されるロボット7を用い
ることにより、ワークチャックアーム2bの先端のツメ
部8及び異形形状ICに対応した固定レール31〜3C
を変更するだけで異形形状ICに対応できる。しかるに
、固定レール31〜3Cそのものは非常に低コストの装
置を提供できる。
■ソケット部2へのICの挿着、引抜きはロボット7に
より空中搬送を行ない、その他のステージ、ン間の搬送
は固定レール31等にて高速搬送するため、M/C搬送
速度を上げることができる。
より空中搬送を行ない、その他のステージ、ン間の搬送
は固定レール31等にて高速搬送するため、M/C搬送
速度を上げることができる。
事実、本発明の場合の搬送速匿は、従来(0,7〜1、
55 see/p )に対し、0.4〜0.5 s@e
/pである。
55 see/p )に対し、0.4〜0.5 s@e
/pである。
[発明の効果]
以上詳述した如く本発明によれば、従来と比べ異形形状
ICを搬送しえるとともに、かかるICを高速で搬送し
える低コストのテストヘッド部を提供できる。
ICを搬送しえるとともに、かかるICを高速で搬送し
える低コストのテストヘッド部を提供できる。
第1図は本発明の一実施例に係るテストヘッド部の斜視
図、第2図はこのテストヘッド部のロボット本体とワー
クチャックアームの動作の説明図、第3図は同テストヘ
ッド部の固定レールの説明図、第4図は同テストヘッド
部のツメ部の説明図、第5図はこのツメ部の把持部の斜
視図、第6示す説明図である。 1・・・テストヘッド載置台、2・・・ソケット部、3
a〜3c・・・固定レール、4・・・搬送機構、5・・
・開口部、6・・・IC17・・・ロボット、7a・・
・ロボット本体、7b・・・ワークチャックアーム、8
・・・ツメ部、91.9意・・・把持部、101.10
g・・・ツメ。 Ill、11g・・・固定具、12・・・突起部、13
1 #13m・・・長溝。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 産業1図 第2図
図、第2図はこのテストヘッド部のロボット本体とワー
クチャックアームの動作の説明図、第3図は同テストヘ
ッド部の固定レールの説明図、第4図は同テストヘッド
部のツメ部の説明図、第5図はこのツメ部の把持部の斜
視図、第6示す説明図である。 1・・・テストヘッド載置台、2・・・ソケット部、3
a〜3c・・・固定レール、4・・・搬送機構、5・・
・開口部、6・・・IC17・・・ロボット、7a・・
・ロボット本体、7b・・・ワークチャックアーム、8
・・・ツメ部、91.9意・・・把持部、101.10
g・・・ツメ。 Ill、11g・・・固定具、12・・・突起部、13
1 #13m・・・長溝。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 産業1図 第2図
Claims (1)
- 未測定のICをエアー搬送する第1固定レールと、この
レールと離間しかつ該レールと一直線上に配置され、測
定後のICをエアー搬送する第2固定レールと、前記第
1、第2固定レール間にこれらレールと一直線上に設け
られ、前記ICが挿着されるソケット部と、前記第1固
定レール上の未測定のICをソケット部へ空中搬送する
とともに、該ソケット部から測定後のICを第2固定レ
ールへ空中搬送するロボットと、前記第1・第2固定レ
ールと平行して設けられ測定後のICをエアー搬送する
第3固定レールとを具備し、前記ロボットがロボット本
体と該本体に連結したアームとからなり、ロボットが前
記ロボット本体の前後運動及びアームの円運動により前
記ICを直線的に空中搬送することを特徴とするテスト
ヘッド部。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61190114A JPS6345827A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | テストヘツド部 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61190114A JPS6345827A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | テストヘツド部 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6345827A true JPS6345827A (ja) | 1988-02-26 |
Family
ID=16252613
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61190114A Pending JPS6345827A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | テストヘツド部 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6345827A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0395649U (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-30 | ||
US5810549A (en) * | 1996-04-17 | 1998-09-22 | Applied Materials, Inc. | Independent linear dual-blade robot and method for transferring wafers |
US6175159B1 (en) | 1997-07-16 | 2001-01-16 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor package |
KR100778490B1 (ko) | 2006-02-17 | 2007-11-22 | (주) 핸들러월드 | 핸들러용 컨텍터의 동작제어 방법 |
-
1986
- 1986-08-13 JP JP61190114A patent/JPS6345827A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0395649U (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-30 | ||
US5810549A (en) * | 1996-04-17 | 1998-09-22 | Applied Materials, Inc. | Independent linear dual-blade robot and method for transferring wafers |
US6175159B1 (en) | 1997-07-16 | 2001-01-16 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor package |
KR100778490B1 (ko) | 2006-02-17 | 2007-11-22 | (주) 핸들러월드 | 핸들러용 컨텍터의 동작제어 방법 |
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